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Control Estadístico de

Calidad

Carlos Viesca González

Carlos Viesca González 1


CAPÍTULO 1

Conceptos básicos y
variabilidad.

Carlos Viesca González 2


CALIDAD
(ISO 9000:2000)
 Grado en el que un conjunto de
características (rasgos diferenciadores)
inherentes (existen en algo, especialmente
como características permanentes) cumple
con los requisitos (necesidad o expectativa
establecida, generalmente implícita u
obligatoria).

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Dimensiones de la
calidad (Garvin, 1987)
La calidad de un producto se puede evaluar
de varias formas:
1. Desempeño. ¿Desempeñará el producto la
función para la cual fue creado?
2. Confiabilidad. ¿Con qué frecuencia falla el
producto?
3. Durabilidad. ¿Cuánto dura el producto?
4. Disponibilidad del servicio. ¿Qué tan fácil
es reparar un producto?
Carlos Viesca González 4
Dimensiones de la
calidad (Garvin 1987)

5. Estética. ¿Cómo se ve el producto?


6. Características distintivas. ¿Qué más hace
el producto?
7. Calidad percibida. ¿Cuál es la reputación de
la compañía o de sus productos?
8. Conformancia o cumplimiento con los
estándares. ¿Está hecho el producto
conforme el diseñador lo pretendía?

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 Calidad significa adecuación
para el uso.

Adecuación para el uso


Calidad de diseño. Un producto o
servicio se produce con un grado o
nivel de calidad, el cual es
intencional.

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Adecuación para el uso
 Calidad de conformancia. Qué tan bien
cumple un producto o servicio con las
especificaciones de diseño. Se ve afectada
por: el proceso de manufactura, el
entrenamiento y la supervisión, el sistema
de calidad, el grado al cual se aplican los
procedimientos del sistema de calidad y la
motivación de la fuerza de trabajo, entre
otros factores.

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Algunas definiciones de
calidad

 Adecuación para el uso o para la


función.
 El grado al cual un producto específico
satisface los deseos de un cliente en
particular.
 Proveer productos y servicios que
cumplan con las expectativas de los
clientes a lo largo de la vida del
producto o servicio a un costo que
represente valor para el cliente.
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Algunas definiciones de
calidad
 El grado al cual un producto es conforme
a las especificaciones del diseño.
 Las características o atributos que
distinguen a un artículo de otro.
 Conformancia con los requerimientos de
ingeniería aplicables, de acuerdo con las
especificaciones, dibujos y demás
documentos de ingeniería relacionados.

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Algunas definiciones de
calidad
 Las definiciones anteriores no han
sido muy útiles por alguno o varios
de los siguientes aspectos:
a) Están basados en atributos y son de
naturaleza cualitativa.
b) Están basados en manufactura y no
en diseño (se ve la calidad hasta el
final del proceso de manufactura)
Carlos Viesca González 10
Algunas definiciones de
calidad

c) No establecen claramente la
relación apropiada entre deseos,
necesidades, expectativas del
cliente y la función del producto.
Un producto se puede vender por
un atributo pero perderá mercado
por su función, por su calidad.

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Función de pérdida de
Taguchi.
 La pérdida impartida a la sociedad
durante el uso de un producto es
un resultado de la variación
funcional y de los efectos dañinos
derivados del uso del mismo
(efectos colaterales que no están
relacionados con la función del
producto).
Carlos Viesca González 12
Función de pérdida de
Taguchi.
Ejemplo de las agendas:

Para este ejemplo:


Pérdidas ($)

• Valor nominal u objetivo= 22 cm


Pérdidas Pérdidas
menores mayores
• Especificaciones o tolerancias= 22 ± .3 cm
• Límite inferior de especificación (LIE) = 21.7
cm
• Límite superior de especificación (LSE) =
21.7 22.3 22.3 cm
Longitud del corte del forro por agenda

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Actualmente función de
pérdida
Pérdida de calidad

Se comporta de forma
exponencial en las
pérdidas

Valor nominal

Características de calidad

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Actualmente función de
pérdida
En algunos estudios empíricos se ha encontrado:

Tendencia
Pérdidas ($)

• Actualmente la tendencia de
control de calidad es la reducción
de variabilidad
Pérdida de calidad

Característica de calidad

Valor nominal

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Variabilidad
(Devor, 1992)
 No existen dos productos exactamente
iguales.
 La falla de un producto para alcanzar la
función que se pretende, según el
cliente, puede surgir de alguna o de
las dos siguientes fuentes:
1. Falla para lograr el desempeño nominal
requerido por el diseño.
2. Variación excesiva alrededor del nivel de
desempeño nominal pretendido.

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Variabilidad
 Las fuentes de variación son fuentes de
desperdicio e ineficiencias y por cada
fuente de variación identificada y
removida se experimentarán
incrementos en calidad y productividad.
 La variabilidad se puede describir en
términos estadísticos y aquí es dónde
encaja el uso de métodos estadísticos
en el mejoramiento de la calidad.
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Mejoramiento de la
calidad (Montgomery, 1997)
 Reducción de la variabilidad en
procesos y productos. Excesiva
variabilidad en el desempeño de un
proceso se traduce frecuentemente
en desperdicio.
  ¿Y en servicios? Reducción de
desperdicio.
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Control estadístico de la
Calidad
(Besterfield, 1995)

 Consiste en el acopio, análisis e


interpretación de datos para su uso
en el control de calidad. Dos
elementos importantes del CEC son
el Control Estadístico de Procesos
(CEP) y el Muestreo de Aceptación.

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CAPÍTULO 2
Gráficas de Control

Carlos Viesca González 20


Gráficas de control
Característica de calidad

µˆ + 3σˆ x Límite superior de control (LSC)

µ̂
Línea central (LC)

µˆ − 3σˆ x
Límite inferior de control (LIC)

tiemp
o

Dónde el tiempo representa la muestra o subgrupo

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Gráficas de control
 Las gráficas de control nos muestran cómo se
compara una característica a través del tiempo.
 Si todos los puntos están dentro de los límites y no
siguen un patrón específico, se dice que el proceso
está bajo control o bajo control estadístico.
 Los límites de control dependen del
comportamiento de los datos.

Carlos Viesca González 22


Gráficas de control
 Concepto de control estadístico de
Shewhart:
 Se dice que un fenómeno está controlado cuando,
a través del uso de la experiencia pasada, se
puede predecir al menos dentro de ciertos límites
como se espera que varie el fenómeno en el
futuro.
 Si un proceso no está en estado controlado, la
productividad o el éxito económico no se
garantiza.
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Gráficas de control
 Límites de especificación:
dependen del diseño o del cliente.

 Límites de control: los


determina el proceso.

Carlos Viesca González 24


Zonas de una gráfica
de control

 Zona A= media + 3σ = 99% de los datos


 Zona B= media + 2σ = 95% de los datos
 Zona C= media + σ = 68% de los datos

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Gráficas de control
Ocho pruebas para verificar que una gráfica está
bajo control estadístico:
Prueba # 1: un dato fuera del límite de control
LSC
Característica de calidad

A
B
C
LC
C
B
A
LIC
tiempo

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Gráficas de control
Prueba # 2: Prueba # 3:

Ocho puntos en forma Cinco puntos consecutivos en


consecutiva por arriba o por forma ascendente o
debajo del promedio descendente
LSC
LSC

Característica de calidad
Característica de calidad

A
A
B
B
C
C LC
LC C
C
B
B
A
A
LIC
LIC
tiempo
tiempo
Carlos Viesca González 27
Gráficas de control
Prueba # 4: Prueba # 5:

Catorce puntos alternándose Dos o tres puntos en la zona A


en forma consecutiva arriba y o más allá
abajo.
LSC
LSC

Característica de calidad
Característica de calidad

A
A
B
B
C
C LC
LC C
C
B
B
A
A
LIC
LIC
tiempo
tiempo
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Gráficas de control
Prueba # 6: Prueba # 7:

Cuatro de cinco puntos Quince puntos consecutivos en


consecutivos en la zona B o la zona C
más allá
LSC
LSC

Característica de calidad
Característica de calidad

A
A
B
B
C
C LC
LC C
C
B
B
A
A
LIC
LIC
tiempo
tiempo
Carlos Viesca González 29
Gráficas de control
Prueba # 8:
Ocho puntos consecutivos que no caigan en la zona C

LSC
Característica de calidad

A
B
C
LC
C
B
A
LIC
tiempo

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Gráficas de control
 Cuando una gráfica no está en control
estadístico, se puede deber a:
 Causas comunes de variación: fuentes de
variación dentro de un proceso que tienen una
distribución estable y repetible en el tiempo.
 Causas especiales de variación: factores que
causan variación y que no están actuando
siempre sobre el proceso.

