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FZamora   Ronny Alberto Rueda Mendez

Diseño Digital con Microcontroladores

Home / My courses / DDuC / Módulo de evaluaciones en línea / Quiz 3 2021-1 (Sincrónico). Conversión A/D y Hacking

Quiz navigation Started on Friday, 24 September 2021, 6:44 PM

State Finished
Completed on Friday, 24 September 2021, 7:04 PM
Time taken 20 mins 1 sec

Question 1
Ronny Alberto Rueda Cree una carpeta con el nombre de esta prueba en su googledrive compartido con el profesor (correo gmail del curso,
Not answered
Mendez según instrucciones para compartir carpetas y archivos publicadas en la cartelera de tareas del curso).  La carpeta y los
Not graded archivos de soporte son individuales, aunque las pruebas o trabajos se indiquen como grupales.
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Flag question
Elabore los soportes (archivos con su nombre, código, fecha, asignatura, nombre de la prueba, email, celular), e incluya
explicaciones y cálculos) de las respuestas de la presente prueba en mathcad, y/o msword y/o excel, ampliamente
Finish review
comentados y expórtelos además a PDF (por ejemplo con PDFcreator). 

Adicionalmente  elabore un archivo de texto y expórtelo a PDF, denominado <nombre prueba>portafolio.pdf donde
aparezca, además de su nombre, código, fecha, asignatura, nombre de la prueba, email, celular, las habilidades,
competencias, destrezas y conocimientos que ud alcanzó preparando y presentando la presente prueba e indique como
evidencia un estimado de la calificación que ud cree obtendrá en esta prueba (autoevaluación)

Guarde tanto los archivos fuente y los exportados a PDF en la carpeta mencionada en el párrafo inicial.

Adjunte en este espacio de respuesta a la pregunta sólo el enlace a dicha carpeta google drive, que contendrá los
soportes en archivos fuente, el portafolio de la prueba y todos en copia PDF.  Se verificarán la fecha de creación de carpeta y
archivos durante la revisión (máximo 12 horas posteriores a la presentación del primer intento).  Si desea adjunte también
algunos comentarios adicionales relacionados con la prueba, dificultades durante su presentación, etc.

Máximo 5 líneas para responder (admite HTML)  y un archivo attachment (opcional).

Agregue a la carpeta soportes para cada intento presentado.

Question 2 Se desea configurar el canal AN9 de un PIC18F25K50 para tomar el mayor número de muestras de una señal analógica,
Incorrect según la siguiente configuración [CON hacking de Tad para bits (n-neff)]:
Marked out of 1 Fosc = 48MHz
Flag question
Acondicionamiento de señal:  se tomarán los 8 bits más significativos únicamente.
Tmcu - Tamb = 25 grados celsius
Rs = 600 ohmios  (impedancia interna de fuente de señal analógica)
Vrefs(+/-): Vdd=5V y Vss=0v
En los soportes de su hoja de exámenes indique y justifique claramente:
Tad min seleccionado (=tiempo de conversión de 1 bit)
TRC seleccionado (=tiempo de carga del condensador de retención)

TACQ seleccionado (=tiempo de adquisición óptimo, manual o automático?)

TCONV (=tiempo de conversión óptimo: incluyendo cambio a Tad min sobre la marcha para bits menos significativos))
Calcule el Sampling Rate (Nsps número máximo de miles de muestras por segundo).  Este valor se debe responder aquí,
expresado en ksps (respuesta numérica, dos cifras decimales mínimo, sin unidades)
Puede usar la hoja de cálculo gdrive ADC para validar sus resultados, pero debe anexar el procedimiento y justificaciones
manualmente en su hoja de soportes del examen.

