(P):

EJEMPLO GRAFICO POR ATRIBUTOS:

Una compaa electrnica manufactura circuitos en lotes de 500 y quiere controlar la

proporcin de circuitos con fallos. Con este fin examina 20 lotes, obteniendo en cada lote el
nmero de circuitos defectuosos que se indican en el archivo circuitos.mtw .

Pretendemos analizar si el proceso est bajo control estadstico a partir de un grfico P:

(C):

Ejemplo 2: Una compaa

textil utiliza un grfico del
nmero de defectos por unidad
para controlar el nmero de
defectos por metro cuadrado de
tejido. El tejido se presenta en
rollos de un metro de anchura y
longitud variable, definindose la
unidad de inspeccin como un
metro cuadrado de tejido. Tras la
inspeccin de 25 rollos se
obtuvieron los datos de superficie
(en metros cuadrados) y nmero
de defectos por rollo
almacenados en el archivo
textil.mtw .
Se pretende analizar si el proceso est o no bajo control usando un grfico U.