Carlos Viesca González 31


Estadística de las
gráficas de control
 Prueba de hipótesis:

Ho: El proceso está bajo control vs


Ha: El proceso no está bajo control

 Error tipo I: Rechazar Ho cuando Ho es


verdadero. Se concluye que “el proceso no
está bajo control, cuando realmente si lo
está”.

P(Error tipo I)= α


Carlos Viesca González 32
Estadística de las
gráficas de control
 Error tipo II: Aceptar Ho cuando Ho es falsa.
Se concluye que “el proceso está bajo
control, cuando realmente no lo está”.

P(Error tipo II)= β

 Para fines de cálculo de α y β , suponga


que el proceso no está bajo control si hay
un cambio en la media del mismo.

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Estadística de las
gráficas de control
 Fórmulas:

x − µx σ
Z= σx =
σx n

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Estadística de las
gráficas de control

LSC
La media cambia

LIC

El error tipo II se obtiene con la nueva media


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Curva característica de
operación
 Es una medida de de la bondad de una gráfica
de control para detectar cambios en los
parámetros de los procesos (µ , σ ).
P(no detectar cambios)=β

Cambios en la media del proceso

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ARL (Average run
length)
 Denota el número de muestras que en
promedio se requieren para detectar
una señal fuera de control.
 Si el proceso está bajo control:

1
ARL =

α
Entre más grande sea el ARL es mejor, ya que no se
tienen muchas falsas alarmas.

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ARL (Average run
length)
 Si el proceso no está bajo control:

1
ARL =
1− β
 Entre más pequeño sea el ARL necesito
menos muestras para calcular el error tipo II

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Efectos de los límites
de control sobre α y β
a) si los límites de control son más anchos:
 α se reduce
 β se incrementa

a) si los límites de control son más angostos:


 α se incrementa
 β se reduce

a) si se toman muestras más grandes:


 α se reduce
 β se reduce

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Tasa global de error
tipo II
α = P (total de error tipo I )
k
= 1 − Π (1 − α i )
i =1

 Donde:

 K= # de reglas independientes usadas como


criterios para situaciones fuera de control.
 α i= P(error tipoI) con la regla
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Tipos de gráficas de
control
 Para valores continuos:
 Gráfica de medias y desviación estándar.
 Gráfica de medias y rangos.
 Gráfica de observaciones individuales y
rangos móviles.

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Tipos de gráficas de
control
 Para valores discretos (atributos):
 Gráfica de proporción de artículos defectuosos (p)
 Gráfica de número de artículos defectuosos (np)
 Gráfica de número de defectos o disconformidades (C)
 Gráfica de número de defectos por unidad (U)

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Beneficios de las
gráficas de control
1. Son herramientas efectivas para entender la variación del
procesoy ayudan a lograr el control estadístico.

2. Si un proceso está en control estadístico su desempeño es


predecible y tanto el fabricante como el cliente pueden
confiar en niveles consistentes de calidad y en costos
estables para lograr la calidad.

3. Un proceso bajo control estadístico se puede mejorar a


través de la reducción de variación y el centrado en un valor
objetivo; esto reduce costos y mejora la productividad.

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Beneficios de las
gráficas de control
4. Las gráficas de control proporcionan un lenguaje
común para comunicar información sobre el
desempeño de un proceso entre muy diversas
personas dentro y fuera de la empresa.
5. Las gráficas de control indican dónde está o quien
tiene la posible solución de un problema, con lo
cual se minimiza la confusión, frustración y el
costo de los esfuerzos mal dirigidos para la
solución de un problema.

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CAPÍTULO 2.1

Gráficas para variables


( x − R)
( x − S)
Carlos Viesca González 45
Gráfica de medias y
rangos

( x − R)
Carlos Viesca González 46
Gráficas de medias y
rangos

 El procedimiento es el mismo que


en las gráficas de medias y
desviación estándar.
 La forma de obtener los límites de
control y la línea central es la
siguiente:
Carlos Viesca González 47
Gráficas de medias y
rangos
 Gráfica de rangos:

LC = R
LSC = D4 R
LSC = D3 R
Carlos Viesca González 48
Gráficas de medias y
rangos
 Gráfica de medias: antes de calcular
los límites es necesario que esté bajo
control la gráfica de rangos.

L C= x
LSC = x + A2 R
LSC = x − A2 R
Carlos Viesca González 49
Gráficas de medias y
rangos
 σ = se puede obtener a partir de
los datos recopilados, pero
generalmente se obtiene de la
información proporcionada por la
gráfica de un proceso bajo control.
R
σˆ =
d2
Carlos Viesca González 50
Interpretación de
gráfica de rangos
 Esta gráfica se debe analizar primero,
ya que el comportamiento de los
promedios y de los rangos de los
subgrupos depende de la variabilidad
estimada de las piezas.
 Se deben verificar las ocho pruebas
 Verificar que no haya tendencias
Carlos Viesca González 51
Interpretación de
gráfica de medias
 Si la gráfica de rangos está bajo control, la dispersión del
proceso está estable y por lo tanto se puede analizar la
gráfica de los promedios; los límites de control de esta
gráfica se basan en la cantidad de variación de los
rangos. Con la gráfica de medias se determina si el
centro del proceso está cambiando con el tiempo y si ese
es el caso, entonces existen causas especiales de
variación que están ocasionando esos problemas.

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Gráfica de medias y
desviación estándar

(x − S)
Carlos Viesca González 53
Procedimiento para
elaborar una gráfica x -
S
1. Defina cuál será la característica de la
calidad: Otorgar la máxima prioridad a
aquellas variables o características medibles y
expresables mediante números y que causen
problemas en producción o costos.
2. Escoja el subgrupo racional: Los elementos
que conformen cada subgrupo deberán de
haberse producido básicamente dentro de las
mismas condiciones.

Carlos Viesca González 54


Procedimiento para
elaborar una gráfica x -
S
3. Recolectar los datos: Recoger información de 25
subgrupos con más de 10 datos en cada subgrupo.
Regístrelos en una hoja de datos.
4. Calcular los promedios para cada subgrupo
5. Calcular : dividiendo el total de los promedios
de cada subgrupo por el número de subgrupos.

=
x

Carlos Viesca González 55


Procedimiento para
elaborar una gráfica x -
S
6. Calcular S: Calcular la desviación estándar de
cada subgrupo.

∑ i
( x − x ) 2

S= i =1
n −1
7. Calcular : dividiendo el total de las S de
cada subgrupo por el número de subgrupos.
S

Carlos Viesca González 56


Procedimiento para
elaborar una gráfica x -
S

8. Calcular las líneas de control:


Calcular cada una de las líneas de
control para la gráfica y la gráfica S
x
con las siguientes fórmulas:

Carlos Viesca González 57


Procedimiento para
elaborar una gráfica x -
S
 Gráfica S:
 Línea central:
LC = S
LSC = B4 S
 Límite superior de control:

 Límite inferior de control:


LIC = B3 S
Nota importante: En estas gráficas de control la desviación
estándar se estima con la expresión

S
c4
Carlos Viesca González 58
Procedimiento para
elaborar una gráfica x -
S
 Gráfica x :

LC = x
Línea central:

 LSC = x + A3 S
Límite superior de control:


Límite inferior de control:LIC = x − A3 S

Carlos Viesca González 59


Procedimiento para
elaborar una gráfica x -
S
9. Dibujar las líneas de control: Preparar una hoja de papel
cuadriculado; dividirla en dos partes iguales para las dos gráficas,
colocando en la parte inferior la de desviaciones estándar y en la
parte superior la de medias; marcar cada eje vertical de la
izquierda con los valores de las media y de las desviaciones
estándar, según sea el caso, y el eje horizontal con los números de
los subgrupos. Dibuje una línea sólida para la línea central y una
línea punteada para los límites.

Carlos Viesca González 60


Procedimiento para
elaborar una gráfica x -
S
10. Localizar los puntos: Registrar los valores
de la media y de la desviación estándar de
cada subgrupo, por partes, según el
número del subgrupo.

