Fig.

1 Ley de Snell esquematizada

Laboratorio de ptica
Oscar Hurtado Gonzlez
Prctica1. Medicin del ndice de refraccin.
Martes 18 de Febrero 2014, CU Mxico D.F.

Resumen




Introduccin
El ndice de refraccin de un material ptico, denotado por n, desempea un papel central en la
ptica geomtrica. Es la razn entre la rapidez de la luz c en el vaco y la rapidez de la luz v en
el material:
n =
c
v
(1)

La luz siempre viaja con ms lentitud en un material que en el vaco, por lo que el valor de n en
cualquier material que no sea el vaco siempre es mayor que la unidad. Para el vaco, n=1.
Como n es una razn entre dos valores de rapidez, es un nmero sin unidades.
La ptica geomtrica se basa fundamentalmente en considerar a la luz como un conjunto de
rayos luminosos que se propagan en lnea recta.
Cuando un rayo de luz incide en la interfaz o frontera entre dos medios transparentes aparecen
dos nuevos rayos; el rayo reflejado, que es el que regresa al mismo medio (medio de incidencia)
donde se encuentra el rayo incidente y el rayo transmitido que es el que se propaga en el
segundo medio (medio de transmisin).
El estudio de la ptica geomtrica llevo al desarrollo de tres sencillas leyes, la ley del plano de
incidencia, la ley de la reflexin y la ley de la refraccin o la ley de Snell; para esta prctica
estaremos especialmente interesados en la ley de Snell. sta ley puede enunciarse de la
siguiente forma:
Para la luz monocromtica y para un par dado de materiales, a y b, en lados opuestos de la
interfaz, la razn de los senos de los ngulos
i
y

t
, donde los dos ngulos estn medidos a
partir de la normal a la superficie, es igual al
inverso de la razn de los dos ndices de
refraccin:
sen
i
sen
t
=
n
t
n
i
(2)
bien:
n
i
sen = n
t
sen
t
(3)
Donde los ndices del medio incidente y del medio de transmisin estn denotados por n
i
, n
t

respectivamente.
La ley de la refraccin explica por qu una regla o una pajilla parcialmente sumergidas parecen
estar dobladas; los rayos de luz que provienen de un lugar por debajo de la superficie cambian
de direccin al pasar por la interfaz aire-agua, de manera que los rayos parecen provenir de una
posicin por arriba de su punto de origen real
Otro fenmeno interesante es cuando tenemos un rayo de luz viajando a travs de un medio
cuyo ndice de refraccin es que en ciertas circunstancias, toda la luz se puede reflejar en la
interfaz, sin que se transmita nada de ella, aun si el segundo material es transparente. La figura
2 muestra la forma en que esto ocurre.

Fig.2 Reflexin interna total.
Se ilustran varios rayos que salen de una fuente puntual en el material a con ndice de
refraccin n
a
. Los rayos inciden la superficie del segundo material b con ndice n
b
, donde
n
b
< n
a
. Segn la ley de Snell de la refraccin,
sen
b
=
n
a
n
b
sen
a
(4)
Como

es mayor que la unidad,

es mayor que

; el rayo se desva apartndose de

la normal. As, debe haber algn valor de

menor que 90 para el cual la ley de Snell da

. Esto se ilustra con el rayo 3 en el diagrama, que emerge apenas

rozando la superficie con un ngulo de refraccin de 90.
El ngulo de incidencia para el cual el rayo refractado emerge en forma tangencial a la
superficie se llama ngulo crtico, y se denota con

. Si el ngulo de incidencia es mayor

que el ngulo crtico, el seno del ngulo de refraccin, tendra que ser mayor que la unidad, lo
cual es imposible. Ms all del ngulo crtico, el rayo no puede pasar hacia el material superior:
queda atrapado en el material inferior y se refleja por completo en la superficie de frontera. Esta
situacin, llamada reflexin interna total, slo ocurre cuando un rayo incide sobre la interfaz
con un segundo material cuyo ndice de refraccin es menor que el del material por el que viaja
el rayo.
Es posible encontrar el ngulo crtico para dos materiales dados si se iguala

en la ley
de Snell. De esta forma, se tiene
sen
crt
=
n
b
n
a
(5)
La reflexin interna total ocurrir si el ngulo de incidencia

