Boletn

Tcnico

Septiembre 2010 No. 11

CONTROL ESTADISTICO DE PROCESO

Tabla 1 Resultados de clculos
Concepto Smbolo Frmula
Nmero de mediciones N -
Valor mximo MAX -
Valor mnimo MIN -
Rango R R = MAX-MIN
Promedio X X= X i

N
Desviacin X R (R ) = R / d 2 N X i2 ( X i )
2

(n 1) =
X S (s ) = S / C4 N ( N 1)
X - Rs

(Cp ) = USL LSL

ndice de capacidad del Cp
proceso (Cp ) = USL LSL 6 (n 1)
*1, *4
6
Caso de X-R, X-S Caso de X-Rs
ndice de capacidad del Cpk
Z min
proceso Cpk =
3
ndice de capacidad de Cm USL LSL USL LSL
maquina Cm = Cm =
6 (n 1) 8 (n 1)
*1, *4

Caso de X-R, X-S Caso de X-Rs

ndice de capacidad de Cmk Z min
Cmk = Z min *2, *4
maquina Cmk =
3 4
Caso de X-R, X-S Caso de X-Rs
Fraccin defectiva P
P=
(+ NG ) + ( NG ) x100 *3
N
Fraccin efectiva estimada Pe Calculada de ZUSL, ZLSL y la grfica de distribucin normal *4, *5
3SD SD: (n-1) (SD = Desviacin estndar)

Notas: bajo la tabla 2 en la pgina 2 Mitutoyo Mexicana, S.A. de C.V.

Oficinas de servicio:
CONTENIDO Naucalpan: ingenieria@mitutoyo.com.mx
CONTENIDO
Monterrey: m3scmty@mitutoyo.com.mx
Resultados de clculos Pgina 1 Aguascalientes: mitutoyoags@mitutoyo.com.mx
Resultados de clculos Pgina 1
Frmulas para grficas de control Pgina 2 Quertaro: mitutoyoqro@mitutoyo.com.mx
Frmulas para grficas de control Pgina 2
Constantes para grficas de control Pgina 3 Tijuana: Mitutoyotj@mitutoyo.com.mx
Constantes para grficas de control Pgina 3
Entendiendo la variacin Pgina 5 Colaboradores de este nmero
Entendiendo la variacin Pgina 5 Ing. Jos Ramn Zeleny Vzquez
Control de Proceso X-R Pgina 6
Control de Proceso X-R Pgina 6 Ing. Hugo D. Labastida Jimnez
Capacidad del proceso Pgina 8
Capacidad del proceso Pgina 8 Ing. Hctor Ceballos Contreras

1
Tabla 2. Formulas para grficas de control
Grfica Frmula
(Smbolo)
X R X S X Rs
X X i *1 X k
X= X=
n m
R, S Rs R=MAX(Xi)-MIN(Xi) Rsk = xk + 1 -Xk
nX i2 (X i )
2
S=
n(n 1)

Xk --------
X X=
m

R, S Rs Rk Sk Rsk
R= S= Rs =
m m m 1
X-UCL X UCL = X + A2 R X UCL = X + A3 S X UCL = X + 2.659 Rs
X-UCL
X-LCL X LCL = X A2 R X LCL = X A3 S X LCL = 2.659 Rs
X-LCL
R-UCL
S-UCL R UCL = D 4 R S UCL = B4 S RS UCL = 3.267 Rs
Rs-UCL
R-LCL
R LCL = D3 R *2 S LCL = B3 S *3 --------------
S-LCL
Para la Tabla 1
Para la tabla 2
*1: USL: Lmite superior de la tolerancia, LSL: Lmite
*1: n = tamao de muestra
inferior de la tolerancia
m = nmero de subgrupos
*2: Zmin: ZUSL o ZLSL cualquiera que sea el menor
j = entre 1 y n
USL X X LSL k = entre 1 y m
ZUSL = Z LSL =
(n 1) (n 1) *2: R-LCL es calculado cuando el tamao de la
muestra es mayor que 7
*3: +NG o -NG es el nmero de defectivos.
*3: S-LCL es calculado cuando el tamao de
*4:"**** es graficado para Cp, Cpk, Cm, Cmk y Pe
muestra e mayor que 6
cuando (R), (S), (n-1) = 0
*5: Los valores de Cpk, Cmk y Pe no son
garantizados en el, caso de X>USL o X<LSL

