1.

- DATOS DE LA ASIGNATURA
Nombre de la asignatura : Caracterizacin Estructural
Carrera : Ingeniera en Materiales
Clave de la asignatura : MAC-1004
SATCA1 2- 2- 4
2.- PRESENTACIN
Caracterizacin de la asignatura.
Con la presente asignatura el estudiante aplicar la microscopa ptica, difraccin de Rayos
X y microscopas electrnicas de barrido y trasmisin en la caracterizacin estructural de los
materiales. Desde el punto de vista prctico la asignatura habilita al estudiante en los
principios tericos de las antes mencionadas, lo cual le permitir identificar aspectos la
microestructura, composicin qumica, verificar las fases que los componen e identificar
morfologas, para predecir sus propiedades y explicar los fenmenos involucrados para su
comportamiento.

Intencin didctica.
Se abordan cuatro mtodos de caracterizacin estructural, en cada se tcnica se analizan
los principios fundamentales y leyes, caractersticas de los equipos, as como mtodos de
preparacin de muestras para cada una.
En la primera unidad se inicia con una tcnica clsica en la caracterizacin de los materiales
como es la microscopa ptica. Se identifica cada una de las partes componentes del
microscopio y su funcin en la formacin de las imgenes. Para lograr una mejor
interpretacin de la informacin obtenida en esta tcnica se aplican los principios de la
ptica clsica. Se concientiza sobre las limitantes de la tcnica como son el poder de
resolucin y la profundidad de campo. Se capacita el estudiante en las tcnicas adecuadas
de preparacin de muestras metalogrficas para su observacin y cuantificacin de la
estructura (porcentaje de fases, tamao de grano, forma y distribucin de fases).
La segunda unidad corresponde a Difraccin de Rayos X, se inicia con el estudio de la
naturaleza y la generacin de los Rayos X, con las leyes de difraccin y ley de Bragg para
establecer claramente las condiciones que facilitan el reforzamiento de una onda y permiten
el proceso de difraccin. Con los difractogramas obtenidos el estudiante ser capaz de
identificar las caractersticas estructurales de una muestra. Adems se analiza el principio
de funcionamiento de un difractmetro de rayos X y las partes que lo constituyen.
La tercera unidad corresponde a la tcnica de microscopa electrnica de barrido, se
establece de manera precisa las ventajas y limitaciones respecto a la microscopa ptica.
Partiendo de la interaccin de los electrones con la materia se identifican todas las seales
resultantes, sus caractersticas y su aplicacin en la microscopa electrnica de barrido.
Aplica los principios de la mecnica cuntica para la formacin de imgenes. Mediante esta
tcnica se puede obtener informacin de la morfologa de partculas y fases, composicin
qumica mediante espectroscopia electrnica.

Sistema de Asignacin y Transferencia de Crditos Acadmicos

El estudio del microscopio electrnico de trasmisin corresponde a la cuarta y ltima unidad

de la asignatura. Se parte de conocimiento general del equipo, sus partes y principio de
funcionamiento. Mediante los principios tericos de funcionamiento de las lentes
electrnicas, se explica la formacin de una imagen de campo claro, campo oscuro y patrn
de difraccin de electrones. Resuelve e interpreta patrones de difraccin. Esta herramienta
de caracterizacin requiere de tcnicas especiales para la preparacin de muestras, por lo
que se hace nfasis en ellas para obtener una muestra delgada y de buena calidad para
que permita el paso de los electrones.
El enfoque sugerido para la materia requiere que las actividades prcticas promuevan el
desarrollo de habilidades para la experimentacin, tales como: identificacin, manejo y
control de variables y datos relevantes; planteamiento de hiptesis; trabajo en equipo; En
las actividades prcticas sugeridas, es conveniente que el profesor busque slo guiar a sus
alumnos para que ellos hagan la eleccin de los materiales a caracterizar. Para que
aprendan a planificar, que no planifique el profesor todo por ellos, sino que sean
responsables en el proceso de planeacin y desarrollo de su proyecto.
En las actividades de aprendizaje sugeridas, se propicia que el estudiante tenga el contacto
con el concepto en forma concreta mediante la observacin, la reflexin y la discusin de
ejemplos especficos de cada unidad.

3.- COMPETENCIAS A DESARROLLAR

Competencias especficas:

Aplicar

las diferentes tcnicas de

caracterizacin para
preparar
muestras e identificar la estructura de
los materiales a diferente orden de
magnitud e interpretar la informacin
obtenida

Competencias genricas:
Competencias instrumentales

Capacidad de anlisis y sntesis.

