TECNOLOGÍA ELECTRÓNICA FIABILIDAD I

FIABILIDAD:

“Probabilidad condicionada a un nivel de confianza dado de

que un componente o equipo funcione correctamente
durante un tiempo determinado, en las condiciones de
trabajo para los que fue diseñado”
FALLO:

“Terminación de la capacidad de un dispositivo o elemento

para realizar su función dentro de unos límites definidos
de actuación”
Clasificación de los fallos:
1. Según en el instante en que se producen:
a) Precoces o de mortalidad infantil.
b) Aleatorios.
c) De desgaste o por envejecimiento.
2. Por la forma de producirse:
a) Catastróficos, súbitos y totales; por ejemplo la
fusión de un filamento.
b) Por degradación o deriva.
TECNOLOGÍA ELECTRÓNICA FIABILIDAD II

ELEMENTOS DE CÁLCULO EN FIABILIDAD

Fiabilidad: N s (t )
R (t ) 
N0

Donde N0 es la cantidad de elementos que comenzaron a

funcionar en el instante t = 0. N 0  N f (t )  N s (t )
Nf(t) es la cantidad de elementos que han fallado hasta el
instante t.
Ns(t) es la cantidad de elementos que sobreviven en el
instante t. N (t ) f
Q (t ) 
Infiabilidad (probabilidad de fallo): N0

Se verifica, por ser probabilidades:

Q(t )  R(t )  1

Fiabilidad condicional: R (t / T )  R (T  t ) / R (T )

Ojo con la dependencia temporal, no tiene en cuenta la

antigüedad. dQ(t ) dR(t )
f (t )  
Función densidad: dt dt

Función distribución:
t 
Q (t )   f (t )·dt R (t )   f (t )·dt
 t
TECNOLOGÍA ELECTRÓNICA FIABILIDAD III

1 dR(t ) f (t )
Tasa instantánea de fallos:  (t )   
R (t ) dt R (t )
Expresa la “velocidad” con que fallan los componentes.
Para componentes y sistemas muy fiables se emplea como
unidad de fallo el bitfallo por cada 109 horas.
Tiempo medio entre fallos (MTBF):
 
MTBF   t · f (t )·dt   R(t )·dt
0 0
Expresa la probabilidad de supervivencia de un componente o
equipo después de un tiempo determinado.
REPRESENTACIÓN GRÁFICA DE LA FIABILIDAD
Representando la función densidad de fallo f(t) frente al
tiempo, el área encerrada bajo la curva desde cero (o
desde -) hasta t, es la probabilidad de fallo. El área
encerrada bajo la curva f(t) desde t hasta +, es la
probabilidad de no fallo o fiabilidad.
CURVA DE MORTALIDAD O DE BAÑERA.
Representa la tasa de fallo (t) de un componente o sistema, en
función de su edad.
TECNOLOGÍA ELECTRÓNICA FIABILIDAD IV

CÁLCULO GENERAL DE LA FIABILIDAD:

dR (t )
 (t )·dt  
R (t )
Integrando:
R (t )  exp    (t )·dt 
 t

 0 

Periodo de vida útil

(t) = cte. La integral queda: R (t )  exp   ·t 
La función densidad adopta la forma:
dR(t )
f (t )     ·R(t )
dt
El tiempo medio entre fallos:
 1
  MTBF   R (t )·dt 
0 
La fiabilidad, para un tiempo igual al MTBF:
1
 ·
R( MTBF )  e 
 e 1  0,37
TECNOLOGÍA ELECTRÓNICA FIABILIDAD V

La probabilidad de fallo para una edad T:

Q(t / T )  
T
T t
f (T )·dT  
T
T t
 ·e  T  T
·dT   e

  T t
T 

 e T  e  (T t )  e T ·(1  e T )

Esta distribución exponencial se aplica durante el periodo de
vida útil
1. En componentes purgados de vida útil muy larga,
que excede la vida de servicio de los sistemas que
forma parte.
2. En componentes purgados que se sustituyen
preventivamente, antes de que lleguen al periodo de
desgaste.
Periodo de desgaste
La función estadística en este periodo puede ser la normal de
Gauss y algunas veces la de Weibull. La de Gauss se
usa cuando los fallos son mayoritariamente por
desgaste.
La distribución de fallos en este periodo se caracteriza por:
• La media TM
• La desviación típica   (T  T M )2
N
TECNOLOGÍA ELECTRÓNICA FIABILIDAD VI

