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CAPITULO
C O N T R O L D I G I T A L / P R O F . S A T U R N O S A R M I E N T O

Conceptos Básicos y
Terminologías

A
Quí discutiremos una serie de conceptos básicos, terminologías y
herramientas de análisis, que son de suma importancia para
desarrollar la asignatura. También definiremos el problema objeto de
nuestro estudio.

Palabras - Clave

Señal analógica, señal discreta y señal digital.


Control analógico y control digital.
Referencia o comando.
Algoritmo de control, Ecuación En Diferencia Lineal.
Muestreador.
Mantenedor.
Convertidor A/D y convertidor D/A.
Portadora y Moduladora.

Mecanismo de conversion Mecanismo de conversion


Ano log ico − Digital Digital − Ana log ico

R( s ) E (s) U C (s) PLANTA Y ( s)


COMPUTADOR D/ A HOLD
HOLD A/ D O
+ T E.E.D.L. T PROCESO

B( s ) Sensor
Transmisor

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C A P I T U L O 1 : C O N C E P T O S B Á S I C O S Y T E R M I N O L O G Í A S

1. INTRODUCCIÓN A LOS SISTEMAS DE CONTROL


DIGITAL.

1.1. DEFINICIÓN DEL PROBLEMA.


El estudio de control digital que desarrollaremos es, principalmente, para sistemas de control
de lazo cerrado (Feedback Control Systems), en los cuales la respuesta dinámica del proceso
a controlar es nuestra mayor consideración en el diseño

Una estructura típica del sistema de control que ocupará nuestra mayor atención es mostrada
en la figura N° 1-1. Esta figura nos ayudará a definir la notación básica que usaremos, y
permitirá introducir varias características que distinguiremos en control digital en
comparación con control continuo.

p L (t )
Mecanis mo d e control

PC PLANTA y (t )
r ( KT ) e( KT ) uC ( KT ) uC (t )
COMPUTADOR DIGITAL
E.E.D.L.
D/ A O
+ PROCESO

Reloj

b( KT ) b(t ) Sensor
A/ D Transmisor

n(t )
FIG. N ° 1 −1: Sistema de control tipico a estudiar

Notación:

r : Señal de referencia o comando, entrada del sistema


uC : Señal de control
y : Variable controlada, señal de salida del sistema
e : Señal de error del sistema
pL : Señal de perturbación en la planta
n : Señal de ruido en el sensor
PC : Computador digital, donde reside el algoritmo de control
A/D : Convertidor analógico-digital
D/A : Convertidor digital-analógico

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El proceso a ser controlado, algunas veces referido como planta, puede ser cualquier proceso
físico industrial conocido, cuya Respuesta Satisfactoria requiera “Acción de Control”.

Por RESPUESTA SATISFACTORIA entendemos que la salida de la planta sea forzada a


seguir (Track) la señal de referencia r(t) a pesar de la presencia de perturbaciones en la planta
pL(t) y a pesar de ruidos n(t) en el sensor. También es esencial que dicho seguimiento ocurra
aun si la dinámica de la planta debe cambiar durante la operación.

El proceso de mantener la salida y(t) muy cercana a la referencia r(t), incluyendo el caso
donde r = 0, es referido por lo general como proceso de REGULACIÓN.

Un sistema que tiene buena regulación, aun en presencia de señales de perturbación, se dice
que tiene buen RECHAZO DE PERTURBACIONES.

Un sistema que tiene buena regulación en la fase de cambios en los parámetros de la planta
se dice que tiene BAJA SENSIBILIDAD a estos parámetros.

Un sistema que tiene ambas cosas buenas, es decir, un buen rechazo a las perturbaciones y
una buena sensibilidad ante los cambios de los parámetros de la planta es llamado sistema
ROBUSTO.

En el computador, generalmente, reside un algoritmo de control en forma de ECUACIÓN


EN DIFERENCIA LINEAL (E.E.D.L.), la cual representa la correspondiente LEY DE
CONTROL a usar para conseguir el fin deseado: que y(t) sea forzada a seguir r(t). A este
dispositivo lo llamaremos CONTROLADOR.

El tiempo que tarda el computador en adquirir los datos del proceso, almacenar estos datos
en memoria, ejecutar el algoritmo de control en cuestión y dar respuesta al proceso es
conocido como PERIODO DE MUESTREO T.

Un sistema de control discreto puede tener un periodo de muestreo fijo o variable. Si T es


variable entonces el sistema será de muestreo Asincrónico.

