NANOTECNOLOGIA Y APLICACIONES EN LAS MEDICIONES
John Stiven Obregon Angulo (1763661-2710)
Materia de MEDICIONES ELECTRICAS
Universidad Del Valle – sede Palmira
I. Historia de la Nanotecnología
Uno de los pioneros en el campo de la
Nanotecnología es el Físico estadounidense Richard
Feynman, que en el año 1959 en un congreso de la
sociedad americana de Física en Calltech, pronunció
el discurso “There’s Plenty of Room at the Bottom”
(Hay mucho espacio ahí abajo) en el que describe un
proceso que permitiría manipular átomos y
moléculas en forma individual, a través de
instrumentos de gran precisión, de esta forma se
podrían diseñar y construir sistemas en la nanoescala,
átomo por átomo, en este discurso Feynman también
advierte que las propiedades de estos sistemas
nanométricos, serían distintas a las presentes en la
macro escala.
En 1981, el ingeniero norteamericano Eric Drexler,
inspirado en el discurso de Feynman, publica en la
revista Proceedings of the National Academy of
Sciences, el artículo “Molecular engineering: An
approach to the development of general capabilities
for molecular manipulation” en donde describe con
más detalle lo avanzado en años anteriores por
Feynman. El término “Nanotecnología” fue aplicado
por primera vez por Drexler en el año 1986, en su
libro “Motores de la creación: la próxima era de la
Nanotecnología” en la que describe una máquina
nanotecnológica con capacidad de autorreplicarse, en
este contexto propuso el término de “plaga gris”, para
referirse a lo que sucedería si un nano Bot auto
replicante fuera liberado en el ambiente.
Además de Drexler, el científico japonés Norio
Taniguchi, utilizó por primera vez el término nano-
tecnología en el año 1974, en la que define a la nano-
tecnología como el procesamiento, separación y
manipulación de materiales átomo por átomo.
II. ¿QUÉ ES LA NANOTECNOLOGÍA?
Esta rama tecnológica manipula la estructura
molecular de los materiales para cambiar sus
propiedades intrínsecas y obtener otros con
aplicaciones revolucionarias. Es el caso del grafeno
—carbono modificado más duro que el acero, más
ligero que el aluminio y casi transparente— o las
nanopartículas que se emplean en áreas como la
electrónica, la energía, la biomedicina o la defensa.
Es el diseño, creación, síntesis, manipulación y
aplicación de materiales, aparatos y sistemas
funcionales a escala nanométrica, lo que significa
que están a escala de una mil millonésima parte de
un metro (10^-9).
La materia, al ser manipulada a la escala tan
diminuta, se comporta de manera inesperada y
adopta propiedades totalmente nuevas. Por esta
razón, los científicos utilizan la nanotecnología para
desarrollar materiales y sistemas novedosos y poco
costosos con propiedades únicas.
Richard Feynman, quien fue premio Nobel de Física,
es considerado el padre de la "nanociencia”. En 1959
propuso elaborar productos basados en un
reordenamiento de átomos y moléculas.
La Nanotecnología no se define dependiendo del tipo
de sistema en estudio, sino con base en la escala
(nanoescala), esto le permite ser de carácter
transversal y tener aplicaciones en todas las
actividades del quehacer humano, como medio
ambiente, sector energético, medicina, electrónica,
exploración espacial, construcción, agricultura,
cosmética, etcétera. Es por ello que el impacto de la
nanotecnología en nuestra sociedad es muy grande, y
existe consenso en que la nanotecnología dará origen
a la revolución industrial del siglo XXI, tal como lo
dijo Charles M. Vest’s (expresidente del MIT
(Massachusetts Institute of Technology) en un
discurso del año 2001.
III. APLICACIONES DE LA
NANOTECNOLOGÍA
• En el Medio Ambiente. El desarrollo de
materiales, energías y procesos no
contaminantes, tratamiento de aguas
residuales, desalinización de agua,
descontaminación de suelos, tratamiento de
residuos, reciclaje de sustancias,
nanosensores para la detección de sustancias
químicas dañinas o gases tóxicos, son
algunas de las aplicaciones de la
nanotecnología en el medio ambiente.
• En la Energía. En cuanto al sector energético,
se buscará mejorar los sistemas de
producción y almacenamiento de energía, en
especial las renovables, como la energía
solar, o basadas en el Hidrógeno; también
tecnologías que disminuyan el consumo de
energía por medio del desarrollo de
innovadores aislantes térmicos más eficientes
basados en nanomateriales.
• En la Medicina. Nanomedicina es el nombre
que se le da a las aplicaciones de la
Nanotecnología enfocadas a la Medicina, y
en esta área encontramos el desarrollo de
nano transportadores de fármacos dirigidos a
sitios específicos del cuerpo, que pueden ser
útiles en el tratamiento del cáncer u otras
enfermedades; biosensores moleculares con
la capacidad de detectar alguna sustancia de
interés como glucosa o un biomarcador de
alguna enfermedad, nanobots programados
para reconocer y destruir células tumorales o
bien reparar algún tejido como el tejido óseo
a raíz de un fractura, nanopartículas con
propiedades antisépticas y desinfectantes,
etcétera.
• En las tecnologías de la comunicación e
informática. En este rubro abarcan el
desarrollo de sistemas de almacenamiento de
datos con mayor capacidad y reduciendo su
actual tamaño, pantallas basadas en
materiales con mayor flexibilidad u otras
propiedades como transparencia, así como el
desarrollo de la computación cuántica.
IV. LA NANOMETROLOGÍA
Ilustración 1(Investigación en nano metrología de
próxima generación del NIST .)
La nanometrología es un subcampo de la metrología,
que se ocupa de la ciencia de la medición a nivel de
nanoescala. La nanometrología tiene un papel crucial
para producir nanomateriales y dispositivos con un
alto grado de precisión y fiabilidad en la nano
fabricación.
Un desafío en este campo es desarrollar o crear