2
Tabla 3 Constantes para grficas de control
Tamao X-R X-s
de
muestra A2 d2 D3 D4 A3 C4 B3 B4
n
2 1.880 1.128 - 3.267 2.659 0.7979 - 3.267
3 1.023 1.693 - 2.574 1.954 0.8862 . 2.568
4 0.729 2.059 - 2.282 1.628 0.9213 - 2.266
5 0.577 2.326 - 2.114 1.427 0.9400 - 2.089
6 0.483 2.534 - 2.004 1.287 0.9515 0.030 1.970
7 0.419 2.704 0.076 1.924 1.182 0.9594 0.118 1.882
8 0.373 3.847 0.136 1.864 1.099 0.9650 0.185 1.815
9 0.337 2.970 0.184 1.816 1.032 0.9693 0.239 1.761
10 0.308 3.078 0.223 1.777 0.975 0.9727 0.284 1.716
11 0.285 3.173 0.256 1.744 0.927 0.9754 0.321 1.679
12 0.266 3.258 0.283 1.717 0.886 0.9776 0.354 1.646
13 0.249 3.336 0.307 1.693 0.850 0.9794 0.382 1.618
14 0.235 3.407 0.328 1.672 0.817 0.9810 0.406 1.594
15 0.223 3.472 0.347 1.653 0.789 0.9823 0.428 1.572
16 0.212 3.532 0.363 1.637 0.763 0.9835 0.448 1.552
17 0.203 3.588 0.378 1.622 0.739 0.9845 0.466 1.534
18 0.194 3.640 0.391 1.608 0.718 0.9854 0.482 1.518
19 0.187 3.689 0.403 1.597 0.698 0.9862 0.497 1.503
20 0.180 3.735 0.415 1.585 0.680 0.9869 0.510 1.490
21 0.173 3.778 0.425 1.575 0.663 0.9876 0.523 1.477
22 0.167 3.819 0.435 1.566 0.647 0.9882 0.534 1.466
23 0.162 3.858 0.443 1.557 0.633 0.9887 0.545 1.495
24 0.157 3.895 0.451 1.548 0.619 0.9892 0.555 1.445
25 0.153 3.931 0.459 1.541 0.606 0.9896 0.565 1.435

http://www.cenam.mx/simposio2010
3
 Nuevo
Nuevoservicio
serviciode
decalibracin
calibracinde
depatrones
patrones Nuevo curso de introduccin a la
Nuevo curso de introduccin a la
Metrologa Dimensional 8h
de rugosidad
de rugosidad Metrologa Dimensional 8h
Noviembre 4 Naucalpan $ 2100 mas IVA
Noviembre 4 Naucalpan $ 2100 mas IVA

Mitutoyo Mexicana, S.A. de C.V. a

travs de su departamento de
ingeniera de servicio tiene disponible
servicio de medicin de piezas, para
Incluye
Incluye 20%
20% de
de descuento
descuento en
lo cual cuenta con variedad de refacciones
en
refacciones yy en
en servicio
servicio de
de
equipo, tal como Mquinas de reparacin
reparacin durante
durante la
la vigencia
vigencia
del
del contrato
contrato
Medicin por Coordenadas (CMM),
equipo de medicin por visin (QV, Prioridad
Prioridad en
en
QS, QI), mquina de medicin de programacin
programacin
redondez y otras caractersticas Se requiere dibujo o modelo
geomtricas, equipo de medicin de CAD o instrucciones
Sin
Sin gastos
gastos de
de
contorno (perfil), mquinas de detalladas de, que es lo que viaje
viaje dentro
dentro de
de
se desea medir para obtener un
un radio de 50
radio de 50
medicin de dureza, equipo de km
km desde
desde
una cotizacin y acordar nuestros
nuestros centros
medicin de rugosidad, tiempo de entrega. Este de
de servicio
centros
servicio
comparadores pticos y microscopios, servicio se ofrece con PAQUETES
PAQUETES DE DE
lo cual permite una gran variedad de trazabilidad a patrones CALIBRACIN
CALIBRACIN
opciones para resolver nacionales de longitud. Se
eficientemente cualquier tipo de entrega reporte de medicin. 33 equipos
equipos 10%
10% Uso
Uso de
de software
software de
de
inspeccin
inspeccin original
original de
medicin dimensional. 66 equipos
equipos 15%
15% Mitutoyo
Mitutoyo
de