El CONVERTIDOR A/D actúa sobre una variable física, un voltaje o una corriente
eléctrica, en nuestro caso sobre la salida del SENSOR, transformando dicha señal en un
CÓDIGO NUMÉRICO, el cual es enviado al computador. A este código numérico
también se le conoce como SEÑAL QUANTIZADA.

El significado de señal quantizada está relacionado con el hecho de que la representación de


la señal tiene un número finito de dígitos.

Desde la acción llevada a cabo en el convertidor A/D (acción de muestreo periódico) se


puede concluir que algunas de las señales existentes en un sistema de control varían solo en
el instante de muestreo. A estas señales se les llama SEÑALES DISCRETAS y a los
sistemas en los cuales ellas están presentes se les llama SISTEMAS DE CONTROL DE
TIEMPO DISCRETO.

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El CONVERTIDOR D/A actúa sobre una señal digital, la cual es el resultado de la


ejecución del algoritmo de control (ejecución llevada a cabo por el computador). La salida
del convertidor D/A es enviada al elemento final de control en forma de señal analógica a
fin de ejercer una acción correctiva sobre la VARIABLE CONTROLADA.

Un sistema de control que tiene tanto señales continuas como señales discretas,
generalmente, es llamado SISTEMA DE DATOS MUESTREADOS.

1.2. SEÑALES ENCONTRADAS EN LOS SISTEMAS DE


CONTROL DE DATOS MUESTREADOS.
Las señales más comunes encontradas en los sistemas de control de datos muestreados pueden
ser descritas en términos de sus características de tiempo y amplitud, las cuales son:

□ Amplitud Continua y Tiempo Continuo: C-C.

□ Amplitud Continua y Tiempo Discreto: C-D.

□ Amplitud Discreta y Tiempo Discreto: D-D.

□ Amplitud Discreta y Tiempo Continuo: D-C.

Usaremos la figura N° 1-2 para explicar las señales que se encuentran en los sistemas de control
de datos muestreados.

Mecanismo de conversion Mecanismo de conversion


Ano log ico − Digital Digital − Ana log ico

uC ( KT ) uC * (t ) uC (t ) PLANTA y (t )
r (t ) e(t ) e *(t ) e( KT ) COMPUTADOR HOLD O
HOLD A / D
C −C + T C−D D−D E . E . D. L. D−D T D−D D −C PROCESO C −C

C −C Sensor
Transmisor

FIG. N ° 1− 2: SEÑALES Y DISPOSITIVOS MAS COMUNES USADOS EN UN SISTEMA DE CONTROL DE DATOS MUESTREADOS

1.2.1 SEÑAL ANALÓGICA DE AMPLITUD CONTINUA Y TIEMPO CONTINUO:


C-C.

Es una señal que está definida en un rango continuo de tiempo. Tanto la amplitud como el
tiempo son continuos. Dentro del rango, entre un valor y otro, siempre existirá un nuevo valor.

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e(t )

t
T 3T 4T

FIG. N° 1-3: Señal analógica de amplitud continua y tiempo continuo.

1.2.2 SEÑAL ANALÓGICA DE AMPLITUD CONTINUA Y TIEMPO DISCRETO


(SEÑAL MUESTREADA): C-D.

Es una señal definida solamente en instantes discretos de tiempo, en la cual la amplitud puede
asumir cualquier valor. A esta señal también se le llama Señal de Datos Muestreados.

En este tipo de señal se dice que la variable tiempo está QUANTIZADA, es decir, está
representada por un conjunto de valores distintos (un código numérico).

e *(t )

t
T 3T 4T

FIG. N° 1-4: Señal de datos muestreada de amplitud continua y tiempo discreto. El símbolo *
significa señal muestreada.

1.2.3. SEÑAL DIGITAL DE AMPLITUD DISCRETA Y TIEMPO DISCRETO: D-D.

Es una señal definida solamente en instantes discretos de tiempo, en la cual la amplitud puede
asumir ciertos valores distintos. A esta señal también se le llama Señal Digital.

En este tipo de señal se dice que tanto el tiempo como la amplitud de la señal están quantizados,
es decir, esta señal puede ser representada por una secuencia de números (código numérico).

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e( KT ) r5
r3
r1
r0

t
T 3T 5T

FIG. N° 1-5: Señal digital. r1, r2, …., r6 son valores quantizados.

