Interferémetro de Michelson
Garcia David, Linares José, Rincén Oscar, Sanchez Juan & Téllez Kevin
Fi
IV (Grupo I-1 Miércoles)
3 de Abril de 2024
Resumen de Ia pri
En la investigacién del interferémetro de Michelson, se realizé un estudio con el
fin de explorar los principios de la interferencia de ondas luminosas. Se monté el dispositive de forma que
las ondas se reflejaran en una pantalla, y utilizando un tornillo micrométrico, se ajustaron las interferencias
para apreciar las variaciones en la pantalla. Este procedimiento brindé la oportunidad de
tablecer con
precisién la longitud de onda del rayo de luz monocromético y que al compararla con la que brind por el
fabricante del liser se puede notar un error porcentual del 1,19%, Este estudio mostré una valiosa
experiencia en la aplicacién del interferémetro para evaluar las longitudes de onda de luz y comprender
‘eémo se relacionan los cambios en las interferencias con las propiedades de la luz monocromitica.
Keywords: Haz, separacién, diferencia, interferencia, superposicion.
1. INTRODUCCION
Desde La antigtiedad, la luz ha sido un objeto de
sorpresa y estudio para cientificos y filésofos. Su
Gualidad como onda y particula ha sido objeto de
numerosas investigaciones en el ambito de la fisica
Sptica, donde herramientas como el interferémetro
de Michelson han desempefiado un papel
fundamental. Este sistema, concebido por Albert
Abraham Michelson en el XIX, posibilita la
exploracién de la naturaleza ondulatoria de la luz y
la realizacién de estudios precisos. de sus
propiedades, tales como la longitud de onda
En este informe se describe la aplicacién del
interfermetto de Michelson con el propésito de
determinar con exactitud la longitud de onda de un
tayo de luz monocromatico. Mediante una
aplicacién minuciosa del dispositivo, se ajusté su
configuracién para capturar las ondas luminosas en
una pantalla y observar los complejos pattones de
interferencia que se generan. Al emplear un torillo
mictométrico, se pudo detectar y analizar
minuciosamente las variaciones en estos patrones, Io
cual posibilité calcular con precisién la longitud de
‘onda del rayo de luz en cuestién.
A Io largo de este informe, no solo se analizan los
procedimientos experimentales llevados a cabo y los
resultados obtenidos, sino que también se analizan
las consecuencias practicas y tedricas de la medicién
precisa de longitudes de onda.
A. Objetivos
Objetivo general
Descubrir y comprender los principios de
interferencia de ondas Iuminosas utilizando un
interferémetro de Michelson, con el propésito de
determinar con precisién la longitud de onda de un
rayo de luz monocromatico.
Objetivos especificos
1. Ajustar el interferémetro de Michelson para
garantizar una proyeccién dptima de las ondas
luminosas en la pantalla de observacién.
2. Manipular el tomillo micrométrico para
modificar las interferenciasy registrar las
variaciones observadas en la pantalla, asegurando un
seguimiento preciso de los cambios.
3. Analizar los patrones de interferencia generados
en la pantalla y utilizar métodos de procesamiento de
datos para caicular la longitud de onda del rayo de
luz monocromatico con alta exactitud
4, Verificar experimentalmente la longitud de onda
calculada mediante comparaciones con la
especificacién del fabricante del laser, evaluando asi
la fiabilidad y precisi6n del método utilizado,I. MARCO TEORICO.
La interferometria es un método de medicién
que aplica el fenémeno de interferencia de las
ondas (generalmente, ondas de luz, radio 0
sonido). Las mediciones pueden incluir otras
determinadas caracteristicas de las propias ondas y
los materiales por los que se propagan. Ademés, la
interferometria se utiliza para describir las téenicas
‘que utilizan ondas de la luz para estudiar los
cambios de desplazamiento, La interferometria de
medicién de desplazamiento se utiliza
ampliamente en la calibracién y el control de
movimiento en Ia fase mecénica del mecanizado
de precision.{1]
Mediante dos rayos de luz (normalmente, un
rayo desdoblado en dos), se forma un patrén de
interferencia donde se superponen los dos rayos.
