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Difraccion 1
Difraccion 1
Objetivo
Caracterizacin de los polvos obtenidos por el mtodo de la molienda mecnica
citada en la prctica anterior.
Antecedentes
Hace algo ms de un siglo, en 1895 W. K. Rntgen, cientfico alemn, descubri
una radiacin, desconocida hasta entonces y que denomin rayos X, capaz de
penetrar en los cuerpos opacos. Las aplicaciones de los rayos X en el campo de
la Medicina son de todos conocidas, radiografas, tomografas, etc., pero su uso
tambin se ha extendido a otras reas como la deteccin de microfracturas en
metales o en el anlisis de obras de arte
El fundamento de esta tcnica reside en el fenmeno conocido como dispersin
scattering de radiacin X cuando incide sobre la materia. Este fenmeno
consiste en que parte de la radicacin X incidente se desva de su direccin
original por interaccin con el material irradiado.
Tcnicas difractrometricas
En funcin del tipo de fuente de partculas empleada se puede hablar de
difraccin de rayos X, difraccin de neutrones y difraccin de electrones. De
estas, la difraccin de rayos X es, sin duda, la tcnica de aplicacin ms
general y la ms ampliamente utilizada para la identificacin de especies
cristalinas, determinacin de estructuras cristalinas.
El mtodo ms habitual y prctico de produccin de rayos X, se basa en el
hecho de que cuando una partcula, con masa muy pequea y dotada de una gran
energa cintica, choca contra un material, una pequea parte de dicha energa
se invierte en la produccin de rayos X.
Las partculas ms utilizadas para este bombardeo son los electrones, y el
dispositivo instrumental utilizado se conoce con el nombre de tubo de rayos X.
Existen distintos tubos de rayos X, pero los ms utilizados son los de ctodo
incandescente, cuyo esquema se muestra en la figura 1.
Los elementos bsicos de este tipo de tubos (figura 1) son: un filamento capaz
de emitir electrones por calentamiento, que hace de ctodo, y un nodo
metlico, situados ambos dentro de una ampolla de vidrio en la que se ha hecho
un elevado vaco.
Figura2.- Espectro de rayos X emitido por un tubo de rayos X. La posicin de la longitud de onda
mnima slo depende de la diferencia de potencial aplicada al tubo, mientras que su intensidad total
slo depende de la diferencia de potencial y de la intensidad de corrientes aplicadas. Espectro
caracterstico: la posicin de sus distintos mximos de intensidad (l1, l2,) slo dependen del
elemento que forma el nodo del tubo; su intensidad depende tambin de la diferencia de potencial
y de la intensidad de corriente aplicadas.
Ley de Bragg
Histricamente mucho del entendimiento que tenemos de los arreglos atmicos
y moleculares en los slidos han sido resultado de investigaciones mediante
rayos-X.
Otras relaciones de fase son posibles entre las ondas dispersadas que no
resultan en un reforzamiento mutuo. La otra situacin extrema se demuestra
en la Figura 3(b), donde la diferencia de las longitudes de los caminos
recorridos despus de la dispersin es un nmero integral de la mitad de la
longitud de onda. Las ondas dispersadas estn fuera de fase esto es, se
cancelan las amplitudes correspondientes o se anulan una a la otra, interfieren
destructivamente (p.ej. la onda resultante tiene una amplitud cero), como se
indica en el lado derecho de la Figura. Es claro que una relacin de fases
intermedias entre estos dos casos extremos es posible, dando como resultado
un reforzamiento parcial.
Los rayos-X son un tipo de radiacin electromagntica que tiene una alta
energa y longitudes de onda muy cortas, las longitudes de onda son del orden
de espacios atmicos de los slidos. Cuando un haz de rayos-X incide sobre un
material slido, una porcin de este rayo se dispersar en todas las direcciones
por los electrones asociados a cada tomo o in que est dentro del camino del
haz. Consideremos ahora las condiciones necesarias para la difraccin de
rayos-X por un arreglo peridico de tomos. Si se tienen dos planos de tomos
A-Ay B-B , como se muestra en la siguiente Figura, que poseen los mismos
ndices de Miller h,k y l, y estn separados por la distancia interplanar dhkl .
Asumiendo que un haz de rayos-X de longitud de onda , paralelo,
monocromtico y coherente (en fase) incide en estos dos planos con un ngulo
, dos rayos de este haz (1 y 2), son dispersados por los tomos P y Q.
Ocurrir una interferencia constructiva entre los rayos dispersados (1y 2) a
un ngulo de los planos, si la diferencia de la longitud del camino recorrido
entre 1-P-1y 2-Q-2 (p.ej., SQ +QT ) es igual a un nmero n, de longitudes de
onda. Esta es la condicin de difraccin:
(Ec 1)
Figura 4.- Difraccin de rayos-X por los planos de tomos A-A y B-B
W. L. Bragg visualiz la difraccin de rayos-X en trmino de reflexiones
provenientes de los planos de un cristal, dando como resultado la simple
relacin (conocida como la Ley de Bragg):
Ec.2
Figura 6.- Difractograma de espumas de aluminio mostrando las fases presentes y los planos de
difraccin. Espumas A, B y C representan diferentes tamaos de clula.
