INTRODUCCIN A LA METROLOGA

Curso Acadmico 2011-

2011-12

Rafael Muoz Bueno

Laboratorio de Metrologa y Metrotecnia
LMM--ETSII
LMM ETSII--UPM
 TEMA 5. Magnitudes objeto de la metrologa dimensional

ndice
1. Patrn primario de longitud: Materializacin del metro.

2. Clasificacin de la metrologa dimensional.

3. Consideraciones en medidas dimensionales.

4. Instrumentos de medida en metrologa dimensional y su trazabilidad

5. Magnitudes macro-geomtricas en metrologa dimensional.

6. Magnitudes micro-geometricas en metrologa dimensional.

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 Patrn primario de longitud: El metro, m
Evolucin de la unidad de longitud (i)

Las primeras definiciones de la unidad de longitud son definiciones en algunos

casos difcilmente reproducibles y materializadas en barras con la dificultad que
ello conlleva.

Es en 1960 y debido al progreso constante de las medidas pticas cuando se

provoca el cambio fundamental en la definicin de esta unidad y se decide pasar a
un patrn natural e indestructible .

La XI Conferencia General de pesas y Medidas acord una nueva definicin del metro
basada en la longitud de onda en 1960:

El metro es la longitud de 1 650 763,73 longitudes de onda en el vaco de la

radiacin correspondiente a la transicin entre los niveles 2p10 y 5d5 del tomo de
kripton 86.

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 Patrn primario de longitud: El metro, m
Evolucin de la unidad de longitud (ii)

El nmero escogido de la cantidad de longitudes de onda se fij en 1 650 763,73

para no introducir demasiados cambios en la magnitud del metro definido con
anterioridad. Con esta definicin, quedo determinada la longitud de onda de dicha
radiacin en el vaco con una reproducibilidad de 110-8 en valor relativo.

La realizacin prctica de esta definicin requiere de la excitacin de los tomos de

kripton, efectuada por una descarga en una clula conteniendo vapor y la
observacin de la luz de fluorescencia emitida por estos tomos.

Entre 1967 y 1968 aparece tambin la definicin del segundo atmico.

El segundo se define como la duracin de 9 192 631 770 periodos de la radiacin

correspondiente a la transicin entre dos niveles hiperfinos del estado fundamental
del tomo de Cs 133.

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 Patrn primario de longitud: El metro, m
Definicin actual del metro
La actual definicin del metro fue adoptada en la XVII Conferencia General de Pesas
y Medidas, en 1983 como:

La longitud del trayecto recorrido por la luz en el vaco durante un tiempo

de 1 / 2 99 792 458 s.

Con la definicin de 1980, se obtuvo como gran ventaja la mejor reproducibilidad del
patrn. Con la definicin de 1983 se obtiene otra ventaja adicional respecto a las
anteriores, y es que puede materializarse la unidad de longitud sin modificar
la definicin del metro.

El CIPM se encarg de dar una lista de Recomendaciones para la realizacin prctica

del metro, donde figuran 8 radiaciones recomendadas de lseres estabilizados y dos
radiaciones de lmparas espectrales (entre ellas la radiacin del Kr 86).

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 Patrn primario de longitud: El metro, m
Materializacin actual del metro

La radiacin ms ampliamente empleada para la realizacin prctica de la unidad de

longitud es la correspondiente a lseres de He-Ne (estabilizados mediante
absorcin saturada de 127I2), y con una longitud de onda en el vaco de 632
991 392,22 fm, lo que corresponde a una frecuencia de 473 612 214 702 kHz, con
un incertidumbre relativa de 2,511-12
La realizacin prctica del metro se lleva a cabo en los Institutos Nacionales de
Metrologa, en el caso de Espaa en el Centro Espaol de Metrologa. stos
sistemas son comparados en el BIPM y muestran un acuerdo de unas pocas
partes en 1011.

En gran parte de laboratorios se emplean sistemas interferomtricos lser para

realizar mediciones de longitud. Estos lseres han sido calibrados contra estos
lseres estabilizados mediante celda de Iodo, para asegurar la trazabilidad de las
medidas por medio de una cadena ininterrumpida de calibraciones.

