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Diapositiva 10
Diapositiva 11
Así la intensidad del haz difractado depende de la disposición geométrica de los átomos y
de la clase de átomos presentes. Esto hace que cada sustancia cristalina presente su propio
espectro de difracción y éste sea una auténtica “huella dactilar” del mismo, permitiendo su
identificación en cualquier mezcla donde esté presente.
Diapositiva 14
Por ejemplo, un análisis convencional de una muestra podría decir que tiene oxígeno y
silicio, pero a partir de la difracción de rayos X podemos determinar la clase de óxido de
silicio (cuarzo, cristobalita, tridimita, etc.). Así mismo, el estudio teórico del espectro de
difracción de un nuevo compuesto permite la determinación de su estructura.