es mayor o igual que

Desarrollo y objetivos.
En esta prctica nuestro objetivo es estudiar o mejor dicho, medir experimentalmente el ndice
de refraccin de varias sustancias, como lo son vidrio, Lucita, agua y agua con azcar. Los
materiales utilizados a lo largo de esta prctica fueron los siguientes:
Microscopio viajero con vernier de 0.001 cm de precisin
Placas plano-paralelas de Lucita y vidrio
Vaso de precipitados de 100 ml para el agua
Lmpara auxiliar de luz led.
Un trozo de papel con letras pequeas (objeto a enfocar)
Un trozo de tarjeta de plstico del metro (objeto a enfocar)
Disco graduado giratorio
Lser rojo
Semidisco de Lucita
Semidisco de vidrio
Papel mojado
Dos placas plano paralelas de Lucita y dos de vidrio (distintos espesores)
Cubeta de paredes paralelas de acrlico
Agua, azcar
Pantalla opaca
Carros para riel.
Mesa elevadora
Nivel de mano pequeo
Observacin: durante este informe estamos suponiendo que el ndice de refraccin del aire es igual
a 1.
Para lograr nuestro objetivo de medir el ndice de refraccin de dichos materiales se hicieron cinco
experimentos mediante mtodos distintos, los cuales los describimos brevemente a continuacin.
i) Mtodo de profundidad aparente
Debido a que el ngulo de transmisin no necesariamente es el mismo que el de incidencia,
cuando la luz se propaga de un medio a otro (con ndices de refraccin distintos) como lo
muestra la ley de Snell, sta sufre un cambio en la direccin de su propagacin. Por ejemplo,
si observamos un estanque con un pez , desde afuera del agua la posicin que aparenta el pez
no es en realidad la posicin del pez debido a que la luz que proviene del agua y en especial
los rayos de luz que provienen del pez cambian de direccin al salir del agua, entrar al aire y
llegar a nuestros ojos. ste principio es el que utilizamos en este mtodo. Este fenmeno,
como se mencion hace un par de lneas, puede explicarse con la ley de Snell. La siguiente
figura muestra un sencillo esquema que describe el experimento.

Fig. 3 Mtodo de profundidad aparente.

Se puede demostrar (lo cual se har, en un apndice ubicado al final de este informe) utilizando la
ley de Snell, que

|
|

|
(6)

El procedimiento utilizado fue el siguiente
a) Primero se realizaron las medidas de

. Se coloc el microscopio viajero en la mesa y luego,

en su objetivo, el pedazo de papel con las letras pequeas. Se enfocaron las letras con el
microscopio hasta que se obtuviera una imagen ntida de las letras y una vez que se enfocaran,
se observaba y se registraba la medida dada por el vernier. En esto consista una medicin de

. Cuando se meda

, se desenfocaban las letras y despus se buscaba nuevamente enfocar

las mismas letras del papel, para obtener la segunda medicin de

. Este procedimiento se
repiti 15 veces para

.
b) La segunda medicin fue para

, la profundidad aparente. Se coloc encima de la hoja de

papel una de las placas plano paralelas, primero fue la Lucita despus de tomar varias
mediciones con la Lucita se puso la placa de vidrio. Despus de tener la hoja por debajo de la
placa, se enfocaban las letras a travs del microscopio viajero y se registraba la medida dada
por el vernier. En esto consista una medicin de

Una vez hecho esto el microscopio se

desenfocaba para posteriormente volver a enfocar las letras del papel y volver a registrar lo
medido por el vernier y as obtener la segunda medicin de

. Este procedimiento se repiti

15 veces para la placa de Lucita y 15 veces para la placa de vidrio.
c) La tercera medicin correspondi a

. Aqu se puso la hoja de papel encima de la placa de

Lucita y despus encima de la placa de vidrio. Se hizo prcticamente lo mismo que en los
incisos a) y b), se enfocaban las letras, se registraba la medida dada por el vernier, se
desenfocaba, se volva a enfocar, se volva a enfocar etc., obteniendo as 15 mediciones
distintas para

, 15 veces sobre la placa de Lucita y 15 veces sobre la placa de vidrio.

d) Tambin se hizo el mismo procedimiento utilizando un vaso de precipitados y agua, para
medir precisamente el ndice de refraccin del agua.