Procedimiento experimental
Esta prctica consisti en colocar dos muestras de polvos que se obtuvieron
por el mtodo de la molienda mecnica en el difractrometro, para incidir rayos
X sobre ellas y as poder caracterizar estos polvos.
Recordando que se llevaron a cabo dos moliendas (Molienda 1 y Molienda 2),
para ello fue necesario el estudio de las dos siguientes reacciones qumicas,
mostradas en u na practica anterior:
Para la Molienda 1
CoCl2+2Na+NaClextra
Para la Molienda 2
Co+2NaCl+ NaClextra
(Reaccin 1)
0.2CoCl2+0.8FeCl2+4Na+NaClext
Co0.2+Fe0.8+4NaCl+NaClextra (Reaccin2)
Intensidas(u.a)
18000
16000
14000
12000
10000
8000
6000
4000
20
30
40
50
60
70
80
90
100
110
120
95000
90000
85000
80000
75000
70000
65000
60000
55000
50000
45000
40000
35000
30000
25000
20000
15000
20
30
40
50
60
70
80
90
100
110
120
Intensidad (u.a)
2500
2000
1500
1000
500
0
0
10
20
30
40
50
60
70
80
90
100
110
120
Intensidad (u.,a)
70000
60000
50000
40000
30000
20000
10000
20
30
40
50
60
70
80
90
100
110
120
Molienda vial 1corto (15min), debido al ruido presente en esta parte del
difractrograma, no es posible discernir un pico entre 41 y 42, tambin es
posible contribuir este efecto ya que el tiempo en el cual se cre el anterior
difractrograma fue menor y por lo tanto la resolucin es menor.
En el
Intensidad
27.35
31.693
41.61
42.36
44.44
45.44
47.43
53.88
56.45
66.22
73.13
75.25
83.97
92.37
101.52
108.01
110.057
27911
91018
21948
20894
24751
51755
24367
20144
27309
21749
10567
25409
23143
19733
19922
18980
20466
Intensidad
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
27.34
31.71
44.83
45.44
53.83
56.46
65.08
66.22
73.09
75.27
82.56
84.00
101.09
110.35
18861
71982
17651
41033
11672
18212
10977
13180
10449
10515
10958
13486
10681
11169
Imgenes de las cartas de difraccin, usadas para identificar los picos en las
moliendas.
Anlisis de resultados
Se procede a identificar cada uno de los picos experimentales en ambas
moliendas, consultando las cartas de difraccin (de los reactivos y productos,
mostrados en las reacciones qumicas).
Pico
1
2
3
4
5
6
2
27.35
31.693
41.61
42.36
44.44
45.44
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
47.43
53.88
56.45
66.22
73.13
75.25
83.97
92.37
101.52
108.01
110.057
Intensidad Estructura
2
27911
NaCl
26.834
91018
NaCl
31.082
21948
Co(HCP)
41.57
20894
24751
Co(HCP)
44.47
51755
NaCl
44.533
24367
20144
27309
21749
10567
25409
23143
19733
19922
18980
20466
Co(HCP)
NaCl
NaCl
NaCl
NaCl
NaCl
NaCl
NaCl
NaCl
47.43
52.759
55.300
64.805
71.456
73.612
82.036
88.230
Intensidad
95
999
272
h
1
2
1
k
1
0
0
l
1
0
0
283
577
2
2
0
2
0
0
999
17
167
65
7
157
104
6
1
3
2
4
3
4
4
5
0
1
2
0
3
2
2
1
1
1
2
0
1
0
2
1
2
27.34
31.71
44.83
45.44
53.83
56.46
7
8
9
10
65.08
66.22
73.09
75.27
Intensidad Estructura
2
18861
NaCl
26.834
71982
NaCl
31.082
17651
Fe(FCC)
44.67
41033
NaCl
44.533
11672
NaCl
52.759
18212
NaCl
44.533
10977
13180
10449
10515
Fe(FCC)
NaCl
NaCl
NaCl
65.02
52.759
55.300
64.805
Intensidad
95
999
999
577
17
577
h
1
2
1
2
3
2
k
1
0
1
2
1
2
l
1
0
0
0
1
0
115
17
167
65
2
3
2
4
0
1
2
0
0
1
2
0
82.56
2
84.00
101.09
110.35
10958
Fe(FCC)
Intensidad Estructura
13486
NaCl
10681
11169
82.34
2
82.036
174
2
Intensidad h
104
4
1
k
2
1
l
2
Bibliografa
http://ocw.uc3m.es/ciencia-e-oin/caracterizacion-de-materiales/practicas2/Practicas_de_DRX.pdf
http://prof.usb.ve/hreveron/capitulo3.pdf