Revista Bistua ISSN 01204211 Universidad de Pamplona, Pamplona-Colombia

Medida de la Orientacin, Posicin y Desplazamiento en el Plano de un Objeto por Codificacin de Fase

a

Nstor A. Arias H. a , Jaime E. Meneses a , Miguel A. Surez b y Tijani Gharbi b Grupo de ptica y Tratamiento de Seales, Escuela de Fsica, Universidad Industrial de Santander, A. A. 678 Bucaramanga, COLOMBIA; b Dpartement D'Optique, FEMTO-ST, 16 Route de Gray, 25030 Besanon, FRANCE

RESUMEN
En este trabajo se implementa un mtodo que permite medir con alta precisin, la posicin, el desplazamiento y la orientacin en el plano de un objeto mvil. Se fija una mira de referencia al objeto de estudio y se localiza en la escena por medio de un sistema de visin esttico con resolucin subpixel, en el plano perpendicular al eje ptico (in-plane) de la cmara. La utilizacin de la transformada de Fourier bidimensional, asociada a la aproximacin del plano de fase, permite la alta resolucin del sistema. Palabras Clave: deteccin de fase, procesamiento digital de imgenes, transformada de Fourier.

ABSTRACT
In this work we show a method that allows one to measure, with high precision, on a flat position, displacement and orientation of a mobile object. A reference pattern is fixed on the objects surface and is located on the scene by means of a static imaging system with subpixel resolution, on the perpendicular plane to the optical axis. The use of 2D Fourier transformer, associated to the approach of a flat phase allows the high resolution of the system. Keywords: Phase detection, Image processing, Fourier transformer.

1. INTRODUCCIN
El problema de medida de la posicin y del desplazamiento ha sido ampliamente estudiado y aplicado en varios campos de la ciencia e ingeniera y se han propuesto varios sensores de posicin o mtodos de medida [1,2,3,4]. En este trabajo, se desarrolla un mtodo sensible a la fase para la medida de la posicin y desplazamiento del movimiento de un objeto en una escena 2D. Este mtodo se basa en la determinacin de la posicin del patrn de referencia usando informacin de la distribucin de fase asociada a esta. El patrn de referencia esta constituido de una distribucin regular de cuadros blancos en un fondo negro, cuya espectral genera una distribucin de fase 2D continua y absoluta. La reconstruccin de la fase absoluta asociada a cada conjunto de franjas en cada direccin perpendicular permite la localizacin precisa del centro de la mira, que conlleva a la determinacin subpixel de la posicin del objeto. Los desplazamientos son calculados a partir de dos posiciones consecutivas. Este mtodo permite asimismo autocalibrarse, dado que la longitud de referencia es provista por patrn de referencia de fase. Las limitaciones que presenta este mtodo son principalmente debido a la introduccin de la distorsin de la imagen producida por el sistema ptico y que puede solucionarse fcilmente con una calibracin del sistema ptico e implementacin de procedimientos de compensacin. En la seccin 2 se presenta los fundamentos del mtodo, as como el patrn usado (mira), tambin un resumen del procesado digital de imgenes necesario para el clculo de la posicin y orientacin de la mira. En la seccin 3 se presentan los resultados experimentales para dos mtodos (con y sin defecto en la mira). En esta se muestra la resolucin en desplazamiento y orientacin, del mismo modo se presenta el comportamiento del sistema a el seguimiento del objeto en una trayectoria determinada tanto en desplazamiento como en rotacin.

2. FUNDAMENTOS DEL METODO.

En la figura 1(a) se muestra una imagen del patrn de referencia utilizado por una matriz de 15x15 cuadros blancos, ubicado sobre la superficie del objeto y observada por una cmara CCD, cuyo eje ptico es perpendicular al plano del patrn de referencia.

(a)

(b)

Figura 1. Imagen obtenida por la CCD, de la mira empleada (a). y su respectivo modulo sobre el espacio de frecuencias espaciales (b).

La figura 1(b), muestra la distribucin de frecuencias espaciales, que se obtiene con ayuda de la Transformada de Fourier bidimensional (TF-2D), de la imagen capturada por la CCD (Figura 1(a)). Se puede escribir la relacin entre dos imgenes por medio de la ecuacin.

F (u, v)
x, y

f ( x, y)e{2i

( xu yv )}

dxdy

(1) ,

donde la funcin espacial f ( x, y) es la distribucin de intensidad de la imagen y (u, v) definen las variables frecuenciales. Debido a que el patrn de referencia posee de dos sistemas de franjas perpendiculares entre si (frecuencias no cruzada), se calcula la distribucin de fase 2D de cada sistema de franjas, utilizando el algoritmo de extraccin de fase por TF-2D, en la cual se utiliza dos ventanas de Hamming wi centradas en los primeros armnicos ortogonales

(ui , vi ) , de la cual se obtiene dos distribuciones de filtradas del espectro de la imagen Fi (u , v) ;

Fi (u, v) F (u, v) w(u ui , v vi ) i 1,2
(2)

Al aplicarse la transformada de Fourier inversa bidimensional, por cada distribucin de frecuencias filtradas, se obtiene:

f i ( x, y)
u ,v

Fi (u, v)e{

2i ( xu yv )}

dudv

(3)

A partir de la distribucin compleja f i ( x, y ) , se calcula el modulo M i ( x, y ) y la fase pi ( x, y ) de cada funcin.

