Está en la página 1de 8

ESCUELA DE CIENCIAS BSICAS, TECNOLOGA E INGENIERA

299008 MICROELECTRNICA
Actividad 08: Leccin Evaluativa No. 2
2013-II


DIAGRAMA DE LA Y Y PROCEDIMIENTOS INVOLUCRADOS EN EL DISEO

A partir del diagrama de la Y pueden definirse una serie de procedimientos
usuales en el entorno de diseo que nos permiten, ya sea manualmente, o
mediante el uso de herramientas informticas de ayuda al diseo, la traduccin de
una representacin a otra o el paso de un nivel de abstraccin a otro. Estos
procesos son:

. Abstraccin: procedimiento consistente en traducir un sistema desde un
nivel inferior, ms detallado, a un nivel superior, menos detallado. Aplicable
en cualquier vista de diseo.

. Refinamiento: procedimiento opuesto a la abstraccin mediante el cual
se obtiene una descripcin ms detallada y completa de un sistema a partir
de su descripcin en un nivel superior.

. Sntesis: a cualquier nivel de abstraccin; este procedimiento se utiliza
para traducir una representacin funcional en su equivalente estructural.

. Anlisis: es el proceso inverso a la sntesis y consiste en encontrar una
descripcin funcional o abstracta para un sistema descrito estructuralmente.
Su principal uso es el de comprobar que una estructura obtenida mediante
un proceso de diseo complejo se comporta de acuerdo a la descripcin
funcional original del mismo (sus especificaciones).

. Optimizacin: es un proceso local a cada nivel de abstraccin en el que
se intenta encontrar la descripcin del sistema a ese mismo nivel que
maximice o minimice una serie de criterios o variables de diseo. Mediante
este procedimiento no se pasa de una vista a otra del sistema ni se cambia
de nivel de abstraccin.

. Generacin: consiste en la obtencin de la implementacin real de una
estructura determinada. En la mayora de los casos supone descender un
nivel de abstraccin y pasar de una representacin estructural a una fsica.

. Extraccin: proceso inverso al anterior. Dos ejemplos usuales de ese
procedimiento son la extraccin de componentes parsitos a partir del
diagrama de mscaras, que se aaden a la descripcin a nivel elctrico del
circuito (su esquemtico), y la extraccin de retardos a partir del
esquemtico elctrico para ser utilizados en el nivel lgico.







1












ESCUELA DE CIENCIAS BSICAS, TECNOLOGA E INGENIERA
299008 MICROELECTRNICA
Actividad 08: Leccin Evaluativa No. 2
2013-II


DISEO DESCENDENTE, DISEO ASCENDENTE

En la estrategia de diseo descendente (denominada tradicionalmente top-down
en ingls), el sistema se descompone en subsistemas, los cuales a su vez son
descompuestos en subsistemas ms simples hasta que se llega a un nivel
jerrquico en el cual los subsistemas pueden ser realizados directamente con
mdulos disponibles. Este mtodo tiene la desventaja que la descomposicin en
un nivel particular debe ser hecha de forma que se optimice la implementacin
final del sistema global, pero no existe ningn procedimiento sistemtico que
permita asegurar esto. El xito de esta estrategia depende de la experiencia del
diseador al escoger una descomposicin adecuada para cada nivel.

En la otra posible estrategia de diseo multinivel los mdulos existentes se
conectan para formar subsistemas, y stos se conectan a otros subsistemas hasta
que el sistema tiene la funcionalidad requerida por su especificacin. Esta
estrategia de denomina diseo ascendente (en ingls bottom-up). Esta
metodologa de diseo tiene una desventaja anloga a la anterior. La composicin
de los subsistemas debe hacerse de forma que resulte en un funcionamiento
correcto de acuerdo con la especificacin del sistema. De nuevo, no existe en
general ningn procedimiento sistemtico que asegure que esto sea as.

FLUJO DE DISEO TPICO EN ASICS

La secuencia bsica de pasos para disear un ASIC (circuito integrado de
aplicacin especfica son:

1. Entrada del diseo: Introduccin del diseo en un entorno de diseo de ASICs
ya sea utilizando un lenguaje descriptor de hardware (HDL) como los que veremos
en el apartado siguiente o bien una entrada de su esquema o captura de
esquemticos.

2. Sntesis lgica y/o analgica: Utilizando un sintetizador lgico automtico es
posible producir un listado (netlist en ingls) que describe la lgica y sus
conexiones. Por el contrario las partes analgicas deben sintetizarse
manualmente, si bien existen algunas herramientas en fase de desarrollo que
permiten algn tipo de sntesis automtica analgica.