Capacidad de organizar y planificar.
Conocimientos bsicos de las

tcnicas
de
caracterizacin
estructural.
Habilidad para buscar y analizar
informacin proveniente de fuentes
diversas
Habilidad en la preparacin de
muestras para caracterizar a
diferentes aumentos y y diferentes
tcnicas.
Habilidades bsicas de manejo del
microscopio ptico,
Auxiliarse de MEB, DRX, y MET, en
caracterizacin y diferenciacin de
fases cristalinas, en diversos
materiales.
Comunicacin oral y escrita
Interpretacin de resultados de los
diferentes equipos utilizando el
software correspondientes.

Competencias interpersonales

Capacidad crtica y autocrtica

Trabajo en equipo
Habilidades interpersonales
Habilidades de vinculacin entre
rea de proceso productivo y control
de calidad.

Competencias sistmicas

Capacidad

de
aplicar
los
conocimientos en la prctica
Habilidades de investigacin
Capacidad de aprender
Capacidad de innovar.
Habilidad para trabajar en forma
autnoma
Iniciativa para aplicar nuevas
tcnicas.

4.- HISTORIA DEL PROGRAMA

Lugar y fecha de
Participantes
elaboracin o revisin
Representantes de los Institutos
Tecnolgicos de:
Instituto Tecnolgico de Superior de Calkin, Chihuahua,
Estudios Superiores de Superior de Irapuato, Morelia,
Ecatepec del 9 al 13 de Saltillo, Superior de Tlaxco y
Zacatecas.
noviembre de 2009.

Desarrollo de Programas
en
Competencias
Profesionales por los
Institutos Tecnolgicos
del 16 de noviembre de
2009 al 26 de mayo de
2010.

Academias de Ingeniera en
Materiales de los Institutos
Tecnolgicos de:
Chihuahua, Irapuato, Morelia y
Saltillo

Representantes de los Institutos

Tecnolgicos de:
Instituto Tecnolgico de Superior de Calkin, Chihuahua,
Zacatecas del 12 al 16 Superior de Irapuato, Morelia,
Saltillo, Superior de Tlaxco y
de abril de 2010.
Zacatecas.

Evento
Reunin
Nacional
de
Diseo
e
Innovacin
Curricular
para
el
Desarrollo y Formacin de
Competencias
Profesionales
de
la
Carrera de Ingeniera en
Materiales.
Elaboracin del programa
de estudio propuesto en la
Reunin
Nacional
de
Diseo Curricular de la
Carrera de Ingeniera en
Materiales.
Reunin
Nacional
Consolidacin
de
Programas
Competencias
Profesionales
de
Carrera de Ingeniera
Materiales.

de
los
en
la
en

5.- OBJETIVO GENERAL DEL CURSO

Aplicar las diferentes tcnicas de caracterizacin para preparar muestras e identificar la

estructura de los materiales a diferente orden de magnitud e interpretar la informacin
obtenida.
6.- COMPETENCIAS PREVIAS
Comprender la estructura atmica
Conocer las diferentes estructuras cristalinas
Aplicar los conocimientos fundamentales de cristalografa
Correlacionar los fundamentos de ptica y de mecnica cuntica
Entender problemas de anlisis vectorial
Saber trabajar en laboratorio de forma individual y por equipos

7.- TEMARIO
Unidad

Temas
Microscopa ptica

1.1
1.2
1.3
1.4
1.5
1.6

2.1.
Tcnicas de difraccin de
2.2.
rayos X
2.3.
2.4.
2.5.
2.6.
2.7.

Subtemas
Principios de formacin de imgenes
Partes y funcionamiento del microscopio ptico
Mtodos de iluminacin
Preparacin de muestras
Interpretacin de microestructuras
Anlisis de imgenes
Naturaleza de los rayos
Generacin de rayos X
Ley de Bragg
Factor de estructura
Tcnicas de difraccin de rayos X
Patrones de difraccin
Mtodo Rietveld

3.1.
Microscopa electrnica de
3.2.
barrido
3.3.
3.4.
3.5.

ptica electrnica
Interaccin haz de electrones materia
Formacin de imgenes
Microanlisis por dispersin de energa
Microanlisis por dispersin de longitud de
onda
3.6. Preparacin de muestras

4.1.
Microscopa electrnica de
4.2.
transmisin
4.3.
4.4.
4.5.
4.6.
4.7.

Descripcin y principios de funcionamiento

Tcnicas de preparacin de muestras
Poder de resolucin
Formacin de imgenes
Formacin de patrones de difraccin
Reglas de indexacin
Teora cinemtica

