INSTRUMENTACIN

ESPECTROSCOPIA ATMICA

INTEGRANTES
Luis Carlos Flores Luna Victor Alberto Hillel Urquidi 1569761 Nancy Daniela Leal Sanmiguel 1485687 Daniella Nolasco Lpez 1569764 Daniela Alejandra Ordua Cruz 1488825 Dannya Jaazai Ortega Flores 1488061 Daniel Ramos Simental 1493666 1447626

ANCHURA DE RAYAS ATMICAS

PRINCIPIO DE INCERTIDUMBRE DE HEISENBERG

La anchura de raya est regida por el ste efecto de la mecnica cuntica. Estipula que cuando ms breve es la vida de un estado excitado, ms incierta es su energa relativa al estado fundamental

Donde: E= Incertidumbre de la diferencia de energa entre el estado fundamental y excitado. t= La vida del estado excitado antes de decaer al estado fundamental. h= es la constante de Planck. (6.62606896(33) 10 -34Js Si disminuye t, aumenta E.

PRINCIPIO DE INCERTIDUMBRE DE HEISENBERG

Supongamos que la diferencia de energa ( E) entre el estado fundamental y excitado de un tomo corresponde a luz visible de una longitud de onda =500nm. Esta diferencia de energa es E = hc/ = 4.0 10-19J La incertidumbre relativa de la diferencia de energa es: E/ E 2 10 . La incertidumbre relativa de la longitud de onda / es igual a la incertidumbre relativa de la energa:

Debido a lo anterior, podemos deducir que la anchura natural de raya de una seal de absorvin o emisin atmicas es ~10-4nm

MECANISMOS QUE ENSANCHAN LAS RAYAS EN ESPECTROSCOPA ATMICA

EFECTO DOPPLER
Cuando un tomo se acerca a la fuente de radiacin capta la onda electromagntica oscilante con ms frecuencia que cuando se aleja de la fuente. Cuando un tomo se acerca hacia la fuente ve la luz de mayor frecuencia que cuando se aleja de ella. La anchura de raya debida al efecto Doppler viene dada por

Donde T es la tempratura (K) y M es la masa del tomo en unidades de masa atmica (uma).

ENSANCHAMIENTO POR PRESIN

sta se da por las colisiones entre los tomos. Las colisiones acortan la vida del estado excitado. La incertidumbre de la frecuencia de las rayas de absorcin y emisin atmica es aproximadamente igual en magnitud a la frecuencia de colisiones entre tomos y es proporcional a la presin.

El efecto Doppler y el ensanchamiento por presin son semejantes en magnitud y originan anchuras de raya de .001 a .01 nm en espectroscopia atmica.

LMPARAS DE CTODO HUECO

ESPECTROSCOPIA ATMICA

ESPECTROSCOPIA DE ABSORCIN ATMICA

La espectroscopia de absorcin atmica (a menudo llamada AA) es un mtodo instrumental de la Qumica Analtica. Sirve para determinar la concentracin de un elemento metlico determinado en una muestra. Puede utilizarse para analizar la concentracin de ms de 62 metales diferentes en una solucin.

LMPARAS DE CTODO HUECO

Lmpara de ctodo hueco: Lmpara que emite rayas atmicas, muy estrechas, caractersticas del elemento con que est hecho el ctodo. La fuente ms comn para la medicin de absorcin atmica es la lmpara de ctodo hueco, como la que se muestra en la figura.
Ctodo hueco

nodo

Proteccin de vidrio

Ne o Ar a 1-5 torr

Ventana de cuarzo o Pyrex

LMPARAS DE CTODO HUECO

Este tipo de lmpara consta de un nodo de tungsteno (otras estn hechas de wolframio) y un ctodo cilndrico sellado en un tubo de vidrio lleno de Ne o Ar a una presin de ~ 130-700 Pa (1-5 Torr).

El ctodo est construido del metal cuyo espectro se desea obtener o sirve para soportar una capa de ese metal.

FUNCIONAMIENTO

LMPARAS DE CTODO HUECO

La ionizacin del gas inerte ocurre cuando una diferencia de potencial del orden de 300V se aplica en los electrodos, lo cual genera una corriente de unos 5 a 15 mA. Si el voltaje es suficientemente grande, tiene lugar la ionizacin del gas y los cationes gaseosos son acelerados hacia el ctodo, adquiriendo la suficiente energa cintica para arrancar algunos tomos metlicos del material catdico y producir una nube atmica en un proceso llamado chisporroteo. Algunos de estos tomos metlicos son excitados al chocar con los iones gaseosos, y al retornar a su estado fundamental emiten radiacin caracterstica.