11. Registrar los datos que puedan ser de


utilidad: Escriba el tamaño del subgrupo
(n) en el extremo superior izquierdo de la
gráfica de medias.

Carlos Viesca González 61


Interpretación de
gráfica S
 Primero se debe analizar esta gráfica, ya que si
no está bajo control estadístico los límites de la
gráfica de medias no tendrán sentido.
 En caso de que no este bajo control estadístico,
se deberán encontrar las causas especiales de
variación y eliminar los puntos fuera de control y
recalcular los límites.

Carlos Viesca González 62


Interpretación de
gráfica de medias
 Después de haber revisado la gráfica S, es
cuando se interpreta la de medias.
 Nunca se deben relacionar los puntos en una
gráfica de medias con los límites de
especificación, ya que los puntos en la gráfica
son promedios y las especificaciones
corresponden a valores individuales,
presentando una variabilidad mayor que los
subgrupos.
Carlos Viesca González 63
Para ambas gráficas

 Se deben verificar las ocho pruebas


 Verificar que no se presente ningún
patrón.
 Datos normales.

Carlos Viesca González 64


Límites de tolerancia
natural
 Estos límites se basan en
observaciones individuales.

LímiteSuperiorde Tolerancia(LSTN)= μ̂ + 3σ̂

LímiteInferiorde Tolerancia(LITN) = μ̂ − 3σ̂

Carlos Viesca González 65


Capacidad del proceso
 Cp
 Cpk

Carlos Viesca González 66


Índices de capacidad
del proceso
 Los índices de capacidad del proceso
intentan en un solo número si un proceso
puede cumplir consistentemente con los
requerimientos impuestos sobre un proceso
por clientes internos o externos.
 Estos índices no tienen unidades, lo cual
permite comparar dos procesos
completamente diferentes.
Carlos Viesca González 67
Índices de capacidad
del proceso
 La limitante principal de estos índices
es que no tienen significado si los
datos analizados provienen de un
proceso fuera de control y la razón es
que la capacidad del proceso es una
predicción y solo se puede predecir
algo que es estable.

Carlos Viesca González 68


Índices de capacidad
del proceso
 Para estimar la capacidad de un
proceso, es necesario que se
cumplan dos condiciones:
 Proceso bajo control estadístico
 Que los datos se distribuyan
normalmente

Carlos Viesca González 69


Índices de capacidad
del proceso
 Generalmente se usan dos índices para
evaluar la capacidad del proceso para
producir dentro de especificaciones:
 Cp: índice de capacidad potencial del proceso.
No toma en cuenta la media observada del
proceso.
 Cpk: índice de capacidad o habilidad real del
proceso. Si toma en cuenta la media observada
en el proceso.

Carlos Viesca González 70


Índices de capacidad
del proceso
 Antes de ver como calcular el Cp y el Cpk, es
necesario revisar algunos conceptos.

LITN = x − 3σ LIE
x LSE LSTN = x + 3σ
Carlos Viesca González 71
Índices de capacidad
del proceso
 Dónde:
 LSTN = límite superior de tolerancia natural

 LITN = límite inferior de tolerancia natural

 LSE = límite superior de especificación

 LIE = límite inferior de especificación

Carlos Viesca González 72


Índices de capacidad
del proceso
 6σ se puede considerar como la
dispersión real del proceso.
 Puesto que ambos límites se disponen
a una distancia de la media ± 3σ
respectivamente, entonces la
proporción de observaciones entre
ambos límites es del 99.73%
Carlos Viesca González 73
Índices de capacidad
del proceso
 La diferencia LSE – LIE se puede
considerar que es la dispersión
permitida del proceso.
 Si no se conoce la µ , la x doble barra
es la media estimada del proceso, la
cual se obtiene como la línea central
de un gráfica de medias.
Carlos Viesca González 74
Índices de capacidad
del proceso
 La σ es la desviación estándar del proceso, la cual
si no se conoce, se estima de la gráfica de control
de la variabilidad del proceso.

R
 ( x − R)
d 2
S =
S


( x − S)
c4
Carlos Viesca González 75
Límites de
especificación o
tolerancias
 Son característicos de una parte o
artículo determinado.
 Están basados en consideraciones
funcionales.
 Están relacionados con una
medición de una sola parte.
Carlos Viesca González 76
Límites de control de
una gráfica de control
 Son característicos de un proceso determinado.

 Están basados en la media y en la variabilidad de un


proceso.

 Dependen de los parámetros de muestreo, como


tamaño de muestra y el riesgo alfa.

 Se usan para identificar la presencia o ausencia de


causas especiales de variación en el proceso.

Carlos Viesca González 77


Cálculo del Cp

LSE − LIE
Cp =
6σ̂

Carlos Viesca González 78


Interpretación del Cp
 Antes de hacer algo sobre ese punto, cerciorese
de que el proceso esté bajo control estadístico, si
es así, entonces:
1. Cp > 1; el proceso es potencialmente capaz de
producir dentro de los límites de especificación y
genera un porcentaje de defectuosos menor del .27%

Carlos Viesca González 79


Interpretación del Cp
2. Cp = 1; el proceso es apenas capaz, la
proporción de defectuosos es .27%. Los
límites de especificación son iguales a los
límites de tolerancia natural.

3. Cp < 1; el proceso no es potencialmente


capaz, la proporción de defectuosos es
mayor a 27 en 10, 000.

Carlos Viesca González 80


Nivel de habilidad de
un proceso
Nivel de habilidad % producto fuera de
especificaciones

± 3σ 2700 ppm
± 4σ 64 ppm
± 5σ 6 partes en 10 millones
± 6σ Menos de 1 parte en 10
millones
* Considerando un proceso centrado y media fija

Carlos Viesca González 81


Cálculo del Cpk
 Es un índice o medida del desempeño real del proceso
que toma en cuenta la media del mismo. Un proceso con
su media centrada puede tener un Cp de 2, mientras
que otro proceso con su media cercana al LSE también
puede tener un Cp de 2, siempre que su disposición sea
la misma. Si se compara el desempeño de ambos
proceso con base en el Cpk, los resultados serían muy
diferentes.

Carlos Viesca González 82


Cálculo del Cpk

 LSE − µˆ µˆ − LIE 
Cpk = mínimo  , 
 3σˆ 3σˆ 

Carlos Viesca González 83


Interpretación del Cpk
1. Cpk > 1.33; el proceso es capaz y
es comúnmente usado como una
meta para muchas compañías.

2. 1 < Cpk < 1.33; el proceso es


marginalmente capaz.

3. Cpk < 1; el proceso no es capaz


Carlos Viesca González 84
Gráfica de
observaciones
individuales y rangos
móviles

( x − Rm )
Carlos Viesca González 85
Gráfica de observaciones
individuales y rangos
móviles

 Se usa para procesos lentos que


conducen a bajas tasas de
producción o cuando es muy
costoso tomar muestras grandes o
bien, en procesos automatizados.

Carlos Viesca González 86


Gráfica de observaciones
individuales y rangos
móviles
 Gráfica de rangos móviles: está gráfica
no tiene interpretación, debido a la forma en
que se obtienen los rangos.

LC = R
LSC = D4 R
LIC = D3 R
Carlos Viesca González 87
Gráficas de observaciones
individuales y rangos
móviles
 Gráfica de observaciones individuales:
para ser interpretada necesita estar bajo
control.
R
LC = x LSC = x + 3
d2
R
LIC = x − 3
d2
Carlos Viesca González 88
CAPÍTULO 2.2
Gráficas para atributos:
 p, np
 C, U

Carlos Viesca González 89


Gráficas para atributos
 Algunas características de calidad
recolectadas como datos de
atributos sólo toman dos valores:
 Conforme, no conforme
 Pasa, no pasa
 Presencia, ausencia de algo

Carlos Viesca González 90


Gráficas para atributos
 Tales disconformidades o defectos se
observan frecuentemente de manera
visual y ocasionan que un producto o
una parte de un producto sea
considerado como defectuoso.
 En estos casos, la calidad se evalúa
por atributos.

