Universidad Nacional Autnoma de Mxico

Facultad de Ciencias
Gutirrez Castro Jos Alberto, Rangel Garca Angela Miscli

Resumen

Introduccin

Un medio ptico est

caracterizado por una cantidad n1
denominado ndice de refraccin.

El ndice de refraccin n de un
medio es la razn entre la velocidad
de la luz c en el vacio y la velocidad
v en dicho medio (ecuacin 1):

= (1)

Si trazamos un rayo que choca fig 1. (Se muestran los ngulos

contra una superficie y trazamos incidente reflejado y refractado)
una lnea normal a ella y definimos
tres angulos medidos respecto a la Supongamos que un rayo
normal: el angulo de incidencia i, el proviene de un material ms denso
angulo de reflexin r, y el angulo a otro menos denso, es decir, el
de refraccin r(fig 1). Estos ndice de refraccin n1 es mayor
angulos se rigen por las leyes de que n2. Si aumentamos el ngulo
refraccin y reflexin, que son: de incidencia , llegamos a una
situacin donde el rayo refractado
= apunta a lo largo de la superficie,
con un angulo de refraccin de 90
1 = 2 grados, en los angulos de incidencia
ms grandes que este angulo
critico, no existen rayos refractados,
y hablamos entonces de reflexin
interna total.
El mtodo de Pfund:
Se hace incidir un haz laser en una
placa plano paralela en la cual en la
superficie posterior se le coloca un
papel para que la luz se disperse en
todas las direcciones, de esta
manera el haz dispersado en la
parte posterior se reflejara en la
placa, una parte de esta radiacin
reflejada alcanzara la superficie
superior de la placa y ser
transmitida al aire, y otra parte ser
reflejada por su cara interna,
volviendo de nuevo a la superficie
difusora. Esta situacin solo ocurre
para ngulos de incidencia
inferiores al ngulo crtico.
Visto desde arriba
se observara un punto muy
luminoso, originado por la incidencia
directa del haz, rodeado por un
crculo de intensidad moderada
(circulo oscuro), procedente de la
reflexin parcial de los rayos que
inciden en la superficie superior con
ngulo inferior al de reflexin total.
Finalmente, se observa en la
periferia una regin iluminada ms
dbilmente. El dimetro del crculo
oscuro veremos que est
relacionado con el espesor de la
lmina plano-paralela y con los
ndices de refraccin de los medios
que forman la interface.
Por la ley de snell tenemos:
21 2 = 12 2 (1)
De la figura tenemos
/4
=
2 + ()2
4
Combinando esta ultima expresin y
(1) tenemos
4
=
(2 )2 1
1
Desarrollo experimental
A lo largo se este reporte se
presentan cinco maneras diferentes
para encontrar el ndice de
refraccin, de materiales como el
vidrio, agua y lucita.
A continuacin se explicaran
brevemente cada uno.
1. Profundidad aparente: En
este mtodo se midieron tres
profundidades diferentes (ver
fig.1) con un microscopio
micromtrico.
 Y con estas medidas se
comprob la siguiente ecuacin:

|1 3 |
=
|1 2 |

Fig1.L1 es la distancia a la superficie del

material, L2 la distancia aparente, es
decir la distancia que se mide al enfocar
una imagen con el microscopio a travs
de material y L3 es la profundidad real.

2. En este mtodo se vio el

cambio del a partir de ir
cambiando el , con la
ayuda de una mesa giratoria.
(fig.2)

Resultados y discusin

Conclusiones

Bibliografa