LMPARAS DE CTODO HUECO

Al apagar la lmpara, los tomos metlicos vaporizados tienden a depositarse sobre las paredes del ctodo o sobre las paredes de vidrio del tubo. El diseo cilndrico del ctodo incremente la probabilidad de que los tomos se vuelvan a depositar en el ctodo y no en las paredes de vidrio.

LMPARAS DE CTODO HUECO

EFICIENCIA
La eficiencia de las lmparas de ctodo hueco depende de su forma y del voltaje de operacin. Los voltajes altos y las corrientes altas, dan lugar a mayores intensidades. Las corrientes mayores producen una cantidad ms grande de tomos no excitados en la nube.

En el comercio se encuentras diversas lmparas de ctodo hueco. Los ctodos de algunas constan de una mezcla de varios metales y permiten identificar ms de un elemento.

LMPARAS DE CTODO HUECO

EVENTOS QUE TIENEN LUGAR EN UNA LAMPARA DE CATODO HUECO
1. Por efecto del voltaje aplicado entre los dos electrodos ocurre una descarga elctrica (la mayor parte de la descarga ocurre dentro del ctodo.) 2. Estas descargas elctricas aumentan la energa cintica y favorecen la ionizacin de las molculas de gas inerte. Estas especies ionizadas requieren carga positiva, por lo cual son atradas hacia el ctodo 3. Al chocar los iones(+) de gas inerte con las paredes del ctodo, son desprendidos tomos del metal del ctodo o depositado sobre la superficie del mismo. 4. Despus de desprenderse del ctodo, los tomos producidos son excitados por choques moleculares con los iones y tomos de argn o nen. 5. Los tomos excitados no pueden permanecer indefinidamente en un estado de energa superior y procede el paso de emisin electromagntica.

DETECCIN MULTIELEMENTAL CON PLASMA ACOPLADO POR INDUCCIN

ESPECTROSCOPIA ATMICA

ESPECTROSCOPIA ATMICA DE EMISIN

Los mtodos atmicos de emisin se basan en la medida de la radiacin emitida por los tomos de una muestra, previamente excitados, en un proceso del tipo:

X+ Energa

X*

X+ hv

La cantidad de energa requerida para excitar la mayora de las muestras es muy grande, por lo que se produce la disociacin de cualquier compuesto qumico en sus elementos. Esto hace que el espectro de emisin sea caracterstico de los tomos presentes en la muestra, el cual esta constituido por un conjunto de lneas finas y bien definidas

ESPECTROSCOPIA ATMICA DE EMISIN

La energa utilizada en el proceso de excitacin puede proceder de diferentes fuentes, dando lugar a distintas tcnicas.

Fuente de Energa Llama Radiacin electromagntica Elctrica Plasma Rayos X

Tcnica Fotometra de llama Fluorescencia atmica Espectrometra de emisin ICP Fluorescencia de rayos X

ESPECTROSCOPIA ATMICA DE EMISIN

Los plasmas constituyen una fuente de excitacin muy energtica. Para originar un plasma se necesita un aporte externo de energa que provoque la ionizacin del gas. Existen fuentes de alimentacin que se clasifican en funcin de cmo se aporte la energa externa: -Radiofrecuencias o de plasma acoplado inductivamente (ICP) -Corriente continua (DCP) -Plasma inducido por microondas (MIP)

ESPECTROSCOPIA ATMICA DE EMISIN

Las altas temperaturas que pueden conseguirse con los plasmas son suficientes para promover a los tomos a su mayor nivel de energa electrnica, emitiendo radiacin al volver a su estado fundamental en la zona del espectro comprendido entre 190 y 900 nm.