Carlos Viesca González 91


Importancia
 Se pueden aplicar tanto en procesos
técnicos como administrativos.
 En muchas ocasiones se dipone de datos
que son de atributos y no se requiere
incurrir en gastos adicionales.
 Si no existe información disponible, se
recolecta rápidamente y a un bajo costo.
Carlos Viesca González 92
Importancia
 Muchos reportes, resúmenes que maneja la
administración son atributos y se pueden
aprovechar más si se analizan como gráficas de
control.
 El uso de las gráficas de control de atributos en
medidas de calidad globales claves,
frecuentemente puede indicar a áreas
específicas del proceso que pueden requerir un
análisis más detallado.

Carlos Viesca González 93


Definiciones
importantes
 Defecto: falla o no conformidad que ocasiona
que un artículo no satisfaga los requerimientos
especificados.
 Artículo defectuoso: artículo que tiene uno o
más defectos.
 Fracción defectuosa: es la razón del número
de artículos defectuoso en la muestra (d),
respecto al total de los artículos de la muestra
(n)
Carlos Viesca González 94
Gráfica para la
proporción de piezas
defectuosas

Gráfica p

Carlos Viesca González 95


Gráfica para la
proporción de piezas
defectuosas
 La gráfica p, miden la proporción de piezas
disconformes en un grupo de artículos que
se inspeccionan.
 Esto puede aplicar a una muestra de 100
piezas.
 Las muestras pueden constantes o
variables.

Carlos Viesca González 96


Gráfica para la
proporción de piezas
defectuosas
Para muestras constantes:

LC = p
p (1 − p )
LSC = p + 3
n
p (1 − p )
LIC = p − 3
n
Carlos Viesca González 97
Gráfica para la
proporción de piezas
defectuosas
Para muestras variables:

LC = p =
∑ d i

∑n i

p (1 − p )
LSC = p + 3
n
p (1 − p )
LIC = p − 3
n
Carlos Viesca González 98
Interpretación
 Para interpretar la gráfica p, se hace de la misma
manera que las otras gráficas, se debe:
 Verificar que los puntos no excedan los límites de control.
 Los puntos se deben distribuir aleatoriamente dentro de
los límites de control.
 No deben mostrar tendencias
 Los puntos debe apareceren orden aleatorio en el tiempo.

Carlos Viesca González 99


Gráfica para el número
de piezas defectuosas

Gráfica np

Carlos Viesca González 100


Gráfica para el número
de piezas defectuosas
 En algunas ocasiones es conveniente hacer
una gráfica de control, en la que se grafique
el número de defectuosos en la muestra en
lugar de la proporción de defectuosos. Para
hacer esto se requiere que el tamaño de la
muestra sea constante.
 En esencia proporciona la misma
información que una gráfica p.
Carlos Viesca González 101
Gráfica para el número
de piezas defectuosas
 Para muchas personas este tipo de gráficas es
más fácil de interpretar que la p. La desventaja
que presenta la gráfica np es que no es fácil
manejar e interpretar el número de dectuosos si
se desconoce el tamaño de la muestra.
 Tanto la gráfica p y np, tienen fundamento en la
distribución binomial, la interpretación es la
misma que la gráfica p.

Carlos Viesca González 102


Gráfica para el número
de piezas defectuosas
LC = np
LSC = np + 3 np (1 − p )

LIC = np − 3 np (1 − p )

Carlos Viesca González 103


Gráfica para
proporciones y piezas
defectuosas
 Cuando se tienen diferentes
tamaños de muestras se debe usar
una gráfica de proporciones
adecuada al caso.

Carlos Viesca González 104


Gráfica de número de
defectos en la muestra

Gráfica C

Carlos Viesca González 105


Gráfica de número de
defectos en la muestra
 Es posible desarrollar gráficas de control ya sea para el
número total de no conformidades en una unidad o el
número promedio de no conformidades por unidad.
Estas gráficas de control usualmente asumen que la
ocurrencia de una no conformidad en una muestra es
bien modelada por una distribución Poisson.

Carlos Viesca González 106


Gráfica de número de
defectos en la muestra

 Para poder realizar esta gráfica


se requiere que el tamaño de
la muestra sea constante.

Carlos Viesca González 107


Gráfica de número de
defectos en la muestra

Si c i = # de defectos en la muestra i (i = 1,2,..., k)

LC =
∑ c i
=c
k
LSC = c + 3 c
LIC = c − 3 c
Carlos Viesca González 108
Gráfica de número de
defectos por unidad

Gráfica U

Carlos Viesca González 109


Gráfica de número de
defectos por unidad
 Esta gráfica se basa en el número promedio de no
conformidades por unidad inspeccionada. Si
encontramos x cantidad de no conformidades en la
muestra de n unidades inspeccionadas, entonces
podemos obtener el número promedio de no
conformidades por unidad inspeccionada de la siguiente
manera:
x
u=
n
Carlos Viesca González 110
Gráfica de número de
defectos por unidad
 Se utiliza para unidades de longitud,
área, volumen, etc.
 n puede ser constante o variable.
 Con n variable:
 n promedio
 Límites para cada n
 Límites para ciertas n
 Límites estandarizados
Carlos Viesca González 111
Gráfica de número de
defectos por unidad
ci
ui = dónde:
ni
i = 1,2  ,k
ci = #defectos
ni = tamaño de la muestra

u LIC = u − 3 u
LC = u LSC = u + 3
ni ni
Carlos Viesca González 112
CAPÍTULO 2.3
Gráficas CUSUM y EWMA

Carlos Viesca González 113


Gráfica CUSUM

 La gráfica CUSUM, se usa para


detectar pequeños cambios en
la media del proceso.

Carlos Viesca González 114


Gráfica CUSUM

Ci = ∑ ( x j − µ o )
i

j =1

donde :
x j = media de una muestra u
observación individual.
µ o = valor objetivo

Carlos Viesca González 115


Construcción de una
gráfica CUSUM
 Proceso tabular:
 Se basa en los cálculos de los CUSUM
unilaterales, superior e inferior:

i
+
{
C = max 0, xi − ( µ o + k ) + C +
i −1 }
C i

= max{0, ( µ o − k ) − xi + C −
i −1 }
Carlos Viesca González 116
Construcción de una
gráfica CUSUM
 El procedimiento se inicia haciendo:
+ −
C =C =0
o o

 K es un valor de referencia o de
holgura y frecuentemente se
determina como:
µ1 − µ o
k=
2
Carlos Viesca González 117
Construcción de una
gráfica CUSUM
 El proceso está fuera de control si
C+ o C- exceden el valor de H, un
valor razonable para H es .5σ .
 Para esta gráfica no se realizan las
8 pruebas, ya que los datos
dependen unos de otros.
Carlos Viesca González 118
Construcción de una
gráfica CUSUM
 Cuando el ajuste que se debe hacer en el
proceso tiene por objetivo hacer que la media
regrese al valor objetivo puede ser útil estimar
la media actual del proceso.

 Ci+

µ o + k + + ,
+
si C > H
i
 Ni
µˆ =  +
 µ o − k − Ci , si C > H−

 Ni+ i

Carlos Viesca González 119


Gráfica EWMA
 La gráfica EWMA, constituye una buena
alternativa a las gráficas de control de
Shewart para el caso en que interesa
detectar pequeños cambios en la media
del proceso.
 Se usa típicamente para muestras de
tamaño 1, aun cuando se puede usar con
tamaños de muestra mayores.
Carlos Viesca González 120
Gráfica EWMA
 La gráfica EWMA para la media del proceso:
 Un promedio móvil exponencialmente
ponderado se define de la siguiente forma:

zi = λxi + (1 − λ ) zi −1
 donde:
 0< λ ≤ 1 es una constante

El valor de inicio (que se requiere con la primera
muestra cuando i = 1) es el objetivo del proceso, con lo
cual z0 = µ 0
 En ocasiones z0 = promedio de los datos preliminares

Carlos Viesca González 121


Gráfica EWMA

 Los límites de control para una


gráfica EWMA están dados por las
siguientes expresiones:
LSC = µ0 + Lσ
λ
2−λ
[1 − (1 − λ ) ]
2i

LC = µ0

LIC = µ0 − Lσ
λ
2−λ
[1 − (1 − λ ) ]
2i

Carlos Viesca González 122


Gráfica EWMA
 Dónde:
 L es la anchura de los límites de control, el
múltiplo de sigma. Es común tomar L = 3,
proporciona buenos resultados sobre todo
cuando lambda es grande.
 En general, cuanto más pequeños sean los
cambios que se desea detectar, más
pequeños serán los valores de lambda.

