LINEA DELTIEMPO DEL MICROSCOPIO En 1590, Zachary Janssen, descubri que al observar un objeto relativamente pequeo por medio

de dos lentes de vidrio, su imagen visual apareca virtualmente ms grande. Despus lo perfeccion con ayuda de una base y cuatro tubos (para facilitar su uso y poder observar ms objetos), logrando un aumento 30 veces mayor. En el ao 1610 Galileo Galilei construy tambin un microscopio simple, al margen de haber construido los telescopios con los cuales descubrira planetas y alcanzara la inmortalidad empezando a modificar el pensamiento astronmico de su tiempo, situacin que se consolid con los trabajos de Nicols Copernico y Juan Kepler En 1665 hizo una observacin con el(, Robert Hooke microscopio de un delgado corte de corcho y pudo notar la porosidad del material; dichos poros, en conjunto, formaban cavidades que eran poco profundas a modo de cajas, a las mismas las llam clulas. Lo que haba observado Hooke era clulas muertas. En el ao 1683, Antonius Leenwenhoek, un naturalista holands y fabricante de lentes, comunic a la Sociedad real inglesa los resultados de las observaciones que l haba hecho con un microscopio simple de su propia construccin, magnificando de 100 a 150 veces. l encontr en la saliva, el sarro dental, etc., lo que denominaba animaculos. En 1827, el italiano Giovanni Battista Amici, construy los primeros microscopios de alta calidad desarrollando la primera ptica acromtica que correga ciertas aberraciones pticas Max Knoll y Ernst Ruska en Alemania en 1931 el microscopio electrnico inaugurando una nueva era en esta ciencia permitiendo aumentos impensados y permitiendo ver por primera vez en detalle las estructuras celulares Otro tipo de microscopio muy importante, surgido en el ao 1981, es el de barrido de efecto tnel, que est basado en la fsica cuntica y es capaz de revelar la estructura atmica de la materia con una resolucin superior a la del microscopio de transmisin. Las herramientas de investigacin que se han comentado aqu son solo una muestra de las que se hallan disponibles, cuyo nmero crece continuamente. La limitacin fundamental del microscopio con efecto tnel (la muestra necesariamente debe ser conductora) fue soslayada por los trabajos llevados a cabo en microscopia de fuerza atmica por Bin- nig, Quate y Gerber en 1986, y muestra que esta tcnica permite estudiar superficies aislantes. El punto comn de todas las microscopias de campo cercano es la punta, que debe ser lo ms fina posible. Desde su aparicin en el ao 1986 el microscopio de fuerza atmica o AFM por sus siglas en ingles, ha sido un instrumento importante para la investigacin de la microestructura de los materiales