DETECCIN MULTIELEMENTAL CON PLASMA ACOPLADO POR INDUCCIN

Un espectrmetro de emisin por plasma acoplado por induccin no requiere lmpara y puede medir hasta aproximadamente 70 elementos simultneamente

DETECCIN MULTIELEMENTAL CON PLASMA ACOPLADO POR INDUCCIN

Detectores -Fotomultiplicador -Detector de inyeccin de carga - Detector de acoplamiento de carga

Fotomultiplicador

De nuevo, por cada electrn que incidir sobre la dnodo Al incide sobre el superficiecontiene unos 1, cada fotoelectrn El tubo se emiten varios electrones.emisin de origina la Despus de electrodos denominados repetirse estednodo se varios electrones di-nodos. El proceso nueve veces, un han su vez adicionales; stos a mantiene a se 6potencial 7 originadoms10 hacia que de positivo son acelerados a 10 el de 90 V electrones el cual est a 90 dnodo 2 por cada tanto, el del ctodo y por fotn incidente; esta cascada se V ms positivo que el los electrones se aceleran recoge l. final en el nodo y dnodo hacia al1. la corriente resultante se amplifica electrnicamente y se mide.

DETECCIN MULTIELEMENTAL CON PLASMA ACOPLADO POR INDUCCIN

-Los fotomultiplicadores son muy sensibles a la radiacin ultravioleta y visible; adems, tienen tiempos de respuesta extremadamente rpidos. -La menudo, la sensibilidades una corriente elctrica relativamente pequea que fluye a A corriente de oscuridad de un instrumento con un detector fotomultiplicador viene limitada por su emisin de corrienteincluso cuando no est recibiendo luz. La corriente de travs de dispositivos fotosensibles oscura . oscuridad se debe a la generacin aleatoria de electrones y huecos, que son arrastrados por -Elcampo elctrico. de intensidad aumenta con la temperatura en la mayora de los casos. el funcionamiento Su un fotomultiplicador puede mejorarse enfrindolo porque la emisin trmica menor sea laprincipal de los electrones de laser la sensibilidad del detector, pues Cuanto es la fuente corriente de oscuridad, mayor corriente oscura. De hecho, las corrientes oscuras trmicas pueden eliminarse virtualmente si se destaquen menos -30 C. permitir medir intensidades de corriente, y por tanto de luz, queenfra el detector asobre el ruido de fondo. Los tubos fotomultiplicadores se limitan a medir radiacin de baja potencia, debido a que la luz intensa causa un dao irreversible en la superficie fotoelctrica. Por esta razn, el dispositivo se aloja siempre en un compartimento protegido de la luz y se toman las precauciones pertinentes para eliminar la posibilidad de exposicin, incluso momentnea, a cualquier luz intensa..

Fotomultiplicador

DETECCIN MULTIELEMENTAL CON PLASMA ACOPLADO POR INDUCCIN

Fotomultiplicador La radiacin emitida por los tomos entra en el policromador y se dispersa en las distintas longitudes de onda que la componen. Es preciso que para cada elemento que se quiera analizar haya un detector fotomultiplicador en la posicin correcta

Luz que emite una muestra

DETECCIN MULTIELEMENTAL CON PLASMA ACOPLADO POR INDUCCIN

Detector de transferencia de carga Son dispositivos creados porcondensador de elementos de Este montaje constituye un negativa a los semiconductor Los Cuando mviles bidimensionales ya que sus fotones migran huecos se aplica una carga la absorcin electrodos, se El pixel consta de dos separa los electrodos que La capa de slice electrodos conductores deteccin de metal que(llamados transductores o pixeles) de y sede oxidoregin de inversin de cargacargas formadas crea una en esta regin llamada pozobajopotencial capaz recogen individuales almacena las de los electrodos, se sitan porregin de silicio n-dopado. de slice. de una encima de la capa aislante estn dispuestos en filasalmacenamiento de los huecos. mientras la radiacin incide sobre el mantenermuycargas antes decolumnas. silicio dopado. que es 105 favorable al y que pasen al pixel contiguo. La cantidad de carga generada durante la exposicin a la radiacin se mide de dos maneras: -En un dispositivo de inyeccin de carga, se mide el cambio de potencial resultante del movimiento de la carga desde la regin bajo uno de los electrodos hasta la regin bajo del otro. -En un dispositivo de acoplamiento de carga, la carga se mueve hasta un amplificador sensible a la carga para su medida.