Carlos Viesca González 123


Gráfica EWMA

 La gráfica se elabora colocando en el eje


horizontal el número de la muestra i
(tiempo) y en el eje vertical el valor de la z
que le corresponde.

Carlos Viesca González 124


CAPÍTULO 3

Muestreo para aceptación


de lotes

Carlos Viesca González 125


Muestreo para
aceptación de lotes
 Objetivos:
1. Comprender y aplicar los conceptos
básicos del muestreo de aceptación.
2. Identificar y diferenciar los sistemas de
muestreo de aceptación para atributos,
particularmente el MIL - STD - 105E.
3. Comprender el funcionamiento de un
sistema de muestreo de aceptación para
variables.
Carlos Viesca González 126
Muestreo para
aceptación de lotes
 Introducción:
 El muestreo para aceptación es un campo importante
del control estadístico de la calidad, es otra herramienta
para evaluar la calidad de un producto.
 Los fundamentos de muestreo para aceptación se
desarrollaron en 1925 a 1927 en los Laboratorios Bell;
después sólo se aplica esporádicamente y no es sino
hasta la Segunda Guerra Mundial cuando se incorpora
en los estándares militares de calidad. A partir de ese
momento se difunde el uso masivo del muestreo de
aceptación, el cual se aplica hasta la fecha.

Carlos Viesca González 127


Muestreo para
aceptación de lotes
 Conceptos generales:
 Aspectos importantes en el muestreo:
 El propósito del muestreo de aceptación es juzgar
lotes, no estimar su calidad.
 Los planes de muestreo para aceptación no
proporcionan alguna forma directa de control de
calidad, sólo admite o descarta lotes.
 El uso más eficiente del muestreo para aceptación no
es “inyectar calidad al producto mediante la
inspección”, sino más bien como una herramienta de
verificación para asegurar que la producción o salida
de un proceso está conforme a los requisitos.
Carlos Viesca González 128
Muestreo para
aceptación de lotes

 Enfoques para juzgar un lote:


 Aceptarlo sin inspección: Útil en casos
en que el proceso del proveedor es tan
adecuado (relación de capacidad de
proceso de 3 ó 4) que casi nunca genera
artículos defectuosos, o en los que no
existe una justificación económica para
juzgar artículos defectuosos.
Carlos Viesca González 129
Muestreo para
aceptación de lotes
 Efectuar una inspección al 100%: esto es
inspeccionar cada artículo en el lote, quitar todas
las unidades defectuosas encontradas (se pueden
devolver al proveedor, retrabajarlas, cambiarlas por
artículos conformes o rechazarlas). Se usa cuando
el componente es muy crítico y dejar pasar un
artículo defectuoso daría como resultado un costo
inaceptablemente alto de una falla en etapas
sucesivas, o cuando la capacidad del proceso del
abastecedor es inadecuada para satisfacer las
especificaciones.

Carlos Viesca González 130


Muestreo para
aceptación de lotes
 Utilizar el muestreo para aceptación: Es muy
probablemente útil cuando:
1. La prueba es destructiva
2. Es muy alto el costo de una inspección al 100%
3. una inspección al 1005 no es tecnológicamente factible, o
cuando se necesitaría tanto tiempo que la planeación de
la producción se vería seriamente afectada.

Carlos Viesca González 131


Muestreo para
aceptación de lotes
4. Hay que inspeccionar muchos artículos y la tasa de
errores de inspección es lo suficientemente alta como
para que una inspección al 100% pudiera dejar pasar
un mayor porcentaje de artículos defectuosos que un
plan de muestreo.
5. El proveedor tiene un excelente historial de calidad, y
se desea alguna reducción en la inspección al 100%,
pero la relación de capacidad de su proceso es lo
suficientemente baja como para que la no inspección
no sea una buena alternativa.
6. Existen riesgos potencialmente serios respecto a la
posibilidad legal por el producto, y aunque es
satisfactorio el proceso del abastecedor, se requiere
aplicar un proceso de vigilancia continua.

Carlos Viesca González 132


Muestreo para
aceptación de lotes
 Ventajas del muestreo por aceptación:
 Es menos costoso, pues requiere menor inspección.
 Menor daño del producto, al haber menor manejo del
mismo.
 Menos inspectores y por lo tanto menos capacitación.
 Reducción de los errores de inspección.
 Puede aplicarse en el caso de pruebas destructivas.
 El rechazo de lotes completos, en lugar de la simple
devolución de los artículos defectuosos, constituye una
motivación más fuerte para que el proveedor mejore la
calidad de sus productos.

Carlos Viesca González 133


Muestreo para
aceptación de lotes
 Desventajas del muestreo para
aceptación:
 Existe el riesgo de aceptar lotes “malos” y
rechazar lotes “buenos”.
 Hay que agregar planeación y
documentación.
 Generalmente la muestra proporciona
menor información acerca del producto

Carlos Viesca González 134


Muestreo para
aceptación de lotes
 ¿Porqué es válido el muestreo?
 Una pieza da rápida información sobre la calidad de
las piezas de un lote. Pero además, de la muestra
se pueden obtener conclusiones acerca de lo bien o
mal que se desarrolló un proceso en el momento de
extraer una muestra (aplicación en gráficas de
control). Así, el proceso puede hablar del producto.
El muestreo de aceptación también es válido para las
piezas no inspeccionadas obtenidas del mismo
proceso que las inspeccionadas.

Carlos Viesca González 135


Muestreo para
aceptación de lotes
 Razones para usar muestreo de aceptación:
 No se puede asumir que el proceso sea estable, ni es siempre
posible que a la larga lo sea.
 En operaciones que se realizan bajo trabajo intensivo, las
causas asignables no siempre se pueden conocer.
 Aún cuando se puedan conocer las causas asignables, existen
procesos que no se pueden parar y ajustar de inmediato.
 Es común una gran variación entre operadores y el manejo de
las gráficas de control para cada operador no es tan sencillo.

Carlos Viesca González 136


Muestreo para
aceptación de lotes
 Formación de lotes:
 El muestreo por aceptación puede desarrollarse en una
base de lote por lote o en un flujo continuo de
productos, aunque los planes de muestreo más
comúnmente usados se basan en muestreo por lotes.
 Entre los diferentes tipos de lotes que se pueden
formar (de manufactura, de embarque, etc.), los lotes
de inspección son los que se utilizan en muestreo de
aceptación.

Carlos Viesca González 137


Muestreo para
aceptación de lotes
 Frecuentemente los lotes de inspección se constituyen por
la forma en que el producto se maneja o se embarca; en
otras ocasiones se puede influir en el tamaño y en la forma
en que se constituyen estos lotes, en cuyo caso se deben
aplicar los siguientes dos principios:
 Es deseable que haya homogeneidad dentro del lote.

 Si los lotes son homogéneos, son mejores lotes grandes que


pequeños.

Carlos Viesca González 138


Muestreo para
aceptación de lotes

 Si se tienen lotes grandes, los tamaños de


muestra también serán grandes y se
obtendrá una determinación más confiable
de la aceptabilidad del lote, siempre que
el lote en cuestión sea homogéneo.

Carlos Viesca González 139


Muestreo para
aceptación de lotes
 Muestreo aleatorio:
 Las tablas de muestreo publicadas suponen que
las muestras se obtienen al azar, esto es, que
cada una de las unidades de producto no
inspeccionadas tienen la misma probabilidad de
ser la siguiente seleccionada para la muestra.
Para realizar un muestreo aleatorio, se requiere
numerar las piezas de un lote y seleccionar
números aleatorios que indiquen cuáles unidades
serán seleccionadas.

Carlos Viesca González 140


Muestreo para
aceptación de lotes
 Selección de números aleatorios:
 Usando una tabla de números aleatorios
 A través de una calculadora que incluye esta opción
 Un recipiente de bolas o papeles numerados
El método de selección influye en los resultados del
muestreo, buscándose obtener una “muestra
representativa” de un lote.

Carlos Viesca González 141


Muestreo para
aceptación de lotes
 Sesgo del muestreo:
 Tomar una muestra de la misma localización
dentro de cajas, estantes, etc.
 Echar un vistazo al producto y seleccionar
sólo aquellas piezas defectuosas o no
defectuosas.
 Ignorar las partes del lote difíciles de
muestrear.

