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9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31
32
33
34
35
36
37
38
39
40
0.0300
595
593
607
596
602
599
600
590
599
601
598
600
597
594
595
597
599
596
607
601
594
606
601
598
599
590
588
597
504
605
597
605
596
597
607
596
598
600
608
597
15
5
8
10
6
5
5
7
2
4
9
17
4
5
3
10
7
5
4
9
7
5
7
4
2
3
5
3
5
5
7
9
5
3
8
15
4
6
8
5
Promedio
Formula
Por Hora
0.0252
0.0084
0.0132
0.0168
0.0100
0.0083
0.0083
0.0119
0.0033
0.0067
0.0151
0.0283
0.0067
0.0084
0.0050
0.0168
0.0117
0.0084
0.0066
0.0150
0.0118
0.0083
0.0116
0.0067
0.0033
0.0051
0.0085
0.0050
0.0099
0.0083
0.0117
0.0149
0.0084
0.0050
0.0132
0.0252
0.0067
0.0100
0.0132
0.0084
0.0107
P+S*3
USL
0.02334311
P-S*3
P
p
tamao
LCL
CL
0.0107
596
-0.00194311
LCL
X
0
40
Y
0
0
0.0106
1.78E-05
0.0042
Desviacion Estandar
S
USL
X
0
40
Y
0.0233
0.0233
CL
X
0
40
Y
0.0107
0.0107
0.0300
0.0250
UCL=0.0233
0.0200
0.0150
0.0100
CL=0.0107
0.0050
0.0000
LCL=0
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10111213141516171819202122232425262728293031323334353637383940
Ejercicio 2
En la fabrica de muebles "La nena ciega" se inspecciona cada pieza antes de
ensamblar los productos. En 20 muestras de 120 patas para mesa encontrandose las
siguientes cantidades de piezas defectuosas.
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
11
8
6
9
15
17
6
8
19
14
21
13
18
15
4
8
2
9
1
3
Promedio
0.1250
0.0667
0.0500
0.0750
0.1250
0.1417
0.0500
0.0667
0.1583
0.1167
0.1750
0.1083
0.1500
0.1250
0.0333
0.0667
0.0167
0.0750
0.0083
0.0250
0.0879
p
tamao
0.0879
120
0.0802
6.68E-04
0.0259
LCL
X
0
20
Desviacion Estandar
USL
X
0
20
Y
0.01037
0.01037
CL
Y
0.1655
0.1655
Formula
P+S*3
P-S*3
P
X
0
20
Y
0.08792
0.08792
USL
LCL
CL
0.16547
0.01037
UCL=0.1655
0.1400
0.1200
0.1000
0.0800
CL=0.087916667
0.0600
0.0400
0.0200
0.0000
LCL=0.010366364
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10111213141516171819202122232425262728293031323334353637383940
Ejercicio 3
En la fabrica de semiconductores "El flaco" se esta presentando un problema de
calidad. Con la finalidad de resolverlo el Ing. Toin (soltero y abandonado) realiza un
diagnostico consistente en realizar la fabricacion de placas de silicio monocristalino.
Tomando 30 muestras de 500 piezas en cada hora obteniendose los resulatados de la
tabla siguiente.
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
17
26
31
25
26
29
38
36
25
21
18
11
12
17
25
26
28
31
27
24
22
24
30
25
26
28
22
31
18
22
Promedio
0.0300
0.0520
0.0620
0.0500
0.0520
0.0580
0.0760
0.0720
0.0500
0.0420
0.0360
0.0220
0.0240
0.0340
0.0500
0.0520
0.0560
0.0620
0.0540
0.0480
0.0440
0.0480
0.0600
0.0500
0.0520
0.0560
0.0440
0.0620
0.0360
0.0440
0.0493
p
tamao
0.0493
500
P+S*3
P-S*3
P
0.0469
9.37E-05
0.0097
Formula
USL
LCL
CL
Desviacion Estandar
LCL
X
0
30
0.1
0
USL
Y
0.02025433
0.02025433
X
0
30
Y
###
###
CL
X
0
30
0.1000
0.0800
0.0600
0.0400
0.0200
Y
0.0493
0.0493
0.0000
012345678910
111213141516171829202122324252627283930313233435363738490
Ejercicio 4
Se requiere que el diametro de cierta remachadora mida entre 13.3 y 13.5 ml.
Diaramente se toma una muestra de 400 remachadoras y se cuenta el numero de
ellas que no cumplen con las especificaciones. Los numeros de remachadoras
defectuosas para cada uno de los ultimos 20 dias son los siguientes:
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
0.1200
12
25
23
15
12
11
16
20
23
25
33
16
22
18
37
35
36
40
36
31
Promedio
0.0240
0.0625
0.0575
0.0375
0.0300
0.0275
0.0400
0.0500
0.0575
0.0625
0.0825
0.0400
0.0550
0.0450
0.0925
0.0875
0.0900
0.1000
0.0900
0.0775
0.0605
p
tamao
0.0605
400
0.0568
1.42E-04
0.0119
Formula
P+S*3
P-S*3
P
USL
LCL
CL
Desviacion Estandar
0.0961978
0.0247022
LCL
X
0
20
Y
0.0247
0.0247
USL
X
0
20
Y
0.0962
CL
X
0
20
Y
0.0605
0.0605
0.1000
0.0800
0.0600
CL=0.0605
0.0400
0.0200
LCL=0.0247
0.0000
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10111213141516171819202122232425262728293031323334353637383940
Ejercicio 5
El Ing. Don juan tenorio le dice al Ing. Josue que el numero de unidades defectuosas
es demaciado pequeo para elaborar un diagrama "p" que se pueda utilizar la Ing.
