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Semiconductores PDF
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Tema 4. SEMICONDUCTORES.
Las caractersticas fsicas que permiten distinguir entre un aislante, un
semiconductor y un metal, estn determinadas por la estructura atmica, molecular y
cristalina de las diferentes sustancias.
Sabemos que, los electrones que
constituyen la corteza de un tomo, solo
pueden poseer determinadas energas
discretas (primer postulado de Bohr), de
acuerdo a las cuales se ubican en rbitas
permitidas cuyo radio se modifica en el
mismo sentido que lo hace la energa del
electrn.
Cada nivel de energa, estado cuntico u rbita solo puede ser ocupado por un
electrn (Principio de exclusin de Pauli), y estos ocupan siempre los estados ms bajos
o inferiores de energa. Los diferentes niveles posibles de energa se distribuyen de
acuerdo a cuatro nmeros cunticos, en capas, subcapas, niveles y subniveles,
perfectamente definidos en un tomo aislado y que los electrones van ocupando
conforme se ha dicho.
Pero cuando los tomos estn muy prximos, hay interaccin de unos niveles
con otros dando lugar a desdoblamientos por el principio de exclusin de Pauli,
comenzando dicho desdoblamiento por las rbitas superiores.
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Cuando un electrn pasa de la BV a la BC, en la BV deja un hueco (nivel vaco),
que podr captar otro electrn de otro nivel de la BV y desplazarse dicho hueco como
un electrn positivo contribuyendo a la conduccin. Es decir, tambin se producir
conduccin en la BV.
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El hueco dejado en el enlace covalente captar un electrn de un enlace vecino,
y por tanto, ser como si se hubiese desplazado.
Los desplazamientos del electrn en la BC y el hueco en BV, bajo la accin de
un campo elctrico, sern en sentidos contrarios, dando lugar a corrientes que se suman.
En un semiconductor intrnseco, esto es, si el Si Ge puros, el nmero de
huecos es igual al nmero de electrones libres.
Llamando:
n = n de electrones libres en BC / volumen = concentracin de
electrones
p = n de huecos en BV / volumen = concentracin de huecos
Se tiene:
n = p = ni
Siendo ni la concentracin intrnseca, que como podemos suponer depender
notablemente de la temperatura.
Los elementos del grupo V tienen 5 electrones en su ltima capa, y cuando son
utilizados como impurezas o para dopar un material semiconductor, comparten cuatro
electrones mediante enlace covalente con los correspondientes cuatro tomos que lo
rodean en la estructura cristalina, y el electrn no compartido, se sita en una rbita
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cuyo nivel de energa es muy prximo al de la BC, por lo que puede saltar fcilmente a
ella y quedar libre para desplazarse por el cristal.
Como aportan electrones, se les denominan impurezas donadoras, y al
semiconductor con estas impurezas extrnseco tipo n. En los semiconductores tipo n, la
mayora de los electrones provienen de tomos donadores, por lo que el nmero de
huecos en BV es mucho menor que el nmero de electrones en la BC, esto es: n p.
Los elementos del grupo III poseen tres electrones en su ltima capa, y cuando
se utilizan para dopar un material semiconductor, los comparten mediante enlace
covalente con tres de los cuatro tomos que los rodean en la estructura cristalina, y con
el cuarto se forma un enlace covalente incompleto crendose un nivel de energa hueco
muy cerca de la BV, por lo que puede captar fcilmente electrones de enlaces
covalentes prximos, generando un hueco (nivel libre) dentro de la BV que puede
desplazarse en su interior.
A estas impurezas, se las denominan aceptadoras, por que originan niveles
aceptadores o captadores de electrones , y al semiconductor dopado con estas impurezas
extrnseco tipo p.
En los semiconductores tipo p, habr muy pocos electrones en la BC, porque la
mayora sern captados por el nivel aceptador, por lo que: p n.
Resumen:
Intrnsecos (no impurezas): n=p =ni
Semiconductores Impurezas G.V, donadoras
Tipo n Muchos electrones en la BC (portadores mayoritarios)
Pocos huecos en la BV (portadores minoritarios)
Extrnsecos
Impurezas G.III, aceptadoras
Tipo p Muchos huecos en la BV (portadores mayoritarios)
Pocos electrones en la BC (portadores minoritarios)
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Ley de accin de masas: Al aadir impurezas a un semiconductor intrnseco varan los
niveles de n y p (concentraciones de electrones libres y huecos). Se demuestra mediante
densidades de corriente Jn y Jp, que:
(ley de accin de masas)
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Corriente de difusin: El efecto de difusin se produce cuando la concentracin
de portadores no es uniforme a lo largo del semiconductor, o lo que es lo mismo, existe
un gradiente de concentracin de portadores con la distancia, producindose un
desplazamiento de portadores que trata de establecer el equilibrio (igualar la
concentracin en la totalidad del volumen). Este desplazamiento de portadores dara
lugar a un transporte neto de carga a travs de una superficie y por tanto a una corriente
de difusin.
La corriente total en un semiconductor es el resultado de ambos efectos:
desplazamiento por campo elctrico o diferencia de potencial y difusin por gradiente
de concentracin.
En un semiconductor en circuito abierto con gradiente de concentracin, se
producir un corriente de difusin que dara lugar a iones, concentracin de carga y
consecuentemente un campo elctrico que dara lugar a una corriente de arrastre, que en
el equilibrio anulara la de difusin, dando lugar a una corriente total nula, esto es, en el
equilibrio la tendencia a la difusin se compensa con la tendencia al arrastre.
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A la zona en que no hay portadores mviles, pero si iones fijos, se le denomina
zona de transicin, de carga espacial o de carga de espacio.
p n p n
X z.c.e = 0,50 m.
.
Fig.
4.10
Asociado al campo elctrico de la zona de transicin, aparece el potencial de
contacto o barrera de potencial: .