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Graficos de Control para Atributos.

# de
# Paquetes
paquetes
con aire
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31
32
33
34
35
36
37
38
39
40

0.0300

595
593
607
596
602
599
600
590
599
601
598
600
597
594
595
597
599
596
607
601
594
606
601
598
599
590
588
597
504
605
597
605
596
597
607
596
598
600
608
597

15
5
8
10
6
5
5
7
2
4
9
17
4
5
3
10
7
5
4
9
7
5
7
4
2
3
5
3
5
5
7
9
5
3
8
15
4
6
8
5
Promedio

Formula

Por Hora
0.0252
0.0084
0.0132
0.0168
0.0100
0.0083
0.0083
0.0119
0.0033
0.0067
0.0151
0.0283
0.0067
0.0084
0.0050
0.0168
0.0117
0.0084
0.0066
0.0150
0.0118
0.0083
0.0116
0.0067
0.0033
0.0051
0.0085
0.0050
0.0099
0.0083
0.0117
0.0149
0.0084
0.0050
0.0132
0.0252
0.0067
0.0100
0.0132
0.0084
0.0107

Grafico Tipo "P"

P+S*3

USL

0.02334311

P-S*3
P
p
tamao

LCL
CL
0.0107
596

-0.00194311

LCL
X
0
40

Y
0
0

0.0106
1.78E-05
0.0042

Desviacion Estandar
S
USL

X
0
40

Y
0.0233
0.0233
CL

X
0
40

Y
0.0107
0.0107

0.0300
0.0250

UCL=0.0233

0.0200
0.0150
0.0100

CL=0.0107

0.0050
0.0000

LCL=0
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10111213141516171819202122232425262728293031323334353637383940

Ejercicio 2
En la fabrica de muebles "La nena ciega" se inspecciona cada pieza antes de
ensamblar los productos. En 20 muestras de 120 patas para mesa encontrandose las
siguientes cantidades de piezas defectuosas.

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20

11
8
6
9
15
17
6
8
19
14
21
13
18
15
4
8
2
9
1
3
Promedio

0.1250
0.0667
0.0500
0.0750
0.1250
0.1417
0.0500
0.0667
0.1583
0.1167
0.1750
0.1083
0.1500
0.1250
0.0333
0.0667
0.0167
0.0750
0.0083
0.0250
0.0879

p
tamao

0.0879
120

0.0802
6.68E-04
0.0259

LCL
X
0
20

Desviacion Estandar

USL
X
0
20

Y
0.01037
0.01037

CL
Y
0.1655
0.1655
Formula
P+S*3
P-S*3
P

X
0
20

Y
0.08792
0.08792

USL
LCL
CL

0.16547
0.01037

Grafico Tipo "P"


0.2000
0.1800
0.1600

UCL=0.1655

0.1400
0.1200
0.1000
0.0800

CL=0.087916667

0.0600
0.0400
0.0200
0.0000

LCL=0.010366364
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10111213141516171819202122232425262728293031323334353637383940

Ejercicio 3
En la fabrica de semiconductores "El flaco" se esta presentando un problema de
calidad. Con la finalidad de resolverlo el Ing. Toin (soltero y abandonado) realiza un
diagnostico consistente en realizar la fabricacion de placas de silicio monocristalino.
Tomando 30 muestras de 500 piezas en cada hora obteniendose los resulatados de la
tabla siguiente.
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30

17
26
31
25
26
29
38
36
25
21
18
11
12
17
25
26
28
31
27
24
22
24
30
25
26
28
22
31
18
22
Promedio

0.0300
0.0520
0.0620
0.0500
0.0520
0.0580
0.0760
0.0720
0.0500
0.0420
0.0360
0.0220
0.0240
0.0340
0.0500
0.0520
0.0560
0.0620
0.0540
0.0480
0.0440
0.0480
0.0600
0.0500
0.0520
0.0560
0.0440
0.0620
0.0360
0.0440
0.0493

p
tamao

0.0493
500
P+S*3
P-S*3
P

0.0469
9.37E-05
0.0097

Formula
USL
LCL
CL

Desviacion Estandar

LCL
X
0
30

0.1
0

USL

Y
0.02025433
0.02025433

X
0
30

Y
###
###

CL
X
0
30

0.1000
0.0800
0.0600
0.0400
0.0200

Y
0.0493
0.0493

Grafico Tipo "P"


UCL=0.07
83
CL=0.049
3
LCL=0.020
254326

0.0000
012345678910
111213141516171829202122324252627283930313233435363738490

Ejercicio 4
Se requiere que el diametro de cierta remachadora mida entre 13.3 y 13.5 ml.
Diaramente se toma una muestra de 400 remachadoras y se cuenta el numero de
ellas que no cumplen con las especificaciones. Los numeros de remachadoras
defectuosas para cada uno de los ultimos 20 dias son los siguientes:

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20

0.1200

12
25
23
15
12
11
16
20
23
25
33
16
22
18
37
35
36
40
36
31
Promedio

0.0240
0.0625
0.0575
0.0375
0.0300
0.0275
0.0400
0.0500
0.0575
0.0625
0.0825
0.0400
0.0550
0.0450
0.0925
0.0875
0.0900
0.1000
0.0900
0.0775
0.0605

p
tamao

0.0605
400

0.0568
1.42E-04
0.0119

Formula
P+S*3
P-S*3
P

USL
LCL
CL

Desviacion Estandar

0.0961978
0.0247022

LCL
X
0
20

Y
0.0247
0.0247
USL

X
0
20

Y
0.0962
CL

X
0
20

Y
0.0605
0.0605

Grafico Tipo "P"