corresponda a la hoja de papel sin el

vaso de precipitados,

corresponda a la medicin cuando la hoja se hallaba en el fondo del

vaso con el agua, y

a la medicin cuando la hoja estaba en la superficie del vaso de

precipitados.
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a.3.1. Medicin del ndice de refraccin por alturas aparentes
Al observar un objeto sumergido dentro de un recipiente en donde se tenga un lquido trasparente, la
profundidad a la que se observa es distinta a la profundidad que se observa cuando no existe el
lquido (ver Fig. 2.3). Este fenmeno se puede explicar fcilmente utilizando la Ley de Snell; adems,
la relacin entre estas profundidades y el ndice de refraccin est dada por una relacin que
involucra a los ngulos de incidencia y transmisin; para ngulos de incidencia muy pequeos, se
puede demostrar que

3 1
2 1
profundidad real
n
profundidad aparente
L L
L L
(2.3)

a.3.2. Por desplazamiento transversal al rotar una placa paralela
En este mtodo se utiliza el hecho de que para cada rayo que incida sobre una placa plano paralela
transparente, aqul emerger paralelo a la direccin inicial, pero desplazado lateralmente de su
direccin original (ver Fig. 3). La magnitud del desplazamiento depende del ngulo de incidencia i ,
del espesor D de la placa y de su ndice de refraccin, nti. Adems, localizando al rayo reflejado por la
primera superficie de la placa, se podr determinar el ngulo de incidencia. Realizando un anlisis
geomtrico del dispositivo se encuentra que:
2
2
sen cos
sen
sen
i i
i
i
D
n
D X
(2.4)

donde i, D, y X se muestran en la Fig. 2.4. Por lo tanto el ndice se puede determinar montando el
arreglo experimental mostrado en la misma figura y midiendo las cantidades indicadas.




Fig. 2.3 Cambio en la profundidad aparente de un objeto por efecto de la refraccin de
la luz.

P
r
o
f
u
n
d
i
d
a
d

r
e
a
l

P
r
o
f
u
n
d
i
d
a
d

a
p
a
r
e
n
t
e

L
1

L
2

L
3

T
e
o
r

a

n
Nota: los datos con su respectiva incertidumbre estn en la tabla 1 que aparece en el apndice
al final de este informe.
Los datos obtenidos para la profundidad aparente y para la profundidad real se promediaron,
calculando su respectiva incertidumbre y despus con ayuda de la ecuacin (6) se calcul el
ndice de refraccin de la Lucita, del vidrio y del agua. Los resultados aparecen ms adelante
en el apartado de resultados y anlisis de datos de este informe.

ii) Mtodo del disco giratorio y el lser (medicin de los parmetros de la ley de Snell)
La idea de este mtodo es medir los ngulos de incidencia y de transmisin, que forman un
lser rojo que incide sobre una superficie de Lucita y una de vidrio. Para ello se construy un
arreglo experimental que est esquematizado en la siguiente figura:
















Fig. 4 Arreglo experimental (2do mtodo). Nota: usamos un lser rojo en lugar de la lmpara de luz
colimada que aparece en la figura.