M i ( x, y ) pi ( x, y )

f i ( x, y ) f i * ( x, y ) Im( f i ( x, y )) tan 1 Re( f i ( x, y ))

i 1,2
(4)

La figura 2(a y b) muestra el modulo y la fase discontinua obtenidas con la ec. 2 respectivamente. La seleccin de la

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regin til, que posee informacin del los sistemas de franjas se realiza utilizando una mascara binaria obtenida de M i ( x, y ) . El umbral de binarizacin se obtiene de tal manera que el numero de discontinuidades es igual al nmero de franja y cuadros en cada sistema de franjas. Debido al alto contraste obtenido experimentalmente, un umbral de 0.1 para M i ( x, y ) normalizado selecciona correctamente la regin til. La figura 2(d) muestra la fase discontinua seleccionada usando la mascara de la figura 2 ( c).

(a)

(b)

(c)

(d)

M1 ( x, y) y la fase p1 ( x, y ) obtenida a partir de lbulo (u1 , v1 ) , (c) La mscara obtenida a partir del modulo M 1 ( x, y) y (d) la fase de trabajo.
Figura 2. (a y b) El Modulo

La figura 3(a y b) muestra la fase continua despus de realizar un procedimiento de correccin de fase discontinua. Utilizando como punto de partida el centroide de la mascara binaria. Utilizando un procedimiento de regresin lineal a partir de la fase continua calculada, se buscan los coeficientes a i , bi , y c i , del plano de interpolacin, definido por:

Pi ( x, y )

ai x bi y

ci

1,2

(5)

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(b)

Figura 3. (a y b) Fase continua para cada lbulo filtrado

(u1 , v1 )

(u1 , v1 ) .

Esta ltima aproximacin permite calcular el valor de la fase en todos los puntos del espacio para cada plano. Conociendo que el centro de cada cuadro especifico del patrn de referencia corresponde a valores de fase ( P 1, P 2) de cada distribucin de fase, la ec. 5 puede ser utilizada para calcular la coordenada ( x, y) del centro del cuadro deseado. As, conociendo

P1 y P2 las coordenadas de posicin se obtienen al resolver el sistema de ecuaciones.

a1 a2

b1 b2

x y

P 1 P2

c1 c2

(6)

Figura 4. Imagen de la mira y los puntos localizados sobre el,

En los cuales se designas los valores de ecuacin 5.

(P 1, P 2)

sobre la

A partir de la ecuacin anterior se calculan las coordenadas de cinco centros de cuadros sobre la mira, el cuadro del centro y los cuadros de las cuatro esquinas. El cuadro del centro permite determinar con una precisin subpixel la posicin de la mira, y los otros permiten calcular su orientacin. La figura 4 representa la mira y los puntos localizados sobre ella. Este mtodo nos permite tambin realizar una calibracin del tamao del pxel en la direccin x e y, usando el plano de

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fase de ajuste y los parmetros espaciales conocidos de la mira, a partir de:

x y
Donde

ai 2 o cos( i ) bi 2 o sin( i )

i 1,2
(8)

es la frecuencia de la mira y Error! No se pueden crear objetos modificando cdigos de campo. es el

ngulo de inclinacin de la mira para la direccin Error! No se pueden crear objetos modificando cdigos de campo..

3. RESULTADOS 3.1. Descripcin del Montaje.

La mira constituida por una matriz de 15x15 cuadrados es realizada con la ayuda de una impresora lser. Cada cuadrados tiene 1.023 mm de lado y una separacin de 1.932 mm . Ocupando as, una regin cuadrada de 28.08x28.08 mm . La figura 5 muestra el montaje experimental usado para registrar los desplazamientos de la mira, la cmara CCD ubicada con su eje ptico perpendicular al plano de la mira. La cmara CCD de 480x640 pxeles y una lente de focal 12 mm . Con el fin de evaluar el sistema, la mira es fijada sobre la parte superior de dos motores de traslacin de 25 mm de desplazamiento y 40 nm 2.16 arc sec .
a

de resolucin y un motor

de rotacin con una resolucin de

CCD

Figura 5. Esquema del montaje realizado.

3.1.2 Posicionamiento.
Una primera medida, es calcular el error cometido por el sistema al determinar la posicin de la mira. La Figura 6 muestra los valores calculados para 100 medidas realizadas, sin desplazamiento de la mira..