Blanca opia que no hay ningun problema; a pesar de que el numero de piezas
defectuosas es muy pequeo, de todas maneras se puede utilizar un diagrama "p". La
ing saratrusta dice que si el numero de unidades es tan pequeo, ni hay necesidad de
construir ningun diagrama para este proceso
p
0.0150
CL
1
0
0.0000
tamao
20
2
0
0.0000
X
Y
3
1
0.0500
0.0148
0
0.015
4
0
0.0000
7.39E-04
10
0.015
Desviacion Estandar
5
1
0.0500
0.0272
S
6
0
0.0000
Formula
7
0
0.0000
P+S*3
USL
0.09653987
8
0
0.0000
P-S*3
LCL
-0.06653987
9
1
0.0500
P
CL
10
0
0.0000
LCL
Promedio
0.0150
X
Y
0
0
10
0
USL
X
Y
0
0.0965
10
0.0965
0.1200
0.1000
0.0800
0.0600
0.0400
0.0200
0.0000
CL=0.015
LCL=0
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10111213141516171819202122232425262728293031323334353637383940
Ejercicio 7
En la fabrica de Hilados y tejidos "La pequea" se lleva un estricto control de calidad
inspeccionando cada hora un muestra de 1o metros de cuadrado de tejido y se
cuentan las imperfecciones los resultados de las 20 horas se muestran en la siguiente
tabla elabora el grafico de control correspondiente e interpretalo.
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
Promedio
Raiz
38
35
35
49
33
48
40
47
45
46
41
53
36
41
51
63
35
58
55
57
45.3
6.73
p
6.7305
45.300
S
Desviacion Estandar
LCL
X
0
20
Formula
P+S*3
P-S*3
P
Y
25.1084176
25.1084176
USL
LCL
CL
65.4915824
25.1084176
USL
X
0
20
80
60
40
20
CL
Y
65.4916
65.4916
X
0
20
Y
45.3
45.3
0
0 1 2 3 4 5 6 7 8 910111213141516171819202122232425262728293031323334353637383940
Ejercicio 8
En la fabrica se ensamblan equipos electronicos y al final del proceso se hace una inspeccion por muestreo
para identificar defecto directivamente pequeos. En la tabla siguiente se presenta el numero de defectos
observados en muestreos realizados en 24 lotes consecutivos elabora e interpreta el valor
correspondiente.
Tamao de muestra
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31
32
33
34
35
36
37
38
39
20
20
20
20
15
15
15
25
25
25
25
30
30
40
30
30
30
30
15
15
15
15
15
15
14
17
15
13
15
13
10
10
10
12
14
10
15
12
11
Numero de defectos
CL
17
p
12.813
24
X
16
0
26
40
15
Desviacion Estandar
15
3.5795
S
20
LCL
18
26
X
Y
10
0
2.0741342
25
40
2.0741342
21
Formula
40
P+S*3
USL
23.5508658
24
P-S*3
LCL
2.0741342
46
P
CL
32
30
USL
34
11
X
Y
14
0
23.5509
30
40
23.5509
17
18
20
UCL=23.5509
20
15
CL=12.8125
10
5
0
LCL=2.07413420
3
0 1 2 3 4 5 6 7 8 910111213141516171819202122232425262728293031323334353637383940
40
Promedio
Raiz
14
12.813
3.579
CL
Y
12.8125
12.8125
Tamao de la
# de defectos
muestra
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
u
3.0000
20
20
20
20
15
15
15
25
25
25
25
30
30
30
30
30
30
30
15
15
15
15
15
15
525
21.875
0.04780408
0.21864145
17
24
16
26
15
15
20
18
26
10
25
21
40
24
46
32
30
34
11
14
30
17
18
20
549
Por Unidad
1.1765
0.8333
1.2500
0.7692
1.0000
1.0000
0.7500
1.3889
0.9615
2.5000
1.0000
1.4286
0.7500
1.2500
0.6522
0.9375
1.0000
0.8824
1.3636
1.0714
0.5000
0.8824
0.8333
0.7500
1.0457
p
tamao
1.0457
596
-0.0478
-8.02E-05
#NUM!
Formula
P+S*3
P-S*3
P
USL
LCL
CL
LCL
X
0
40
Y
0
0
CL
X
0
40
Y
1.04571429
1.04571429
2.0000
1.0000
CL=1.045714286
0.0000
LCL=0
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10111213141516171819202122232425262728293031323334353637383940