Vista transversal del pixel

Detector de inyeccin de carga

(c) Los huecos acumulados en el (a) electrodo derecho se electrodos Se aplican a los Para controlar negativos,potencial potenciales al pozo de que la transfieren la intensidad de dan radiacin del incide sobre el debajo que del condensador (b) lugar a la formacin de pozos de (d)El potencialelectrodo izquierdo a Al aplicar potenciales positivos elemento sensible, losrecogen potencial al conmutar de negativo a izquierdo (V1)quedetermina ambos electrodos el detector y se potenciales aplicados aaplicado al almacenan potencial los del positivo su estado original despusade la eliminacin lo vuelve el los huecos formados condensadores n alentonces, el los en la capa mide huecos migren primero. que siguen las etapas potencial aplicado absorber que hace Se los (a)-(d) del ciclo. del electrodo se fotones. Todos los huecos nuevo potencial al sustrato retienen inicialmente en el V 2. electrodo derecho, carga esta a La magnitud de la ya que un potencialse determina a acumulada mas negativo. partir de la diferencia de potencial (V1-V2).

DETECCIN MULTIELEMENTAL CON PLASMA ACOPLADO POR INDUCCIN

La radiacin emitida por los tomos entra por la parte superior derecha, se refleja en un espejo colimador (que convierte la radiacin en paralela), es dispersada en el plano vertical mediante un prisma y luego en el plano horizontal por una red. La radiacin dispersada incide sobre un detector de inyeccin de carga (CID) En la parte superior izquierda inciden las diferentes longitudes de onda sobre los 262,000 pixeles

DETECCIN MULTIELEMENTAL CON PLASMA ACOPLADO POR INDUCCIN

El espectrmetro CID esta purgado con N2 o Ar para excluir el oxigeno, permitiendo as que se observen longitudes de onda en el UV en el intervalo de 100-200nm. Esta regin espectral permite una deteccin mas sensible de algunos elementos que normalmente se detectan a longitudes de onda mas largas y permite medir halgenos, P, S y N ( con pobres limites de deteccin de decenas de partes por milln). Estos elementos no metlicos no pueden ser observados a longitudes de onda por encima de 200nm.

Detector de acoplamiento de carga

En este caso, el semiconductor est formado Parasilicio tipo p y el Las cargas se transfieren por medir la carga Cada pixel est compuesto acumulada, al est polarizado hacia abajo sepreamplicador condensador utiliza un por tres electrodos (marcados circuito trifsicode manera de A despus al del dispositivo y diferencia 3 ) en vez de dos positivamente, de reloj para como 1, 2, y dispositivo de desplazar de carga, formados inyeccin gradualmente la lectura. De esta manera, se que los electrones la lectura como en el caso del carga hacia labarridoradiacin neutralizaun carga acumulada completa la derecha del por la absorcin de fila por dispositivo de inyeccin de registro caso el pozo debajo en este de desplazamiento filarecogen en se de carga. la superficie del de elevada velocidad, que detector. del electrodo, mientras mostrado en (a). de la capa los huecos migran tipo n hacia el sustrato.

DETECCIN MULTIELEMENTAL CON PLASMA ACOPLADO POR INDUCCIN

Cuando la regin dopada-p Vista desde arriba, una estructura absorbe luz, pasa un electrn a la real tiene el tamao de un sello banda de conduccin, dejando un postal. hueco en la banda de valencia. El electrn es atrado a la regin que Despus de un tiempo de se encuentra debajo del electrodo observacin, los electrones positivo, donde se almacena. El acumulados en cada pixel de la hueco migra al sustrato dopado-n, ultima fila, pasan al registro en donde se combina con un electrn. serie de la parte superior y a Cada electrodo puede acumular continuacin cada pixel se va 105 electrones, antes de que se trasladando a la derecha, donde se desborden hacia elementos lee la carga almacenada. adyacentes.

DETECCIN MULTIELEMENTAL CON PLASMA ACOPLADO POR INDUCCIN

Comparaciones CID vs CCD y Fotomultiplicador En un detector CCD: -Cada pixel se debe leer a su tiempo, de forma ordenada, de fila en fila - Las seales fuertes en un pixel suelen interferir en los pixeles vecinos (eclosin o blooming en ingles) Fotomultiplicador -Da limites de deteccin mas bajos porque es mas sensible -Es mas caro y complicado En un detector CID -Todos los pixeles se ven individualmente en todo momento -Las seales fuertes en un pixel suelen interferir menos en pixeles vecinos por lo que pueden medir seales dbiles contiguas a seales fuertes

ESPECTROSCOPIA ATMICA DE EMISIN

Los mtodos atmicos de emisin se basan en la medida de la radiacin emitida por los tomos de una muestra, previamente excitados, en un proceso del tipo:

X+ Energa

X*

X+ hv

La cantidad de energa requerida para excitar la mayora de las muestras es muy grande, por lo que se produce la disociacin de cualquier compuesto qumico en sus elementos. Esto hace que el espectro de emisin sea caracterstico de los tomos presentes en la muestra, el cual esta constituido por un conjunto de lneas finas y bien definidas

ESPECTROSCOPIA ATMICA DE EMISIN

La energa utilizada en el proceso de excitacin puede proceder de diferentes fuentes, dando lugar a distintas tcnicas.

