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ESTRUCTURA DE MATERIALES
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Fundamento terico
Una de las funciones ms importantes de la ingeniera es la cuantificacin de
los fenmenos de la naturaleza, de manera tal que puedan ser manipulados a
travs del uso de las matemticas. La determinacin del tamao de grano de
materiales policristalinos es una de las ms importantes mediciones
estereolgicas que pueden efectuarse, dada la influencia tan importante del
tamao de grano en el comportamiento y las propiedades de los metales.
Existen varios mtodos para determinarlo, entre los que se cuentan: El mtodo
planimtrico de Jeffries y el mtodo del intercepto de Heyn. Tambin existen
patrones estndar que pueden ser colocados en el microscopio de manera que
pueda determinarse, directamente sobre la muestra, el nmero ASTM de
tamao de grano. .
FRACCIN DE VOLUMEN
Para efectuar esta prueba se emplea una rejilla transparente de plstico con un
nmero de puntos sistemticamente (usualmente se emplean cruzados, donde
el punto es la interseccin de los brazos) espaciados, tpicamente de 9, 16,
25, 49, 64 y 100, que se coloca sobre una micrografa y en una pantalla de
proyeccin o insertada como una retcula en el ocular. Se cuenta el nmero de
puntos que yacen a lo largo de la fase o constituyente de inters y se divide
por el nmero total de puntos de la rejilla. El nmero de puntos que yacen
sobre una frontera, lmite o contorno se cuenta como medio punto. Este
procedimiento se repite sin predisposicin en un nmero de campos
seleccionados, es decir, sin mirar la pantalla.. La fraccin punto PP est dada
por:
PP = Pa / PT ... (1)
donde Pa es el nmero de puntos de la rejilla que yacen o descansan dentro de
la partcula, figura o forma de inters, ms la mitad del nmero de puntos de la
rejilla que descansan en los lmites, bordes o frontera de la partcula y PT es el
nmero total de puntos de la rejilla. Los estudios han mostrado que la fraccin
punto es igual a la fraccin rea AA y a la fraccin volumen VV de las partculas
de la segunda fase.
PP = AA = VV .. (2)
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MTODOS DE INTERCEPCIN
El mtodo de intercepcin es ms rpido que el mtodo planimtrico debido a
que la microfotografa o patrn no requiere marcas para obtener un conteo
exacto. La ASTM E112 recomienda el uso de un patrn consistente en 3 crculos
concntricos con una longitud total de la lnea de 500 mm (patrn disponible
de la ASTM).
Ejemplo de la medicin de tamao de grano,
usando el mtodo de intercepcin de Heyn.
Los 3 crculos concntricos tienen dimetros
de 79.5 x 47.8 y 31.8 mm para una lnea de
longitud total de 500 mm. La ampliacin de
esta micrografa es 500 X de aqu que la real
es 1 mm.
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CUESTIONARIO
1. DESCRIBIR Y FUNDAMENTAR LOS MECANISMOS EN LA ETAPA
DE RECUPERACIN, RECRISTALIZACIN Y TAMAO DE GRANO.
La deformacin plstica de una probeta metlica policristalina, a temperaturas
que son bajas con respecto a la temperatura de fusion, produce cambios en la
estructura y propiedades, alguno de los cambios son:
a. Cambio en la forma de grano
b. Endurecimiento por deformacin.
c. Aumento en la densidad dislocante
Las propiedades y estructuras pueden recuperar sus valores anteriores a la
deformacin en fro mediante tratamientos trmicos apropiados. Tales
fenmenos de restauracin resultan de distintos procesos que ocurren a
temperaturas elevadas:
RECUPERACIN
RECRISTALIZACIN
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25
50
75
10
0
15
0
20
0
250
30
0
50
0
750
100
0
0.0
2
0.12
5
0.5
1.12
5
4.5
12.
5
18
50
112.