El conversor A/D quantiza la señal e*(t) produciendo la salida e(KT), de tal forma que esta puede
ser solo una de un número finito de valores dentro de un rango específico de valores. Este
fenómeno se debe, entre otras cosas, a la longitud finita de palabra del computador.

Ejemplo: un conversor A/D de 8 bits puede quantizar una señal analógica, que varia entre 0 y 10
VDC, en un set de 256 valores distintos. Sea e(t) = x, donde x = {cualquier valor real positivo
entre 0 y 10 VDC para todo t > 0}. Los valores quantizados de x son:

e(KT) = {0; 0.0390625; 0.078125; 0.1171875; 0.15625; ….; 0.390625; ….; 3.90625; ….; 7.8125;
….; 9.9609375}. Estos valores equivalen a los primeros cinco valores, al décimo valor, al valor
número 100, al valor número 200 y al valor número 255.

En la práctica muchas señales digitales se obtienen muestreando señales analógicas y luego


quantizandolas. La figura 1-6 muestra el proceso de quantización.

Señal analogica e(t ) Conversor A / D Señal digital e( KT )


8 bits

Señal de control
desde un computador
e(KT ) 11101110

r
r 5 e(3T )
3

r1

r0

t
T 3T 5T
FIG. N° 1-6: Proceso de conversión de una señal analógica a digital.

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1.2.4. SEÑAL DIGITAL DE AMPLITUD DISCRETA Y TIEMPO DISCRETO: D-D.

Esta señal es de características similares a la anterior, pero se supone que ha sido procesada por el
computador. En esencia es el resultado que entrega el computador como señal de control.

El computador digital en si mismo manipula el valor quantizado e(KT) (código numérico) y


genera otro de amplitud discreta y tiempo discreto uC(KT) como señal de control.

e( KT )
c1 c3
c0
c5

t
T 3T 5T

FIG. N° 1-7: Señal digital. C1, c2, …., c6 son valores quantizados.

1.2.5. SEÑAL ANALÓGICA DE AMPLITUD DISCRETA Y TIEMPO CONTINUO:


D-C.

Es una señal cuya amplitud está quantizada, pero el tiempo es continuo, es decir, valores
específicos de amplitud existen en todo instante de tiempo.

Finalmente el conversor D/A transforma uC(KT) en una señal analógica uC(t) del tipo D-C, que es
enviada al elemento final de control para tomar una acción correctiva sobre la variable controlada.

uC (t )

t
T 3T 5T

FIG. N° 1-8: Señal analógica de amplitud discreta y tiempo continuo.

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1.2.6. PROCESO DE QUANTIZACIÓN.

Es el proceso mediante el cual se representa una variable por un set de valores distintos.

f (t )

t
T 3T 5T

FIG. N° 1-9: Señal quantizada en amplitud discreta y tiempo continuo.

1.2.7. MUESTREO O DISCRETIZACIÓN (Sampling or Discretization).

Es la operación que transforma señales de tiempo continuo en datos de tiempo discreto


(secuencia de números).

e(t ) e *(t )
T

FIG. N° 1-10: Símbolo de un mecanismo de muestreo de datos.

1.2.8. MANTENEDOR DE DATOS (Data-Hold).

Es la operación que transforma los datos de tiempo discreto (secuencia de números) en señales de
tiempo continuo.

uC *(t ) uC (t )
HOLD

FIG. N° 1-11: Símbolo de un mecanismo mantenedor de datos.

1.2.9. CODIFICACIÓN (Coding or Encoding = S/H & A/D).

Es el proceso de convertir una señal de tiempo continuo en una secuencia de números


codificados numéricamente. Esta operación es realizada por un proceso de conversión A/D.

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Mecanismo de conversion
Ano log ico − Digital

e(t ) e( KT )
HOLD A/ D
T

FIG. N° 1-12: Símbolo de un mecanismo de Codificación de datos.

1.2.10. DECODIFICACIÓN (Decoding = D/A & Hold).

Es el proceso de convertir una secuencia de números, codificados numéricamente, en una señal


analógica. Esta operación es realizada por un proceso de conversión D/A.

Mecanismo de conversion
Digital − Ana log ico

uC ( KT ) uC (t )
D / A HOLD
T

FIG. N° 1-13: Símbolo de un mecanismo de Decodificación de datos.