Answer: 49.79

Question 3 Se requiere digitalizar una señal proveniente de un sensor con impedancia interna 2000 Ohmios.  La señal del sensor se
Partially correct acondiciona antes de aplicarla al ADC de una MCU PIC 18F25K50 cuyas referencias internas de voltaje son Vss(0V) y Vdd
Marked out of 1 (3,3V), de tal manera que la señal aplicada al canal AN0 del ADC aparece con un rango de voltaje entre 0 y 1,5V.  Utilice las
Flag question fórmulas del fabricante ( hoja electrónica googledocs de y paper de Francisco Zamora referencia) para calcular los
parámetros del muestreo con el ADC según los siguientes enunciados asociados con la respuesta correcta.  Tenga en cuenta
que es posible que una misma respuesta esté asociada con más de una pregunta.  Asuma Tmcu - Tamb = 30 grados
(temperatura) y Fosc = 16 MHz (frecuencia de oscilador de MCU, modo interno).
(Adjunte sus cálculos y justificaciones en su hoja de soporte de examen)

El componente del tiempo de adquisición de muestra debido al efecto de temperatura (Tcoff) es (en microsegundos): 1,5 useg

Número de bits significativos del resultado ADC que representan el voltaje máximo de entrada aplicado
al canal AN0: 9 bits

El tiempo de adquisición de muestra según Microchip se modela sumando tres componentes: Tcoff (temperatura),
Tamp (settling time de amplificador) y TRC (carga de Chold para error 1/2LSB en bits efectivos requeridos por usuario).
El tiempo de adquisición óptimo de muestra (seleccionando el menor valor entre espera automática programada o 28*Tcy useg
manual, suponiendo que el cambio en Vin entre muestras es equivalente a menos de 1LSB), para este sistema resulta
ser (en microsegundos y en terminos de Tcy):

El tiempo total de adquisición de muestra según Microchip se modela sumando tres componentes:  Tcoff
(temperatura), Tamp (settling time de amplificador) y TRC (carga de Chold para error 1/2LSB en bits
efectivos requeridos). El tiempo de adquisición óptimo de muestra (seleccionando el menor valor entre 7,0 useg
espera automática programada o manual, suponiendo que el cambio en Vin entre muestras es de full
escala), para este sistema resulta ser (en microsegundos y con Tad derivado de Fosc):

El multiplicador n válido para Tosc, con el objeto de obtener un Tad = n * Tosc, tiempo de conversión de
16*Tosc
un bit mínimo según el fabricante, es (n adimensional)

La cantidad de miles de muestras por segundo (ksps) que es posible obtener de un único canal analógico, con error
de 1/2LSB de usuario, para un tiempo de conversión optimizado (reduciendo el Tad a 2Tosc durante la conversión de
los bits menos significativos que no se requieren en el resultado, Tad derivado de Fosc, Tacq óptimo) y suponiendo
57,97 ksps
cambios en Vin de valor equivalentes a full escala entre muestras, es:

La cantidad de miles de muestras por segundo (ksps) que es posible obtener de un único canal analógico, con error
de 1/2LSB, para un tiempo de conversión estandar (igual a 12Tad, con Tad derivado de oscilador interno RC del ADC, al
50 ksps
igual que el tiempo de adquisición para 10 bits) y suponiendo cambios de valor en Vin equivalentes full escala entre
muestras, es:

La cantidad de miles de muestras por segundo (ksps) que es posible obtener de un único canal analógico, con error
de 1/2LSB de usuario, para un tiempo de conversión estándar (supuesto como 12Tad, con Tad derivado de Fosc ) y
suponiendo para el tiempo de adquisición cambios de valor en Vin equivalentes a full escala entre muestras (para un
52,63 ksps
número de bits efectivos en el resultado = 10 bits), será:

La cantidad de miles de muestras  por segundo  (ksps) que es posible obtener de un único canal
analógico, con error de 1/2LSB de usuario, para un tiempo de conversión optimizado (reduciendo el Tad
 a 2Tosc durante la conversión de los bits menos significativos que no se requieren en el resultado) y 54,79 ksps
suponiendo cambios en Vin de valor equivalentes a full escala entre muestras con Tad derivado de Fosc
y Tacq derivado de Tad, es:

El componente del tiempo de adquisición de muestra debido al tiempo de carga del condensador de
muestreo/retención (S/H) TRC a través de su red equivalente resistiva, con error de 1/2LSB en bits 0,35 useg
significativos de usuario, es (en microsegundos):

Si el voltaje de entrada es 1,5 Voltios, los registros ADRESH/L, contendrán un valor hex justificado a la
0x01D1
derecha, igual a:

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