Caracterizacion De Una Fuente De Luz Y Otras Aplicaciones Del

Interferometro De Michelson-Morley
Carlos Andres Cely Vergara
27 de noviembre de 2016

Resumen
En el presente documento se presentan y discuten los resultados obtenidos de la experiencia
Michelson-Morley del laboratorio de Mediciones de Optica y Ac ustica, en dicha experiencia usando
un interferometro de precision de la marca PASCO, se caracteriz o una fuente de luz monocrom atica
proveniente de un l aser de He-Ne con una longitud de onda medida de = 625,55 nm 14,95 nm con
la cual se encontro la constante de calibracion del tornillo del interfer
ometro con un valor de 1,0128, se
encontro la longitud de onda de una fuente de luz desconocida con = 531,29 nm 5,77 nm con un
error porcentual del 0,133 %, se midio el indice de refracci
on de una lamina de vidrio n = 1,52740,0671
con un error porcentual del 0,878 % y finalmente se encontr o el indice de refracci
on del aire en la ciudad
de Bogot a-Colombia n = 1, 0001642 con un error porcentual del 0,0128118 %.

1. Introducci
on luz producidos se reflejan en espejos semitranspa-
rentes colocados a distancias diferentes del divisor,
El interfer
ometro de Michelson-Morley es un arre- posteriormente vuelven a ser recombinados al in-
glo
optico, el cual utiliza espejos semitransparen- cidir nuevamente sobre el divisor de haz y pasan
tes (Semi-Transparents Mirrors), lentes (Lens), un finalmente por una lente de 45mm y son proyecta-
l
aser (Laser )y un divisor de haz (Beam splitter), dos sobre una pantalla [1].
para realizar interferencia entre 2 haces de luz que
recorren 2 caminos opticos distintos ortogonales. El
primer haz de luz recorre un camino optico que tie-
ne longitud fija mientras que el segundo recorre un
camino de longitud variable, dichos haces se ha-
cen incidir sobre una pantalla, donde los frentes de
onda provenientes de caminos distintos producen
interferencia sobre la pantalla [4].
Para el montaje experimental se us o un Inter-
fer
ometro de precision de Michelson-Morley de la
marca PASCO, el cual toma la luz incidente de un
l
aser de He-Ne, que posteriormente pasa por una
lente de 18mm, seguido a esto el rayo de luz encuen- Figura 1: Interferometro de presicion de PASCO
tra un divisor de haz colocado a 45o , el cual separa puesto en el modo de Michelson-Morley .
el rayo en 2 haces perpendiculares y los enva por
dos caminos opticos distintos, donde los haces de Debido a que se esta usando una luz monocromati-