Fuente de Energa Llama Radiacin electromagntica Elctrica Plasma Rayos X

Tcnica Fotometra de llama Fluorescencia atmica Espectrometra de emisin ICP Fluorescencia de rayos X

ESPECTROSCOPIA ATMICA DE EMISIN

Los plasmas constituyen una fuente de excitacin muy energtica. Para originar un plasma se necesita un aporte externo de energa que provoque la ionizacin del gas. Existen fuentes de alimentacin que se clasifican en funcin de cmo se aporte la energa externa: -Radiofrecuencias o de plasma acoplado inductivamente (ICP) -Corriente continua (DCP) -Plasma inducido por microondas (MIP)

ESPECTROSCOPIA ATMICA DE EMISIN

Las altas temperaturas que pueden conseguirse con los plasmas son suficientes para promover a los tomos a su mayor nivel de energa electrnica, emitiendo radiacin al volver a su estado fundamental en la zona del espectro comprendido entre 190 y 900 nm.

DETECCIN MULTIELEMENTAL CON PLASMA ACOPLADO POR INDUCCIN

Un espectrmetro de emisin por plasma acoplado por induccin no requiere lmpara y puede medir hasta aproximadamente 70 elementos simultneamente

DETECCIN MULTIELEMENTAL CON PLASMA ACOPLADO POR INDUCCIN

Detectores -Fotomultiplicador -Detector de inyeccin de carga - Detector de acoplamiento de carga

Fotomultiplicador

De nuevo, por cada electrn que incidir sobre la dnodo Al incide sobre el superficiecontiene unos 1, cada fotoelectrn El tubo se emiten varios electrones.emisin de origina la Despus de electrodos denominados repetirse estednodo se varios electrones di-nodos. El proceso nueve veces, un han su vez adicionales; stos a mantiene a se 6potencial 7 originadoms10 hacia que de positivo son acelerados a 10 el de 90 V electrones el cual est a 90 dnodo 2 por cada tanto, el del ctodo y por fotn incidente; esta cascada se V ms positivo que el los electrones se aceleran recoge l. final en el nodo y dnodo hacia al1. la corriente resultante se amplifica electrnicamente y se mide.

DETECCIN MULTIELEMENTAL CON PLASMA ACOPLADO POR INDUCCIN

-Los fotomultiplicadores son muy sensibles a la radiacin ultravioleta y visible; adems, tienen tiempos de respuesta extremadamente rpidos. -La menudo, la sensibilidades una corriente elctrica relativamente pequea que fluye a A corriente de oscuridad de un instrumento con un detector fotomultiplicador viene limitada por su emisin de corrienteincluso cuando no est recibiendo luz. La corriente de travs de dispositivos fotosensibles oscura . oscuridad se debe a la generacin aleatoria de electrones y huecos, que son arrastrados por -Elcampo elctrico. de intensidad aumenta con la temperatura en la mayora de los casos. el funcionamiento Su un fotomultiplicador puede mejorarse enfrindolo porque la emisin trmica menor sea laprincipal de los electrones de laser la sensibilidad del detector, pues Cuanto es la fuente corriente de oscuridad, mayor corriente oscura. De hecho, las corrientes oscuras trmicas pueden eliminarse virtualmente si se destaquen menos -30 C. permitir medir intensidades de corriente, y por tanto de luz, queenfra el detector asobre el ruido de fondo. Los tubos fotomultiplicadores se limitan a medir radiacin de baja potencia, debido a que la luz intensa causa un dao irreversible en la superficie fotoelctrica. Por esta razn, el dispositivo se aloja siempre en un compartimento protegido de la luz y se toman las precauciones pertinentes para eliminar la posibilidad de exposicin, incluso momentnea, a cualquier luz intensa..