nuevas técnicas y estándares de medición para
satisfacer las necesidades de la fabricación avanzada
de próxima generación, que se basará en materiales y
tecnologías a escala nanométrica. Las necesidades de
medición y caracterización de nuevas estructuras y
características de muestras superan con creces las
capacidades de la ciencia de medición actual. Los
avances anticipados en las industrias emergentes de
nanotecnología de EE. UU. Requerirán una
metrología revolucionaria con mayor resolución y
precisión de lo que se había previsto anteriormente.
La nanometrología es un subcampo de la metrología,
que se ocupa de la ciencia de la medición a nivel de
nanoescala. La nanometrología tiene un papel crucial
para producir nanomateriales y dispositivos con un
alto grado de precisión y fiabilidad en la
nanofabricación.
Un desafío en este campo es desarrollar o crear
nuevas técnicas y estándares de medición para
satisfacer las necesidades de la fabricación avanzada
de próxima generación, que se basará en materiales y
tecnologías a escala nanométrica. Las necesidades de
medición y caracterización de nuevas estructuras y
características de muestras superan con creces las
capacidades de la ciencia de medición actual. Los
avances anticipados en las industrias emergentes de
nanotecnología de EE. UU. Requerirán una
metrología revolucionaria con mayor resolución y
precisión de lo que se había previsto anteriormente.
Ilustración 2(Microscopio electrónico de barrido)
V. NECESIDADES DE DESARROLLO
La nanotecnología se puede dividir en dos ramas. La
primera es la nanotecnología molecular que implica
la fabricación de abajo hacia arriba y la segunda es la
nanotecnología de ingeniería que implica el
desarrollo y procesamiento de materiales y sistemas
a nanoescala. Las herramientas y técnicas de
medición y fabricación necesarias para las dos ramas
son ligeramente diferentes.
Además, los requisitos de nanometrología son
diferentes para la industria y las instituciones de
investigación. La nanometrología de la investigación
ha progresado más rápido que la de la industria,
principalmente porque la implementación de la
nanometrología para la industria es difícil. En la
nanometrología orientada a la investigación, la
resolución es importante, mientras que en la
nanometrología industrial la precisión tiene prioridad
sobre la resolución. Además, debido a razones
económicas, es importante tener bajos costos de
tiempo en nanometrología industrial, no es
importante para la nanometrología de investigación.
Las diversas técnicas de medición disponibles en la
actualidad requieren un entorno controlado como en
un entorno sin vacío, vibración y ruido. Además, en
nanometrología industrial se requiere que las
medidas sean más cuantitativas con un número
mínimo de parámetros.
VI. Estándares
A. Estándares internacionales
Los estándares de metrología son objetos o ideas que
se designan como autorizados por alguna razón
aceptada. Cualquiera que sea el valor que posean, es
útil para compararlos con las incógnitas con el fin de
establecer o confirmar un valor asignado con base en
el estándar. La ejecución de comparaciones de
medición con el propósito de establecer la relación
entre un estándar y algún otro dispositivo de
medición es calibración. El estándar ideal es
reproducible independientemente sin incertidumbre.
Se prevé que el mercado mundial de productos con
aplicaciones de nanotecnología sea de al menos un
par de cientos de miles de millones de dólares en un
futuro próximo. Hasta hace poco, casi no existían
estándares establecidos internacionalmente
aceptados para el campo relacionado con la
nanotecnología. El Comité Técnico de
Nanotecnología de la Organización Internacional de
Normalización TC-229 publicó recientemente
algunos estándares de terminología, caracterización
de nanomateriales y nanopartículas utilizando
herramientas de medición como AFM, SEM,
interferómetros, herramientas opto acústicas,
métodos de adsorción de gases, etc. Ciertos
estándares para la estandarización de mediciones Las
propiedades han sido publicadas por la Comisión
Electrotécnica Internacional. Algunos estándares
importantes que aún no se han establecido son los
estándares para medir el espesor de películas o capas
delgadas, la caracterización de las características de
la superficie, los estándares para la medición de la fenómenos físicos observados en interacciones de
fuerza a nanoescala, los estándares para la partículas o fuerzas a nanoescala. Algunas de las
caracterización de dimensiones críticas de técnicas más utilizadas son la microscopía de fuerza
nanopartículas y nanoestructuras y también los atómica, la difracción de rayos X, la microscopía
estándares para la medición de propiedades físicas. electrónica de barrido, la microscopía electrónica de
como conductividad, elasticidad, etc. transmisión, la microscopía electrónica de
transmisión de alta resolución y la microscopía
electrónica de barrido por emisión de campo.
B. Estándares nacionales
Debido a la importancia de la nanotecnología en el
Un microscopio de fuerza atómica
futuro, los países de todo el mundo tienen programas
para establecer estándares nacionales de
nanometrología y nanotecnología. Estos programas
están a cargo de las agencias nacionales de
normalización de los respectivos países. En los
Estados Unidos, el Instituto Nacional de Estándares
y Tecnología ha estado trabajando en el desarrollo de
nuevas técnicas de medición a nanoescala y también
ha establecido algunos estándares nacionales para la
nanotecnología. Estos estándares son para
caracterización de nanopartículas, caracterización de
rugosidad, estándar de aumento, estándares de
calibración, etc. Ilustración 3(Diagrama de bloques del microscopio
de fuerza atómica.)

