PROGRAMA DE CURSO

Cdigo Nombre
Observacin de superficies a escala atmica con microscopia de puntas de
prueba
Nombre en Ingls
Surface image at atomic scale by using scanning probe microscopy
Horas Horas de
Unidades Horas de
SCT Docencia Trabajo
Docentes Ctedra
Auxiliar Personal
5 1 4
Requisitos Carcter del Curso
FI3102 Fsica Moderna Electivo
Resultados de Aprendizaje

Al final del curso el estudiante tendr:

un conocimiento del microscopio tnel y de fuerza atmica, los principios bsicos
de funcionamiento y el rango de aplicabilidad.
un conocimiento terico en la interpretacin de imgenes de microscopia,
obtencin de informacin estructural y/o electrnica de las muestras bajo estudio.

Actividades de Aprendizaje Evaluacin General

En este curso se quiere introducir a los Las instancias de evaluacin son:

estudiantes en una de las herramientas Informe final escrito.
de caracterizacin ms poderosas en la Presentacin final oral.
ciencia de superficies y nanoestructuras.
El curso esta estructurado en cinco
semanas, donde se realizaran cinco
sesin de ctedra y cinco sesiones de
laboratorio.

Unidades Temticas

Nmero Nombre de la Unidad Duracin en

Semanas
1 Aspectos tericos-experimentales de la formacin 1
de imgenes por tcnicas de puntas de prueba
Referencias a
Contenidos Resultado de Aprendizaje
la Bibliografa

Principios del funcionamiento de - Identificacin de las variables

un microscopio de punta de que permiten la obtencin de
prueba: Determinacin de la una imagen por la tcnica de
corriente tnel y de la fuerza microscopa de punta de
atmica. Obtencin de una imagen prueba.
por barrido. Ejemplos de las - Determinacin de propiedades
superficies ms conocidas. morfologicas de la superficie.
 Nmero Nombre de la Unidad Duracin en
Semanas
2 Mediciones con microscopa de efecto tnel 2
Referencias a
Contenidos Resultado de Aprendizaje
la Bibliografa

Mediciones sobre superficies - Reconocer las puntas de STM.

conductoras por medio de - Preparar y montar puntas de
microscopa de efecto tnel (STM): STM.
- Grafito, y - Medir en un STM.
- Pelcula de oro. - Identificacin de estructuras
superficiales.

Nmero Nombre de la Unidad Duracin en

Semanas
3 Mediciones con microscopa de fuerza atmica 2
Referencias a
Contenidos Resultado de Aprendizaje
la Bibliografa

Mediciones sobre superficies - Reconocer puntas de AFM.

aisladoras por medio de - Montar puntas de AFM.
microscopa de fuerza atmica - Medir en un AFM.
(AFM) en modo contacto: - Identificacin de estructuras
- Mica, y superficiales.
- Pelcula de Nquel.

Bibliografa General

(1) J.A. Stroscio y W.J. Kaiser (editores), Scanning Tunneling Microscopy, Academic
Press, volumen 27, 1993.
(2) R. Wiesendanger, Scanning probe microscopy and spectroscopy, methods and
applications, Cambridge university press.
(3) C. Bai, Scanning Tunneling Microcopy and its applications, Springer series in
Surface Science, volumen 32, 1995.

Vigencia desde:
Elaborado por: Marcos Flores Carrasco
Revisado por: