Interacción radiación materia

radiación incidente material radiación emergente

 
I, E, k I, E, k
interacción
radiación-materia
I < I absorción
efectos: E  E pérdida de energía
 
k  k dispersión
espectroscopías
nucleares I (E)  I (E´)
atómicas (1 <  < 2 ) espectro de energía
moleculares absorción ó emisión
 
de sólidos I ( E, k)  I (E,k)
E´ = E + ω
   
k = k + q + G
espectro de energía y de vector de onda
elástica: E  = E
inelástica: E   E
difracción
dispersión elástica “cooperativa”
E = E
  
k = k + G
espectro de vectores de onda
transformada de Fourier  espacio recíproco

imágenes
representación del “objeto”  espacio real

difracción  imagen estructural

 “estructura” atómica : distribución espacial de átomos
correlación de pares  función de distribución radial g(r)

cristalino amorfo

sólido cristalino  celda unidad

- identificar cada átomo
- especificar su posición
Radiaciones utilizadas
investigación estructural  resolución “atómica”
  0,1 nm
fotones (rayos X)
hc 1240
E=hν λ= λ= (λ, nm ; E, eV)
E E
  0,1 nm E  104 eV
electrones
h h V < 100 keV
λ=  1
mv 1 - 1,226
 eV  2
λ  (λ, nm ; V, V)
(2 m eV) 1 +
2

 2 m c 2  eV

  0,1 nm E  102 eV
  10-4 nm E  106 eV
neutrones (térmicos)
1 3
E= m v 2 = k BT
2 2   0,2 nm T  300 K
h h2
λ= =   0,7 nm T  20 K
mv 3 m k BT
  0,07 nm T  2000 K
Longitud de onda  energía

= 0,1 nm
fotones 104 eV
electrones 102 eV
neutrones 0,1 eV
Interacción rayos X – materia

haz de rayos X
incidente

calor alteraciones
muestra estructurales

rayos X electrones
fluorescencia
haz
transmitido
absorción
rayos X
dispersión

elástica inelástica

difracción
 Interacción electrones – materia
haz de electrones
incidente

fotones (RX ó visible) microscopía de

catodoluminiscencia barrido (SEM)
electrones
secundarios o analítica

<< muestra carga eléctrica

calor

dispersión microscopía de
elástica transmisión
(TEM y STEM)
incoherente
y análisis (EELS)
dispersión dispersión elástica
inelástica haz coherente
transmitido

difracción (SAD)
imágenes (TEM y HRTEM)
Interacción neutrones - materia

haz de neutrones
incidente

captura daño irradiación

(B,Cd,Gd) muestra defectos

haz
transmitido

dispersión dispersión
elástica inelástica
difracción excitaciones

nuclear magnética
 Teoría cinemática de la difracción

Modelo interpretativo

a) dispersión de la radiación incidente por cada átomo del material

mecanismo físico de interacción radiación-átomo
- radiación utilizada
- átomo dispersor
factor atómico de dispersión

b) interferencia de la radiación coherente dispersada por los átomos

correlación de fases de la dispersión por los átomos

distribución espacial de los átomos dispersores
“independiente” del mecanismo físico de interacción
formalismo general
Hipótesis de la aproximación cinemática
 dispersión elástica
sólo contribución dispersada elástica y coherente
 dispersión débil
amplitud de dispersión pequeña (<< incidente)
aproximación de Born
- atenuación no apreciable de la onda incidente
amplitud incidente idéntica en todos los átomos
- no interacción apreciable entre onda incidente y ondas dispersadas
dispersión múltiple ignorable
 superposición
aditividad de dispersores atómicos
átomos “libres”
no efectos de enlace factores atómicos transferibles
 aproximación de onda plana
haz incidente y haz difractado ondas planas
fuente y detectores “lejanos” (d >> )
difracción de Fraunhofer
Amplitud dispersada por un material

radiación emitida por una fuente puntual en O: A 0 e- i ω t

  
amplitud incidente en un dispersor situado en P: i k 0 ꞏ (R + r )
R >>  onda plana
AP = A0 e
 
i k R - r
 e
amplitud en el punto Q procedente de P: A Q = A P ρ(r)  
R - r onda esférica

    
 
k // R - r  k R - r = k ꞏ ( R - r)

A 0 i (k0 ꞏR + kꞏ


R )
 i (k - k)
 
ꞏr
R   AQ = e ρ(r) e 0

R
 i (k - k )ꞏr 3
amplitud total dispersada en el punto Q AQ   ρ(r) e 0 dr
V
Amplitud total dispersada en el punto Q
 i (k - k)
 
A Q   ρ(r) e 0 ꞏr d 3 r
V
  
Δk  k - k 0 vector dispersión
 - i  
kꞏr 3
A Q   ρ(r) e dr
V

amplitud dispersada  transformada de Fourier de la

“densidad de dispersión”
Intensidad dispersada
  2  - i  
kꞏr 3
2

I(k)  A(k)   ρ(r) e dr

  - i kꞏr 3  i kꞏr 3
I(k)   ρ(r) e d r  ρ(r ) e d r
    
r y r se extienden a todo el espacio  r  r + r

      3
I(q)   e d r  ρ(r) ρ(r +r) d r
i qꞏ r  3

 
ρ(r) ρ(r)
 material irradiado espectro de difracción
(espacio real) (espacio recíproco)
distribución espacial de átomos distribución de intensidad difractada
orden en la distribución atómica fluctuaciones de intensidad
sólido cristalino espectro discreto
Red recíproca
Funciones periódicas en una dimensión: f (x + n a) = f (x) (n  Z)
2π i n x
análisis de Fourier: f (x) =  An e a
1
a
x
 f(x) e
n - 2π i n
An = a dx
a 0

Funciones periódicas en tres dimensiones:

    3 
f(r + T) = f(r) T =  ni ai
i=1
       

f(r) =  A g e gr
i 2π f(r+T) =  A g e gꞏ(r + T)
i 2π
representación de Fourier: g
g

  
i 2π gT
 
g e 1  gTZ

 3   3 *  

T =  mi a i g =  n ja j a i  a j  δij
*
i=1 j=1


g = L -1
g retículo recíproco
  
a *i  a j  δij
   
 a a  bc
a1*   2 3 a  
a1  (a 2  a 3 ) a  (b  c)
   
 a a  ca
a *2   3 1 b   
a1  (a 2  a 3 ) a  (b  c)
   
 a a  ab
a *3   1 2 c   
a1  (a 2  a 3 ) a  (b  c)

retículo cristalino espacio real

simetría de traslación
retículo recíproco espacio recíproco (Fourier)
  * 
- la red recíproca de la red recíproca es la red directa:  
a *i = a i
- el volumen de la celda unidad primitiva de la red recíproca es el inverso del
volumen de la celda unidad primitiva de la red directa::
   1
V  a1*  (a *2  a *3 ) 
*
cp
Vcp
- a cada familia de planos reticulares, de espaciado d,
le corresponde un conjunto de vectores de la red
recíproca, perpendiculares a los planos y módulo:
 n
gn =
d
- los índices de Miller de una familia de planos reticulares
son las componentes del vector recíproco de menor
módulo (n = 1) perpendicular a los planos de la familia
- la familia de planos reticulares de índices de Miller (h,k,l) es perpendicular
al vector de la red recíproca:  

g hkl = h a + k b* + l c*
*
(h,k,l, sin divisor común)
- si entre los planos de una familia de planos reticulares (h, k, l) intercalamos otros
planos de la misma orientación y espaciados d/n podemos asociar  a este
 nuevo
conjunto de planos (familia de planos cristalográficos) el vector g n  n g hkl
- los índices de Miller de la familia de planos cristalográficos de espaciado d/n son:
(nh, nk, nl) y son números enteros con un divisor común n
Condiciones de difracción por una red de centros puntuales
Intensidad dispersada por una distribución de centros dispersores
  2  - i  
kꞏr 3
2

I(k)  A(k)   ρ(r) e dr

    
red de centros puntuales: r m,n,p = m a + n b + p c = T
   2
- i kꞏT
I(k)   e
m,n,p

   
máximos de intensidad: k  2π g gꞏT = 1
  
  N si  k  2π g  G
I(  k )  
 0 si  k  G N >>
    
máximos de difracción: k  G  k  k  G
ecuaciones de Laue
condición necesaria y suficiente para la existencia
de intensidad difractada en una dirección
 Ley de Bragg
  
k  k  G   
2π    s s- s
(s- s) = 2π g 
λ 
  dhkl s
s- s  2 sen θ
 1
g h,k,l = λ = 2 d hkl sen θ
d hkl
Construcción de Ewald

  2π

k = k =
λ 
k 
G
haz 2 haz

incidente k O transmitido
2π
λ
esfera interferencial
(de Ewald)
Zonas de Brillouin
espacio real espacio recíproco
      dhkl
k  k  G  k  k  G
  2  
k = (k + G) = k + G + 2 k  G
2 2 2 
k
   plano bisector

2 k  G + G2 = 0 G h,k,l
 1  1

k  ( G) = ( G) 2 G hkl
2 2  
k -k

haz
incidente
haz
difractado

los extremos de k que satisfacen las ecuaciones

de Laue
se encuentran en los planos bisectores de G
 zona de Brillouin  celda de Wigner-Seitz de la red recíproca

  
Ej. red bidimensional cuadrada: T = m1 (a e1 ) + m2 (a e 2 )
 2π  
G= (n1 e1 + n 2 e*2 )
*

a
  
k = k1 e1 + k 2 e*2 )
*

 1  1
k  ( G) = ( G) 2
2 2

π 2
n 1k 1 + n 2 k 2 = (n1 + n 22 )
a
π π
1ª zona: k1 = ± k2 = ±
a a
2π
2ª zona: ± k1 ± k 2 = ±
a
red rectangular red hexagonal
Zonas de Brillouin de redes cúbicas

espacio real bcc fcc

espacio recíproco fcc bcc

Espectro de difracción de un sólido de base poliatómica
amplitud =   amplitud dispersada por un átomo
difractada celdas unidad átomos de la
del cristal celda unidad

direcciones de los interferencia constructiva

haces difractados de todas las celdas unidad

periodicidad del cristal

intensidad de los amplitud dispersada por los

haces difractados átomos de una celda unidad

base estructural

Las ecuaciones de Laue son condición necesaria pero no suficiente

para la existencia de haces difractados
Factor de estructura
amplitud dispersada por los átomos de una celda unidad
 - i Gꞏr 3 N   - i Gꞏr 3 N    - i Gꞏr 3
 ρ j (r) e d r
- i Gꞏr j
A G   ρ(r) e d r =   ρ j (r-r j ) e d r = e
Vc Vc j=1 j=1 Vat
 - i qꞏr 3
f j   ρ j (r) e d r factor atómico de dispersión
Vat

 N
 
- iGrj  N - 2π i (h x j + k y j + l z j )
F(G) =  f je F (G) =  f j e
j=1 j=1
    
G = 2 π g = 2 π (h a + k b + l c* )
* *

   
rj = x j a + y j b + z j c
   i (G)

F(G) magnitudes complejas F(G) = F(G) e

  2
Intensidad difractada : I(G)  F(G)


(G) ¿? "problema de la fase"
Condiciones de difracción por sólidos cristalinos
DISPERSORES PUNTUALES DISPERSORES NO PUNTUALES
intensidad idéntica intensidad decreciente
de todos los haces al aumentar el ángulo

SÓLIDO DE BASE MONOATÓMICA

condición necesaria y suficiente

ECUACIONES DE LAUE

SÓLIDO DE BASE POLIATÓMICA

condición necesaria pero no suficiente

ausencia de algunos haces previstos (I = 0)
intensidad “media” decreciente
al aumentar el ángulo
 Simetría y difracción

Operaciones puntuales  simetría del espectro de difracción

haces difractados de igual intensidad

Operaciones no puntuales  ausencias sistemáticas

intensidad nula de determinados haces

Ej. Celda centrada en el interior

xj, yj, zj  xj+1/2, yj+1/2, zj+1/2

 N - 2π i (h x j + k y j + l z j )
F (G) =  f j e 
j=1
N/2 - 2π i (h x j + k y j + l z j ) N/2 - 2π i [h (x j +1/2)+ k (y j +1/2) + l (z j +1/2)]
=  fj e   fj e =
j=1 j=1
N/2 - 2π i (h x j + k y j + l z j )
=  fj e [1  e- π i (h + k + l) ]
j=1


F (G) = 0 si h + k + l = 2n + 1
 Métodos experimentales de difracción
condición de difracción  ley de Bragg

λ  2 d hkl
λ = 2 d hkl sen θ
λ y/o θ variables

difracción de rayos X
método tipo de radiación tipo de muestra/situación

Laue policromática monocristal estático

cristal giratorio monocromática monocristal en rotación
Debye-Scherrer monocromática policristal estático
(polvo cristalino)
difractometría policromática policristal estático
dispersiva en energía (detector (MCA) fijo)
 Método de Laue

Construcción de Ewald
Método del cristal giratorio
Método Debye-Scherrer

2
2θ (º)
Difracción de electrones

λ = 2 d hkl sen θ

 <<   <<
sen   

λ ≈ 2 d hkl θ
Difracción e información estructural

direcciones de grupo de
los haces traslación

simetría grupo
Espectro de del espectro puntual
difracción grupo
espacial
ausencia de operaciones
tipos de haces no puntuales

intensidades base
relativas estructural
 Imágenes estructurales

silicio (111)
talocianina de Cu

Superconductor de
alta temperatura