Tema 4: Difracción de rayos X

DOCENTE: Mg. Karina Zúñiga Huanca

Escuela profesional
INGENIERIA Periodo académico: 2020-A
Semestre: I
TELECOMUNICACIONES
 ANALISIS POR RAYOS X
ANÁLISIS DE LAS ESTRUCTURAS CRISTALINAS

El conocimiento actual de las estructuras cristalinas o la

identificación de las mismas se ha obtenido
principalmente por la técnica de difracción de rayos X
que utiliza radiación de aproximadamente la misma
longitud de onda que la distancia entre los planos de la
red cristalina.
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DIFRACCION DE RAYOS X
▪ Es el resultado de la dispersión de la radiación producida por un
arreglo regular de centros dispersores cuyo espaciamiento es
aproximadamente el mismo que la longitud de onda de la radiación.
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DIFRACCION DE RAYOS X
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DIFRACCION DE RAYOS X
• Cuando un haz monocromático (de una sola longitud de
onda) del mismo orden de magnitud que el espaciamiento
atómico del material golpea, los rayos X se dispersan en
todas direcciones.
• La mayor parte de la radiación dispersa por un átomo
anula la dispersada por otros átomos. Sin embargo, los
rayos X que golpean ciertos planos cristalográficos en
ángulos específicos se ven reforzados en vez de
eliminados. Este fenómeno se conoce como difracción.
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DIFRACCION DE RAYOS X
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DIFRACCION DE RAYOS X
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Fig. Equipo de Difracción de Rayos X

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DIFRACCION DE RAYOS X
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DIFRACCION DE RAYOS X
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DIFRACCION DE RAYOS X
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DIFRACCION DE RAYOS X

Los valores de dhkl, para compuestos estándar están tabulados,

disponibles en microfichas o CD-ROOM en el sistema
ICDD(JPCDS) de la Unión Internacional de Cristalografía.
En la caracterización de arcillas, el elevado contenido de cuarzo y
su facilidad de orientarse, resultan en picos bien definidos y de alta
intensidad, perjudicando muchas veces, la identificación y
caracterización de las demás fases.
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DIFRACCION DE RAYOS X
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DIFRACCION DE RAYOS X
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DIFRACCION DE RAYOS X
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DIFRACCION DE RAYOS X
Para identificar la estructura cristalina de un material cúbico, se anota el
patrón de las líneas de difracción, típicamente , mediante la creación de una
tabla de valores del 𝑆𝑖𝑛2 Ɵ.
BIBLIOGRAFIA

• FUNDAMENTOS DE LA CIENCIA E INGENIERÍA DE MATERIALES, WILLIAM F. SMITH

• CIENCIA E INGENIERÍA DE LOS MATERIALES, DONALD ASKELAND

• CIENCIA E INGENIERÍA DE LOS MATERIALES , CALLISTER

• PAPER Y OTROS DOCUMENTOS