3. Particin del sistema: Divisin del sistema en secciones que puedan ser
implementadas independientemente y luego conectadas entre s.

4. Simulacin pre-layout: Comprobacin de que el diseo funciona
correctamente.




2












ESCUELA DE CIENCIAS BSICAS, TECNOLOGA E INGENIERA
299008 MICROELECTRNICA
Actividad 08: Leccin Evaluativa No. 2
2013-II



5. Planificacin de la superficie: Distribucin de los bloques del ASIC sobre la
superficie del chip.

6. Colocacin: Distribucin de las celdas dentro de un bloque.

7. Conexionado: Realizacin de las conexiones entre celdas y bloques.

8. Extraccin: Obtencin de modelos elctricos de las interconexiones y
elementos parsitos del circuito a partir de las mscaras y los parmetros del
proceso de fabricacin.

9. Simulacin post-layout: Comprobacin de que el diseo funciona
correctamente una vez incorporado el efecto de las interconexiones y elementos
parsitos.



COSTES DE DIFERENTES ALTERNATIVAS DE DISEO DE CIRCUITOS
INTEGRADOS

Full Custom

Tradicionalmente, un diseo Full Custom (FC) se entiende que es aquel en el que
el layout se optimiza a mano. Por ejemplo, en el caso de utilizar lgicas no
estndar, es posible que no haya libreras con los componentes adecuados, y se
hace necesario disear especficamente los bloques a utilizar. Otra razn puede
ser la modificacin manual de algunos bloques para mejorar sus prestaciones,
dimensionando especficamente los transistores que lo componen.

El resultado es un circuito normalmente de altas prestaciones y de rea muy
reducida, pero el inconveniente es un coste de diseo muy elevado (sobre todo en
personas-tiempo). Actualmente la alta complejidad de los sistemas que se disean
hace impracticable la estrategia FC para el chip completo, pero muchos sistemas
siguen teniendo partes crticas optimizadas manualmente, con lo que los diseos
FC son en realidad en parte FC y en parte un diseo basado en libreras (Standard
Cell).

Standard Cell

Un diseo Standard Cell (SC) se basa en una librera de celdas (componentes
funcionales), todas con la misma altura. Esto permite disponerlas de forma





3












ESCUELA DE CIENCIAS BSICAS, TECNOLOGA E INGENIERA
299008 MICROELECTRNICA
Actividad 08: Leccin Evaluativa No. 2
2013-II


contigua formando un conjunto de filas y espacios entre ellas. Es posible generar
una librera SC o aadir elementos a una librera existente con bloques que sean
necesarios para un diseo concreto. En este caso, los bloques deben disearse
con la altura correcta para que se puedan usar en el entorno de diseo SC.

Por una parte la uniformidad de altura en las celdas simplifica mucho la
interconexin de los bloques, con lo cual es posible un proceso ms automatizado
que requiere menos intervencin humana. Por otra parte, el hecho de usar una
librera implica que los bloques no estn optimizados en prestaciones, y al ser de
altura fija, tampoco lo estn, en general, en rea. Como resultado, un diseo
basado enteramente en SC tiene un coste significativamente menor en personas-
tiempo que el FC, pero el rea resultante es mayor.



CARACTERSTICA PRINCIPALES DE VHDL

Tres son las caractersticas principales que incorpora VHDL enfocadas a facilitar o
permitir la descripcin de hardware: un modelo de estructura, un modelo de
concurrencia y un modelo de tiempo

Modelo de estructura

De forma natural cualquier sistema electrnico puede dividirse en subsistemas
ms pequeos. Por ello VHDL incorpora el concepto de estructura. Esta
caracterstica nos permite realizar el modelo de un sistema digital cualquiera a
partir de la referencia a las distintas partes que lo forman y especifican la conexin
entre estas. Cada una de las partes, a su vez, pueden estar modelas de forma
estructural a partir de sus componentes, o bien estar descritas de forma funcional,
usando los recursos de descripcin algortmica del lenguaje.

Modelo de concurrencia

El hardware es por definicin concurrente, en ltima instancia cualquier dispositivo
digital est formado de un mar de puertas lgicas, todas ellas funcionando en
paralelo. El elemento bsico que ofrece VHDL para modelar paralelismo es el
proceso (process).