1
ca proveniente de un l
aser de He-Ne, no es necesario
usar el plato compensador que trae el dispositivo
PASCO ya que debido a que solo se usa una lon-
gitud de onda, la cual es altamente coherente, de
esta manera solo existira un coeficiente de refrac-
ci
on en el divisor de haz y no existrira aberracion
por color[5].
2. Marco Te orico
A continuacion se presentara el marco teorico a con-
siderar en las diferentes partes de la experiencia de
Michelson-Morley.
2.1. Medici on Longitud De Onda De
Una Fuente De Luz Desconoci-
da 2.3.
Debido a que la luz que realiza la interferencia en
la pantalla proviene del mismo haz y por ello de
la misma fuente, los rayos incidentes en la panta-
lla poseen la misma fase, de esta manera la inter-
ferencia producida por los rayos solo depende de
la diferencia de longitud en el camino optico; si se
mueve uno de los espejos una distancia de /4, la
diferencia de camino optico entre los dos haces, se-
ra de /2, as el sistema presentara un corrimiento
en el patr
on de interferencia (el mnimo sera ahora
un m aximo), mientras que si se presenta un mo-
vimiento del espejo m ovil de /2, la diferencia de
camino optico entre los haces sera de , debido a
que es una relaci on entre n
umeros enteros el patron
de interferencia permanecer a inalterado[3].
De esta manera es posible encontrar una relacion
entre la longitud de onda de la luz incidente , la
diferencia de camino optico representada por el co-
rrimiento del espejo movil dN y el n
umero de veces
que cambia el patron de interferencia en la pantalla
N , de esta manera se plantea la siguiente ecuacion
que relaciona los par ametros anteriormente men-
cionados [2].
2dN
= (1)
N cias se alineo el montaje optico del interferometro
2.2. Medici
on Del Indice De Refrac-
ci
on De Una Lamina De Vidrio
Si se desea encontrar el indice de refracci
on de un
material transparente (permite el paso de la luz),
se puede variar la longitud del camino optico entre
los rayos del interferometro colocando dicho mate-
rial en uno de los brazos del interferometro. De esta
manera al cambiar el angulo de incidencia de la luz
sobre el material, se produce un cambio en la longi-
tud del camino optico, producido por la refraccion
de la luz cuando esta cambia de medio, lo cual ge-
nerara un cambio en el patron de interferencia en la
pantalla. La ecuacion que relaciona la longitud de
onda , el indice de refraccion n, el n
umero de veces
que cambia el patron de interferencia N y el angulo
de incidencia de la luz en la muestra de material
considerando una lamina de espesor t es [1]
(2t N )(1 cos)
n= (2)
2t(1 cos) N
Medici
on Del Indice De Refrac-
ci
on Del Aire
Considerando un gas que se comporte de manera
lineal en su indice de refraccion confinado dentro
de una recamara de longitud d cuyo indice de re-
fraccion en funcion de la presion es n = 1 + pp0 y
tomando lo mencionado en la guia de PASCO[6]:
ni nf N 0
= (3)
pi pf 2d(pi pf )
Es posible encontrar una forma funcional entre el
numero de veces que cambia el patron de interferen-
cia N en funcion de la longitud de onda incidente
0 , la longitud de la camara d, la presion del gas
p, la presion atmosferica p0 y el parametro , cuya
forma funcional se presenta a continuacion:
2d p
N= (4)
0 p0
3. Procedimiento
A continuacion se mostraran los procedimientos y
montajes utilizados para la realizacion de la ex-
periencia de Michelson-Morley de Mediciones de
Optica y Ac ustica; para cada una de las experien-
de la misma manera, de esta manera la alineacion
general del sistema se realizo como se muestra a
continuacion.
Se alineo el laser con el espejo movil, procuran-
do que la luz incidiera en el centro del espejo.
2
 Se aline
o las reflexiones provenientes del espe-
jo, de tal manera que volvieran a incidir a la
boca del laser.
Se alineo el divisor de haz, de tal manera que
la reflexi
on producida por este volviera a inci-
dir en la boca del laser, se coloc
o una pantalla
entre el divisor de haz y el espejo m ovil para
evitar segundas reflexiones durante la calibra-
ci
on del divisor de haz.
Se aline
o el espejo fijo, de tal manera que coin-
cidieran lo mejor posible los puntos de las re-
flexiones de los espejos, para esto se retiro la
pantalla que estaba colocada entre el divisor
de haz y el espejo movible y se ajusto el siste-
ma con la ayuda de la lente de 45mm de foco
colocada delante del divisor de haz.
Se coloco la lente de 18mm de foco en frente
al l
aser y finalmente se aline
o con todo el sis-
tema obteniendo un patr on de interferencia en
la pantalla.
asumiendo que la escala graduada del torni-
llo micrometrico mide directamente el despla-
zamiento real del espejo movil y con ello el
cambio en la longitud de camino optico que
genera la interferencia en la pantalla, esto se
realizo para saber que tan buena era la cali-
bracion que posee el aparato de fabrica; Para
esto se conto el n
umero de veces que cambio el
patron de interferencia vs el desplazamiento en
el espejo movil dado por el tornillo micrometri-
co.
La segunda experiencia consistio en medir el
desplazamiento del espejo movil, usando la
fuente de luz conocida, por medio de la ecua-
cion (1), para poder calcular el desplazamiento
del espejo movil, se conto el numero de veces
que cambio el patron de interferencia; a par-
tir de dicha medicion se calculo la constante
de calibracion del tornillo micrometrico del in-
terferometro de precision PASCO, la cual rela-
ciona el desplazamiento realizado en el tornillo
micrometrico y el desplazamiento real del es-
pejo movil en el sistema.