La microscopía de fuerza atómica (AFM) es una de

C. Calibración las técnicas de medición más comunes. Se puede
Es difícil proporcionar muestras que utilicen utilizar para medir topología, tamaño de grano,
instrumentos de precisión que puedan calibrarse a características de fricción y diferentes fuerzas.
nanoescala. Los estándares de referencia o Consiste en un voladizo de silicio con una punta
calibración son importantes para garantizar la afilada con un radio de curvatura de algunos
repetibilidad. Pero no existen estándares nanómetros. La punta se utiliza como sonda en la
internacionales para la calibración y los artefactos de muestra que se va a medir. Las fuerzas que actúan a
calibración proporcionados por la empresa junto con nivel atómico entre la punta y la superficie de la
su equipo solo son buenos para calibrar ese equipo muestra hacen que la punta se desvíe y esta
en particular. Por lo tanto, es difícil seleccionar un desviación se detecta utilizando un punto láser que se
artefacto de calibración universal con el que refleja en una serie de fotodiodos.
podamos lograr la repetibilidad a nanoescala. A
nanoescala, mientras se calibra, se debe tener
cuidado con la influencia de factores externos como
la vibración, el ruido, los movimientos causados por
la deriva térmica y la fluencia, el comportamiento no
lineal y la histéresis del escáner piezoeléctrico y
factores internos como la interacción entre el
artefacto y el equipo que pueden causar desviaciones
significativas. En los últimos 70 años se han
desarrollado diversas técnicas de medición a
nanoescala. La mayoría de ellos se basan en algunos
Un microscopio de túnel de barrido
Ilustración 4(Diagrama del microscopio de túnel de
barrido.)
La microscopía de túnel de barrido (STM) es otro
instrumento de uso común. Se utiliza para medir la
topología tridimensional de la muestra. El STM se
basa en el concepto de túnel cuántico. Cuando una
punta conductora se acerca mucho a la superficie que
se va a examinar, una polarización (diferencia de
voltaje) aplicada entre los dos puede permitir que los
electrones atraviesen el vacío entre ellos. Las
mediciones se realizan monitoreando la corriente
mientras la posición de la punta escanea a través de
la superficie, que luego se puede usar para mostrar
una imagen.
Otro instrumento comúnmente utilizado es la
microscopía electrónica de barrido (SEM) que
además de medir la forma y tamaño de las partículas
y la topografía de la superficie se puede utilizar para
determinar la composición de elementos y
compuestos de los que está compuesta la muestra. En
SEM, la superficie de la muestra se escanea con un
haz de electrones de alta energía. Los electrones del
haz interactúan con los átomos de la muestra y las
interacciones se detectan mediante detectores. Las
interacciones que se producen son retrodispersión de
electrones, transmisión de electrones, electrones
secundarios, etc. Para eliminar electrones de alto
ángulo se utilizan lentes magnéticos.
Los instrumentos mencionados anteriormente
producen imágenes realistas de la superficie y son
excelentes herramientas de medición para la
investigación. Las aplicaciones industriales de la
nanotecnología requieren que las mediciones que se
produzcan sean más cuantitativas. El requisito en
nanometrología industrial es una mayor precisión
que la resolución en comparación con la
nanometrología de investigación.
D. Máquina de medición de nano
coordenadas
Una máquina de medición de coordenadas (CMM)
que funciona a nanoescala tendría un marco más
pequeño que el CMM utilizado para objetos de
macro escala. Esto es así porque puede proporcionar
la rigidez y la estabilidad necesarias para lograr
incertidumbres a nanoescala en las direcciones x, y,
z. Las sondas para una máquina de este tipo deben
ser pequeñas para permitir una medición en 3D de las
características nanométricas desde los lados y desde
el interior, como nano agujeros. También para la
precisión es necesario utilizar interferómetros láser.
NIST ha desarrollado un instrumento de medición de
superficies, llamado Máquina de Medición
Molecular. Este instrumento es básicamente un
STM. Los ejes x e y se leen mediante interferómetros
láser. Las moléculas en el área de la superficie se
pueden identificar individualmente y al mismo
tiempo se puede determinar la distancia entre dos
moléculas cualesquiera. Para medir con resolución
molecular, los tiempos de medición se vuelven muy
grandes incluso para una superficie muy pequeña.
Ilmenau Machine es otra máquina nanométrica
desarrollada por investigadores de la Universidad
Tecnológica de Ilmenau.
Los componentes de una nano CMM incluyen nano
sondas, hardware de control, plataforma de nano
posicionamiento 3D e instrumentos con alta
resolución y precisión para medición lineal y
angular.
 Espectroscopia de Espectroscopia
polarización electrónica Auger