Ms
Ms de
de 66 equipos
equipos 20%
20%
Condiciones
Condiciones sujetas
sujetas aa cambio
cambio sin
sin previo
previo aviso
aviso
4
 Porcentajes de la distribucin normal

ENTENDIENDO LA VARIACIN

Los histogramas muestran

rapidamente si la
Frecuencia

variacin en los resultados

esta formando un patrn
definido.
TAMAO
Curva de frecuencia suavizada

Si dibujamos una curva suave a traves de lo alto

de cada barra del histograma, obtenemos un
patrn en forma de campana.
Calibracin de
Los patrones de variacin que siguen los
anillos patrn de
principios de la distribucin normal pueden ser
6 a 120 mm con descritos por su LOCALIZACIN y DISPERSIN
mquina que como sigue:
incorpora una
holo escala lser En la figura 1 el patrn de variacin en las dos
con resolucin de curvas con forma de campana A y B son idnticas.
Sin embargo, el valor central del tamao ocurriendo
0,1 m y
ms frecuentemente en cada curva es diferente.
repetibilidad de
0,2 m C
SERVICIOS A B
ACREDITADOS
D

calibracion@mitutoyo.com.mx TAMAO TAMAO

Figura 1 Figura 2
Pregunte por nuestros cursos En la figura 2 el valor central de las dos curvas con
sobre uso de software especifico forma de campana C y D es el mismo pero la
para equipo de medicin dispersin de la variacin de la curva D es mayor
que la curva C
ingenieria@mitutoyo.com.mx
5
 CONTROL DE PROCESO X y R
Registre 25 conjuntos de 5 lecturas consecutivas a intervalos regulares, calcular X y R para cada conjunto de
lecturas.
Para interpretar grafica de rangos para control
Grafique los 25 puntos de los rangos (R) sobre la grafica de rangos
Suma de los 25 Rangos (R)
Calcular R =
25

0.4
Rangos
UCLR
0.3

0.2

0.1 R
0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25

X .70 .77 .76 .60 .75 .73 .73 .72 .78 .87 .75 .76 .72 .71 .72 .76 .76 .67 .70 .62 .66 .68 .70 .64 .66

R .20 .20 .10 .15 .20 .20 .15 .20 .20 .20 .40 .20 .05 .25 .15 .15 .15 .10 .20 00 00 .20 .16 .10 .10

Rangos
4.45
R= = .178
25
Calcular los lmites de control para rangos

UCLR = D4 x R LCLR = D3 x R

Tamao de muestra 2 3 4 5 6 7 8 9 10

D4 3.27 2.57 2.28 2.11 2.00 1.92 1.86 1.82 1.78

D3 0 0 0 0 0 0.08 0.14 0.18 0.22

NOTA: Para tamaos de muestra de 2 a 6 el LCLR = 0

UCLR = 2.11 x .178 = .376
Grafique R, UCLR y LCLR sobre la grfica
Interpretar la grfica de control aplicando las siguientes pruebas
1) Nmero de puntos fuera de los lmites de control
2) 2/3 de puntos en el centro 1/3 de puntos cerca de los lmites de control
3) No hay una corrida de 7 puntos consecutivos todos arriba o debajo de la lnea de R
4) No hay una corrida de 8 puntos consecutivos hacia arriba o hacia abajo
Si alguno de las 4 pruebas anteriores falla, el proceso esta fuera de control para rangos.
Investigar para causas especiales y corregir
Si se pasan todas las 4 pruebas, interpretar la grfica X

6
 Para interpretar las grficas de control de promedios (X)
Grafique los 25 puntos de los promedios (X) sobre la grfica de promedios

Suma de los 25 Promedios (X)

Calcular X =
25

0.9
Promedios
0.85

0.8
UCLX
0.75

0.7 X
0.65

0.6 LCLX
0.55

0.5
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25

X .70 .77 .76 .60 .75 .73 .73 .72 .78 .87 .75 .76 .72 .71 .72 .76 .76 .67 .70 .62 .66 .68 .70 .64 .66

R .20 .20 .10 .15 .20 .20 .15 .20 .20 .20 .40 .20 .05 .25 .15 .15 .15 .10 .20 00 00 .20 .16 .10 .10

17.90
X= = .716
25
Calcular los lmites de control para promedios

Tamao de muestra 2 3 4 5 6 7 8 9 10

A2 1.88 1.02 0.73 0.58 0.48 0.42 0.37 0.34 0.31

UCLX = X + (A2 x R) LCLX = X (A2 x R)