3.2. Medici
on Longitud De Onda De
Una Fuente De Luz Desconoci-
da
Para la medicion de la longitud de onda de una
fuente de luz desconocida, se utilizo un apuntador
laser verde de 532 nm (reportado por su fabricante)
Figura 2: Patron de Interferencia obtenido despues y el interferometro de precision PASCO; la luz se
de la alineaci
on. hizo incidir sobre el montaje optico y se conto el
n umero de veces que cambio el patron de interfe-
rencia vs el desplazamiento real del espejo movil,
3.1. Medici on De La Constante De dado por la correccion de la medida reportada por
Calibraci on Del Tornillo Mi- el tornillo micrometrico por medio de la aplicacion
crom etrico de la constante de calibracion.
Para la medicion de la constante de calibracion del
tornillo micrometrico se utilizo una fuente de luz 3.3. Medici on Del Indice De Refrac-
conocida (laser rojo de He-Ne de 633 nm), la cual ci
on De Una Lamina De Vidrio
se hizo incidir sobre el interfer
ometro de precision
PASCO de Michelson-Morley, se plantearon 2 si- Para la medicion del indice de refraccion de una la-
tuaciones diferentes: mina de vidrio se utilizo una fuente de luz conocida
(laser rojo He-Ne de 633 nm), la cual se hizo inci-
La primera experiencia consisti o en medir la dir sobre el interferometro , se coloco una lamina
longitud de onda de la fuente conocida, usan- de vidrio (espesor 6 mm 0,5mm) en uno de los
do la ecuacion (1), creyendo en la calibracion brazos del interferometro sobre un soporte que per-
hecha por el al fabricante del interferometro, mita variar el angulo de incidencia de la luz sobre

3
la lamina de vidrio. Se calcul o el indice de refrac-
ci
on del vidrio usando la ecuaci on (2), se conto el
numero de veces que cambi o el patron de interfe-
rencia vs el angulo de incidencia de la luz sobre la
lamina de vidrio.

3.4. Medici
on Del Indice De Refrac-
ci
on Del Aire
Para la medici on del indice de refracci
on del aire se
utiliz
o una fuente de luz conocida (l aser rojo He-
Ne de 633 nm),, se coloc o una recamara de vaco
(3 cm de longitud) en uno de los brazos del inter-
fer
ometro. Usando una bomba manual se extrajo Figura 3: Distancia Vs N laser rojo.
aire de la recamara y de esta manera se vario la
presion en el sistema, se conto el n
umero de veces
que cambio el patr on de interferencia vs la presion En la figura (3), se puede apreciar la regresion li-
de la recamara. Usando la ecuaci on (4) se calculo el neal obtenida, donde se tiene que = 625,55 nm
parametro . 14,95 nm, lo cual nos dice que la calibracion del
tornillo micrometrico es necesaria.

4. An
alisis Y Resultados
A continuacion se muestran los datos experimenta-
A continuaci on se presentara el analisis de los datos les de la medicion del n umero de veces que cambia
experimentales de la experiencia Michelson-Morley el patro n de interferencia (N) para una longitud de

del laboratorio de Mediciones en Optica y Ac ustica. onda conocida (l
a ser rojo de He-Ne 633nm), pa-
ra calcular el desplazamiento real del espejo movil
(DR), el cual se calculo con ayuda de la ecuacion
4.1. Medici on de la constante de (1), posteriormente se compara con la distancia me-
calibraci on del tornillo mi- dida por el tornillo micrometrico (DT) y se encuen-
crom etrico tra la constante de calibracion como la razon entre
A continuaci on se presentaran los datos experimen- la medida real(calculada mediante el experimento)
on de la fuente creyendo en sobre la teorica (medida por el tornillo).
tales de la caracterizaci
la calibraci
on del interfer
ometro.
Desplazamiento Real /
Distancia en m 0.5 m N promedio 1 N DR en m DT en m
Desplazamiento Teorico
5 16 16 5,064 5 1,0128
10 32 32 10,128 10 1,0128
15 48 48 15,192 15 1,0128
20 64 64 20,256 20 1,0128
25 80 80 25,32 25 1,0128
30 96 96 30,384 30 1,0128
Cuadro 1: Distancia Vs N l
aser rojo.
Cuadro 2: Calculo de la constante de calibracion
Con los datos experimentales se realiz o la linealiza- del tornillo micrometrico.
ci
on de la ecuaci
on (1), cuya pendiente es la longi-
tud de onda de la fuente a caracterizar. A conti-
nuaci on obtenida usando De esta manera se encontro que la constante de
on se muestra la linealizaci
el programa SciDAVis de distribuci on gratuita [9]. calibracion del tornillo micrometrico es 1,0128.