0.1000
0.0800
0.0600

CL=0.0605

0.0400
0.0200

LCL=0.0247

0.0000
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10111213141516171819202122232425262728293031323334353637383940

Ejercicio 5
El Ing. Don juan tenorio le dice al Ing. Josue que el numero de unidades defectuosas
es demaciado pequeo para elaborar un diagrama "p" que se pueda utilizar la Ing.
Blanca opia que no hay ningun problema; a pesar de que el numero de piezas
defectuosas es muy pequeo, de todas maneras se puede utilizar un diagrama "p". La
ing saratrusta dice que si el numero de unidades es tan pequeo, ni hay necesidad de
construir ningun diagrama para este proceso
p
0.0150
CL
1
0
0.0000
tamao
20
2
0
0.0000
X
Y
3
1
0.0500
0.0148
0
0.015
4
0
0.0000
7.39E-04
10
0.015
Desviacion Estandar
5
1
0.0500
0.0272
S
6
0
0.0000
Formula
7
0
0.0000
P+S*3
USL
0.09653987
8
0
0.0000
P-S*3
LCL
-0.06653987
9
1
0.0500
P
CL
10
0
0.0000
LCL
Promedio
0.0150
X
Y
0
0
10
0
USL
X
Y
0
0.0965
10
0.0965
0.1200
0.1000

Grafico Tipo "P"


UCL=0.0965

0.0800
0.0600
0.0400
0.0200
0.0000

CL=0.015
LCL=0
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10111213141516171819202122232425262728293031323334353637383940

NOTA: Si el LCL sale


negativo se pone 0.

Ejercicio 7
En la fabrica de Hilados y tejidos "La pequea" se lleva un estricto control de calidad
inspeccionando cada hora un muestra de 1o metros de cuadrado de tejido y se
cuentan las imperfecciones los resultados de las 20 horas se muestran en la siguiente
tabla elabora el grafico de control correspondiente e interpretalo.

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
Promedio
Raiz

38
35
35
49
33
48
40
47
45
46
41
53
36
41
51
63
35
58
55
57
45.3
6.73

p
6.7305

45.300
S

Desviacion Estandar

LCL
X
0
20
Formula
P+S*3
P-S*3
P

Y
25.1084176
25.1084176
USL
LCL
CL

65.4915824
25.1084176

USL
X
0
20
80
60
40
20

CL
Y
65.4916
65.4916

X
0
20

Y
45.3
45.3

Grafico Tipo "P"


UCL=65.4916
CL=45.3
LCL=25.10841
76

0
0 1 2 3 4 5 6 7 8 910111213141516171819202122232425262728293031323334353637383940

Ejercicio 8
En la fabrica se ensamblan equipos electronicos y al final del proceso se hace una inspeccion por muestreo
para identificar defecto directivamente pequeos. En la tabla siguiente se presenta el numero de defectos
observados en muestreos realizados en 24 lotes consecutivos elabora e interpreta el valor
correspondiente.
Tamao de muestra
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31
32
33
34
35
36
37
38
39

20
20
20
20
15
15
15
25
25
25
25
30
30
40
30
30
30
30
15
15
15
15
15
15
14
17
15
13
15
13
10
10
10
12
14
10
15
12
11

Numero de defectos
CL
17
p
12.813
24
X
16
0
26
40
15
Desviacion Estandar
15
3.5795
S
20
LCL
18
26
X
Y
10
0
2.0741342
25
40
2.0741342
21
Formula
40
P+S*3
USL
23.5508658
24
P-S*3
LCL
2.0741342
46
P
CL
32
30
USL
34
11
X
Y
14
0
23.5509
30
40
23.5509
17
18
20

Grafico Tipo "P"


25

UCL=23.5509

20
15
CL=12.8125
10
5
0

LCL=2.07413420
3
0 1 2 3 4 5 6 7 8 910111213141516171819202122232425262728293031323334353637383940

40
Promedio
Raiz

14
12.813
3.579

CL
Y
12.8125
12.8125

Tamao de la
# de defectos
muestra
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
u

3.0000

20
20
20
20
15
15
15
25
25
25
25
30
30
30
30
30
30
30
15
15
15
15
15
15
525
21.875
0.04780408
0.21864145

17
24
16
26
15
15
20
18
26
10
25
21
40
24
46
32
30
34
11
14
30
17
18
20
549

Por Unidad
1.1765
0.8333
1.2500
0.7692
1.0000
1.0000
0.7500
1.3889
0.9615
2.5000
1.0000
1.4286
0.7500
1.2500
0.6522
0.9375
1.0000
0.8824
1.3636
1.0714
0.5000
0.8824
0.8333
0.7500
1.0457

p
tamao

1.0457
596

-0.0478
-8.02E-05
#NUM!

Formula
P+S*3
P-S*3
P

USL
LCL
CL
LCL

X
0
40

Y
0
0
CL

X
0
40

Y
1.04571429
1.04571429

Grafico Tipo "P"

2.0000
1.0000

CL=1.045714286

0.0000

LCL=0
0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10111213141516171819202122232425262728293031323334353637383940

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