1.2.11. MUESTREO Y RETENCIÓN (Sampling & Hold).

Es un dispositivo que recibe una señal de entrada analógica y la mantiene en un valor constante
por un período específico de tiempo.

e *(t )
Rs +
Switch
e0 (t ) +
es (t )
HOLD es (t ) C e0 (t )
T
e * (t ) Re loj


FIG. N° 1-14: Mecanismo de muestreo y retención de datos.

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1.2.12. CONVERSORES A/D.

Son dispositivos que convierten señales analógicas en señales digitales. Usualmente en una señal
codificada numéricamente.

e(t ) e( KT )
A/ D

FIG. N° 1-15: Símbolo de un dispositivo de conversión analógico-digital.

1.2.13. CONVERSORES D/A.

Son dispositivos que convierten señales digitales (datos codificados numéricamente) en señales
analógicas.

uC ( KT ) e(t )
D/ A

FIG. N° 1-16: Símbolo de un dispositivo de conversión digital- analógico.

1.2.14. PLANTA.

Es cualquier objeto físico a ser controlado.

F0

h1 F
1

F2
h2

FIG. N° 1-17: Tanques de almacenamiento y descarga de líquidos.

1.2.15. PROCESO.

Es la operación que debe ser controlada.

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Ejemplo de proceso: la operación de intercambio de calor, la cual consiste en calentar un fluido


desde una temperatura inicial de entrada al sistema hasta una temperatura de salida deseada.

Vapor

T0SP ( s ), [°C ]
Válvula TIC
Elemento final de control 11

 Kg  mA
FV ( s ),  
 seg  TIT
 Kg  11
mV T0 ( s ), [°C ]
FW ( s ),  
Fluido que se  seg  Fluido
procesa TAMBOR Procesado
Ti ( s ), [°C ] Termoelemento

TRAMPA L, [ m ]
DE
VAPOR

RETORNO DE
CONDENSADO

FIG. N° 1-18: Intercambiador de calor.

1.2.16. TRANSDUCTOR.

Es un dispositivo que transforma una señal de entrada, la cual se recibe con unas características
determinadas, en una señal de salida que por lo general tiene otras características diferentes a
como se recibió la señal.

y (t ) x(t )
Transductor

FIG. N° 1-19: Representación general de un transductor.

1.2.17. SISTEMAS DE CONTROL DE TIEMPO CONTINUO.

Son aquellos sistemas de control en los cuales todas sus variables son de tiempo continuo. Su
elemento fundamental con el cual se construye el controlador es el amplificador operacional
(OPAM). El algoritmo de control por lo general se describe mediante una ecuación diferencial
ordinaria lineal (E.D.O.L.).

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R( s) E (s) U C ( s)
CONTROLADOR ELEMENTO FINAL W ( s ) Y ( s)
PLANTA
+ OPAM DE CONTROL

SENSOR
TRANSMISOR

FIG. N° 1-20: Diagrama de bloques de un sistema de control continuo.

1.2.18. SISTEMAS DE CONTROL DE TIEMPO DISCRETO.

Son aquellos sistemas de control en los cuales una o más variables pueden cambiar solamente en
un instante discreto de tiempo. Estos instantes se denotan, en forma general, como KT ∴ K = 0,
1, 2, 3, …., y pueden significar las veces en las cuales se realiza una medición física. Aquí T se le
llama período de muestreo. El elemento fundamental con el cual se construye el controlador,
desde el punto de vista de hardware, es el microprocesador. El algoritmo de control puede ser
descrito mediante ecuaciones en diferencial lineal (E.E.D.L.).
p L (t )

r (t ) e(t ) uC (t ) PLANTA y (t )
COMPUTADOR DIGITAL
A/ D E.E.D.L.
D/ A O
+ PROCESO

Reloj

b(t ) Sensor
Transmisor

n(t )

FIG. N° 1-21: Diagrama de bloques de un sistema de control digital.

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1.2.19. SISTEMAS DE CONTROL DE TIEMPO DISCRETO Vs SISTEMAS


CONTROL DE TIEMPO CONTINUO.

Control Digital Control Continuo


1.-El elemento central es el µ P . 1.-El elemento central es el OPAM.
2.-Los algoritmos son elaborados usando 2.-Los algoritmos son elaborados usando
software. hardware, por lo cual son fijos.
3.-Los algoritmos pueden ser descritos 3.-Los algoritmos pueden ser descritos
mediante E.E.D.L. mediante E.D.O.L.
4.-Puede realizar cálculos complejos fuera de lo 4.-No realiza cálculos complejos fuera de lo
tradicional. tradicional.
5.-Permite elaborar estructuras de control 5.-Solo permite elaborar estructuras de control
alternativas a los tradicionales PID, tales como: tradicional tal como PID, LAG, LEAD.
algebraicas, adaptativas, fuzzy, neuronales, etc.
6.-Herramienta matemática de análisis: la 6.-Herramienta matemática de análisis: la
Transformada Z. Transformada de LAPLACE.
7.-Bajos costos en función de más capacidad. 7.-Altos costos en función de menos capacidad.

1.3. DISPOSITIVOS ENCONTRADAS EN LOS SISTEMAS


DE CONTROL DE DATOS MUESTREADOS.
Los dispositivos más comunes encontrados en los sistemas de control de datos muestreados
pueden ser descritos en términos de la función que realizan. De acuerdo a esto tenemos:

□ Muestreador.

□ Conversor A/D.

□ Conversor D/A.

□ Mantenedor.

Centraremos nuestro estudio en el muestreador y el mantenedor.

1.3.1 MUESTREADOR DE ANCHO DE PULSO FINITO.

Existen varios esquemas de muestreo. Iniciaremos nuestro análisis usando el muestreador de


Ancho de Pulso Finito (APF).

Definición 1-1: Un muestreador APF es un dispositivo físico que convierte una señal analógica
en un tren de pulsos modulados en amplitud.

Muestrear una señal continua, en esencia, es tomar valores de ella en instantes específicos de
tiempo.

Definición 1-2: Un MODULADOR es un dispositivo que hace variar la amplitud, la frecuencia


o la fase de la onda portadora.

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La figura 1-22 muestra una representación en D.B. equivalente de un muestreador como un


modulador de amplitud de pulso.

El muestreador de la figura 1-22 típicamente tiene salidas que son pulsos de ancho constante y
amplitud variable como función de la amplitud de la entrada en el instante de muestreo.

Señal portadora p (t )

f (t ) f p* (t )
Señal continua Modulador De Ancho
mod ulante De Pulso Finito

FIG. N° 1-22: Modulador de amplitud de pulso como un muestreador.

Aquí p(t) es un tren de pulsos de duración p, y representa la señal portadora en el proceso de


modulación. p(t) puede ser expresada como :

p (t ) = ∑ [u(t − KT ) − u (t − KT − p)]∴ p < T
i =−∞
(1.1).

f(t) es una señal continua y representa la señal modulante en el proceso de modulación. Se asume
que f (t ) = 0 ∀ t < 0 . De acuerdo a esto la salida del muestreador APF puede ser expresada
como:

f p* (t ) = f (t ) p(t ) (1.2).

Sustituyendo (1.1) en (1.2) tenemos:



f p* (t ) = f (t ) ∑ [u (t − KT ) − u (t − KT − p) ]∴ p < T ∧ K ∈ Z + (1.3).
K =−∞

(1.3) da una descripción en el dominio temporal, de la relación de entrada-salida, de un


muestreador APF tal como fue definido. Aquí f p∗ (t ) es la señal muestreada y el símbolo * denota
la acción de muestreo.

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f (t )

t
T 2T 3T 4T
p(t )

p
1

T t

f p* (t )

t
T 2T 3T 4T

FIG. N° 1-23: Formas de ondas típicas encontradas en un muestreador de APF.

La figura 1-24 muestra la representación en D.B. de un muestreador periódico con duración de


muestreo finito.

El pulso o duración de muestreo es “p” y el período de muestreo es “T”. La característica de


duración de muestreo finito de un muestreador debe ser considerada si el valor de “p” no es
despreciable.

f (t ) f p* (t )
T ( p)

FIG. N° 1-24: Muestreador periódico con duración de muestreo finito.

CONSIDERANDO 1-1:

Si la duración de muestreo “p” es mucho más pequeña que el período de muestreo “T” y que la
constante de tiempo más pequeña de la señal f(t), entonces la salida del muestreador APF, f*p(t), se
puede aproximar por una secuencia de pulsos de ancho muy pequeño (literalmente una secuencia
de pulsos muy delgados), esto debido a que la variación de f(t) en la duración del muestreo no será
significativa. Basados en esto, f*p(t) puede ser escrita como:

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f p* (t ) ≅ p ∑ f ( KT )δ (t − KT ) (1.4).
K =0

Donde δ (t ) es la función de impulso unitario. Tomando la Transformada de LAPLACE (TL) de


la Ec. (1.4) tenemos:

F ( s ) ≅ p ∑ f ( KT )e− KTS (1.5).
K =0

La Ec. (1.4) es reconocida como un tren de impulsos con potencia igual a “pf(KT)” en t = KT.