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 Introduccin a la Metrologa Dimensional
La finalidad bsica de las mediciones dimensionales en la produccin es garantizar y
verificar la concordancia del producto fabricado con sus especificaciones de diseo.

La necesidad actual de una mayor exactitud en las mediciones procede de la mayor

precisin requerida en la fabricacin, debido a nuevas exigencias:
Tolerancias de fabricacin ms estrechas.
Compactacin y miniaturizacin de componentes y productos (microelectrnica).
Diseo compensado entre fuerzas y tensiones.
Mayor precisin operacional y mejores prestaciones en engranajes, rodillos,
elementos de guiado y sellado, etc., lo que implica tolerancias de posicin, y forma
geomtrica y de calidad superficial ms estrechas.
Ensamblado automtico a altas velocidades.
Intercambiabilidad general de piezas, componentes y repuestos.
Fiabilidad en el funcionamiento de mquinas y fabricaciones en general.

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 Clasificacin de Metrologa Dimensional
Atendiendo al tipo de mediciones a realizar o de defectos a evaluar:

Microgeometra Macrogeometra
Dimensiones
Acabado superficial
Longitud
Nanometrologa
ngulos

Formas
Rectitud, Planitud y Paralelismo

Redondez y Cilindricidad

Simetra y Concentricidad

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 Imperfecciones en metrologa dimensional

Origen de los defectos macrogeomtricos

Precisin de las mquinas-herramienta utilizadas en la fabricacin, y el

estado de conservacin de las mismas, en el momento de la mecanizacin
de las piezas.

Calidad y estado de desgaste de la herramienta de mecanizacin.

Deformaciones elsticas de la pieza, en su fijacin a la mquina.

Deformaciones debidas a dilatacin trmica, tanto de la pieza como de la

mquina, en funcin de sus respectivas temperaturas durante el proceso
de mecanizado.

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 Imperfecciones en metrologa dimensional
Origen de los defectos microgeomtricos

Las causas a que obedecen los defectos microgeomtricos son tambin variadas, pero
ligadas a la mquina herramienta que produce la pieza:

Filo de la herramienta
Velocidad de giro
Avance del husillo
Vibraciones, etc.

Las piezas aparecen pues con superficies irregulares, compuestas de ondulaciones, picos y
valles, con determinados valores de paso y amplitud, dependiendo del proceso de
mecanizado seguido.

Caractersticas como resistencia al desgaste, rodadura, deslizamiento, propiedades de

lubricacin, resistencia a la fatiga, intercambiabilidad funcional, resistencia a la corrosin,
etc. estn ligadas al estado superficial del elemento en cuestin.

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Fuentes de incertidumbre en metrologa dimensional
En la prctica existen muchas posibles fuentes de incertidumbre en una medicin, entre
ellas:
Definicin incompleta del mensurando.
Realizacin imperfecta de la definicin del mensurando.
Muestra no representativa del mensurando.
Conocimiento inadecuado de los efectos de las condiciones ambientales sobre la
medicin, o medicin imperfecta de dichas condiciones ambientales.
Lectura sesgada de instrumentos analgicos por parte del operador.
Resolucin del instrumento de medida.
Valores inexactos de los patrones de medida y/o de los materiales de referencia.
Valores inexactos de constantes y otros parmetros obtenidos de fuentes externas
y utilizados en el algoritmo de tratamiento de datos.
Aproximaciones y suposiciones establecidas en el mtodo y procedimiento de
medicin.
Variaciones en la repeticin de las observaciones del mensurando bajo condiciones
aparentemente idnticas.

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Precauciones a considerar en medidas dimensionales
Cuando se pretende medir con cierta exactitud la longitud de un objeto material, es
necesario conocer su temperatura, as como el valor del coeficiente de dilatacin.