Para construir este arreglo se utiliz un disco graduado que poda montarse sobre un carrito para
riel. Este disco poda girar para variar y controlar el ngulo de incidencia como se muestra en el
diagrama. Encima del disco graduado se coloca un semidisco de Lucita (que despus de hacer las
respectivas mediciones para la Lucita, se remplaz por un semidisco de vidrio) procurando que el
dimetro del semidisco, est alineado con el dimetro del disco graduado. Despus de esto se coloca
el lser sobre una mesa elevadora que permite variar la altura a la que el lser incidir con el
semidisco. Se procura, con la ayuda del nivel de mano, que tanto el disco como la mesa elevadora
esten correctamente alineados respecto a la horizontal. Antes de empezar a medir, se enciende el
lser y se hace una prueba preliminar para alinear el lser, el disco y el semidisco. El lser tiene que
pasar paralelamente a uno de los dimetros del disco graduado vindolo desde una vista superior
(en este momento se debe fijar un origen, que por comodidad se elige el ngulo 0) as como en la
figura 4 y debe incidir en la cara plana del semidisco de tal forma que pase por el centro de ste
como se observa en la misma figura. Si el ngulo de incidencia es cero, entonces no se debera ver
ningn haz de luz refractado en alguna otra direccin, lo cual es un buen parmetro para determinar
si el arreglo esta correctamente alineado.
Otro detalle que permite conocer si el haz de luz para por el centro del semidisco es empezar a girar
el disco graduado y observar la cara plana del semidisco. En donde incide el lser se observa un
punto rojo y si se mueve o cambia mucho su posicin a medida que se gira el disco graduado,
quiere decir que el lser no esta incidiendo en el centro y que el semidisco no est bien alineado.
Cuando este punto rojo no se mueve a medida que gira el disco graduado entonces podemos confiar
en que tenemos una mejor alineacin en nuestro arreglo experimental.
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1.3.1 Construccin del arreglo experimental. Construye el arreglo experimental mostrado en la figura
2. Ten cuidado de alinear el haz incidente de manera que pase por el centro del instrumento para
medir ngulos. Coloca el semidisco de acrlico de forma que el centro de la superficie cilndrica
coincida tambin con el centro del mismo instrumento. Tambin debes tener cuidado de que tanto el
haz incidente como el semidisco estn nivelados con respecto a la horizontal.
1.3.2 Observacin cualitativa. Gira poco a poco el semidisco hasta darle una vuelta completa.
Observa y anota el comportamiento (direccin, intensidad, etc.) de los haces reflejado y transmitido al
ir variando el ngulo de incidencia del haz del lser.
1.3.3 Medicin de ngulos en incidencia externa. Coloca el semidisco de forma que el lser incida
sobre su cara rectangular plana (interfase aire-acrlico). Mide los ngulos de reflexin ( ) y
transmisin ( ) para diferentes valores del ngulo de incidencia ( ) comprendidos entre 0 y 90.
Anota slo las cifras que sean significativas e incluye la incertidumbre instrumental asociada a la
medicin de cada dato.
1.3.4 Medicin de ngulos en incidencia interna. Coloca el semidisco de forma que el lser incida
primero sobre su cara curva y despus sobre su cara plana (interfase acrlico-aire). Realiza las mismas
mediciones que en el paso anterior para , y .


1.4. GUA PARA LA DISCUSIN

1.4.1 Construccin del arreglo experimental.
i) Por qu es importante que tanto el semidisco como el lser incidente estn alineados con
el centro del instrumento?
ii) Qu sucedera si el haz incidente y el semidisco no estuvieran nivelados?
1.4.2 Observacin cualitativa.
i) Describe de manera cualitativa las observaciones que hiciste con respecto a la intensidad
y/o direccin de los haces transmitido y reflejado al variar el ngulo de incidencia.
ii) Respecto al punto i), qu diferencias y/o similitudes observas en incidencia externa e
incidencia interna?
iii) En incidencia interna, cmo vara la intensidad del haz transmitido al aumentar el ngulo
de incidencia de 0 a 90 ?
1.4.3 Medicin de ngulos en incidencia externa e interna.
i) Cul es la incertidumbre asociada a tus mediciones?
ii) La incertidumbre puede tomarse slo como la mitad de la mnima escala o habr que
hacer otras consideraciones?
iii) Haz una grfica de cada variable dependiente vs la variable independiente.
iv) De las grficas anteriores, puedes deducir cul es la relacin entre las variables?
P
r

c
t
i
c
a

1

Fig. 5 Esquema del mtodo de desplazamiento
Una vez hechos estos arreglos se comienzan a medir los ngulos de incidencia y de transmisin.
Los ngulos que se controlan son los ngulos de incidencia. Se comienza con 5 y se anota cul es
el ngulo de transmisin. Se aumenta de 5 en 5 grados el ngulo de incidencia, hasta llegar a 85 y
cada 5 se anota o se mide el ngulo de transmisin.
Con estos datos, utilizando el ndice de refraccin del aire como 1 y aplicando la ley de Snell
(descrita por la ecuacin (3) de la introduccin) podemos calcular el ndice de refraccin del disco
de Lucita y del disco de vidrio.
Algo importante a destacar aqu es que lo hasta ahora descrito para esta parte del experimento
corresponde a lo que se conoce como incidencia externa. Utilizando el mismo arreglo experimental,
sin mover ni desmontar nada, se realiza el experimento pero a incidencia interna. Para ello ahora se
hace incidir el lser por la cara curva del semidisco de Lucita (o vidrio). Nuevamente se miden los
ngulos de incidencia desde 5 hasta un cierto ngulo (el ngulo crtico, comentado en la
introduccin de este informe) y se registraron sus respectivos ngulos de transmisin.
Los datos de esta parte del experimento se muestran en la tabla 2 en el apndice al final de este
informe; los resultados obtenidos estn en la parte de resultados.