Puesto que la longitud de onda del rayo visible es
muy corta, pueden detectarse pequefios cambios
en las diferencias de las trayectorias épticas
(distancia recorrida) entre los dos rayos (ya que las
diferencias producen cambios notables en el
patron de interferencia). Por consiguiente, la
interferometria éptica ha sido una téenica de
medicién muy valiosa desde hace mas de cien
afios. Su precisién se ha mejorado con la aparicién
del laser [1]
En 1887, Albert A, Michelson desarrollé el
primer interferémetro.y demostré el uso del
principio de la interferencia de la luz como
herramienta de medicién. Aunque la tecnologia (y
la precisién de medicién) ha avanzado mucho con
el paso de los aitos, el principio basic del
interferémetro de Michelson aim subyace en el
riicleo de la interferometria.{1]
oe
Figura 1, Interferémetro de Michelson [1]
El interferémetro de Michelson produce franjas
de interferencia mediante la divisién de un haz de
luz monoeromético, de modo que un rayo golpea
un espejo fijo y el otto un espejo mévil. Cuando
los haces reflejados son Ilevados de vuelta juntos
hacia el detector, se produce un patron de
interferencia [2]
En los afios 20 del siglo 20, Michelson inventé
€l Interferémetro. Michelson recibié el premio
‘Nobel en 1907. Hoy en dia, el interferémetro es
una de las herramientas de medida mis
precisas.[3]
El interferémetro de Michelson se considera un
instrumento que utiliza Ia interferencia entre dos
haces de radiacién electromagnética, que se
gencran en un mismo origen 3]
En el interferémetro de Michelson, se desdobla
un haz de luz en dos haces a través de un
desdoblador de haz, andlogamente al experimento
de interferencia de Young , como se observa en la
figura 2. [3]
Espo
Cestlader
toa
atin do
i, pa,
Figura 2, Interferémetro de Michelson,[3]
Los dos haces viajan en direcciones
perpendiculares entre si
Cada haz choca con un espejo y se refleja hacia
el desdoblador de hav.
Los dos haces procedentes del desdoblador de
haz, Hegan a la pantalla en la misma trayectoria.[3]I. EXPERIMENTO
La prictica consiste en ubicar un rayo léser
monocromético (Figura 4) apuntando hacia el
lente 1 del interferémetro de precision (Figura 3),
donde el lente 2 divide el haz de luz en dos, el
primer trayecto del liser se refleja en el espejo 3,
cl cual se encontraba estitico para ser el punto de
referencia, el segundo trayecto se veia reflejado
por el espejo 4, este se podia modificar su
distancia con respecto al lente divisor 2 gracias al
tomillo micrométrico (8). Una vez reflejados
ambos haces de luz, se combinan nuevamente por
accién del lente divisor, proyectando patrones de
interferencia apreciados en la Figura 5.
Ahora, con el patrén mostrado en pantalla, se
tomé de referencia el punto cero de el tomillo
micrométrico y el patrén mostrado en la Figura 5,
al variar la distancia del espejo 4, se apreciaba en
pantalla que el patrén observado empezaba a
oseilar, de modo que se llegaba al patrén original,
este suceso se conts arbitrariamente 22 veces y
con referencia al punto cero del tornillo, se tomé la
Tectura en micras del recorrido del espejo movible,
este procedimiento se repitié cuatro veces para asi
obtener una media de mediciones més confiable.
Debido a la delicadeza, coste y complejidad del
interferémetro, calibrar todo el experimento para
que se muestre de forma correcta el patron de
interferencia es una tarea tediosa que requiere
experiencia, tiempo y paciencia, por este motivo,
€l tutor Javier Alonso Cuervo se tomé el tiempo
antes de la prictica de calibrar el montaje,
permitiendo asi ahorrar tiempo y obtener
‘mediciones més confiables y precisas para los
autores de este informe.
TV. ANALISIS
A partir del experimento del interferémetro de
Morley, se midieron las distancias de las vueltas
‘que se realizaba con el instrumento de medicién, y
junto a esto se contaron cuantas veces el patron de
Ta pantalla se repetia. Después de tomar las
mediciones del mimero de vueltas y la distancia
del nimero de vueltas, se utiliza Ia siguiente
ecuacién para hallar la Tongitud de onda en cada
una de las tomas:
Donde “a” es la distancia, “m” es el mimero de
repeticiones del patrén circular y “2” es la Tongitud
de onda. Después de calcular la longitud de onda,
para cada prueba, se promedia la longitud para
hallar 1a longitud de onda practica verdadera. Los
resultados se presentan en la tabla [1]:
Nimero Longitud de
de | Namero de | Distancia | onda
prueba | repeticiones | (#1 um) | (£0,001nm)
1 2 15 681
2 2 1 636
3 23 8. 695
4 u 5 636
Promedio: | _ 662
A partir de la tabla [1] nos podemos dar cuenta
que el valor de la longitud promedio de la préctica,
est dentro de Tos parémetros de la longitud de
onda del rayo liser emitido por la fuente de luz, el
cual, segiin el instrumento, la longitud de onda de!