4.8. Teora dinmica

4.9. Microscopa de alta resolucin

8.- SUGERENCIAS DIDCTICAS

Propiciar actividades de bsqueda, seleccin y anlisis de informacin en

distintas fuentes.
Propiciar el uso de las nuevas tecnologas en el desarrollo de los contenidos
de la asignatura.
Fomentar actividades grupales que propicien la comunicacin, el intercambio
argumentado de ideas, la reflexin, la integracin y la colaboracin de y entre
los estudiantes.
Propiciar, el desarrollo de actividades intelectuales de induccin-deduccin y
anlisis-sntesis, las cuales lo encaminan hacia la investigacin, la aplicacin
de conocimientos y la solucin de problemas.
Llevar a cabo actividades prcticas que promuevan el desarrollo de
habilidades para la experimentacin, tales como: observacin, identificacin.
Propiciar el uso adecuado de conceptos, y de terminologa cientficotecnolgica.
Proponer problemas que permitan la integracin de contenidos de la
asignatura y entre distintas asignaturas, para la caracterizacin.
Relacionar los contenidos de esta asignatura con las dems del plan de
estudios para desarrollar una visin interdisciplinaria.
Aplicar las tcnicas de caracterizacin en el desarrollo de proyectos de
investigacin de materiales especficos.

9.- SUGERENCIAS DE EVALUACIN

La evaluacin del aprendizaje se llevar a cabo a travs de la constatacin de los
desempeos acadmicos logrados por el estudiante; es decir, mostrando las
competencias profesionales explicitadas en los objetivos de aprendizaje.
La evaluacin es continua y formativa por lo que se debe considerar el desempeo
en cada una de las actividades de aprendizaje, asistencia al aula, participacin en la
exposicin y el anlisis de los temas. De la participacin y reporte en visitas a Centros
de Investigacin e Industria.
Exposicin y defensa en el aula de los resultados obtenidos en su proyecto de
caracterizacin de material selecto.

10.- UNIDADES DE APRENDIZAJE

Unidad 1: Microscopa ptica
Competencia especfica a desarrollar

Conocer
los principios de
formacin de imgenes en el
microscopio ptico, sus principales
componentes, sus aplicaciones
para la determinacin de la
microestructura
de materiales
diversos.
Preparar muestras metalogrficas
para su observacin en el MO, su
interpretacin y anlisis

Actividades de Aprendizaje

Investigar y discutir los principios que

rigen la formacin de imgenes en el
ojo humano, en lentes simples y
compuestos para la caracterizacin
de la imagen formada.

Calcular y comparar los aumentos en:

Lente simples y en el microscopio
ptico

Distinguir los conceptos de: Distancia

focal , Eje ptico, Rayos focales,
Rayos paralelos
Identificar las partes fundamentales
en el microscopio
Investigar la longitud de onda de
filtros de diferentes colores y calcular
el poder de resolucin.
Seleccionar el tipo de objetivo y
oculares para realizar observaciones
con bajos y altos aumentos.
Observar la profundidad de foco de
objetivos diferentes
Realizar prcticas de calibracin de
aumentos a travs del microscopio en
micrmetro objeto.
Preparar muestras metalogrficas
para su observacin
Analizar y discutir de los resultados en
muestras observadas o de ejemplos
de proporcionados por el profesor

Unidad 2: Tcnicas de difraccin de rayos X

Competencia especfica a desarrollar

Aplicar los principios de la

difraccin de los rayos X para el
estudio de la estructura cristalina
de un material.

Investigar y discutir la clasificacin y

caractersticas de las radiaciones en
funcin de la longitud de onda.
Analizar la interaccin de los rayos X con
la materia.
Describir el fundamento del espectro de
rayos X.
Demostrar la Ley de Bragg y su
significado fsico.
Describir el efecto del contenido atmico
de los cristales en la difraccin de rayos X
a travs del factor de estructura.
Estimar y comparar las condiciones de
reflexin y de extincin especfica para
diferentes estructuras cristalinas.
Discutir los principios de utilizacin de las
tcnicas de Laue y Debye- Scherrer.
Identificar en el difractmetro de rayos X,
sus partes fundamentales.
Indexar e interpreta los patrones de
difraccin.
Aplicar la tcnica de difraccin de los
rayos X en los materiales
Realizar el refinamiento de patrones de
difraccin de rayos X

Unidad 3: Microscopa electrnica de barrido

Competencia especfica a desarrollar

Comprender
y
aplicar
los
principios del funcionamiento del
MEB para la caracterizacin de un
material

Actividades de Aprendizaje

Actividades de Aprendizaje

Investigar el funcionamiento de cada una

de las partes que constituyen el MEB.
Analizar la trayectoria del haz de
electrones dentro de la columna del
microscopio, desde su generacin hasta
el impacto sobre la muestra.
Identificar la funcin de los lentes en el
MEB.
Interpretar la interaccin del haz de
electrones primarios con la muestra.
Comprender la formacin de los

diferentes tipos de imgenes y de

contraste, interpretar las imgenes.
Identificar las imgenes obtenidas usando
electrones secundarios, retrodispersados
y de rayos X.
Preparar muestras de diferentes tipos de
materiales para su anlisis en el MEB
Investiga rel funcionamiento de los
espectrmetros de dispersin de longitud
de onda y de energa de los rayos X.
Examinar los alcances y limitaciones del
MEB.