Microscopía
Dispersión de neutrones en
electrónica de
ángulo pequeño
barrido

Voltamperometría de
Voltametría cíclica
barrido lineal

Resonancia magnética Espectroscopía de

nuclear Mössbauer
Ilustración 5(Metrología dimensional usando
CMM.)
Espectroscopia infrarroja
Espectroscopía de
por transformada de
fotoluminiscencia
E. Lista de algunas de las técnicas de Fourier
medición
Espectroscopía de Calorimetría
electroluminiscencia diferencial de barrido
Tipo

Espectrometría de masas de Microscopía de

Fuerza atómica iones secundarios interferencia
microscópica: Se utiliza una
sonda mecánica precisa Dispersión de rayos X
para analizar las de ángulo pequeño Espectroscopía de
irregularidades de la Interferometría láser
catodoluminiscencia
superficie.

Espectroscopía de pérdida Difracción de

Difracción de rayos X: Una de energía de electrones neutrones
estructura cristalina hace
que los rayos X diverjan, Microscopía de túnel
usando el ángulo de estas de barrido
difracciones, se pueden Espectroscopia de rayos X Espectroscopía de
determinar las mediciones de energía dispersiva molécula única

Espectroscopía de Escaneo de
Sonda de cuatro puntos y
absorción de rayos X Los Microscopio de microscopía óptica de
técnica IV
electrones del núcleo se transmisión por campo cercano
excitan mediante rayos X y electrones
se miden sus transiciones.
Espectroscopía de
fotoelectrones de rayos X
Espectroscopia de Espectroscopía
capacitancia Raman
 VII. TRAZABILIDAD de control más importante es la precisión posicional de los
componentes en el sustrato.
En metrología a macroescala, lograr la trazabilidad es
bastante fácil y se utilizan artefactos como escalas, En la integración monolítica, todos los pasos del proceso
interferómetros láser, medidores de pasos y bordes rectos. de fabricación están integrados en un solo sustrato y, por
A nanoescala, una superficie de grafito pirolítico lo tanto, no se requiere el acoplamiento de componentes
cristalino altamente orientado (HOPG), mica o silicio se o ensamblaje. La ventaja de esta técnica es que las
considera adecuada como artefacto de calibración para medidas geométricas ya no son de importancia primordial
lograr la trazabilidad. Pero no siempre es posible para lograr la funcionalidad del nanosistema o el control
garantizar la trazabilidad. Como lo que es un borde recto del proceso de fabricación
a nanoescala e incluso si toma el mismo estándar que para
macroescala, no hay forma de calibrarlo con precisión a
nanoescala. Esto es así porque los estándares de referencia
requeridos internacional o nacionalmente aceptados no
siempre están ahí. Además, no se ha desarrollado el
equipo de medición necesario para garantizar la
trazabilidad. Los utilizados generalmente para la
trazabilidad son la miniaturización de los estándares de
metrología tradicionales, por lo que existe la necesidad de
establecer estándares a nanoescala. También es necesario
establecer algún tipo de modelo de estimación de la
incertidumbre. La trazabilidad es uno de los requisitos
fundamentales para la fabricación y montaje de productos
Ilustración 6(" Circuito integrado " realizado mediante técnica de
cuando hay varios productores. integración monolítica.)