Un proceso puede entenderse como un programa, se compone de sentencias,
puede llamar a subprogramas, puede definir datos locales, etc. En general, un
proceso describe un comportamiento y el cdigo que contiene se ejecuta de forma
secuencial. Pero todos los procesos contenidos en una descripcin VHDL se
ejecutan de forma paralela. Desde este punto de vista un modelo VHDL puede




4












ESCUELA DE CIENCIAS BSICAS, TECNOLOGA E INGENIERA
299008 MICROELECTRNICA
Actividad 08: Leccin Evaluativa No. 2
2013-II


entenderse como un mar de programas secuenciales ejecutndose de forma
paralela. De hecho cualquier descripcin VHDL es transformada en un conjunto de
procesos concurrentes equivalentes, y este mar de procesos concurrentes es la
informacin de entrada del simulador.

Modelo de tiempo

Una de las finalidades del modelado en VHDL del hardware es poder observar su
comportamiento a lo largo del tiempo (simulacin). El concepto de tiempo es
fundamental para definir cmo se desarrolla la simulacin de una descripcin
VHDL. La simulacin de un modelo VHDL es una simulacin dirigida por eventos.
Esto significa que el simulador mantiene unas listas de eventos (cambios en las
seales internas del modelo y tambin de las entradas y salidas) que se han de
producir a lo largo del tiempo de simulacin. Como el comportamiento del modelo
es estable mientras no se produzca un evento, la tarea del simulador consiste en
avanzar el tiempo de simulacin hasta el siguiente evento y calcular sus
consecuencias sobre la lista de eventos futuros.

ETAPAS BSICAS EN EL PROCESO DE DISEO
Sntesis
Se puede definir como la traduccin de la descripcin de un diseo a una
representacin de circuito de bajo nivel (netlist). El proceso de sntesis depende de
la tecnologa empleada, en otras palabras, el paso de una descripcin en VHDL
hacia un conjunto de netlist es diferente de un dispositivo a otro. El proceso de
sntesis convierte el diseo a una estructura de datos interna, traduciendo el
"comportamiento" descrito en alto nivel a una descripcin de nivel RTL. La
descripcin RTL especifica registros, seales de entrada y salida y la lgica
combinacional entre ellas. Algunas herramientas de sntesis traducen estructuras
de datos en funciones lgicas optimizadas segn la arquitectura elegida.

Optimizacin

El proceso de optimizacin depende de tres variables:

La forma de las expresiones booleanas.
El tipo de recursos disponibles.

Las directivas de sntesis utilizadas (tanto automticas como propias de usuario).







5












ESCUELA DE CIENCIAS BSICAS, TECNOLOGA E INGENIERA
299008 MICROELECTRNICA
Actividad 08: Leccin Evaluativa No. 2
2013-II


La optimizacin de una estructura PLD o CPLD implica la simplificacin de las
expresiones lgicas a una suma mnima de trminos producto, adems tambin se
optimiza el nmero de literales. Para ello se utilizan tcnicas de simplificacin de la
forma cannica en una suma de trminos producto. La optimizacin para FPGAs
tpicamente requiere que la lgica se exprese en factores comunes que se puedan
utilizar en diferentes partes del diseo.

Ajuste

El ajuste es el proceso por el que se toma la lgica producida por la sntesis y la
optimizacin y se "coloca" en un dispositivo lgico, transformando la lgica (en
caso de ser necesario) para obtener el mejor ajuste. Ajuste es un trmino utilizado
habitualmente para describir el proceso de colocar los recursos en arquitecturas
del tipo CPLD.

Cuando la arquitectura es una FPGA el proceso se suele denominar ruteo y
colocacin, ya que se colocan bloques lgicos en diferentes clulas del FPGA y
posteriormente se interconectan entre s o hacia bloques de entrada/salida. El
proceso de ajuste en un CPLD puede ser complejo, ya que el modo en que la
lgica se puede poner en un dispositivo concreto suele ser variado.

SNTESIS DE ALTO NIVEL

La sntesis de la arquitectura se basa en el principio de que todo sistema puede
modelarse mediante una serie de operaciones y sus dependencias. El primer paso
del proceso de sntesis consiste en traducir la especificacin que el diseador
realiza utilizando uno de los lenguajes HDL en una representacin basada en
operadores (denominados recursos) y sus dependencias. Estas representaciones
formales pueden ser de varios tipos, pero todas se basan en grafos. El proceso de
sntesis consiste en identificar los recursos hardware que pueden implementar las
operaciones. Esto se realiza mediante dos procesos: scheduling y binding. El
proceso de scheduling consiste en determinar el orden en que se realizaran las
operaciones y el proceso de binding consiste en repartir las operaciones entre los
recursos disponibles. Estos dos procesos se realizan iterativamente dentro de un
bucle de optimizacin en el que se fijan como objetivos, bien realizar las
operaciones con el mnimo nmero de recursos posible, bien realizarlas en el
menor tiempo posible, bien un compromiso entre ambos. Como vemos, la principal
caracterstica del proceso de sntesis es la existencia de mltiples soluciones.