UCLX = .716 + (0.58 x .178) = .819
LCLX = .716 + (0.58 x .178) = .613
Graficar X, UCL y LCL en la grfica

Interpretar la grfica para control aplicando las siguientes pruebas

1) Ningn punto fuera de los lmites de control
2) 2/3 de puntos en el centro 1/3 de puntos cerca de los lmites de control
3) No hay una corrida de 7 puntos consecutivos todos arriba o debajo de la lnea de X
4) No hay una corrida de 8 puntos consecutivos hacia arriba o hacia abajo

Si alguno de las 4 pruebas anteriores falla, el proceso esta fuera de control para promedios.
Investigar para causas especiales y corregir
Si se pasan todas las 4 pruebas, el proceso esta en control para promedios y rangos.

7
 Capacidad de proceso Grficas de control por variables
Considerando que el proceso esta en X1 + X2 +.....Xn
control tanto para X y R X y S la
Media de subgrupo X=
n
desviacin del proceso s puede ser Rango de subgrupo R = Xmayor - Xmenor
n
(Xi X)2
calculada por cualquiera de las Desviacin estndar de subgrupo s = n 1
siguientes formas: i=1

R .178 (X es el valor medido, n es el nmero de valores)

Para X-R = = = 0.0769
d 2 2.33 Media del proceso X = X1 + X2 +....Xm
Para X-S = S m
c4 R1 + R2 + ...... Rm
USL X Media de rangos R=
Cp Capacidad de proceso = m
6
s1 + s2 + ......sm
Cp ndice de capacidad = mnimo de Desviacin estndar de la media s =
m
(m es el nmero de subgrupos)
USL X X USL
y UCLX, LCLX = X (A2)R
6 3
UCLR = (D4)(R)
Un proceso con Cpk de 1= Proceso
capaz a 3^ LCLR = (D3)R (si n>6)
Un proceso con Cpk de 1.33 = Proceso UCLs = (B4)s
capaz a 4^ LCLs = (B3)s (si n>5)

PROXIMOS CURSOS INSTITUTO DE METROLOGA MITUTOYO

Metrologa Dimensional 1 (MD1) 08-09 Noviembre Naucalpan $ 4300 ms IVA
Metrologa Dimensional 2 (MD2) 10-11-12 Noviembre Naucalpan $ 6200 ms IVA
Calibracin de Instrumentos (CIVGP) 22-23-24 Noviembre Naucalpan $ 6600 ms IVA

Control Estadstico del Proceso (CEP) 02-03 Septiembre Naucalpan $ 4300 ms IVA
25-26 Noviembre Naucalpan $ 7500 ms IVA
Tolerancias Geomtricas Norma ASME Y14.5-2009 13-14-15 Septiembre Tijuana
24-25-26 Noviembre Monterrey
Especificacin y Verificacin Geomtrica de Producto 10 Septiembre Naucalpan $ 5100 ms IVA
20-21-22 Septiembre Naucalpan $ 6200 ms IVA
Incertidumbre en Metrologa Dimensional
06-07-08 Diciembre Naucalpan
23-24 Septiembre Naucalpan $ 4400 ms IVA
Anlisis de Sistemas de Medicin (MSA) 30 Sep-01 Oct Monterrey
11-12 Noviembre Tijuana
27-28-29 Septiembre Naucalpan $ 6200 ms IVA
Aplicacin de ISO 17025 en Laboratorios de Calibracin
08-09-10 Noviembre Tijuana
Verificacin Geomtrica de Producto con CMM 29 Septiembre Naucalpan $ 2100 ms IVA
Medicin de Acabado Superficial para Verificacin 30 Septiembre Naucalpan $ 2100 ms IVA
Geomtrica de Producto
Equipo ptico y lser para Verificacin Geomtrica de 01 Octubre Naucalpan $ 2100 ms IVA
Producto sin contacto
Cualquiera de los cursos anteriores en sus instalaciones Fechas de comn acuerdo pedir cotizacin
Informes e inscripciones: capacitacion@mitutoyo.com.mx
Tel: (0155) 5312 5612 www.mitutoyo.com.mx 8