VIII. TOLERANCIA
X. CLASIFICACIÓN DE
La tolerancia es el límite permisible o los límites de NANOESTRUCTURAS
variación en las dimensiones, propiedades o condiciones
sin afectar significativamente el funcionamiento del
Hay una variedad de nanoestructuras como
equipo o un proceso. Las tolerancias se especifican para
nanocompuestos, nanocables, nanopolvos, nanotubos,
permitir un margen razonable para las imperfecciones y la
nanofibras de fullerenos, nanocajas, nanocristalitos,
variabilidad inherente sin comprometer el rendimiento.
nanoagujas, nanoespuma, nanoespuma, nanopartículas,
En nanotecnología, los sistemas tienen dimensiones en el
nanopilares, películas delgadas, nanovarillas, nanotejidos,
rango de los nanómetros. Definir tolerancias a nanoescala
puntos cuánticos, etc. La forma más común de clasificar
con estándares de calibración adecuados para la
nanoestructuras es por sus dimensiones.
trazabilidad es difícil para diferentes métodos de
nanofabricación. Existen varias técnicas de integración
desarrolladas en la industria de los semiconductores que
se utilizan en la nanofabricación.

IX. TÉCNICAS DE INTEGRACIÓN

En la heterointegración se realiza la fabricación directa de
nanosistemas a partir de sustratos compuestos. Se
requieren tolerancias geométricas para lograr la
funcionalidad del conjunto.
En la integración híbrida, los nano componentes se
colocan o ensamblan en un sustrato para fabricar
nanosistemas funcionales. En esta técnica, el parámetro
Clasificación dimensional se supone que la forma de las partículas de nanopolvo es
esférica.
Dimensiones Criterios Ejemplos

La nanoestructura D = 6 / (ρ * A)
Cero tiene todas las
dimensional (0- dimensiones en el
Nanopartículas, puntos Donde "D" es el diámetro efectivo, "ρ" es la densidad y
rango cuánticos , nanodots "A" es el área de superficie encontrada con el método
D)
nanométrico. BET.

Una dimensión de
Unidimensional la nanoestructura Nanocables , nanobarras , XI. BIBLIOGRAFIA
está fuera del
(1-D) rango nanotubos
nanométrico.
▪ https://es.qwe.wiki/wiki/Nanometrology
Dos dimensiones
de la
▪ https://nanotecnologo.com/que-es-la-
Bidimensional nanoestructura Recubrimientos, nanotecnologia/#:~:text=Por%20definici
(2-D) están fuera del multicapas de película fina %C3%B3n%2C%20la%20Nanotecnolog
rango %C3%ADa%2C%20es,una%20mil%20
nanométrico. millon%C3%A9sima%20parte%20de
▪ https://www.iberdrola.com/innovacion/ap
Tres dimensiones
de la
licaciones-nanotecnologia
Tridimensional nanoestructura ▪ https://www.ugto.mx/revistaenjambre/ga
Abultar
(3-D) están fuera del mers/372-la-nanotecnologia-y-sus-
rango aplicaciones
nanométrico.

Ilustración 7(SEM de nanoalambres.)

Clasificación de la estructura del grano

Las nanoestructuras se pueden clasificar en función de la
estructura del grano y el tamaño que las componen. Esto
es aplicable en el caso de nanoestructuras bidimensionales
y tridimensionales.
Medición de superficie
Para que el nanopolvo determine el área de superficie
específica, se usa comúnmente el método BET. Se mide
la caída de presión de nitrógeno en un recipiente cerrado
debido a la adsorción de las moléculas de nitrógeno a la
superficie del material insertado en el recipiente. Además,