1.3.2 MUESTREADOR IDEAL.

Ahora definiremos el muestreador ideal el cual nos permitirá hacer análisis lineal en los sistemas
de control de datos muestreados.

Definición 1-3: El muestreador ideal es un muestreador que cierra y abre instantáneamente, cada
T unidades de tiempo, en una duración de tiempo cero.

La figura 1-25 muestra la representación de un muestreador ideal, tal como ha sido definido.

f (t ) f * (t)
T

FIG. N° 1-25: Representación de un muestreador ideal.

Aquí f*(t) es la señal muestreada y el símbolo * denota la acción de muestreo.

El muestreador ideal representado en la figura 1-25 también es conocido como un


MODULADOR DE IMPULSO. Este concepto de modulación se muestra en la figura 1-26.

δ T (t )

f (t ) Modulador f *(t )
De
Impulso

FIG. N° 1-26: Representación de un muestreador ideal como un modulador de impulso.

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Aquí δ T (t ) es la señal portadora en el proceso de modulación y viene expresada como:


δ T (t ) = ∑ δ (t − KT ) = δ (t ) + δ (t − T ) + δ (t − 2T ) + ... (1.6).
K =0

y f(t) es la señal modulante, la cual se asume como cero para todo t<0.

De acuerdo a esto la salida del muestreador ideal, f*(t), vista desde el concepto del
MODULADOR DE IMPULSO, puede ser expresada como:

f *(t ) = f (t )δ T (t ) = ∑ f ( KT )δ (t − KT ) (1.7).
K =0

A la Ec. (1.7) se le conoce como la transformada muestreada en el dominio temporal, como un


tren de impulsos, de la función f(t).

Al desarrollar la Ec. (1.7) tenemos lo siguiente:

f *(t ) = f (0)δ (t ) + f (T )δ (t − T ) + f (2T )δ (t − 2T ) + .... (1.8).

De la Ec. (1.8) queda claramente establecido el concepto del modulador de impulso.

Tomando la TL de la Ec. (1.7) tenemos que:



F *( s ) = ∑ f ( KT )e − KTS (1.9).
K =0

Las ecuaciones (1.7) y (1.9) representan las expresiones para la función muestreada en el dominio
temporal y en el dominio “S” respectivamente. La Ec. (1.9) se le conoce como la
TRANSFORMADA MUESTREADA DE LAPLACE, como un tren de impulsos, de la
función f(t) y se abreviará como T*.

Si comparamos la Ec. (1.4) con la Ec. (1.7) y la Ec. (1.5) con la Ec. (1.9) y aceptamos que se
cumple el considerando 1-1, entonces podemos aproximar el muestreador APF, representado en
la figura 1-22 y la figura 1-24, por un muestreador ideal conectado en serie con un atenuador de
atenuación “p”. La situación equivalente es ilustrada en la figura 1-8.

f p* (t ) f (t ) ≅ f p* (t )

f (t ) f *(t )
p
T ( p) T
Muestreador
Ideal
a.) b.)

FIG. N° 1-27: a.) Muestreador APF. b.) Muestreador ideal conectado en serie con un atenuador
“p”. a.) y b.) son equivalentes si se cumple el considerando 1-1.

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Las señales típicas de un muestreador ideal, tanto de entrada como de salida, se ilustran en la
figura 1-28.

f (t )

t
T 2T 3T 4T
δ T (t )

T 2T 3T 4T t

f *(t )

t
T 2T 3T 4T

FIG. N° 1-29: Señales típicas de un muestreador ideal.

La magnitud de los impulsos de salida es igual al valor de la señal de entrada en el instante de


muestreo.

En la figura 1-30 se dan tres representaciones equivalentes, en D.B., del muestreador ideal.

δ T (t )

f *(t ) f *(t ) f (t ) Modulador f *(t )



f (t )

f (t )
De
T δ T (t )
Im pulso

FIG. N° 1-30: Representaciones equivalentes de un muestreador ideal.

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1.3.3 EVALUACIÓN DE LA FUNCIÓN MUESTREADA.