Fotomultiplicador

DETECCIN MULTIELEMENTAL CON PLASMA ACOPLADO POR INDUCCIN

Fotomultiplicador La radiacin emitida por los tomos entra en el policromador y se dispersa en las distintas longitudes de onda que la componen. Es preciso que para cada elemento que se quiera analizar haya un detector fotomultiplicador en la posicin correcta

Luz que emite una muestra

DETECCIN MULTIELEMENTAL CON PLASMA ACOPLADO POR INDUCCIN

Detector de transferencia de carga Son dispositivos creados porcondensador de elementos de Este montaje constituye un negativa a los semiconductor Los Cuando mviles bidimensionales ya que sus fotones migran huecos se aplica una carga la absorcin electrodos, se El pixel consta de dos separa los electrodos que La capa de slice electrodos conductores deteccin de metal que(llamados transductores o pixeles) de y sede oxidoregin de inversin de cargacargas formadas crea una en esta regin llamada pozobajopotencial capaz recogen individuales almacena las de los electrodos, se sitan porregin de silicio n-dopado. de slice. de una encima de la capa aislante estn dispuestos en filasalmacenamiento de los huecos. mientras la radiacin incide sobre el mantenermuycargas antes decolumnas. silicio dopado. que es 105 favorable al y que pasen al pixel contiguo. La cantidad de carga generada durante la exposicin a la radiacin se mide de dos maneras: -En un dispositivo de inyeccin de carga, se mide el cambio de potencial resultante del movimiento de la carga desde la regin bajo uno de los electrodos hasta la regin bajo del otro. -En un dispositivo de acoplamiento de carga, la carga se mueve hasta un amplificador sensible a la carga para su medida.

Vista transversal del pixel

Detector de inyeccin de carga

(c) Los huecos acumulados en el (a) electrodo derecho se electrodos Se aplican a los Para controlar negativos,potencial potenciales al pozo de que la transfieren la intensidad de dan radiacin del incide sobre el debajo que del condensador (b) lugar a la formacin de pozos de (d)El potencialelectrodo izquierdo a Al aplicar potenciales positivos elemento sensible, losrecogen potencial al conmutar de negativo a izquierdo (V1)quedetermina ambos electrodos el detector y se potenciales aplicados aaplicado al almacenan potencial los del positivo su estado original despusade la eliminacin lo vuelve el los huecos formados condensadores n alentonces, el los en la capa mide huecos migren primero. que siguen las etapas potencial aplicado absorber que hace Se los (a)-(d) del ciclo. del electrodo se fotones. Todos los huecos nuevo potencial al sustrato retienen inicialmente en el V 2. electrodo derecho, carga esta a La magnitud de la ya que un potencialse determina a acumulada mas negativo. partir de la diferencia de potencial (V1-V2).

DETECCIN MULTIELEMENTAL CON PLASMA ACOPLADO POR INDUCCIN

La radiacin emitida por los tomos entra por la parte superior derecha, se refleja en un espejo colimador (que convierte la radiacin en paralela), es dispersada en el plano vertical mediante un prisma y luego en el plano horizontal por una red. La radiacin dispersada incide sobre un detector de inyeccin de carga (CID) En la parte superior izquierda inciden las diferentes longitudes de onda sobre los 262,000 pixeles

DETECCIN MULTIELEMENTAL CON PLASMA ACOPLADO POR INDUCCIN

El espectrmetro CID esta purgado con N2 o Ar para excluir el oxigeno, permitiendo as que se observen longitudes de onda en el UV en el intervalo de 100-200nm. Esta regin espectral permite una deteccin mas sensible de algunos elementos que normalmente se detectan a longitudes de onda mas largas y permite medir halgenos, P, S y N ( con pobres limites de deteccin de decenas de partes por milln). Estos elementos no metlicos no pueden ser observados a longitudes de onda por encima de 200nm.