liser se encontraba entre 660 nm y 680 nm,
teniendo esto en cuenta, podemos deducir que la
Tongitud de onda prictica se encuentra dentro del
rango teético de longitud de onda del laser, sin
embargo, si se quiere hallar un porcentaje de error,
hallamos el promedio del valor teérico, el cual es
de 670 nm y lo comparamos con los 662 nm del
valor prictico. Para esto se utiliza la siguiente
ecuacién:age = Walon teorico — valor practicol |
valor teorico
Después de reemplazar los valotes y realizar la
‘operacién tenemos que el porcentaje de error es
de:
%E = 1,19
Con esto podemos decir que con el valor
prictico y el experimento, se comprucba la teoria
del experimento de interferémetro de Morley,
donde la velocidad siempre se propaga con la
misma velocidad y la longitud de onda no cambia
fa pesar de pasar por un lente y dividirse después y
reflejarse 50% en la pantalla y 50% al origen de la
luz,
V. CONCLUSION’
1. El ajuste del interferémetro de Michelson logré
garantizar una proyeccién éptima de las ondas
Juminosas en la pantalla de observacién, lo que
segura condiciones experimentales ideales para la
observacién de patrones de interferencia.
2. La manipulacién precisa del tornillo
microméttico permitié modificar las interferencias
de manera controlada, posibilitando un registro
preciso. de las variaciones obscrvadas cn la
pantalla, Este seguimiento
fundamental para obtener mediciones precisas de
los patrones de interferencia,
meticuloso es,
3. Se realizé un andlisis exhaustive de los
patrones de interferencia generados en la pantalla,
utilizando métodos avanzados de procesamiento
de datos pata calcular con alta exactitud la
longitud de onda del rayo de luz monocromatico.
Esto demuestra la capacidad para aplicar técnicas
analitics en la interpretacién de
resultados experimentales,
sofistics
4, La verificacién experimental de la longitud de
onda calculada, —comparindola_ con la
especificacién del fabricante del laser, permitié
evaluar la fiabilidad y precisién del_método
utilizado, La consistencia encontrada sugiere que
el método empleado es confiable y preciso para
determinar la longitud de onda de la lw
monocromiatica.
VI. APLICACIONES
1. Astronomia: Los telescopios que
utilizan interferometria, como cl Very Large
Telescope (VLTI) en Chile,
permiten a los astrénomos obtener imagenes
detalladas de estrellas, galaxias y ottos objetos
celestes [4]
Interferometer
2. Climatologia: La interferometria se
utiliza en Ia climatologia para estudiar patrones de
viento y temperatura en la atmésfera superior [4]
Optometria: En optometria, la
interferometria se utiliza para medir con precision
la curvatura de las lentes y detectar defectos en su
superficie o en su composicién [5]
4, Telecomunicaciones: En las
telecomunicaciones, la interferometria puede ser
utilizada para estudiar las propiedades de las ondas
electromagnéticas [6]
5. La. interferometriaelectrénica de
patrones de moteado: Las técnicas dpticas no
destructivas y sus aplicaciones industriales han
jugado un papel muy importante en los iiltimos,
aiios. Esto es debido a que se pueden hacer
mediciones sin estar en contacto con los objetos a
medir, En adicién, es posible hacer la medicién en
campo completo y casi en tiempo real. Entre las
técnicas opti mas importantes
encontramos la interferometria de moteado. El
principio bésico en que se fundamenta ta
interferometria de moteado, es el uso de léseres
para iluminar los objetos a medir. Cuando una
is no destructivssuperficie rugosa se ilumina con una fuente de
lser aparece un campo granular o centelleo. Al
correlacionar dos imagenes de moteado — antes y
después de la deformacién que sufie el objeto bajo
prueba~ aparece un patrdn de franjas indicative de
que se modificé el objeto. Debido a que
técnica es interferométrica, los desplazamientos
que se pueden medir van desde el orden de
fracciones, hasta varias decenas de micras.
