UNIVERSIDAD NACIONAL DE TRUJILLO

ESCUELA DE INGENIERA DE
MATERILAES
TEMA: DIFRACCIN DE RAYOS X
CURSO: CARACTERIZACIN DE MATERIALES
DOCENTE:

Ing. Dionicio Otiniano Mndez

dionicioo@hotmail.com

21 05 - 2015

Radiacin X Caracterstica
La radiacin caracterstica se produce cuando el voltaje que
acelera los electrones hacia el antictodo supera un
determinado valor umbral.
Por encima de este valor algunos electrones acelerados son
capaces de desplazar electrones de los orbitales ms
internos (capas K y L o M).
Las vacantes producidas son inmediatamente cubiertas por
electrones que se localizan en las capas adyacentes mas
externas (principalmente L y M, y tambin N yO).

Los saltos de energa que se producen dependen del metal

que acta como blanco.

 Tubos convencionales de
rayos X que se utilizan en
los
laboratorios
de
Cristalografa.

Produccin de rayos X caractersticos

(production of characteristic X rays)

Radiacin caracterstica

Niveles de energa de los electrones mostrando el

origen de la Radiacin K y K

Interferencias y difraccin

Interferencia
Es una propiedad de las ondas

Interferencia
constructiva

Interferencia
destructiva

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Interferencias de dos fuentes

Constructivas
Se refuerza el
movimiento ondulatorio

Destructivas
Se atena el movimiento
ondulatorio

12

Coherencia y Monocromaticidad
Una fuente monocromtica es aquella que emite luz con una
nica frecuencia

Dos fuentes monocromticas se dicen coherentes cuando

emiten luz con la misma frecuencia y longitud de onda. Deben
tener una relacin de fase definida y constante.
Luz
coherente

Luz no
coherente

13

Superposicin de ondas
Principio de superposicin: cuando dos ondas o ms ondas se
superponen, el desplazamientos resultante es la suma de los
desplazamientos individuales producidos por cada una de
ellas.
En fase

Desfase
inicial

En oposicin

Suma
14

Superposicin de ondas
Cuando dos ondas coinciden en el mismo
punto del espacio, se suman sus efectos
(dependiendo de la fase relativa).
F=F1+F2

15

Fenmenos de interferencia
La interferencia se produce cuando dos ondas se superponen en un
punto:
Si estn en fase, pueden sumarse Interferencia constructiva
Si estn en oposicin de fase pueden contrarrestarse
Interferencia destructiva
Para poder producir un patrn de interferencia debe cumplirse
que:
Las ondas deben ser coherentes (fase relativa constante)
Las ondas deben tener una nica longitud de onda/frecuencia

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Qu es difraccin?
Se define la difraccin como la
modulacin o redistribucin de la
energa dentro de un frente de onda, al
pasar por la orilla de un objeto opaco.
Es el fenmeno que hace que las ondas
que estn viajando en un camino recto
puedan rodear un obstculo.
17

Difraccin
Es una propiedad de las ondas
Se observa cuando se distorsiona una onda por un obstculo
cuyas dimensiones son comparables a la longitud de la
misma

Rendijas

Obstculos

18

Difraccin
Es otra propiedad de las ondas

La luz que pasa a travs de un pequeo

agujero comparable en tamao con la se
extiende ms all de los bordes del mismo

Esto no ocurre en partculas

19

Difraccin en dos rendijas

Las ondas que salen de cada rendija

interfieren constructivamente dando
un patrn de
difraccin

En partculas esto no pasa

20

El fenmeno de la difraccin.
Se da el fenmeno de la difraccin cuando una onda encuentra una
serie de obstculos separados regularmente que:
Son capaces de dispersar la onda. (Variar su trayectoria).
Estn separados por distancias de magnitud comparable a la
longitud de onda.
Es la consecuencia de relaciones entre las fases especficas de dos o
mas ondas dispersadas por los obstculos.

Naturaleza ondulatoria de la luz

Interferencias: al
combinarse dos ondas
hay mximos y mnimos

22

La Cristalografa estructural por difraccin de

rayos X
Consiste en medir las intensidades de la mayor
cantidad posible de haces difractados del
espectro tridimensional de difraccin, obtener de
ellas los mdulos de los factores de estructura, y
de sus valores, mediante algn procedimiento de
asignacin de fases a cada uno de estos factores,
reconstruir la distribucin electrnica en la celdilla
elemental, cuyos mximos correspondern a las
posiciones atmicas.

Dispositivo para obtener un patrn

de difraccin de rayos X de un cristal

Pantalla
Crital

Haz de
rayos X

Placa fotogrfica

Tubo de rayos X

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Diagramas de difraccin de (a) una molcula, (b) dos molculas,

(c) cuatro molculas, (d) una lnea de molculas repetidas
peridicamente, (e) dos lneas de molculas y (f) una red
bidimensional peridica de molculas.

PATRONES DE DIFRACCIN DE ELECTRONES

DE UN MONOCRISTAL DE ESTRUCTURA FCC.

020

200

000

(010)
(100)

PATRN DE DIFRACCIN CORRESPONDIENTE

A UN POLVO DE ESTRUCTURA FCC

(111)
(200)
(220)
(311) (222)

Esquema general que ilustra el proceso de resolucin de

estructuras moleculares y cristalinas mediante la difraccin de
rayos X.

Por qu necesitamos cristales para ver

difraccin?
Amplificacin de la seal
.(efecto de interferencia a tener en cuenta!)
cristal

molcula

celda unidad

29

Celdas unidad en el sistema cristalino cbico

Cbica sencilla

Cbica centrada
en el cuerpo

Cbica centrada
en las caras
30

PLANOS EN UN SLIDO CRISTALINO

31

32

Reflexin de rayos X por dos

planos de tomos
Rayos difractados

Rayos incidentes

d sen

Distancia adicional =

BC + CD =

d sen
q

2d senq

= n

(Ecuacin Bragg)
33

Ley de Bragg

Planos (h k l)
d(hkl)

ef + fg = n

n = 2 d(hkl) sen
34

35

DIFRACTMETRO

36

GONIOMETRO
FUENTE RX

DETECTOR DE LA
DIFRACCIN

DETECTOR

GONIMETRO

PATRON DE DIFRACCIN

5
10
20
30

2 theta
40

d=1,89821
d=1,87920

d=1,991

d=2,04470

d=2,08361

d=2,21662

d=2,282

d=2,453
d=2,403

d=2,49403

d=2,59297

d=2,68349

d=2,78748

d=2,87074

d=3,79893

d=3,032

d=3,178

d=3,34303

d=10.082

d=3,06453

d=4,27947

d=7,62075

DIFRACTOGRAMA

50

39

DIFRACTOGRAMA

YESO

CALCITA
CUARZO

10

20

30

2 theta

40

50

40

DIFRACTOGRAMA

42