Detector de acoplamiento de carga

En este caso, el semiconductor est formado Parasilicio tipo p y el Las cargas se transfieren por medir la carga Cada pixel est compuesto acumulada, al est polarizado hacia abajo sepreamplicador condensador utiliza un por tres electrodos (marcados circuito trifsicode manera de A despus al del dispositivo y diferencia 3 ) en vez de dos positivamente, de reloj para como 1, 2, y dispositivo de desplazar de carga, formados inyeccin gradualmente la lectura. De esta manera, se que los electrones la lectura como en el caso del carga hacia labarridoradiacin neutralizaun carga acumulada completa la derecha del por la absorcin de fila por dispositivo de inyeccin de registro caso el pozo debajo en este de desplazamiento filarecogen en se de carga. la superficie del de elevada velocidad, que detector. del electrodo, mientras mostrado en (a). de la capa los huecos migran tipo n hacia el sustrato.

DETECCIN MULTIELEMENTAL CON PLASMA ACOPLADO POR INDUCCIN

Cuando la regin dopada-p Vista desde arriba, una estructura absorbe luz, pasa un electrn a la real tiene el tamao de un sello banda de conduccin, dejando un postal. hueco en la banda de valencia. El electrn es atrado a la regin que Despus de un tiempo de se encuentra debajo del electrodo observacin, los electrones positivo, donde se almacena. El acumulados en cada pixel de la hueco migra al sustrato dopado-n, ultima fila, pasan al registro en donde se combina con un electrn. serie de la parte superior y a Cada electrodo puede acumular continuacin cada pixel se va 105 electrones, antes de que se trasladando a la derecha, donde se desborden hacia elementos lee la carga almacenada. adyacentes.

DETECCIN MULTIELEMENTAL CON PLASMA ACOPLADO POR INDUCCIN

Comparaciones CID vs CCD y Fotomultiplicador En un detector CCD: -Cada pixel se debe leer a su tiempo, de forma ordenada, de fila en fila - Las seales fuertes en un pixel suelen interferir en los pixeles vecinos (eclosin o blooming en ingles) Fotomultiplicador -Da limites de deteccin mas bajos porque es mas sensible -Es mas caro y complicado En un detector CID -Todos los pixeles se ven individualmente en todo momento -Las seales fuertes en un pixel suelen interferir menos en pixeles vecinos por lo que pueden medir seales dbiles contiguas a seales fuertes

CORRECCIN DE FONDO

ESPECTROSCOPIA ATMICA

CORRECCIN DE FONDO
Es una forma de distinguir la seal del analito de la seal de absorcin, emisin o dispersin de la llama, horno, plasma o la matriz de la llama.

Mtodos para corregir el fondo:

 Registro de los pixeles adyacentes en un CID  Corte el haz  Lmpara de deuterio  Zeeman

CORRECCIN DE FONDO
Espectro de emisin registrado con un detector de inyeccin de carga.

Aqu se ilustra como se hace la correccin de la lnea base en espectrometra de emisin de emisin de plasma. La altura del pico corregida es la amplitud media de pico menos la amplitud media de la lnea base.

CORRECCIN DE FONDO
Interrupcin del haz
La luz procedente de la lmpara se bloquea de forma peridica, mediante un cortador rotatorio. La seal que llega al detector cuando se bloquea el haz la origina la emisin de la llama. La seal que llega al detector cuando no se bloquea el haz se debe a la lmpara y a la llama. La diferencia entre estas dos seales es la seal analtica neta.

CORRECCIN DE FONDO

Lmpara de deuterio

Consiste en pasar la emisin de banda ancha procedente de una lmpara de D2 a travs de la llama, alternado con la del ctodo hueco. La luz procedente del ctodo hueco es absorbido por el analito y absorbida y dispersada por el fondo. La diferencia entre la absorbancia medida con el ctodo hueco y con la lmpara D2 es la absorbancia debida al analito.

CORRECCIN DE FONDO
Efecto Zeeman
Consiste en el corrimiento de niveles de energa que presentan que experimentan tomos y molculas en un campo magntico. Para corregir el fondo se aplica intermitentemente un impulso fuerte de campo magntico. Cuando se interrumpe el campo, se esta midiendo la muestra y el fondo, y cuando se aplica el campo se mide solo el fondo. La diferencia entre las dos seales es la seal corregida.

LMITES DE DETECCIN

ESPECTROSCOPIA ATMICA

LIMITES DE DETECCIN
Limite de Deteccin: es la concentracin de un elemento que da una seal igual a tres veces el nivel de ruido pico-a-pico de la lnea base.

Dentro de los mtodos que se tienen(Horno , Llama y plasma) el horno por lo general tiene 2 ordenes de magnitud inferiores a los de llama hacindolos mejores.

LIMITES DE DETECCIN