La función densidad de fallos será la de Gauss:

1 (T TM ) 2 2 2
f (T )  e
 · 2
La probabilidad de no fallo (distribución de fiabilidad) será:

R (T )   f (T )·dT
T

Para calcular los valores se hace el cambio de variable que

convierte la distribución (TM , ) en una normal:

T  TM
z

Periodo infantil
En este periodo se utiliza la función de distribución de fallos
de Weibull. Es una generalización de la ley
exponencial.  

f (t )   t     1
·exp   t   
  
 



 Es el parámetro de origen. Le damos valor cero para

indicar que los fallos se pueden producir desde el
instante inicial t=0.
TECNOLOGÍA ELECTRÓNICA FIABILIDAD VII

 Es el parámetro de escala o de duración de vida.

Representa el tiempo necesario para que la fiabilidad
sea igual a 0,37.
 Es el parámetro de forma:
• Para <1, (t) es decreciente, como ocurre en el
periodo de fallos infantiles.
• Para =1, (t) es constante, e igual a 1/, siendo la
distribución, para  = 0, una exponencial de media

• Para >1, (t) es creciente, adaptándose entonces al
periodo de desgaste. Para =2, la función es lineal,
y para =3,5 la función se aproxima a la normal.
La función distribución de fiabilidad tiene la forma:

R (t )  exp   t / 


 1
 t
La tasa de fallo:  (t )  · 
  
TECNOLOGÍA ELECTRÓNICA FIABILIDAD VIII

MODELOS LÓGICOS DE FIABILIDAD:

1. Modelo serie
“El fallo de uno de los componentes, supone el fallo del
sistema”
Si los fallos son independientes entre ellos, se calcula la
fiabilidad del sistema aplicando el teorema de Morgan
R (t )  R1 (t )·R2 (t )·R3 (t )·...Rn (t )·
La fiabilidad de un sistema serie es siempre menor que la
fiabilidad del más débil de sus componentes.
2. Modelo paralelo
“ Es necesario que todos los componentes fallen para que
falle es sistema”
En este caso la infiabilidad viene dada por la expresión:
Q (t )  Q1 (t )·Q2 (t )·Q3 (t )·...·Qn (t )
Y la fiabilidad:

R(t )  1  Q(t )  1   1  R1 (t )·1  R2 (t )·...·1  Rn (t )

TECNOLOGÍA ELECTRÓNICA FIABILIDAD IX

LA REDUNDANCIA

Se entiende por redundancia la existencia de varios

elementos componentes o subsistemas para realizar una
misma función. Tiene por objetivo aumentar la
fiabilidad.
Redundancia activa
Se denomina de esta manera al modelo en que todos los
componentes del sistema funcionan permanentemente.
Se puede subdividir en tres tipos principales:
• Redundancia total Es un modelo paralelo en el que
todos los componentes son idénticos.
• Redundancia parcial Para que el modelo funcionen
deben subsistir varios componentes.
En este caso, se demuestra la probabilidad de tener
k componentes supervivientes entre n, viene
dado por la expresión:
n
R (t )   C ni ·Rci ·(1  Rc ) n i
i k
Donde
1·2···n
C i
n
(1·2···i )·(1·2···(n  i ))
TECNOLOGÍA ELECTRÓNICA FIABILIDAD X

Y Rc es la fiabilidad de cada componente.

• Redundancia mayoritaria Deben estar al menos tres
componentes funcionando simultáneamente. La
señales de salida de estos tres componentes se
comparan en un dispositivo de decisión, que
suministra una salida igual a la mayoría de las
señales de salida de los componentes redundantes.
Para tres componentes la fiabilidad del sistema es:
R (t )  RD ·Rc2 ·(3  2 Rc )
Donde RD es la fiabilidad del dispositivo de decisión.
Redundancia de reserva o pasiva
Existen dispositivos primarios que se encargan del
funcionamiento normal del sistema, y componentes
secundarios o de reserva. Estos últimos sólo entran en
funcionamiento cuando falla alguno de los primarios. En
estos sistemas debe existir un componente que detecte los
fallos, y otro que permita conmutar entre el componente
fallido y su sustituto.
Para n componentes idénticos (de tipo exponencial), la
fiabilidad del sistema se expresa:
  ·t  ( ·t ) 2 ( ·t ) n 1 
R (t )  e 1   ·t  ··· 
 2 ! ( n  1 )! 