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El documento habla sobre un detector de silicio que puede analizar defectos puntuales en el material. Consiste en un cristal de silicio puro que puede detectar partículas individuales que inciden sobre su superficie y generan pares electrón-hueco. Su análisis en profundidad se deja pendiente para cuando se estudie el tema de defectos puntuales.
Descripción original:
Información sobre la técnica de fluorescencia de rayos X
El documento habla sobre un detector de silicio que puede analizar defectos puntuales en el material. Consiste en un cristal de silicio puro que puede detectar partículas individuales que inciden sobre su superficie y generan pares electrón-hueco. Su análisis en profundidad se deja pendiente para cuando se estudie el tema de defectos puntuales.
El documento habla sobre un detector de silicio que puede analizar defectos puntuales en el material. Consiste en un cristal de silicio puro que puede detectar partículas individuales que inciden sobre su superficie y generan pares electrón-hueco. Su análisis en profundidad se deja pendiente para cuando se estudie el tema de defectos puntuales.