Las mediciones de gran exactitud nicamente pueden realizarse en locales que cumplan
las caractersticas siguientes:
Temperatura constante: Los resultados de medida vienen referidos a 20 C, por tanto
es indispensable trabajar en un local cuya temperatura sea lo ms prxima posible a
esta referencia.
Ausencia de vibraciones: Las vibraciones podran dar lugar a desplazamientos
imperceptibles de las muestras bajo medicin, o de ciertos rganos de las mquinas de
medicin, o generar un ruido que hiciera imposible la medicin.
Grado higromtrico adecuado.
Limpieza y ausencia de polvo.

Tras haber adoptado las precauciones necesarias para obtener una buena estabilidad en
temperatura, y para eliminar las vibraciones, la regulacin del grado de humedad y el
trabajo en ausencia de polvo son fciles de conseguir.

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 Instrumentos utilizados en Metrologa Dimensional

Los equipos utilizados en los laboratorios de Metrologa Dimensional son muy

variados, atendiendo a las diversas magnitudes a medir, al campo de medida, a la
resolucin, a los principios fsicos en los que se basan,.etc.

La eleccin de uno u otro depender de la incertidumbre requerida en el proceso de

medicin, funcin a su vez de la tolerancia especfica que deba garantizarse.

La industria cuenta hoy da con captadores electrnicos, de tipo inductivo y capacitivo,

comparadores mecnicos y neumticos, sistemas multicota, medidores pticos, lseres,
interfermetros, reglas codificadas, mquinas de medicin por coordenadas, etc., que han
supuesto revoluciones parciales en el campo de la Metrologa Dimensional, sobre
todo al combinarse con la informtica:

Automatizacin de los procesos de medicin.

Eliminacin de la influencia del operador.

Mayor repetibilidad y fiabilidad.

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Trazabilidad de los instrumentos de metrologa dimensional

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 Magnitudes macrogeomtricas en metrologa dimensional

Patrones primarios de longitud

El rea de Longitud del CEM posee

dos lseres de He-Ne estabilizados
sobre clula interna de Iodo (llenado
BIPM), emitiendo en 633 nm, con los
que realiza y mantiene la actual
definicin del metro. Dichos lseres
son, por decisin oficial, los
patrones nacionales, de los que se
derivan todos los dems existentes. La
incertidumbre tpica, para un nivel
de 1, con la que se realiza la unidad
de longitud, mediante la frecuencia de
emisin de dichos lseres es de 2,5 x
11-12.

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 Magnitudes macrogeomtricas en metrologa dimensional

Patrones materializados para mediciones de longitud (i)

Los tipos bsicos de patrones son:

Patrones a cantos: Bloques patrn, barras de extremos, etc.

Patrones a trazos: Reglas a trazos, codificadas, etc.

La calibracin de los patrones a cantos, se realiza por interferometra

o por comparacin mecnica, dependiendo de su grado de calidad.

En el caso de los patrones a trazos, los mtodos utilizados suelen ser

interferomtricos, con ayuda de mtodos pticos para el enrase de los
trazos.

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 Magnitudes macrogeomtricas en metrologa dimensional

Patrones materializados para mediciones de longitud (ii)

Bloques patrn

Los bloques patrn son patrones materializados

de longitud en forma de paraleleppedo
rectangular cuyas caras opuestas, denominadas
caras de medida, poseen una calidad
superficial tal que tienen la propiedad de
adherirse a otras caras de la misma calidad
superficial, sean stas de otros bloques, o de
bases de apoyo como las utilizadas en su
medicin interferomtrica.

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 Magnitudes macrogeomtricas en metrologa dimensional

Patrones materializados para mediciones de longitud (iii)

Bloques patrn escalonados

Este tipo especial de patrones de longitud,

consiste en un soporte rgido, en cuyo eje de
simetra, o fibra neutra, van localizados una serie
de bloques patrn. Estos bloques, de acero,
carburo de tungsteno o cermica, tienen
comnmente longitudes individuales de 10 mm, y
separacin variable entre caras adyacentes. Las
longitudes totales de los soportes van desde los
300 mm, hasta los 1200 mm como mximo.