5
200
Como para el tamao de la fotografa con esos aumentos (200x) se hace muy
difcil trabajar con un dimetro de tamao de 79.8 cm, se hace una proporcin
para trabajar con otros tamaos de la foto, despus, una vez hallados el
tamao de grano aparente, con la proporcin anteriormente usada hallamos el
verdadero tamao de grano
Para el caso de la fotografa dada se us una circunferencia de 19.95mm; lo
que se hace con una proporcin de 1:4
Se contabilizan los granos internos y los granos cortados de cada
circunferencia y se halla su nmero total de granos con ayuda de la formula
mencionada anteriormente
Sacamos el promedio de los nmeros de granos hallados y lo remplazamos en
la frmula para hallar el tamao de grano.
Los datos obtenidos fueron.
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TEMPERATURA DE RECRISTALIZACIN
45 MINUTOS A 350 C
granos internos
12
13
granos
cortados
11
numero de
granos
120
12
0
108
100
El promedio del
nmero
de
granos va ser el
nmero total de
granos.
Promedio = 112
Con la formula
dada
anteriormente
hallamos
el
nmero de granos /mm2: nmero de granos /mm2 = 112
Como se hizo con una proporcin de 1:4 el verdadero nmero de granos /mm 2
ser: nmero de granos /mm2= 448 granos /mm2
Mtodo HILIARD
Hilliard ha inventado un mtodo para determinar el equivalente N de ASTM por
medio de los nmeros de lneas cortadas (Pi): SE provee de dos figuras
circulares
de
conocida
longitud (10 y 20 cm.)
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Donde:
Ni: nmero de granos cortados por la circunferencia
Pi: Numero de intersecciones de la circunferencia y bordes de grano
Lt: Longitud de la circunferencia por el nmero de veces utilizados
L: Dimetro o tamao de grano
M: Aumento empleado
Como para el tamao de la fotografa con esos aumentos (200x) se hace muy
difcil trabajar con un radio de tamao de 10 cm, se hace una proporcin para
trabajar con otros tamaos de la foto, despus, una vez hallados el tamao de
grano aparente, con la proporcin anteriormente usada hallamos el verdadero
tamao de grano
granos
cortados
promedio
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conclusiones
1.1.
El mtodo planimtrico de Jeffries se emplea preferentemente para
granos equiaxiales, como es el caso de las microestructuras completamente
recocidas, pero puede utilizarse cuando los granos no son equiaxiales sobre el
vidrio deslustrado del microscopio o sobre una micrografa. Se limita
preferentemente por una circunferencia de 79,8 mm de dimetro, un rea de
5000 mm2 admitindose tambin, un contorno cuadrado de 70,7 mm.
1.2.
La medicin del tamao de grano relaciona, en el material, el nmero de
granos por unidad de rea, el dimetro promedio y la intercepcin promedio.
1.3.
El procedimiento ms sencillo para estimar la fraccin volumtrica es el
de ver toda la microestructura y tratar luego de estimarlo al ojo, sin
embargo, como es lgico este es un procedimiento conducente a error. Otros
mtodos desarrollados, como las plantillas patrones, aunque reducen la
subjetividad, dependen en mucha medida del parecido de la muestra estudiada
con la del patrn.
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BIBLIOGRAFIA
1. http://es.slideshare.net/DarioCutipa/metalografia-cuantitativa
2. https://es.scribd.com/doc/46163214/Metalografia-cuantitativa#download
3. Metalografa A.P. GUILAVEV TOMO 1
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BIBLIOGRAFIA
SYDNEY H.AVNER (1988). Introduccin a la metalurgia fsica. Mc Graw
Hill.
ASM INTERNATIONAL (1987). Metals Handbook Volume 09 Metalografy
and Structure.
http://repository.unilibre.edu.co/bitstream/10901/7826/2/VasquezTorresE
dwinLibardo2013Anexos.pdf [Fecha de consulta: 09 junio 2015].
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