INGENIERIA DE MATERIALES

Nombre: Marlon Pujos

Difraccin de rayos X
La difraccin ocurre cuando una onda se encuentra una serie de obstculos
separados regularmente que son capaces de dispersar la onda y estn
separados por distancias comparables a la magnitud de longitud de onda.
Cuando un haz de rayos X incide en un material solido parte de este se difracta
en mltiples direcciones debido a os electrones que se encuentran en los tomos
o iones en ellos. La difraccin de rayos X se utiliza para determinar la estructura
cristalina y la distancia interplanar. Un haz de rayos X dirigido a un material
cristalino puede experimentar difraccin (interferencia constructiva) como
resultado de la interaccin con una serie de planos atmicos paralelos.
La ley de Bragg describe este proceso como resultado de que dos planos
paralelos con indices de miller h, k y l separados por una distancia interplanar
de incide con un angulo por esto ocurre una interferencia constructiva donde
los tomos dispersados tengan el mismo valor de la longitud de onda por tanto
establecemos la relacin "n = 2d sen()" ademas podemos calcular la distancia
interplanar en funcin de los nmeros de miller donde la distancia sera igual a
el aprametro de la red sobre la norma del vector h, k y l.
Es posible trabajar con monocristales o con polvo microcristalino,
consiguindose diferentes datos en ambos casos. Para la resolucin de los
parmetros de la celda unidad puede ser suficiente la difraccin de rayos X en
polvo, mientras que para una dilucidacin precisa de las posiciones atmicas es
conveniente la difraccin de rayos X en monocristal.
La cristalografa de rayos X desempe un papel esencial en la descripcin de
la doble hlice de la molcula de ADN esta tcnica se utiliza ampliamente en la
determinacin de las estructuras.
MTODOS DE DIFRACCIN DE RAYOS X
Mtodo de Laue
Consiste en hacer incidir en un cristal un espectro continuo de rayos X, de tal
manera que para cada longitud de onda, existir un determinado ngulo. El
mtodo de transmisin de Laue (a) en la figura consiste en colocar esta pelcula
detrs del cristal como se ve a la derecha. Por el contrario, en el mtodo de
reflexin (b) en la figura de Laue, la pelcula se interpone entre la fuente y el
cristal, esta posee un agujero que deja pasar los haces de rayos X.
En el mtodo de transmisin de Laue los haces difractados forman un patrn de
machas circular o elptico y en cambio, el patrn formado en el mtodo de
reflexin de Laue son hiprbolas.

Mtodo de rotacin de cristal

Se hace incidir un haz de rayos X monocromticos sobre un cristal. Para detectar
los haces difractados, la pelcula es envuelta de forma cilndrica de tal manera
que rodee al cristal. El cristal se hace girar sobre el eje perpendicular al haz
incidente, el cual coincide con el eje del cilindro. Para encontrar el ngulo al cual
se cumple la ley de Bragg, el giro del cristal se hace sucesivamente de 0 a 90,
hasta encontrar el patrn de difraccin mostrado en la figura.

Mtodo del polvo

El cristal a analizar es reducido a polvo de tal manera que forme un conjunto de
pequeos cristales. Si se tuviese un cristal y en l se hiciera incidir un haz
monocromtico, el haz se difractara a un ngulo en particular. Al hacer girar este
cristal de 0 a 360, el haz formar un cono cuyo eje coincide con el del haz
incidente. El inters de este mtodo en tomar varios cristales, es formar este
cono con las distintas orientaciones posibles de los diversos cristales
En efecto todos los planos en la red cubica simple tiene espaciamiento menor que el del
cubo o planos {100}, en la siguiente ecuacin para el espaciamiento de los planos
cristalogrficos en una red cubica, donde h, k y l son los ndices de Miller de un plano
en un cristal cubico el espaciamiento interplanar del plano y a la longitud del borde de
la celda unitaria

=
2 + 2 + 2
Distancia entre planos cbicos.
Y de acuerdo con la ley de Bragg
= 2()
Y si enfocamos muestra en la reflexin el primer orden de n es igual a uno

= 1 ( )
2
Si el plano con el espaciamiento mayor reflectara al ngulo menor.