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 Magnitudes macrogeomtricas en metrologa dimensional

Patrones materializados para mediciones de longitud (iv)

Barras de extremos

Se trata de cilindros de acero duro y

estabilizado, con extremos esfricos, de
dimetro igual a la longitud de la barra, o
bien de extremos planos, y de longitudes
variables. La forma primera es de mejor
calidad metrolgica. Las del segundo caso
suelen utilizarse para la verificacin de
micrmetros de exteriores.

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 Magnitudes macrogeomtricas en metrologa dimensional

Patrones materializados para mediciones de longitud (v)

Patrones de dimetro interior (anillos)

Se trata de patrones materializados, en

acero muy duro, estabilizado, compuestos
de un hueco cilndrico perfectamente
rectificado y acabado. Este cilindro debe
ser lo ms perfecto posible, desde el
punto de vista geomtrico.

Sobre cada patrn viene grabada la cota

nominal, delimitndose mediante dos
trazos paralelos sobre una de las caras, la
zona en la que esta cota es vlida, a
media altura del cilindro.

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Magnitudes macrogeomtricas en metrologa dimensional

Patrones materializados para mediciones de longitud (vi)

Patrones de dimetro exterior (tampones)

Se trata de elementos de control de dimetros

interiores. Como prcticamente todos los calibres, se
fabrican en metal duro tratado y estabilizado, o en
carburo de tungsteno.

Pueden ser:
calibres simples (o normales), portando una nica
zona calibrada, materializando la cota nominal, o
calibres de lmites, utilizados para verificar las cotas
mxima y mnima.

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 Magnitudes macrogeomtricas en metrologa dimensional

Patrones materializados para mediciones de longitud (vii)

Reglas a trazos

Constituyen el segundo tipo de patrones

materializados de longitud, junto con los
patrones a cantos. Se trata de patrones
cuya longitud nominal viene definida por
la distancia existente entre los ejes de
dos trazos.

Las reglas que se comercializan presentan

una gran variedad, en cuanto a material,
seccin, longitud, tipo y calidad de la
escala y los trazos, precisin, etc.

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 Magnitudes macrogeomtricas en metrologa dimensional

Mquinas de medir por coordenadas (MMC)

Las MMC miden puntos en el espacio.

La potencia de las MMC deriva de su
capacidad para calcular, a partir de los
puntos medidos, una gran cantidad de
magnitudes dimensionales: distancias,
posiciones relativas, ngulos, formas,
etc., lo que antes requera el concurso
de un gran nmero de instrumentos
individuales.
Utilizan programas de medicin
potentes, que incluyen correcciones no
solo de parmetros ambientales, sino
de los errores de guiado de sus ejes.

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 Magnitudes macrogeomtricas en metrologa dimensional

Patrones materializados para mediciones angulares (i)

Bloques patrn angulares

Son similares a los longitudinales, pero en
vez de materializar longitudes, materializan
ngulos entre sus caras de medida.
Valores angulares tpicos son: 45, 30, 20,
10, 3, 1, 45, 30, 20, 10, 3, 1, 45, 30,
20, 10, 3, 1.
Al igual que los bloques longitudinales
poseen la propiedad de adherencia de sus
caras, posibilitando la formacin de valores
angulares determinados mediante adicin de
varios de ellos.

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 Magnitudes macrogeomtricas en metrologa dimensional

Patrones materializados para mediciones angulares (ii)

Polgonos pticos
Son prismas de altura reducida, cuyas bases
estn formadas por polgonos regulares, de
p. ej., 4, 8, 12, 24, 36 o 72 lados, que
materializan en el centro ngulos de 90,
45, 30, 15, 10 y 5 respectivamente.

El material del que estn fabricados vara

desde el acero al vidrio, siendo su principal
caracterstica la alta reflectividad de las caras
laterales, dado que su calibracin implica la
utilizacin de mtodos pticos, basados en el
empleo de autocolimadores.

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Mediciones de defectos de forma

Las medidas de forma cubren un amplio abanico, desde la determinacin de rectitud o

planitud, hasta la cilindricidad y la redondez.