iii) Medicin del ngulo crtico.
El tercer mtodo para calcular el ndice de refraccin de la Lucita y el Vidrio fue encontrar, con
ayuda del mismo arreglo experimental que se utiliz en el mtodo ii), el ngulo crtico, que es
cuando ya no hay un haz de luz transmitido como se explic en la introduccin.
Utilizando la parte redonda del semidisco, se tena el caso de incidencia externa y poco a poco se
giraba el disco graduado hasta que desapareca el haz transmitido, en ese momento se registraba el
ngulo de incidencia medido con ayuda del disco graduado, y ste corresponda al ngulo crtico. Se
repiti tres veces este proceso para el semidisco de Lucita y tres veces para el semidisco de vidrio.
Para calcular el ndice de refraccin se utiliza la ecuacin (5):

sen
crt
=
n
b
n
a
(5)
Observacin: los mtodos ii) y iii) solo se usan para medir los ndices de refraccin de la Lucita
y del vidrio, no los del agua y del agua con azcar
iv) Mtodo de desplazamiento transversal de un haz al rotar una cubeta de paredes paralelas de
acrlico.
A diferencia de como se hizo notar en la observacin anterior, aqu, este mtodo solo ayud a
calcular el ndice de refraccin del agua y del agua con azcar y no de el vidrio ni de la Lucita.
Este mtodo consiste en
hacer incidir un lser en
una cara de un
paraleleppedo (cubeta
de paredes paralelas de
un cierto material). Al
entrar al nuevo medio el
lser se refracta a un
cierto ngulo
dependiente del ndice
de refraccin, cuando el
haz cruza el ancho del
medio hacia la pared
paralela, sale de ste volvindose a refractar hacia el aire. Lo que se observa es que el haz que sale
tiene una direccin paralela al que incidi, como se observa en el esquema de la figura 5.
Para ello se utiliz la siguiente relacin entre el ndice de refraccin n del material estudiado y los
parmetros medibles: ngulo de incidencia del lser , ancho del prisma D, desviacin del haz de
salida respecto del haz de entrada r (y tomando el ndice de refraccin del aire como n
0
=1):

(


)

La cubeta se coloco sobre el disco graduado para poder medir el ngulo de incidencia y se variaba
el ngulo de incidencia de 5 en 5 y se midi para cada ngulo de incidencia el parmetro de
desviacin r.
Los datos para r es encuentran en una tabla en el apndice al final de este informe y los resultados
se discuten en la siguiente seccin.
v) Mtodo de Pfund.

Este mtodo se basa, en el fenmeno de la reflexin total interna. Se tiene una configuracin como
se muestra en la figura 6: una lmina plano-paralela cuya superficie inferior est recubierta por un
trozo de papel mojado, haciendo que esta superficie sea difusora de la luz. Un haz de luz incide
sobre un punto, donde se refleja en todas las direcciones. Una porcin de los rayos que alcanzan la
superficie superior de la placa con ngulos de incidencia inferiores al ngulo crtico c son
refractados al aire (rayo 1), mientras que otra porcin es reflejada, volviendo a incidir sobre la
superficie difusora (rayo 2).
Para valores superiores al ngulo crtico, no hay componente transmitida en la interfaz superior,
siendo entonces reflejada toda la luz dentro del medio (rayo 3), volviendo a incidir nuevamente
sobre la superficie difusora.
Entonces, lo que se observa en este mtodo es un punto central muy luminoso, debido a la
incidencia directa del lser, rodeado por un crculo oscuro, originado de la reflexin parcial de los
rayos que inciden en la superficie superior con <c. Y finalmente, en la periferia una regin ms
iluminada que la interior. En este caso se utiliz este mtodo para calcular el ndice de refraccin de
la Lucita y del vidrio, utilizando la siguiente relacin:

Dnde h es el dimetro del crculo obscuro interior, D es el espesor de la placa de planos paralelos
(parmetros que a medir) y se tiene implcito en el desarrollo de la expresin que el ndice de
refraccin del aire se toma como n
0
=1.
En este mtodo slo medimos el dimetro de los crculos que se formaron una sola vez. Los
resultados se hallan en la siguiente seccin.

Fig. 6. Esquema del mtodo de Pfund, h es el dimetro de la zona de sombra, D es el espesor de la placa, c
es el ngulo crtico.

Resultados y anlisis de datos


Discusin


Conclusiones

Apndices

Bibliografa


D
h
Superficie rugosa
Superficie lisa
Haz transmitido (1)
Haz incidente
Haces reflejados