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Práctica-1-Pruebas Dinámicas y Estáticas en Los Amplificadores Electrónicos
Práctica-1-Pruebas Dinámicas y Estáticas en Los Amplificadores Electrónicos
º 1
Pruebas dinámicas y estáticas en los amplificadores electrónicos.
Objetivo:
Que el alumno sea capaz de efectuar las pruebas dinámicas y estáticas a los
amplificadores más empleados con componentes activos como OPAMP
(Amplificador Operacional) en circuito integrado, BJT (Transistor de Juntura
Bipolar) y JFET (Transistor de Efecto de Campo); se expondrán 2
procedimientos, uno para conocer y trazar las curvas características
correspondientes y otro para determinar e identificar los dispositivos con sus
parámetros y que estos se puedan comparar con los que da el fabricante.
Introducción:
Material necesario:
• 1 Fuente de poder
• 1 Multímetro
• 1 Osciloscopio
• 1 Generador de funciones
• 1 Transistor JFET canal N 2N5457 o equivalente
• 1 Transistor NPN BC547A o equivalente
• 1 OPAMP LM741 o equivalente
• 4 Capacitores de 22µF
• 2 Capacitores de 220µF
• 4 Resistencias de 1 KΩ a 1⁄2 watt
• 2 Resistencias de 10 KΩ a 1⁄2 watt
• 2 Resistencias de 460 Ω a 1⁄2 watt
• 1 Resistencia de 100 KΩ a 1⁄2 watt
• 1 Resistencia de 1 MΩ a 1⁄2 watt
• 1 Resistencia de 39 KΩ a 1⁄2 watt
• 1 Resistencia de 3.3 KΩ a 1⁄2 watt
Trabajo de laboratorio:
VCC= 15 V
Vi = Vpp
Vo = Vpp
Figura 1.1
AMPLIFICADOR CON TRANSISTOR DE JUNTURA BIPOLAR (BJT)
Figura 1.2
𝑉𝑉𝐵𝐵𝐵𝐵 = mV
Vi = mVpp
𝑉𝑉𝐶𝐶𝐶𝐶 = V
Vo= Vpp
𝐼𝐼𝐵𝐵 = µA
𝐼𝐼𝐶𝐶 = mA
β=
Figura1.3
Vi = mVpp VDS= V
Vo= mVpp VGS= mV
ID= mA