La función muestreada puede ser evaluada como una serie infinita de acuerdo a la Ec. (1.9). Sin
embargo si se desea tener F*(s) en “forma cerrada” (como una formula) podemos evaluarla de la
siguiente manera:

1.3.3.1. PARA CUANDO NO HAY RETARDOS DE TIEMPO:

 1 
F *( s) = ∑
en los polos
residuos de F (λ ) 1 − e −T ( S −λ )  (1.10).
de F ( λ )

Aquí se presentan dos casos:

a.) Para polos simples:

 1 
K i = ( λ − pi ) F ( λ ) −T ( S −λ ) 
(1.11).
 1− e  λ= p i

b.) Para polos múltiples de multiplicidad r:

1  d  
r −1
 1
 r −1 ( λ − p j ) F ( λ )
j
r
Kj =
j

−T ( S −λ )  
(1.12).
( rj − 1)!  d λ  j
1− e  
λ= p j

1.3.3.2. CUANDO HAY RETARDOS DE TIEMPO, EN SITUACIONES


ESPECIALES DONDE f(t) ES RETRAZADA UN # ENTERO DE
PERÍODOS DE MUESTREO.

Sea f (t ) = f1 (t − t0 )u (t − t0 ) ⇔ F ( s ) = e −t0 S F1 ( s) ∴ t0 es un multiplo entero de T . De


acuerdo a esto se tiene que:

[e − KTS
]*
F1 ( s ) = e − KTS ∑
 1 
residuos de F1 (λ ) 1 − e −T ( S −λ )  ∴ K ∈ Ζ
+
(1.13).
en los polos
de F1 ( λ )

1.3.4 PROPIEDADES DE LA FUNCIÓN MUESTREADA.

Ya se definió en la Ec. (1-9) la función muestreada. Para esta función citaremos dos propiedades:

Propiedad 1-1: F*(s) es una función periódica en S con período jωS.



F * ( s + jmω S ) = ∑ f ( KT )e − KTS = F * ( s ) (1.14).
K =0

Aquí ωS es la frecuencia de muestreo y m es un entero.

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C A P I T U L O 1 : C O N C E P T O S B Á S I C O S Y T E R M I N O L O G Í A S

Si analizamos el espectro de amplitud de las señales de entrada y salida de un muestreador ideal


veremos que la señal muestreada es periódica. De acuerdo a esto el muestreador puede ser
considerado como un generador de armónicos cuya salida contiene la componente fundamental
más todas las componentes suplementarias en todas las frecuencias, separadas por la frecuencia de
muestreo ωS. Esto puede observarse en la figura 1-31, donde ωC es la componente de frecuencia
más alta contenida en f(t).

F ( jω )

ωS ωS ω
− ωS ωS − ωC ωC
a.) − 2
2
F * ( jω ) = F [ j (ω ± mω S ] / T

1
T

− ωS ωS − ωC ωC ωS ωS ω
b.) −
2 2
Componente Componente Componente
Complementaria Fundamental Complementaria

FIG. 1-31: a.) Espectro de amplitud de la entrada continua f(t) limitada en banda. b.) Espectro de
amplitud de la salida muestreada. ω S > 2ωC .

Propiedad 1-2: Si la función F(s) tiene un polo en S=S1, luego F*(s) tiene polos en S=S1+jmωS.

Aquí ωS es la frecuencia de muestreo y m es un entero.

Observación 1-1: No se puede enunciar una propiedad equivalente a la propiedad 2 para el caso
de los ceros. Esto es, la localización de los ceros de F(s) no necesariamente determina la
localización de los ceros de F*(s). Sin embargo, la localización de los ceros es periódica con
período jωS tal como fue establecido por la propiedad 1.

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C A P I T U L O 1 : C O N C E P T O S B Á S I C O S Y T E R M I N O L O G Í A S

1.3.5 TEOREMA DEL MUESTREO DE SHANNON.

Para reconstruir una señal continua original f(t) desde una señal muestreada (a partir de sus
muestras) f*(t), hay una cierta frecuencia mínima que la operación de muestreo debe satisfacer. Tal
frecuencia mínima se especifica en el teorema del muestreo de Shannon. Para enunciar este
teorema asumiremos que la señal continua f(t) no contiene ninguna componente de frecuencia
mayor que ωC rad/seg. y que además tiene un espectro de frecuencia como el de la figura 1-31.

Teorema 1-1: Una señal continua f(t) que no contenga componentes de frecuencia mayores que
ωC rad/seg. (limitada en banda) puede ser reconstruida totalmente desde la señal muestreada f*(t)
si la frecuencia de muestreo ωS es superior a 2ωC. De acuerdo a esto se establece que:

ω S > 2ωC (1.15).


