MICROSCOPIO

ELECTRNICO DE
TRANSMISIN
M.C DOLORES GARCA
ALUMNOS:
DANTE ITURIEL OJEDA LEOS
LUIS ANTONIO GUA HERNNDEZ
$350,000 USD
FUNCIN PRINCIPAL
La principal funcin del microscopio electrnico de transmisin es
estudio de los metales y minerales y el estudio de las clulas a nivel
molecular. Siendo as un papel muy importante en la industria de la
metalurgia. A su vez se utiliza en la microbiologa, para observar la
estructura de los virus. Tambin es usado en Anatoma patolgica, para
diagnosticar partiendo de la ultra estructura celular.
FUNCIONAMIENTO GENERAL

Es un microscopio que utiliza un haz de electrones para visualizar un
objeto, debido a que la potencia amplificadora de un microscopio
ptico est limitada por la longitud de onda de la luz visible. Lo
caracterstico de este microscopio es el uso de una muestra ultra fina
y que la imagen se obtenga de los electrones que atraviesan la
muestra.
Debido a que los electrones tienen una longitud de onda mucho
menor que la de la luz visible, pueden mostrar estructuras mucho ms
pequeas.
CARACTERISTICAS

Permite la observacin de muestras en cortes ultrafinos

Un MET dirige el haz de electrones hacia el objeto que se
desea aumentar. Una parte de los electrones rebotan o son
absorbidos por el objeto y otros lo atraviesan formando una
imagen aumentada

Se coloca una placa fotogrfica o una pantalla fluorescente
detrs del objeto para registrar la imagen aumentada

Los microscopios electrnico de transmisin pueden aumentar un
objeto hasta 1,000,000 de veces

Funciona con un voltaje de 200-400 kV (alcanzado modelos
experimentales hasta 1mEv)

PARTES
DEL M.E.T.
CAN DE ELECTRONES
El can de electrones esta constituido por un hilo de Tungsteno en
forma de horquilla, rodeado por una pantalla cilndrica polarizada
negativamente respecto al filamento. Despus de atravesar el nodo
conectado a tierra, la mayor parte de los electrones del
haz se pierden en las paredes y aberturas excepto un estrecho cono
que atraviesa el diafragma del condensador.
Mientras mayor sea la temperatura del filamento, ms electrones son
generados y ms brillante ser la imagen, pero hay que tener siempre
presente que el tiempo de vida del filamento (entre 40 y 80 horas) decrece
con la temperatura.
Las dos fuentes de electrones ms brillantes que el filamento de
tungsteno, la de hexaboruro de lantano (LaB
6
) y la de emisin de campo
(FEG) pueden dar 10 y 1000 veces ms densidad de electrones
respectivamente.
LENTES PTICAS DE PROYECCIN
Lentes pticas de proyeccin las cuales controlan la
magnificacin final de la imagen. Tpicamente hay tres o cuatro
lentes y en los ms nuevos microscopios, la cuarta lente es
utilizada para asegurar que no haya rotacin total de la imagen
cuando se cambia la magnificacin.
Despus de atravesar el objeto, donde muchos electrones se esparcen, el
haz penetra en el campo de la lente objetivo que produce una imagen
aumentada del objeto. En el objetivo se suele colocar un diafragma de 10 a
100 de dimetro para interceptar los electrones esparcidos , pero
generalmente esta precaucin se omite en el estudio de muestras muy
delgadas en las que el esparcimiento no es excesivo.
LENTE CONDENSADORA
La lente condensadora se usa tanto para controlar la
intensidad luminosa, como para variar la abertura de
iluminacin relativa en el objeto. Los dimetros de los
diafragmas del condensador varan segn el tipo de
instrumento, pero suelen estar comprendidos entre 0,1 y 0,5
mm.
ABERRACIONES
EL MET presenta los mismos tipos de aberracin que un microscopio
ptico:
aberracin esfrica: debida a que la magnificacin en el centro de las
lentes difiere de la de los bordes,
aberracin cromtica: debida a que la magnificacin de las lentes
vara con la longitud de onda de los electrones en el haz
aberracin por astigmatismo: que produce que un crculo en la
muestra se convierta en una elipse en la imagen.
CORRECCIN DE ABERRACIONES
La aberracin esfrica es una caracterstica muy importante
determinada fundamentalmente por el diseo y fabricacin de las
lentes.
La aberracin cromtica puede ser reducida manteniendo el voltaje
acelerador tan estable como sea posible y utilizando muestras muy
delgadas.
El astigmatismo puede ser corregido utilizando bobinas de
compensacin electromagnticas variables.
PORTAMUESTRAS
Es la parte del M.E.T en la que se coloca la muestra a
analizar, previamente preparada. El portamuestras tiene
movimientos segn cinco ejes (X,Y,Z y dos ejes de
inclinacin)
SISTEMA DE VACO
Es una parte FUNDAMENTAL en el M.E.T. Debido a que los electrones
pueden ser desviados por las molculas del aire, se debe hacer un
vaco casi total en el interior de un microscopio de estas caractersticas.
PLACA FOTOGRAFICA O PANTALLA FLUORESCENTE
Se coloca detrs del objeto a visualizar para registrar la imagen
aumentada.
SISTEMA DE REGISTRO
Captura la informacin de la muestra analizada y la imagen que producen
los electrones, que suele ser una computadora.
MUESTRA
La muestra debe ser estable y lo suficientemente pequea
(3mm de dimetro) para permitir su introduccin en la
columna en vaco y suficientemente delgada (< 0.5m) como
para permitir el paso de los electrones.
PREPARACIN DE LA MUESTRA
En metalurgia algunas veces se aplica el siguiente mtodo de
preparacin:
Un disco de 3mm de dimetro y 0.3mm de espesor se trata
qumicamente de tal manera que en el centro del disco el material sea
completamente atacado y removido.
Alrededor de este agujero existirn reas que sern suficientemente
delgadas ( 0.1m) como para permitir que los electrones las
atraviesen.
En un semiconductor es deseable algunas veces cortar una seccin del
material para investigar un defecto. Esto se hace mediante la tcnica
de remocin de material por medio de un haz inico (etching).
APLICACINES
MICROSCOPIO
ELECTRONICO DE
TRANSMISION
La microscopa electrnica de barrido es una tcnica que
sirve para analizar la morfologa de materiales slidos de todo
tipo (metales, cermicos, polmeros, biolgicos, etc.), con
excepcin de muestras lquidas. La resolucin nominal del
equipo es de 3 nm lo cual permite estudiar caractersticas de
los materiales a una escala muy pequea. Este microscopio
cuenta con la tcnica de Espectroscopa de Dispersin de
Energa (EDS) que sirve para hacer anlisis elemental. Con
esta tcnica se pueden detectar todos los elementos
qumicos con nmero atmico mayor a 4 de manera
cualitativa y semicuantitativa.
COMPARACIONES,
RESULTADOS Y
CONCLUSIONES
El M.E.T es una gran herramienta y de un poder muy alto, a pesar
de sus elevados costos , nos brinda una cantidad enorme de
informacin respecto a la muestra analizada. El amplio margen
de aplicacin, la variedad de muestras, el manejo y la
conifabilidad de los datos emitidos nos permite tener un equipo
de altsima calidad, que sin lugar a dudas, desquita el costo de
fabricacin, venta, y uso.
La potencia respecto a los dems mtodos de microscopia es
impresionante. Sin embargo, al igual que en todo el mundo, la
practicidad va de la mano con el dinero destinado a inversin.
Una gran herramienta, un gran equipo, excelente aplicacin e
resolucin de resultados