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LISANDRO ALVARADO
DECANATO DE CIENCIAS Y TECNOLOGA
PROGRAMA INGENIERA DE PRODUCCIN
BASES TERICAS
Proceso
de
Reconstruccin
de
Subcomponentes
Metalmecnicos
de
y la desviacin estndar
de la
=np
Y los lmites de control estn dados por:
LCS (Lmite de Control Superior) =
np+3 np ( 1 p )
LC= np
LCI (Lmite de Control Inferior) = np3 np ( 1C )
Donde n es el tamao de subgrupo y p es la proporcin promedio de artculos
defectuosos; entonces definimos el valor p como:
p=
Nmero de Defectos
total de inspeccionados
LCSLCI
LCS
=
6
6 (np( 1 p ) )
Proceso no capaz
Proceso justamente capaz
Proceso capaz
=np como el
Cpk=Min
LCS LCS
,
3
3
Min
LCSnp
npLCI
,
3 np(1np) 3 np(1np)
siguiente tabla se
muestran las primeras cuatro mtricas basadas en los defectos, sus ecuaciones y
descripcin:
Tabla 4. Mtricas del Seis Sigma
Nombre de la mtrica
Defectos
(DPO)
por
oportunidad
Ecuacin de la mtrica
DPU =
D
N
DPO=
D
N O
Descripcin
Toma el nmero de defectos
que se observaron en las
unidades
inspeccionadas,
permite saber cul es el
promedio de defectos por
unidad de produccin.
Toma el nmero de defectos
que se obtienen del proceso,
sobre las oportunidades que
son propensas de fallar
durante el proceso de
produccin
Esta
mtrica
es
un
complemento de la DPO y
DPU en el
D
6
Defectos por Milln de
DPMO=
10
Caso de que la unidad tenga
N O
oportunidades (DPMO)
una sola oportunidad. Se
obtiene al multiplicar las
anteriores por un milln.
Se obtiene al multiplicar a
DPU por un milln. Se utiliza
D
6
Defectos por Milln de
cuando
un
producto.
10
DPMU= N
solamente
tiene
una
unidades (DPMU)
caracterstica de
Calidad.
Fuente: Correa (2003). 6 Sigma Nuevo paradigma para medir la calidad. (pp. 5-8)
Donde:
D= Nmero de defectos; N=Nmero de unidades producidas; O= Oportunidades
de presentar defectos en la unidad
Mtricas de Rendimiento (Yield)
Segn Correa (Ob.Cit) las mtricas de rendimiento estn basadas en los
productos que salen buenos o que estn libres de defectos. A continuacin, en la
siguiente tabla se muestra una breve descripcin de las mtricas de rendimiento
:
Tabla 5. Mtricas del Rendimiento
Nombre de la mtrica
Ecuacin
Descripcin
Esta perspectiva relaciona
con las entradas
Salida
EntradaDefectolas salidas
Defecto
Y=
=
=1
del
proceso
obteniendo la
Entrada
Entrada
Entrada
fraccin
conforme
del
mismo.
Rendimiento a la primera
vez
(FTY)
Rendimiento Normalizado
(NRTY)
Muestra la probabilidad de
que un elemento pasa a
EntradaDefectoRetrabajo
travs de un proceso con
FTY =
Entrada
xito la primera vez. Incluye
los efectos de inspeccin,
retrabajo y desperdicio.
El rendimiento combinado
total de una corriente de
n
proceso. Le indica la
RTY =
FTYi
probabilidad de que un
i=1
elemento pasa a travs de
todos los pasos del proceso
con xito la primera vez.
Es la probabilidad promedio
por cada paso de todo el
n
proceso para producir cero
N
NRTY =
FTYi
productos defectuosos.
i=1
Fuente: Correa (2003). 6 Sigma Nuevo paradigma para medir la calidad. (pp. 5-8)
Segn Berger (2010), el rendimiento Yield puede obtenerse usando los DPU
usando la relacin:
Y =eDPU
Para entender esta relacin considrese la probabilidad de observar x eventos
bajo la distribucin de Poisson, dada por la funcin de probabilidad de Poisson:
P ( , )=
X e
X!
por unidad
( Defectos
Unidad )
P ( , DPU )=
DPU X eDPU
X!
DPU e
P (=0 )=
0!
Estudio de Capacidad
Para el estudio de capacidad realizado se aplican todas las definiciones
estudiadas en las bases tericas referentes a la capacidad para variables tipo
atributos. A continuacin en la siguiente tabla se presentan los mtodos a aplicar
para el clculo de la capacidad y las herramientas aplicadas en cada mtodo.
Mtodo
Capacidad mediante grficas de
control
Herramientas
-Grficas de control
-ndice Cp
-ndice Cpk
-Mtricas del Seis Sigma:
-DPU
-DPMU
-DPO
-DPMO
-Mtricas de rendimiento:
- Yield
-Relacin Yield-DPU
-Nivel Sigma :
-Mediante DPMO
-Mediante el
Rendimiento
-Mediante tablas
MTODO PROPUESTO
C 0+C 1 P+C 2 P
2
3
1+ D 1 P+ D2 P +D3 P
ya que esta es
de
las
paradas
en
el
proceso
de
reconstruccin
de