ta
Referencias
[1] 50° Renishaw, (s.£), [Explicacién de
interferometria), consultado: 26 Mar. 2024,
extraido de:
ltps://www.renishaw.es/es/explicacion-de-la-inter,
fe
[2] Anénimo, (s.f) - [Experiemento de michelson],
consultado: 26 Mar 2024, extraido de:
http://hyperphysies phy-astr.gsu.edwhbasees/phyo
pUmichel html
[3] Anénimo, (s.£) - [Unterfermetro de michelson]
consultado: 26 Mar 2024, extraido de:
https://www.um_es/LEQ/laser/Ch-10/F10s0p4,htm
[4] Academia Lab, (2024), - [Jnterferometria],
consultado el 27 de marzo del 2024, extraido de:
https: //academia-lab.com/enciclopedia/interferome
tial
[5] U.D.G,, (2009), [La interferometria: tenica de
‘medicion no intrusiva], consultado el 27 de marzo
del 2024,
1a.udg.mx/la-interferometria-teen
extraido de:
[6] Mesurex, (s.f), [Interferémetros Micro-Epsiton
para la industria y para automatizacién),
consultado el 27 de marzo del 2024, extraido de:
https://www.gaceta.udg.mx/la-interferometria-tecn
de -no-inttusival
(7] Rodriguez, et al, (s.£), Algunas aplicaciones
industriales de la interferometria electranica de
patrones de moteado, repositorio:
bhttpsu/svww.cenam_ma/memorias/descarga/Memo
ANEXOS,
Figura 3, partes del interfermetro de precisién,
Figura 4, léser monocromitico,Figura S, patrones de interferencias en pantalla
Figura 6, hoja de calculos.
CUESTIONARIO
1. Explique porgué en la relacién entre el
desplazamiento del espejo y el mimero de cambios
del patrén aparece un factor de dos.
El factor de 2 en la ecuacién del interferémetro
de Michelson se debe a que la luz viaja hacia
adelante y hacia atris a lo largo de la diferencia de
camino éptice. En un interferémetto de
Michelson, un haz de luz se divide en dos haces
separados que lucgo se recombinan. Uno de estos
haces viaja una distancia adicional d antes de ser
recombinado, Sin embargo, como este haz de luz
tiene que viajar hacia adelante y hacia atrés a lo
largo de esta distancia adicional, el camino total
que recorre es 2d. Por lo tanto, el nimero de
franjas de interferencia m que se observan esti
telacionado con el doble de esta diferencia de
camino Sptico, de ahi el factor de 2 en la ecuacién:
oe
m
2. Explique cémo fue utilizado el interferdmetro
por Mickelson y Morley en su famoso
experimento,
Michelson y Morley utilizaron el interferometto
en su famoso experimento para comparar la
velocidad de la luz en la direccién del movimiento
de la Tierra con la velocidad de la luz en un
intento de detectar diferencias. Este experimento
buscaba demostrar la existencia del éter
luminifero, un material ficticio que se creia
impregnaba el espacio y transportaba las ondas de
luz. Al forzar la bifurcacién del haz luminoso en
dos caminos perpendiculares, uno paralelo al
movimiento de la Tierra alrededor del Sol,
esperaban detectar interferencias entre ambos
subhaces al reunirlos. Sin embargo, a pesar de
aplicar las leyes de la éptica geométrica y de ta
dinmica clisica, no obseryaron interferencias, lo
que llevé a la conclusién de que no existia el éter
luminifero, desacreditando asi esta hipétesis.
3. {Cémo puede mejorar la determinacién
experimental de la longitud de onda?
Utilizando un montaje donde el léser se
encuentre fijo en un solo punto con respecto al
interferémetro, con esto se evita la extenuante
tarea de calibracién y tendria resultados mas
consistentes al repetirse el experimento, también
utilizando un torillo mictométtico con menor
incertidumbre (como por ejemplo de 0.1 ym), ast
se lograria establecer mediciones mas exactas y
por iiltimo, un anélisis digital por fotografias del
conteo de los patrones de interferencia, ya que una
cémara y un software especializado seria més
idéneo para contar las repeticiones que la visién de
tun integrante de la prictica
4, (Por qué el interferémetro de Michelson
puede ser utilizado para determinar indices de
refraccién?
El interferémetro de Michelson puede utilizarse
para determinar indices de refraccién debido a sucapacidad para medir pequefias diferencias en las
longitudes de onda de la luz al interactuar con
diferentes medios. Al dividir un haz de luz en dos
caminos y luego volver a combinatlos, este
ispositivo tea patrones de interferencia que son
sensibles a cambios en la longitud de onda, Al
introducir un material con un indice de refraccién
diferente en uno de los brazos del interferémetro,
se producen cambios en las franjas de interferencia
observadas, lo que permite calcular el indice de
refraccién del material. Esta capacidad se basa en
la interferencia constructiva y destructiva de las
ondas de luz al reencontrarse, lo que proporciona
informacién precisa sobte las propiedades dpticas
de los materiales bajo prueba.