FSICA MODERNA EXPERIMENTAL II

BENITO RIVERA; ROXANA HERRN; ITZEL

HERNNDEZ; EMMANUEL GUILLEMINOT;
DANTE FRANCO.
PLAN DE PRESENTACIN
-Qu es la microscopa?
-Microscopio inico -Microscopio de campo cercano -
Tecnologa en estado del arte. - Microscopio de fuerza
atmica -Microscopio de tunelaje
-Aplicaciones de cada uno de estos microscopios
QU ES LA MICROSCOPA?
Microscopa es el conjunto de tcnicas y mtodos
destinados a hacer visible los objetos de estudio que
por su pequeez estn fuera del rango de resolucin
del ojo normal.

Exceptuando tcnicas especiales como las utilizadas
en microscopio de fuerza atmica, microscopio de
iones en campo y microscopio de efecto tnel, la
mi c r o s c o p a g e n e r a l me n t e i mp l i c a
la difraccin, reexin o refraccin de algn tipo de
radiacin incidente en el sujeto de estudio.
MICROSCOPIO DE FUERZA
ATMICA
La microscopia de fuerzas atmicas (AFM) es una tcnica basada
en la interaccin que existe entre una punta muy alada y una
supercie, de forma que esta interaccin se traduce en imgenes
simultneas de la topografa y de otra propiedad de la muestra.
Estas imgenes tienen carcter cuali y cuantitativo.
La AFM es capaz de
proporci onar i mgenes
topogrficas en 2 y 3
d i me n s i o n e s d e l a
superficie de molculas y
clulas pudiendo llegar a
una resolucin en z de 1
angstrom.

Su resolucin mxima es de
hasta 1 nm.
Se estn estudiando procesos biolgicos como
el de protenas que se unen a secuencias
especcas de DNA para regular importantes
funciones siolgicas, dnde deseamos resolver
el modelo de unin y calcular ngulos de
bending o incluso las constantes de disociacin
de los complejos protena-DNA.
L a r e s o l u c i n d e l
instrumento es de menos
de 1 nm, y la pantalla de
vi sual i zaci n per mi t e
distinguir detalles en la
superficie de la muestra
con una amplificacin de
varios millones de veces.
APLICACIONES DEL MICROSCOPO DE FUERZA ATMICA
BIOLOGA Y BIOMEDICINA
1 - Imagenologa de clulas vivas
2 - Imagenologa de alta resolucin de molculas
3 - Estudios funcionales
a) Medidas de elasticidad de membranas celulares
b) Espectroscopia de fuerza, volumen
c) Nano-manipulacin
d) Estudio de protenas (Molecular folding / unfolding)
e) Estudio de interacines receptor-ligando
Microscopio Inico
Ec! Nc! El#
volumen
equivalente
entie $%l&'y
$%l&(Pa
Cmaiaue0ltiaAltovacio
Nivelesue0peiaciona:
Speibombauevacio
CBinuuciua
I)$*kI
NCP(Placa
uemicio-
canal)
Placaue
Fosfoio
)#%% nm
Aplicaciones
Ausoicion
Besoicion
BifusionSupeificialueAuatoms
InteiaccionesAuatom
NovimientouePaso
FoimaueCiistalueEquilibiio
BeteccionueBefectosCiistalogificos
EstuuioueAleaciones
Betalles
EvapoiacionueCampo(Bestiuctiva)
velociuaulateial
InceitiuumbieueBeisenbeig)
Resolucionmxima:
Nuestiazonasueionizacionynotomos
Bificultauestcnicas
MICROSCOPIO DE
Campo cercano
SPM- SCANNING PROBE
MICROSCOPY
Interaccin entre la punta y la supercie.
STM, AFM,MFM, SNOM
Todo es nanomtrico
SNOM- PTICO DE CAMPO
CERCANO
Luz.
ESTADO DEL ARTE
Capacidad de resolver a escala atmica
las supercies de los materiales en
estudio
-Reconstruccin de tomos
-Propiedades de un slo tomo: carga,
spin.
-Vibracin de una molcula (orgnicas)

MICROSCOPIO DE EFECTO TNEL
STM: Scanning tunneling microscope
IBM RESEARCH
1982
Heinrich Rohrer y Gerd
Binnig
1986 fueron galardonados
con el premio Nbel de
Fsica
Se basa en el efecto tnel
QU ES EL EFECTO TNEL?
Mecnica clsica: un electrn
no puede superar una barrera
de potencial superior a su
energa
La nube de probabilidad puede
extenderse hasta el otro lado
de una barrera de potencial
El electrn atraviesa la
barrera y genera una
intensidad elctrica
Efecto tnel
Se utiliza una punta muy
aguda y conductora, y se
aplica un voltaje entre la
punta y la muestra.
Cuando la punta se acerca a
unos 10 a la muestra, los
electrones de la muestra
uyen hacia la punta.
La imagen obtenida
corresponde a la densidad
electrnica de los estados
de la supercie.
nickel-molybdenum (Ni4Mo) intermetallic compound
ESQUEMA BSICO
Para que ocurra una corriente tnel tanto la muestra como la punta
han de ser conductores o semiconductores.
Es muy sensible tanto a la distancia, como a la diferencia de tensin
entre la punta y la muestra.
DESVENTAJAS
Se ha de trabajar al vaco o a baja temperatura,
donde el ambiente permite una adecuada
preparacin de las muestras.
Imposibilidad de trabajar con muestras aislantes.
Tanto la muestra como la punta han de ser
conductores o semiconductores.
RESOLUCIN ATMICA
APLICACIONES
Microelectrnica
Medida de semiconductores al
vaco y ultra-vaco, cristalografa,
estructura, etc.
Capas na
Medidas de tamao de grano,
distribucin, rugosidad y perl.se
puede analizar cualquier partcula
aislada sobre una supercie
Caracterizacin de materiales orgnicos e
inorgnicos.
Clculos de parmetros de celda
unidad, orientacin cristalina, defectos
puntuales, crecimientos de monocapas,
absorcin de molculas, etc.
Biologa
Visualizacin de clulas vivas
Posibilidad de anlisis en medio lquido
BIBLIOGRAFA
Fuentes:
-Universidad Autnoma de Madrid, Microscopa de Campo Cercano
-UNAM, Introduccin a la Microscopa
-Centro Nacional de microscopa electronica, Microscopio de Fuerzas
Atmicas
-Fundamental Theory of Atomic Force Microscopy, Dr. Zhong L. Wang.