4
4.2. Medici
on Longitud De Onda De 4.3. Medici
on Del Indice De Refrac-
Una Fuente De Luz Desconoci- ci
on De Una Lamina De Vidrio
da
A continuacion se muestran los datos experimenta-
Luego de calcular la constante de calibraci on se pro-
les tomados de N en funcion del angulo de inciden-
cedio a caracterizar una fuente de luz desconocida,
cia de la luz a la lamina de vidrio.
se uso la constante de calibraci on encontrada pa-
ra corregir la distancia medida mediante el torni-
llo micrometrico y se cont o el n
umero de veces que
Angulo o
0,5o N 1
cambi o el patr
on de interferencia en funci
on del des- 2 4
plazamiento.Los datos experimentales se muestran 4 16
a continuaci on. 5 25
6 36
DT m 0,5m DR m 0,5m N 1
8 63
5 5,064 19
10 100
10 10,128 39
15 15,192 56 Cuadro 4: Datos experimentales Lamina de vidrio.
20 20,256 75
25 25,32 95
30 30,384 114
35 35,448 133 Con los datos experimentales se realizo la linea-
40 40,512 152 lizacion de la ecuacion (2), cuya pendiente es el
45 45,576 171 indice de refraccion de la lamina de vidrio a carac-
50 50,64 191 terizar, los errores fueron propagados usando dis-
persion cuadratica de errores antes de realizar la
Cuadro 3: Datos Experimentales Caracterizacion linealizacion .
Fuente Desconocida.

Con los datos experimentales se realiz

o la linealiza-
ci
on de la ecuaci
on (1), cuya pendiente es la longi-
tud de onda de la fuente a caracterizar.

Figura 5: Calculo indice de refraccion lamina de

vidrio.
Figura 4: Distancia Vs N l
aser verde.

En la figura (4), se puede apreciar la regresion li-
neal obtenida, donde se tiene que = 531,29 nm
5,77 nm, con lo cual se obtiene una medida muy
cercana al valor te
orico de referencia ( = 532nm
dado por el fabricante), se tiene un error porcentual
en la medida de 0,133 %
En la figura (5), se puede apreciar la regresion lineal
obtenida, donde se tiene que n = 1,5274 0,0671,
con lo cual se obtiene una medida muy cercana al
valor teorico de referencia (nvidrio = 1,5141 tomado
de [7]), se tiene un error porcentual en la medida
de 0,878 %

5
4.4. on Del Indice De Refrac- para el aire a temperatura 0co y a una atmosfera de
Medici
ci
on Del Aire presion ), se tiene un error porcentual en la medida
de 0,0128118 %
A continuacion se muestran los datos experimenta-
les tomados de N en funcion de la presi
on absoluta (
presion atmosferica de Bogot
a 560 mmHg - presion 5. Conclusiones
lectura de la recamara).
Las conclusiones que quedan de la experiencia de
P mmHg10mmHg N Michelson-Morley son las siguientes:
500 2
La alineacion del sistema optico es algo fun-
420 4
damental si se quieren realizar medidas de al-
340 6
ta precision como las realizadas con el inter-
260 8
ferometro PASCO, se recomienda invertir la
200 10
suficiente cantidad de tiempo en la alineacion
140 12
y de esta manera alinear lo mejor posible el
100 13
equipo y mejorar considerablemente la medi-
60 14
cion.
Cuadro 5: N Vs P absoluta. Se propone un metodo de alineacion del sis-
tema Interferometro PASCO, relativamente
Con los datos experimentales se realiz o la linea- rapido si se tiene un poco de experiencia con el
lizaci
on de la ecuaci on (4), cuya pendiente es el aparato. Se recomienda explorar vas alterna-
parametro a caracterizar, los errores fueron pro- tivas de alineacion de los instrumentos opticos
pagados usando dispersi on cuadr atica de errores para poder realizar una alineacion mas efec-
antes de realizar la linealizaci
on . tiva y rapida, ya que el metodo de alineacion
propuesto es un poco engorroso.