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(a)

Figura 6. Nube de puntos de coordenadas del centro de la mira calculada para 100 medidas.

La tabla 1, reporta la medida pico valle y la desviacin estndar

para la nube de puntos calculados.

Tabla 1. Resultados estadsticos obtenidos desde 100 medidas sin

desplazamiento de la mira. Coordenadas Pico Valle (Pixel) 0.0055 0.0054 0.3479 x10
3

(Pixel)

X
Y

9.9704 x10 0.0011 0.6267 x10

Se concluye, que el sistema presenta un error mximo de posicionado de 5.5x10 pxeles usando un factor de ampliacin de 190 micras/pxel en x e y . Con el fin de evaluar la efectividad del sistema en la determinacin del posicionamiento de la mira, se emplea los motores x-y al desplazarlos definiendo un patrn de letras mostradas en la figura 7(a). Se observa que el grupo de letras ocupa en total una dimensin inferior de un pxel en x e y. La figura 7 (b) muestra una trayectoria calculada por el mtodo. Con esto se demuestra la alta resolucin y precisin en el clculo del desplazamiento y posicin de la mira.

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(b)

(a)
Figura 7. (a) Trayectoria comandada sobre los motores (terico), (b) trayectoria calculada por el sistema (experimental), los puntos equivalentes a la posicin donde se hace una medida y la lnea representa la trayectoria seguida.

(b)

3.1.3 Rotacin
Con el fin de ver las limitaciones en la determinacin de la orientacin y su resolucin, se realiz un giro completo a paso de 1 , y se recuper la posicin para los 5 puntos de referencia sobre la mira (ver Figura 8(a)). La Figura 8 (b) muestra la posicin calculada para cada punto de referencia y la Figura 8 (c) presenta el ngulo medido versus el ngulo
____

de rotacin ordenado al motor (terico). Este ngulo es medido utilizando la inclinacin de la lnea BC entre los dos cuadros sobre la mira. Se observa que existe una limitacin en la rotacin de 90 que impide el seguimiento de la rotacin total. En la tabla 1 se reporta el error en la determinacin de la inclinacin de la mira. Este esta calculado a partir de 100 medidas para un ngulo fijo.

(b) (a)

(c)

Figura 8. (a) Imagen de la mira a cero grados con los cinco puntos remarcados en la mira. (b) Posicionamiento en el espacio de los cinco puntos de la mira, (c) Comportamiento del ngulo medido vs. el ngulo introducido por el motor de rotacin.

4. CONCLUSIONES
En este trabajo se presenta un mtodo para la medida de posicionamiento y de desplazamiento lateral as como tambin la rotacin de un objeto utilizando el clculo del plano de fase con la ayuda de TF. A diferencia de otros mtodos que utilizan otras trasformadas el mtodo empleado aqu permite hacer ms fcil el clculo de la zona de trabajo y es mas simple de implementar. El dispositivo esta basado sobre un sistema simple de visin que registra un patrn peridico, cuyas dimensiones reales son conocidas. El experimento muestra que se tiene la capacidad de determinar el posicionamiento y el desplazamiento lateral de un patrn con precisin subpixel de 5 x10
3

pixeles en las dos

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direcciones, as como la orientacin del patrn con una precisin de 1x10 rad , pero, con un limite de rotacin de 90 grados. En este mtodo la resolucin espacial depende de los parmetros del sistema de observacin, adicionalmente, el conocimiento de la frecuencia del patrn de fase empleado permite realizar una calibracin in situ.

AGRADECIMIENTOS
Esta trabajo es realizado con la colaboracin del Dpartement D'Optique, FEMTO-ST, Besanon, FRANCE. N. Arias Hernndez agradece a Colciencias y a la Universidad Industrial de Santander por su apoyo financiero.

REFERENCIAS
1. Y. Zheng, D. Bin, L. Xingzhan, and Y. Ren, Novel twodimensional position measurement method with linear array charge-coupled device, Opt. Eng. 37, 26012604 (1998). 2. P. Sandoz, J. C. Ravassard, S. Dembele, and A. Janex, Phase sensitive vision technique for high accuracy position measurement of moving targets, IEEE Trans. Instrum. Meas. 49 867872 (2000). 3. P. Sandoz, R. Escalona, V. Bonnans, and S. Dembele, From interferometry to image processing: Phase measurement vision method for high accuracy position sensing of rigid targets, in Proceedings of Interferometry in Speckle Light: Theory and Applications, P. Jacquot and J. M. Fournier, eds. (Springer-Verlag), New York, 1999) pp. 421428. 4. P. Sandoz, P. Humbert, V. Bonnans, and T. Gharbi, Mesure de position subpixel, French Patent No. 02 02547. 5. Y. Zheng, D. Bin, L. Xingzhan, and Y. Ren, Novel two dimensional position measurement method with linear array charge-coupled device, Opt. Eng. 37, 26012604(1998).

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