PROCEDIMIENTO DE TEST

Las pruebas de fabricacin se pueden clasificar en tres categoras segn la meta
perseguida:



6












ESCUELA DE CIENCIAS BSICAS, TECNOLOGA E INGENIERA
299008 MICROELECTRNICA
Actividad 08: Leccin Evaluativa No. 2
2013-II


Test diagnstico. Se utiliza durante la depuracin de un chip o tarjeta y su
objetivo es, dado un componente errneo, identificar y localizar el fallo.

Test funcional (test go/no go). Determina si un componente fabricado es o no
funcional.

Este problema es ms simple que el del test diagnstico, ya que la respuesta
buscada es un s o un no. Este test se aplica a cada componente fabricado, por lo
que es exigible que sea lo ms simple y rpido posible.

Test paramtrico. Verifica el cumplimiento de las especificaciones de un conjunto
de parmetros no discretos (mrgenes de ruido, retardos de propagacin o
frecuencias mximas de reloj) bajo una variedad de condiciones de trabajo, tales
como diferentes temperaturas y tensiones de alimentacin. Los tests paramtricos
se subdividen a su vez en estticos y dinmicos.

ASPECTOS DEL DFT

Cuando se considera la testabilidad de los diseos, dos propiedades son
importantes:

Controlabilidad, que mide la facilidad de llevar un nodo de un circuito a una
determinada condicin utilizando slo los pines de entrada. As, un nodo ser
fcilmente controlable si puede ser llevado a la condicin mediante un solo vector
de entrada; por el contrario su controlabilidad ser baja si necesita una secuencia
amplia de vectores.

Observabilidad, que mide la facilidad de observar el valor de un nodo en los
pines de salida. Un nodo con alta observabilidad puede ser monitorizado
directamente en los pines de salida; un nodo con baja observabilidad necesita un
cierto nmero de ciclos antes de que su estado aparezca en las salidas.

Los circuitos combinacionales pertenecen a la clase de circuitos fcilmente
observables y controlables, dado que cualquier nodo puede ser controlado y
observado en un nico ciclo. En el caso de los circuitos secuenciales estas
propiedades hay que buscarlas mediante tcnicas DFT, que pueden agruparse en
tres categoras: test ad hoc, test scan-based y self-test.











7












ESCUELA DE CIENCIAS BSICAS, TECNOLOGA E INGENIERA
299008 MICROELECTRNICA
Actividad 08: Leccin Evaluativa No. 2
2013-II


RENDIMIENTO DEL PROCESO DE FABRICACIN (YIELD)

Dado un proceso de fabricacin en el que se producen N circuitos integrados de
los que N
v
son vlidos, definimos rendimiento del proceso Y (yield) como N
v
/ N.
La modelizacin del rendimiento de un proceso ha sido un tema de investigacin
durante muchos aos, y el modelo ms sencillo (1960) se fundamenta en una
distribucin de Poisson de defectos puntuales en el rea del chip (A), idntica a lo
largo de toda la superficie de la oblea. En esta situacin, y suponiendo que un
defecto puntual siempre produce un fallo en el comportamiento del chip, el
rendimiento de fabricacin de un chip de rea A se obtiene de la probabilidad de
que en un proceso estadstico de Poisson no haya ningn defecto, es decir:

Y = N
v
/ N = exp (- D
o
A)

donde D
o
es el parmetro de la distribucin que define la densidad de defectos del
proceso de fabricacin. Este parmetro puede cambiar con el tiempo, y es
relativamente alto cuando el proceso es nuevo y va disminuyendo a medida que el
proceso se hace maduro.








BIBLIOGRAFA
La edicin del material didctico del curso 299008, diseado por Faiber Robayo, del programa Ingeniera
Electrnica estuvo a cargo de la ECBTI de la Universidad Nacional Abierta y a Distancia (UNAD).
Derechos reservados:
2012, Universidad Nacional Abierta y a Distancia - UNAD
Vicerrectora de Medios y Mediaciones Pedaggicas, Bogot D.C.
Calle 14 Sur No. 14 - 23

8

También podría gustarte