Carlos Viesca González 142


Muestreo para
aceptación de lotes
 Clasificación de los planes de muestreo:
1. Planes por atributos: Un lote se acepta o se
rechaza según el número de defectuosos que se
presentan en el mismo.
2. Planes por variables: Un lote se acepta o se
rechaza según el valor de la media (por ejemplo) de
la característica de calidad en la muestra; la media
se compara con un valor admitido que define el plan.

Carlos Viesca González 143


Planes de muestreo de
aceptación por
atributos

 Errores de inspección:
 En la implantación de un muestreo de
aceptación se supone que el inspector
sigue el plan de muestreo que debe
aplicar y que la inspección se hace sin
errores.

Carlos Viesca González 144


Planes de muestreo de
aceptación por
atributos
 Terminología:
 Defecto: Alejamiento de una característica de la
calidad del nivel o estado deseado que se presenta
con gravedad suficiente para dar un producto que
no satisface los requisitos de utilización normales o
razonablemente previstos.
 Disconformidad: Alejamiento de una
característica de la calidad del nivel deseado, que
se presenta con gravedad suficiente para dar un
producto o servicio que no cumple con los
requisitos de la especificación.

Carlos Viesca González 145


Planes de muestreo de
aceptación por
atributos
 Clasificación de los defectos
según su gravedad:
1. El muestreo sea distinto para cada clase
de defecto (tamaños de muestra).
2. Sea común el plan de muestreo. pero
que el número de defectos permitidos
sea diferente para cada clase, según su
gravedad.

Carlos Viesca González 146


Planes de muestreo de
aceptación por
atributos
 Tipos de planes de muestreo
de aceptación por atributos:
 Planes de muestreo simple

 Planes de muestreo doble:

Carlos Viesca González 147


Planes de muestreo de
aceptación por
atributos
 Curva Característica de Operación (Curva CO):
 Gráfica en la que se muestra la probabilidad de que el plan de
muestreo acepte el lote en función de la fracción defectuosa
de un lote, con base en la cual se observa cómo reaccionará
el plan a cualquier nivel de disconformes en el lote.
 Con la curva CO para un plan de muestreo (determinado por
el valor de n y de c) se puede evaluar si este proporciona un
buen grado de control sobre la calidad del lote; de no ser así
entonces se busca otro plan que corresponda con las
necesidades del usuario.

Carlos Viesca González 148


Planes de muestreo de
aceptación por
atributos
 Probabilidad de aceptar un lote:
 Para calcular la probabilidad de aceptar un lote (Pa),
primero se debe definir qué tipo de plan de muestreo
se aplicará. Así tenemos planes de muestreo tipo A
(planes que seleccionan piezas de lotes simples de
tamaño N y que se basan en el modelo
Hipergeométrico) y planes tipo B (planes para
seleccionar piezas de una serie de lotes, se extraen
muestras aleatorias de tamaño n de una población
infinita, y que están fundamentados en el modelo
probabilístico Binomial).
Carlos Viesca González 149
Planes de muestreo de
aceptación por
atributos
 Riesgos y parámetros de muestreo:
 Riesgo del vendedor o del productor se
conoce como riesgo alfa y es la probabilidad de
que un “buen” lote (de lata calidad) sea rechazado
por el plan de muestreo. Se fija en 0.01, 0.05 ó
0.10.
 Riesgo del comprador (empresa o quién usará
un producto). También llamado riesgo beta. Es la
probabilidad de que un lote “malo” o de baja
calidad sea aceptado por el plan de muestreo.
Carlos Viesca González 150
Planes de muestreo de
aceptación por
atributos
 Planes, esquemas y sistemas de muestreo:
 Plan de muestreo: Plan específico que establece el
tamaño o tamaños de muestra a utilizar y el
correspondiente criterio de aceptación o no aceptación.
 Esquema de muestreo: Conjunto específico de
procedimientos que, habitualmente, consisten en planes
de muestreo para aceptación en los que se establecen los
tamaños de los lotes, los tamaños de las muestras y los
criterios de aceptación, o el alcance de la inspección y
muestreo al 100%.

Carlos Viesca González 151


Planes de muestreo de
aceptación por
atributos
 Sistema de muestreo:
 Con el uso de un sistema de muestreo se evita el
trabajo de calcular la curva CO para diferentes
valores de n y c y seleccionar el que cumpla con
los riesgos del comprador y del vendedor
preestablecidos.
 Los sistemas de muestreo incluyen las curvas
CO, con base en las cuales se selecciona el plan
de muestreo que proporcione el nivel de
protección que el usuario desea.

Carlos Viesca González 152


Planes de muestreo de
aceptación por
atributos
 Medidas de desempeño:

Nivel de Calidad Aceptable (NCA o AQL).
 El porcentaje de Defectuosos Tolerados
en el Lote (PDTL o LTPD).

El límite de Calidad Media de Salida
(LCMS o AOQL), y

La inspección Total Promedio (ITP o ATI).

Carlos Viesca González 153


Planes de muestreo de
aceptación por
atributos
 El Nivel de Calidad Aceptable:
 El AQL es el nivel de calidad o porcentaje de
defectuosos que, para los fines de
inspección, es el límite de una medida
satisfactoria del proceso. El promedio del
proceso es el porcentaje promedio de
defectuosos o número promedio de
defectuosos por 100 unidades de producto
enviado por el proveedor para la inspección
original.
Carlos Viesca González 154
Planes de muestreo de
aceptación por
atributos
 La inspección original es la primera
inspección de una cantidad particular de un
producto. El AQL es un valor designado del
porcentaje de defectuosos, para el cual los
lotes serán aceptados la mayor parte de las
veces por el procedimiento de muestreo
utilizado. El AQL especifica un valor del nivel
de calidad del productor.

Carlos Viesca González 155


Planes de muestreo de
aceptación por
atributos
 Porcentaje de unidades defectuosas
toleradas en el lote (PDTL):
 El LTPD es un valor numérico específico
para el nivel de calidad del consumidor;
generalmente se refiere a un punto en la
curva CO en el cual el Pa es 0.10 y la
mayoría de los sistemas basados en el
PDTL se basan en ese valor de Pa.

Carlos Viesca González 156


Planes de muestreo de
aceptación por
atributos
 El Límite de Calidad Media de
Salida (LCMS o AOQL):
 Se aplica sólo al muestreo en el que a
los lotes rechazados se les hace una
inspección al 100% para sustituir los
artículos defectuosos encontrados por
piezas buenas, que es lo que se
denomina inspección rectificadora.
Carlos Viesca González 157
Planes de muestreo de
aceptación por
atributos
 La inspección Total Promedio (ITP
o ATI):
 Se puede graficar la ITP esperada para
cualquier nivel de calidad de un lote (p)
contra el valor de p y usar esta gráfica
para determinar los costos asociados a la
inspección rectificadora.

Carlos Viesca González 158


Planes de muestreo de
aceptación por
atributos
 El sistema de muestreo MIL - STD - 105E:
 El manejo de normas publicadas como ésta (entre las
más comunes también está la ANSI/ASQC Z1.4),
presenta la ventaja de que facilita la negociación entre
vendedor y comprador. Es el más conocido de los
planes de muestreo que utilizan como índice de calidad
el NCA; proporciona una gran seguridad en la
aceptación de los lotes cuando la proporción de
defectuosos es menor o igual al NCA.

Carlos Viesca González 159


Planes de muestreo de
aceptación por
atributos
 Tipos de inspección:
 La MIL . STD - 105E incluye planes para
muestreo de aceptación simple, doble y
múltiple basados en el AQL.
 Los AQL contenidos en los planes varían de
0.01% hasta 10% (para el conteo de
disconformes) y de arriba del 10% hasta
1000% (para el conteo de disconformes en
100 unidades).

Carlos Viesca González 160


Planes de muestreo de
aceptación por
atributos
 Dado un AQL el sistema proporciona
varios planes de muestreo con el fin de
motivar al proveedor en función de la
calidad del producto que envía; así, es
posible aplicar tres tipos de inspección
para cada uno de los tres tipos de
muestreo señalados líneas arriba: normal,
estricta y reducida.
Carlos Viesca González 161
Planes de muestreo de
aceptación por
atributos

La inspección normal se utiliza al inicio del proceso
de inspección y continúa aplicándose durante el tiempo
que el vendedor esté produciendo aparentemente
piezas con el NCA o mejores.

