SOLUCIÓN PRACTICA N°1

1. Realizar un análisis no paramétrico de la Fiabilidad del dispositivo, calculando la variación

temporal de su Fiabilidad, Infiabilidad, función de densidad del tiempo hasta el fallo y tasa de
fallo.
Nota:

L(t): numero de dispositivos que duro el tiempo t.

R(t): fiabilidad
F(t): infiabilidad

 En la siguiente Tabla, se indican los valores de R(t) y F(t) para la población analizada.

t L(t) D(t) R(t) F(t)

0 20 0 1 0
1 19 1 0.95 0.05
2 18 2 0.9 0.1
3 16 4 0.8 0.2
11 15 5 0.75 0.25
16 14 6 0.7 0.3
24 13 7 0.65 0.35
25 12 8 0.6 0.4
26 11 9 0.55 0.45
31 10 10 0.5 0.5
34 9 11 0.45 0.55
35 8 12 0.4 0.6
36 7 13 0.35 0.65
37 6 14 0.3 0.7
42 5 15 0.25 0.75
43 4 16 0.2 0.8
44 3 17 0.15 0.85
46 2 18 0.1 0.9
48 1 19 0.05 0.95
49 0 20 0 1
 Función de densidad del tiempo hasta el fallo.

t L(t) D(t) R(t) F(t) f(t)

0 20 0 1 0 0.05
1 19 1 0.95 0.05 0.05
2 18 2 0.9 0.1 0.10
3 16 4 0.8 0.2 0.01
11 15 5 0.75 0.25 0.01
16 14 6 0.7 0.3 0.01
24 13 7 0.65 0.35 0.05
25 12 8 0.6 0.4 0.05
26 11 9 0.55 0.45 0.01
31 10 10 0.5 0.5 0.02
34 9 11 0.45 0.55 0.05
35 8 12 0.4 0.6 0.05
36 7 13 0.35 0.65 0.05
37 6 14 0.3 0.7 0.01
42 5 15 0.25 0.75 0.05
43 4 16 0.2 0.8 0.05
44 3 17 0.15 0.85 0.03
46 2 18 0.1 0.9 0.03
48 1 19 0.05 0.95 0.05
49 0 20 0 1 0.02
  Tasa de fallo

t f(t) F(t) λ (t)

0 0.05 0.00 0.05
1 0.05 0.05 0.05
2 0.10 0.10 0.11
3 0.01 0.20 0.01
11 0.01 0.25 0.01
16 0.01 0.30 0.01
24 0.05 0.35 0.08
25 0.05 0.40 0.08
26 0.01 0.45 0.02
31 0.02 0.50 0.03
34 0.05 0.55 0.11
35 0.05 0.60 0.13
36 0.05 0.65 0.14
37 0.01 0.70 0.03
42 0.05 0.75 0.20
43 0.05 0.80 0.25
44 0.03 0.85 0.17
46 0.03 0.90 0.25
48 0.05 0.95 1.00

2. Calcular su MTTF y la Fiabilidad del dispositivo en t=22 días, t=24 días, t=27.5 días y t=52 días.

(1 + 2 + 3 + 3 + 1 + 16 + 24 + 25 + 26 + 31 + 34 + 35 + 36 + 37 + 42 + 43 + 44 + 46 + 48)
𝑀𝑇𝑇𝐹 =
20
𝑀𝑇𝑇𝐹 = 27.8

𝑅(𝑡=22) = 0.70

𝑅(𝑡=24) = 0.65

𝑅(𝑡=27.5) = 0.55

𝑅(𝑡=52) = 0.0

3. Obtener una ecuación analítica de la Fiabilidad del dispositivo en cuestión mediante el modelo de la
distribución de Weibull de dos parámetros

Cálculo de parámetros:
 j tj F(j) % F(j)
1 1 0.0343 3.4314
2 2 0.0833 8.3333
3 3 0.1324 13.2353
4 3 0.1814 18.1373
5 11 0.2304 23.0392
6 16 0.2794 27.9412
7 24 0.3284 32.8431
8 25 0.3775 37.7451
9 26 0.4265 42.6471
10 31 0.4755 47.5490
11 34 0.5245 52.4510
12 35 0.5735 57.3529
13 36 0.6225 62.2549
14 37 0.6716 67.1569
15 42 0.7206 72.0588 𝜂: Tiempo para
16 43 0.7696 76.9608 el cual puede
fallar el 63.2%
17 44 0.8186 81.8627
18 46 0.8676 86.7647
19 48 0.9167 91.6667
20 49 0.9657 96.5686

β:1.71
𝑡−𝛾 𝛽
−( )
𝑅𝑡 = 𝑒 𝜂 ; 𝛾 = 0; 𝛽 = 1.71; 𝜂 = 35.5
𝑡 1.71
𝑅𝑡 = 𝑒 −(35.5)
4. Calcular la fiabilidad del dispositivo en t=22 días, t=24 días, t=27,5 días y t=52 días.

Reemplazando para cada uno de los valores se tiene lo siguiente:

𝑅22 = 0.64 ; 𝑅27.5 = 0.52 ; 𝑅52 = 0.15

5. Determinar el instante en el que la Fiabilidad del dispositivo vale 0,37.
𝑡 1.71
−( )
0.37 = 𝑒 35.5

𝑡 1.71
𝐿𝑛(0.37) = −( )
35.5
𝑡 1.71
𝐿𝑛(0.37) = −( )
35.5
𝑡 = 35.38