Unidad 4: Microscopa electrnica de transmisin

Competencia especfica a desarrollar
Actividades de Aprendizaje

Comprender
y
aplicar
los
principios del funcionamiento del
MET para la caracterizacin de un
material

Investigar y discutir los principios bsicos

del MET.
Describir y aplicar las tcnicas para la
preparacin de muestras
Comprender los principios de formacin
de patrones de difraccin e imgenes.
Identificar los factores que afectan el
poder de resolucin
Comparar la formacin de imgenes en
campo claro y en campo obscuro.
Aplicar los procedimientos de calibracin
del MET.
Analizar la difraccin de electrones en el
MET, en base a muestras cristalinas y red
recproca.
Aplicar las reglas de indexacin y utilizar
software
Interpretar los patrones de difraccin.
Distinguir la interpretacin de la teora
cinemtica de contraste en cristales
perfectos e imperfectos.
Comprender la teora dinmica para la
interpretacin
de
imgenes
de
imperfecciones cristalinas.
Analizar el contraste dinmico de los
defectos cristalinos.
Aplicar
la
metodologa
en
la
caracterizacin estructural e identifica los

defectos de estructura.
Interpretar imgenes de alta resolucin.

11.- FUENTES DE INFORMACIN

1.
2.
3.
4.
5.
6.
7.
8.

Kehl, G. Fundamentos de la Prctica Metalogrfica. McGraw Hill

Girkin, R. Optical Microscopy of Metals.
Van Der Voor. Metallographic Principles. McGraw Hill
ASM. Metals Hand Book Vol. 8. ASM.
Redd Hill , R. Principios de Metalurgia Fsica.
Samuels, Leonard . Metallographic Polishing By Mechanical Methods. ASM.
Verhoven, J. D. Fundamentos de Metalurgia Fsica. Limusa.
Huking, D. W. X Ray Diffraction by Disordered and Ordered Systems. Pergamon
Press.
9. Cullity Bernard. X Ray Diffraction. McGraw Hill.
10. Goldstein, G. Practical Scanning Electron Microscopy. Plenum Press.
11. ASM. Metals Handbook Vol. 9. ASM. Novena edicin
12. Datley. C. W. The Scanning Electron Microscopy. Cambridge University Press.
13. Glavert, A. M. Practical Methods in Electron Microscopy Vol. 1.
14. Hall, C. E. Introduction to Electron Microscopy. McGraw Hill.
15. Proyecto Multinacional de Tecnologa de Materiales. Interpretacin de Imgenes en
Microscopia Electrnica de Barrido. Buenos Aires, Argentina.
16. Zworkyn, V. K. et. al. Electron Optics and The Electron Microscopy. John Wiley &
Sons.
17. Hirsh, P. B. Electron Microscopy of Crystals. Butterworths.
18. Brooker, G. R., Amelincks. Modern Diffraction and Techniques in Materials Science.
Scanning Electron Microscopy. North Holland.
19. Yacaman, Reyes Gasca, Microscopia Electrnica una visin del microcosmos, EFC.
1995

12.- PRCTICAS PROPUESTAS

Preparacin y caracterizacin microestructural de diversos materiales mediante MO

Metalografa cuantitativa, por Anlisis de imgenes
Interpretacin de patrones de difraccin de difraccin de rayos X monocristales
Identificacin de fases cristalinas mediante por difraccin de rayos X de polvos o
materiales policristalinos.
Observacin e interpretacin de imgenes obtenidas por electrones secundarios,
retrodispersados y microanlisis cuantitativo utilizando el microscopio electrnico de
barrido.
Preparacin de muestras para el microscopio electrnico de transmisin.
Obtencin de imgenes y patrones de difraccin en el MET. Indexacin de patrones
de difraccin de rea selecta
Proyecto de Caracterizacin Microestructural, donde analiza las modificaciones
generadas por tratamientos termo-qumicos y/o termo-mecnicos a un material selecto
y las relaciona con las propiedades mecnicas.