La inspección estricta se aplica cuando hay
evidencia de que la calidad del producto se ha
deteriorado, lo cual forzará al productor a enviar
productos que sean tan buenos o mejores que el NCA.
 Si la historia reciente de la calidad de un producto ha
sido excepcionalmente buena, se puede adoptar la
inspección reducida, con lo cual se obtiene una
reducción de costos de inspección al revisarse una
muestra más pequeña.Carlos Viesca González 162
Planes de muestreo de
aceptación por

atributos
Reglas para el cambio de tipos de inspección:
 De normal a estricta. Si se realiza una inspección
normal, se establece la inspección estricta cuando
dos de cinco lotes consecutivos se han rechazado en
la inspección original.
 De estricta a normal. Cuando se ha estado aplicando
una inspección estricta, la inspección normal se
establece si se han presentado cinco lotes aceptables
consecutivos en la inspección original.

Carlos Viesca González 163


Planes de muestreo de
aceptación por
atributos
 De normal a reducida. Se puede pasar de
la aplicación de una inspección normal a
una reducida si se satisfacen las
siguientes cuatro condiciones:

1. A los diez lotes anteriores se les ha aplicado


inspección normal y ninguno ha sido
rechazado en la inspección original.

Carlos Viesca González 164


Planes de muestreo de
aceptación por
atributos
2. El número total de defectuosos en las
muestras de los diez lotes anteriores es
menor o igual al número límite.

3. Si la autoridad responsable lo aprueba.

4. Si la producción está en fase estable.

Carlos Viesca González 165


Planes de muestreo de
aceptación por
atributos
 De reducida a normal. Se puede
pasar de la inspección reducida a la
normal si ocurre alguna de las
siguientes situaciones en la
inspección original:
1. Se rechaza un lote.
2. Se acepta un lote al que se aplicó
inspección reducida, pero el número de
defectuosos encontrado es mayor que el
número de aceptación y menor que el
número de rechazo.
Carlos Viesca González 166
Planes de muestreo de
aceptación por
atributos
3. La producción ha venido a menos
o ha sido irregular.

4. Otras condiciones que propicien el


establecimiento de la inspección
normal.

Carlos Viesca González 167


Planes de muestreo de
aceptación por
atributos
 Los niveles de inspección:
 En la MIL - STD - 105E, el tamaño
de muestra se determina con base en el
tamaño del lote, el tipo de inspección y
el nivel de inspección; existen tres
niveles de inspección generales para
cada uno de los tipos ya mencionados
anteriormente: el I, el II y el III.

Carlos Viesca González 168


Planes de muestreo de
aceptación por
atributos
 Al nivel II le corresponde una inspección normal y es
el que generalmente se usa. El nivel I se usa cuando
se permite una menor discriminación en el proceso
de muestreo y requiere cerca de la mitad de la
cantidad a inspeccionar del nivel II.

Carlos Viesca González 169


Planes de muestreo de
aceptación por
atributos
 El nivel III se adopta cuando se requiere una
mayor discriminación y usualmente requiere
dos veces la cantidad a inspeccionar del nivel II.

 El nivel de inspección se establece en un


contrato o por la autoridad responsable.

Carlos Viesca González 170


Planes de muestreo de
aceptación por
atributos

Los niveles especiales S-1, S-2, S-3 y S-4
se usan cuando se requiere tamaños de
muestra pequeños (se involucran pruebas
destructivas o muy caras) y pueden o
deben tolerarse grandes riesgos en el
muestreo (menor poder discriminatorio).

Carlos Viesca González 171


Planes de muestreo de
aceptación por
atributos
 Operación del sistema de
muestreo MIL - STD - 105E:
1. Seleccionar los planes apropiados de las
tablas publicadas en el estándar.
2. Usar las reglas de cambio del nivel de
inspección, cuando la calidad del lote
cambia.

Carlos Viesca González 172


Planes de muestreo de
aceptación por
atributos
 Procedimiento para el uso estándar:
1. Determinar el NCA aceptable (basado en un
acuerdo entre el productor y el cliente)
2. Decidir el nivel de inspección a usar.
3. Determinar el tamaño del lote.
4. Usar la tabla de Letras de Código del
Tamaño de Muestra para seleccionar la letra
código apropiada (anexo).

Carlos Viesca González 173


Planes de muestreo de
aceptación por
atributos
5. Decidir el tipo de procedimiento de muestreo:
simple, doble o múltiple.
6. Usar la tabla correspondiente al procedimiento
de muestreo seleccionado y al nivel de
inspección para encontrar el tamaño de
muestra y los números de rechazo y
aceptación para el plan.
7. Empiece usando el plan seleccionado y lleve
un registro de las aceptaciones y rechazos
para que pueda aplicar las reglas de cambio.

Carlos Viesca González 174


CAPÍTULO 4
Confiabilidad

Carlos Viesca González 175


Confiabilidad
 Se basa en la distribución normal,
exponencial y weibull.
Tasa de falla

Etapa de madurez

tiempo

Carlos Viesca González 176


Confiabilidad
 La confiabilidad se define como la probabilidad de que
un producto desempeñe la función para la cual fue
elaborado , bajo condiciones dadas y durante un
periodo de tiempo determinado.
 La confiabilidad es un aspecto de la calidad que
específicamente considera el comportamiento de la
calidad a lo largo del tiempo.

Carlos Viesca González 177


Confiabilidad
 Sistema en serie: todos los
componentes están relacionados
de manera que el sistema deja de
funcionar si alguno de sus
componentes falla.
n
Ro = Π Ri
i =1
Carlos Viesca González 178
Confiabilidad
 Sistema en paralelo: todos sus
componentes están relacionados
de manera que el sistema deja de
funcionar si todos sus
componentes fallan.
n
Ro = 1 − Π (1 − Ri )
i =1
Carlos Viesca González 179
Confiabilidad
 Ejemplo:
RA= .
A
90
RB= .
B 95

Entonces la confiabilidad del sistema es:

P ( A ∪ B ) − P ( A ∩ B ) = ( .90 + .95) − ( ( .90 )( .95) )


= .995
Carlos Viesca González 180
Distribución del tiempo
de falla

1. Los artículos de mala


calidad son eliminados.
Tasa de falla

2. Periodo de vida útil.

3. Etapa de reemplazo.
1.- 2.- Etapa de 3.-
periodo madurez envejecimiento
inicial

tiempo

Carlos Viesca González 181


Tiempo entre fallas
 t= variable aleatoria que representa el
tiempo de vida del producto, tiempo
entre fallas de un producto.
 f(t)= función de probabilidad o función
de densidad.
f (t ) ≥ 0
0

∫ f (t )dt = 1
−∞
Carlos Viesca González 182
Tiempo entre fallas
 F(t)= función de probabilidad o
densidad acumulada (probabilidad de
que un producto falle hasta antes del
tiempo t) t
F (t ) = P( T < t ) = ∫ f (t )dt
−∞

Carlos Viesca González 183


Tiempo entre fallas
 Confiabilidad (R(t))= confiabilidad de que un producto
no falle antes del tiempo t.


R(t ) = 1 − f (t ) = P (T > t ) = ∫ f (t )dt
t

f(t) tiene una varianza y una media.

Carlos Viesca González 184


Tiempo entre fallas

 Media: puede ser el tiempo media


hasta que el producto falla (MTTF)
es decir, que no se puede reparar.

Carlos Viesca González 185


Tiempo entre fallas
 Tiempo medio entre fallas (MTBF): se
aplica para productos que se puedan reparar,
es el tiempo medio entre fallas.


µ = E (t ) = MTTF o MTBF = ∫ t ( f (t ))dt
−∞

Carlos Viesca González 186


Tiempo entre fallas
 Tasa de fallas:

Z (t ) = f (t )
= 1 − F ( z)

Carlos Viesca González 187


Funciones de
probabilidad
 Exponencial:
 Cuando la tasa de fallas es constante, la
función de probabilidad que describe la
vida de un producto es exponencial.

− λt 1 −t µ
f (t ) = λe = e ; t >0
µ
Carlos Viesca González 188
Funciones de
probabilidad
exponencial
 λ = número de fallas por ud. de tiempo.
 µ = tiempo medio por fallas (MTBF) o
tiempo medio para fallas.