ωS = = 2π f S (1.16).
T

Donde:

ωS es la frecuencia angular de muestreo en rad/seg.

fS es la frecuencia de muestreo en Hz.

T es el período de muestreo.

ωC es la componente de frecuencia más alta presente en la señal de tiempo continuo f(t).

Basándose en el teorema de Shannon se hace el siguiente interrogante: ¿Cómo es afectada la


estabilidad de un sistema de control digital por la frecuencia de muestreo?. La respuesta a
esta pregunta es:

“Una baja frecuencia de muestreo normalmente tiene un efecto detrimental sobre la


estabilidad del sistema de control digital de lazo cerrado”.

1.3.6 ELECCIÓN DEL PERÍODO DE MUESTREO.

La elección adecuada del período de muestreo depende, entre otras cosas, de lo siguiente:

□ De las propiedades de la señal.

□ Del método de reconstrucción usado.

□ De la finalidad del sistema.

Por ejemplo, para procesamiento de señales se justifica la toma de varios cientos de muestras por
período de la señal (en el orden de las 300 muestras).

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En aplicaciones para sistemas de control de datos muestreados la elección del período de


muestreo, por lo general, se basa en lo siguiente:

□ Ruido, ambiente.

□ Precisión

□ Capacidad de hardware del computador: Velocidad de procesamiento y longitud de palabra.

□ En el conocimiento de la influencia de las características del sistema de control (parámetros).

Se elegirá el período de muestreo basándose en el valor de ciertos parámetros de la respuesta del


sistema o sobre la base del valor de ciertos parámetros de la F.T. modelo del proceso.

1.3.6.1 ELECCIÓN DEL PERÍODO DE MUESTREO EN BASE A tr.

Se define el tiempo de subida del sistema, tr, como el tiempo que tarda la respuesta temporal del
sistema en lazo cerrado, ante el escalón unitario, en ir desde el 10% hasta el 90% de su valor de
estado estable. De acuerdo a esto se establece que:

tr
T= (1.17).
10

1.3.6.2 ELECCIÓN DEL PERÍODO DE MUESTREO EN BASE A τ .

Se define la constante de tiempo del sistema, τ , como la constante de tiempo más grande que el
sistema tenga. Si el sistema es modelado como:

K (τ 3 S + 1)e − t0 S
GP ( s ) = (1.18).
(τ 1S + 1)(τ 2 S + 1)

Donde K es la ganancia del sistema, τ x (x=1, 2, 3) representa las constantes de tiempo del sistema,
t0 el tiempo muerto del sistema y se sabe que τ 1 > τ 2 > τ 3 . De acuerdo a esto se establece que:

τ1
T= (1.19).
10

Observe que la Ec. (1-18) es un modelo general y a partir de ella podemos llegar a diferentes
modelos.

1.3.6.3 ELECCIÓN DEL PERÍODO DE MUESTREO EN BASE A t0 .

Se define el tiempo muerto del sistema, t0, como el tiempo que tarda el sistema en responder a un
cambio en su referencia. Si el sistema es modela como:

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C A P I T U L O 1 : C O N C E P T O S B Á S I C O S Y T E R M I N O L O G Í A S

Ke − t0 S
GP ( s ) = (1.20).
(τ S + 1)

Donde K es la ganancia del sistema y τ la constante de tiempo del sistema, entonces se establece
que:

t0
T= (1.21).
10

La Ec. (1.21) también puede aplicarse si se considera la Ec. (1.18).

1.3.6.4 ELECCIÓN DEL PERÍODO DE MUESTREO EN BASE AL ANCHO DE


BANDA DEL SISTEMA.

El ancho de banda (AB) de un sistema de control de lazo cerrado es la frecuencia en la cual la


magnitud M ( jω ) cae al 70.7% de, o (-3) dB por debajo de, su valor de frecuencia cero.
También puede definirse AB como la frecuencia máxima a la cual la salida de un sistema rastreará
una entrada sinusoidal de manera satisfactoria.

Si elegimos el período de muestreo basándonos en el ancho de banda del sistema, se establece


que:

“Generalmente, si se trata de la digitalización de controladores continuos, la razón de


muestreo debe ser más rápida que 30 veces el ancho de banda del sistema para asegurar
que el controlador digital tenga un desempeño tan cercano al desempeño del controlador
continuo”. Lo dicho aquí nos lleva a establecer que:

ωS > 30 AB (1.22).

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