Con el interferometro de precision PASCO,

es posible caracterizar diversos sistemas fsi-
cos con una muy buena precision, con un error
porcentual menor al 1 %.

Es necesario procurar mantener los equipos en

optimas condiciones de funcionamiento y de
ser posible el estudiante debe arreglar los dis-
positivos y solucionar los problemas que esten
a su alcance (sin generar mayores problemas),
as como tambien cuidar exhaustivamente los
equipos para garantizar el aprendizaje de las
Figura 6: C
alculo Par
ametro . futuras generaciones

Se recomienda al laboratorio de optica y

En la figura (6), se puede apreciar la regresion lineal
obtenida, donde se tiene que = 0, 000164244
0, 0000035016, con lo cual se puede calcular final-
mente el indice de refraccion del aire a la presion
atmosferica de Bogot a (n = 1 + pp0 ), evaluando
la funcion en p0 , se tiene que el indice de refrac-
ci
on en el aire a la presi
on atmosferica de bogota es
n = 1, 00016, medida muy cercana al valor teorico
de referencia (n = 1, 0002924 tomado de [8], valido
acustica fijar el interferometro a una mesa
optica para facilitar el montaje del instrumen-
to.
Como experimentador es muy importante no
siempre creer lo que los fabricantes dicen acer-
ca de los aparatos, realizar una optima calibra-
cion de los instrumentos a utilizar en una me-
dicion se hace muy importante e incluso nece-

6
 sario, ya que mejora considerablemente la ca- [4] Interferometro de Michelson. Wikipedia.
pacidad de medici on de los equipos, como lo es https://es.wikipedia.org/wiki/Interfer %C3 %B3metro
el caso del interfer
ometro de PASCO. de Michelson. Visitado el 31 de Octubre de

La fsica experimental le ense

na a uno a tener
paciencia, a ser persistente y perseverante con
los montajes, ya que siempre algo puede salir 2016.
mal y uno debe desarrollar la capacidad para
darse de cuenta y no perder tiempo. [5] Is a compensator plate ne-
cessary?. Stack Exchange.
Se encontr o que la constante de calibracion del http://physics.stackexchange.com/questions
tornillo tiene un valor de 1,0128, la longitud /170836/michelson-interferometry-is-a-
de onda de una fuente de luz desconocida = compensator-plate-necessary. Visitado el 31
531,29 nm 5,77 nm , el indice de refraccion
de una lamina de vidrio n = 1,5274 0,0671 y de Octubre de 2016.
el indice de refraccion del aire en la ciudad de
Bogot a-Colombia n = 1, 0001642.
[6] Guia laboratorio UNAL. De-
partamento de Fsica UNAL.
Referencias https://drive.google.com/drive /fol-
ders/0ByPyXHxvaDovT3Z3eDhDT1o5bGs.
[1] Presicion Interferometer. Pasco. Visitado el 31 de Octubre de 2016.
http://fisica.uc.cl/images/ interferometro.pdf.
Visitado el 31 de Octubre de 2016.
[7] Indice de refraccion vidrio. Mikhail Polyans-
[2] Interferometra Interfer
ometro de kiy. http://refractiveindex.info/?shelf=glass&
Michelson. Universidad de Buenos book=BK7& page=SCHOTT. Visitado el 31 de
Aires - Departamento de Fsica. Octubre de 2016.
http://users.df.uba.ar/sgil/labo5 uba/guias
/activ VI 56.pdf. Visitado el 31 de Octubre [8] Tabla de indices de refraccion. VAXA.
de 2016. http://www.vaxasoftware.com/doc edu/fis/
[3] Interfer
ometro de Michelson. Uni- inrefraccion.pdf. Visitado el 1 de Noviembre de
versidad Nacional del Rosario. 2016.
http://www.fceia.unr.edu.ar/fisicaexperimental
IV/CATEDRA/Interferometro %20de [9] SciDAVis HOME. SciDAVis.
%20Michelson.pdf. Visitado el 31 de Octubre http://scidavis.sourceforge.net/. Visitado
de 2016. el 1 de Noviembre de 2016.