1 1
λ= ⇒ µ=
µ λ
tasa de fallas = z (t ) = λ
Carlos Viesca González 189
Funciones de
probabilidad
exponencial
 Esta distribución es útil para representar la tasa
de fallas en la etapa de madurez en la gráfica
similar a la tina de baño.

Carlos Viesca González 190


Funciones de
probabilidad
exponencial

λ 1

f(t) R(t)

tiempo tiempo

R (t ) = 1 − F (t ) = P (T > t )
Carlos Viesca González 191
Funciones de
probabilidad
exponencial
Tasa de fallas

Z(t)

tiempo
t t t
 −1 
P(T ≤ t ) = ∫ f (t )dt = ∫ λe −λt dt = λ  e −λt 
0 0 λ 0
[ ]
F (t ) = P (T ≤ t ) = −1 e −λt − 1 = 1 − e −λt prob. falla

[ ]
R(t ) = P (T > t ) = ∫ λe −λt dt = 1 − 1 − e −λt = e −λt confiabilidad
t
Carlos Viesca González 192
Funciones de
probabilidad
 Normal:
 Esta distribución puede representar
situaciones en las cuales no se presentan
fallas durante un periodo de tiempo, y
repentinamente muchas o todas las pzas.
comienzan a fallar, alrededor de cierto
tiempo que coincide con la media µ .

Carlos Viesca González 193


Funciones de
probabilidad
normal
 Como la tasa de fallas tiene un
comportamiento creciente, la
distribución puede modelar algunas
situaciones en el periodo de
envejecimiento.

Carlos Viesca González 194


Funciones de
probabilidad
normal

f(t) f(t)

tiempo tiempo

(t − µ )2
−. 5
σ
e
f (t ) = ; t > 0, µ > 0, σ > 0
σ 2π
Carlos Viesca González 195
Funciones de
probabilidad
normal
Tasa de fallas

Z(t)

tiempo

t−µ
R (t ) = 1 − f ( z ) ; z=
σ
Carlos Viesca González 196
Funciones de
probabilidad
 Weibull:
 Esta distribución es la más utilizada en
estudios de confiabilidad, ya que puede
modelar casi cualquier situación ya sea
en periodos con tasa creciente,
constante o decreciente.

Carlos Viesca González 197


Funciones de
probabilidad
weibull
m −1  − ( t −t o )  m
m  t − to   θ 
f (t ) =  
e 
, t ≥ to
θ  θ 
 La tasa de falla es:

m −1
m  t − to 
Z (t ) =  
θ  θ 
Carlos Viesca González 198
Funciones de
probabilidad
weibull
 Confiabilidad:
 − ( t −t o )  m
 θ 
R (t ) = e  

 La media es:
 1
µ = MTTF = MTBF = to + θ Γ1 + 
 m
Γ(v) = función gamma de v
Γ(v) = vΓ(v − 1)
Carlos Viesca González 199
Funciones de
probabilidad
weibull
 Los parámetros de la distribución son:
 m: representa la forma de la distribución
 θ : representa la magnitud de la media

 to: es un parámetro de posición

 La combinación apropiada de valores de los


tres, es lo que facilita su uso en diversas
condiciones.
Carlos Viesca González 200
Funciones de
probabilidad
weibull

m =.5
m =1
f(t)
m =2
m =4

θ 2θ

Carlos Viesca González 201


Funciones de
probabilidad
weibull

m =.5
m =1
R(t)
m =2
m =4

θ 2θ

Carlos Viesca González 202


Funciones de
probabilidad
weibull

m =.5
m =1
Z(t)
m =2
m =4

θ 2θ

Carlos Viesca González 203


Funciones de
probabilidad
weibull
 Para m<0 la tasa de falla es decreciente y para
m>0 creciente.
 Con m=1 la tasa de falla es constante y la
distribución weibull es identica a la exponencial.

 El efecto del parámetro to es desplazar la función


hacia la derecha, ya que se supone que no
ocurren fallas para un periodo t<to

Carlos Viesca González 204


Modelo exponencial en
confiabilidad
 Confiabilidad del sistema en serie:
 n 
−λt
−
 ∑ λi t

R (t ) =Πe =e  i =1 

n
λs = ∑λi
i =1

1
MTBF = n

∑λ
i =1
i

Carlos Viesca González 205


Modelo exponencial en
confiabilidad
 Confiabilidad del sistema en paralelo:

( )
n
−λi t
R p (t ) = 1 − Π 1 − e
i =1

si toda λi es igual ∨ λi entonces :
(
R p (t ) = 1 − 1 − e −λt n
)
1 1 1 1
MTBF = 1 + + +  + 
λ 2 3 n
Carlos Viesca González 206
Pruebas de vida
fallas observadas
 En base a fallas observadas se selecciona de un
lote una muestra aleatoria de n pzas y es
sometida a pruebas bajo condiciones
ambientales determinadas, observándose los
tiempos de falla de los componentes
individuales, los tiempos de falla observados
son:
t1 ≤ t 2 ≤ t3 ≤  ≤ t r
Carlos Viesca González 207
Pruebas de vida
fallas observadas
 Si el tamaño de la muestra es n, la vida
acumulada por las uds probadas hasta
la falla r, sera Tr. Si en la prueba se
reemplazan los elementos que fallan,
entonces:
Tr = nt r
Carlos Viesca González 208
Pruebas de vida
fallas observadas
 Si las piezas que fallan no se
reemplazan, entonces:
r
Tr = ∑ ti + ( n − r )t r
i =1

 Para ambos casos, el estimador de vida


normal será:
Tr
µ̂ =
r
Carlos Viesca González 209
Pruebas de vida
fallas observadas
 Un intervalo de confianza para vida
media, se puede encontrar ya que el
estadístico 2Tr/µ tiene una distribución
ji – cuadrada con 2r grados de libertad.
2Tr 2Tr
< µ <
χα , 2 r
2
χ1−α , 2 r
2
2 2

Carlos Viesca González 210


Pruebas de vida
tiempo transcurrido
 En base al tiempo transcurrido,
otro porcedimiento de prueba de
vida consiste en suspender la
prueba después de transcurrido
cierto tiempo fijo T y considerar el
número de fallas observadas k
como una variable aleatoria.
Carlos Viesca González 211
Pruebas de vida
tiempo transcurrido
 En el caso de que la prueba se
realice con reemplazo, entonces:

Tk = nT

Carlos Viesca González 212


Pruebas de vida
tiempo transcurrido
 Si las pruebas se realizan sin
reemplazo, entonces:
k
Tk = ∑ ti + (n − k )T
i =1

Carlos Viesca González 213


Pruebas de vida
tiempo transcurrido
 El estimador y el intervalo de
confianza para la vida media será:
Tk
µˆ =
k
2Tk 2Tk
<µ<
χ 2
α , 2 ( k +1) χ 2
1−α , 2 ( k +1)
2 2
Carlos Viesca González 214
Modelo Weibull en
confiabilidad
 Confiabilidad en componentes:

β −1  1−γ 
β
β  t −γ   
f (t ) =   e α 
, t ≥γ
α α 

Carlos Viesca González 215


Modelo Weibull en
confiabilidad
 En relación a la expresión vista
anteriormente:
β =m α =θ to = γ
−( t ) ( α) β
β
− t
F (t ) =1 − e α
R (t ) = e
1 
MTBF =αΓ  β +1 
 
f (t ) βtβ −1
Z (t ) = r (t ) = = β
R (t ) α
Carlos Viesca González 216
Función gamma
α
Γ(k ) = ∫ x k −1e − x dx ; x≥0
0
 Resultados conocidos:
Γ(1) = 1
( 2) =
Γ1 π
Γ( k ) = (k − 1)Γ( k − 1) ; k >1
Γ( n ) = (n − 1)! ; para n entero
Carlos Viesca González 217
Función weibull
 Si α =1 y β =3.5, la tasa de falla
aumenta y la distribución weibull es
útil para modelar la vida de productos
en la etapa de envejecimiento.
También en este caso la distribución
weibull se aproxima a la distribución
normal.
Carlos Viesca González 218
Función weibull
 Si α =1 y β =.5, la tasa de fallas
decrece y la distribución es útil
para modelar el tiempo de vida de
los componentes en la etapa inicial
o depuración.

Carlos Viesca González 219


Función weibull
 Si α =0 y β =1, entonces la distribución weibull
se convierte en la exponencial.

1 −t α
f (t ) = e ; α=µ
α

Carlos Viesca González 220

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