La dificultad para el control de formas reside bsicamente en la eleccin de las

referencias matemticas de clculo para la determinacin de la verdadera forma y
posicin de la pieza, a partir de los valores obtenidos mediante palpado sobre la misma.

Normalmente se acude a ecuaciones matemticas de ajuste por mnimos cuadrados,

aunque existen otros criterios, aplicables segn el defecto de forma en cuestin.

Para la puesta a punto y calibracin de los propios equipos medidores de defectos de forma,
es necesario contar con patrones especficos. Es el caso de los patrones de dimetro
interior, con defecto de forma inferior a 20 nm, los cilindros patrn de
perpendicularidad, los flick standard (patrones de amplificacin), o los patrones de
redondez (hemisferios) de vidrio, etc.

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Patrones materializados para mediciones de defectos de forma

Cilindros de perpendicularidad y esferas patrn

Redondez: Es este uno de los defectos ms

importantes, por cuanto cualquier tipo de
fabricacin posee una serie de componentes cuya
forma es redonda en todas o algunas de sus
secciones (ejes, rodamientos, engranajes, cilindros,
etc.). La cuestin importante, desde el punto de
vista dinmico, es conocer y cuantificar la magnitud
del defecto de redondez que caracteriza a dichos
elementos.

Adems, podemos mencionar el defecto de

perpendicularidad (entre ejes, entre eje y plano,
entre planos) y el de cilindricidad (forma
cilndrica), obtenible a partir de la determinacin de
redondez en varias secciones.

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Mediciones de calidad superficial (i)

Independientemente del proceso utilizado,

durante el mecanizado de una pieza o
elemento, la superficie siempre porta
deformaciones. La produccin de piezas con
superficies geomtricas ideales no es fcil, y en
aquellas en que se alcanza un grado de perfeccin
alto; p. ej., bloques patrn, el coste econmico es
muy elevado.

Cualquier desviacin respecto a la superficie

geomtrica ideal tiene influencia sobre el
comportamiento funcional del elemento en
cuestin.

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Mediciones de calidad superficial (ii)

Todas las superficies mecanizadas poseen una mezcla de deformaciones o irregularidades

(de forma, ondulaciones, rugosidades), distinguindose unas de otras por su espaciado
horizontal (longitud de onda caracterstica), ms que por sus amplitudes.

En los defectos de forma de gran longitud de onda, la longitud del defecto

suele ser igual a unas 1000 veces su amplitud.
En el caso de la ondulacin, la relacin entre el espaciado de los defectos y la
amplitud mxima de los mismos suele hallarse entre 100:1 y 1000:1.
En el caso de la rugosidad, el espaciamiento entre defectos, suele ser del
orden de 5 a 100 veces la amplitud mxima de los mismos.

La normalizacin internacional ha definido una serie de parmetros para caracterizar el

acabado superficial. La mayora de estos parmetros se basan en el perfil obtenido al
analizar una seccin o corte de la superficie, tomado en la direccin que presumiblemente
aporta mayores defectos.

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Mediciones de calidad superficial (iii)

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 Magnitudes microgeomtricas en metrologa dimensional

Patrones materializados para mediciones de calidad superficial (i)

Para el ajuste y calibracin de los

instrumentos empleados en calidad
superficial, se utilizan patrones de
ranura y/o de escaln, algunos de
ellos portando varias ranuras, con los
que se procede a verificar la
amplificacin vertical del equipo de
medida (mtodo esttico). Estos
patrones son calibrados previamente
mediante contacto, microscopa
interferencial o SPM (AFM).

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 Magnitudes microgeomtricas en metrologa dimensional

Patrones materializados para mediciones de calidad superficial (i)

Tambin se utilizan patrones de

rugosidad (mtodo dinmico). Estos
patrones poseen una superficie rugosa
con parmetros de rugosidad
perfectamente conocidos, y permiten
verificar no solamente la amplificacin
del sistema, sino el comportamiento
total del instrumento; es decir, palpador
(radio de la punta, comportamiento
dinmico), indicacin del valor medido y
registro del perfil.

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