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Consultores:
John Fredy Triana Navarro 1611980064
Carlos puerchambud ladin1331980040
Fabián Rodríguez pacheco 1621980721
Alejandro Rey 1711981592
Páez Gutiérrez Luis Felipe 172198071
El proceso industrial de la empresa que se estudia en el caso está conformado por Entidades como
las Waffers y los 3 soportes AK. Los recursos son las estaciones Cleaning, Oxidation, Lithography, Ion
Implantation, Etching, Photoresist Strip así como una máquina para cada una de estas, la relación
que se da se hace por medio de las bandas transportadoras que inteconectan cada estación, se
asignan dos operarios que tiene una velocidad de 20 metros por minuto si llevan carga adicional y
40 metros por minuto si no tienen carga. Los atributos relacionados al planteamiento del modelo son
los tiempos: de llegada de Ak al sistema, su debido ensamble con la Waffer, la llegada de este
conjunto a cada estación, tiempo de operación en cada estación y el tiempo final de operación
en cada estación. Los supuestos nos dicen que cada estación esta separada una de la otra a 10
metros, excepto la sexta Photoresist Strip de Cleaning ya que su distancia es el doble es decir 20
metros, la distancia de Phtoresist Strip al almacen de Waffers es de 40 metros. En restricciones
tenemos que las maquinas funcionan 24 horas los 7 dias de la semana, solo paran para un
mantenimiento cada 24 horas el cual puede ser simultaneo y su duración es de 15 minutos a 30
minutos.
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Representación Gráfica
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Análisis de datos de entrada
Tiempo de Montaje
Histograma:
Tabla 1. Resumen planteamiento prueba de bondad de ajuste para tiempo de servicio en la estación de Montaje
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Tiempo Estación 1 (Cleaning)
Histograma:
Tiempo de Montaje
Número de datos analizados 5001
Mínimo 0.2
Máximo 8.9
Promedio 1.99
Desviación Estándar 1.16
Hipótesis Nula Distribución Erlang
Nivel de significancia (a) 0.05
Grados de libertad (g.l) 24
P-value << 0.005
Parámetros de la distribución ERLA(0.664, 3)
Conclusión
Con un error cuadrado de 0.001473 entre las distribuciones
continuas la que mejor se ajusta a los datos del tiempo de
Montaje es la distribución Erlang con parámetros (0.664, 3)
Tabla 2. Resumen planteamiento prueba de bondad de ajuste para tiempo de servicio en la estación de Cleaning
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Tiempo Estación 2 (Oxidation)
Histograma:
Oxidation
Número de datos analizados 5001
Mínimo 1.5
Máximo 3
Promedio 2.17
Desviación Estándar 0.312
Hipótesis Nula Distribución Erlang
Nivel de significancia (a) 0.15
Grados de libertad (g.l) 34
P-value < 0.01
Parámetros de la distribución 1.34 + ERLA(0.138, 6)
Conclusión Con un error cuadrado de 0.033795 entre las distribuciones
continuas la que mejor se ajusta a los datos del tiempo de
Montaje es la distribución Erlang con parámetros (0.138, 6)
Tabla 3. Resumen planteamiento prueba de bondad de ajuste para tiempo de servicio en la estación de Oxidation
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Tiempo Estación 3 (Lithography)
Histograma:
Lithography
Número de datos analizados 5001
Mínimo 0
Máximo 0.4
Promedio 0.228
Desviación Estándar 0.0645
Hipótesis Nula Distribución Gamma
Nivel de significancia (a) 0.05
Grados de libertad (g.l) 30
P-value < 0.01
Parámetros de la distribución -0.001 + GAMM(0.0226, 10.1)
Conclusión Con un error cuadrado de 0.240823entre las distribuciones
continuas la que mejor se ajusta a los datos del tiempo de
Montaje es la distribución Gamma con parámetros (0.0226, 10.1)
Tabla 5. Resumen planteamiento prueba de bondad de ajuste para tiempo de servicio en la estación de Lithography
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Tiempo Estación 4 (Etching)
Histograma:
Etching
Número de datos analizados 5001
Mínimo 0.7
Máximo 3.2
Promedio 2
Desviación Estándar 0.336
Hipótesis Nula Distribución Normal
Nivel de significancia (a) 0.05
Grados de libertad (g.l) 24
P-value < 0.005
Parámetros de la distribución NORM(2, 0.336)
Conclusión Con un error cuadrado de 0.014682 entre las distribuciones
continuas la que mejor se ajusta a los datos del tiempo de
Montaje es la distribución Normal con parámetros (2, 0.336)
Tabla 6. Resumen planteamiento prueba de bondad de ajuste para tiempo de servicio en la estación de Etching
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Tiempo Estación 5 (Ion implantation)
Histograma:
Ion implantation
Número de datos analizados 5001
Mínimo 0.9
Máximo 2.1
Promedio 1.5
Desviación Estándar 0.172
Hipótesis Nula Distribución normal
Nivel de significancia (a) 0.05
Grados de libertad (g.l) 25
P-value < 0.01
Parámetros de la distribución NORM(1.5, 0.172)
Conclusión Con un error cuadrado de 0.049722entre las distribuciones
continuas la que mejor se ajusta a los datos del tiempo de
Montaje es la distribución Normal con parámetros (1.5, 0.172)
Tabla 7. Resumen planteamiento prueba de bondad de ajuste para tiempo de servicio en la estación de Ion Implantation
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Gráfico 8. Histograma del tiempo de servicio en la estación de Photoresist Strip
Photoresist Strip
Número de datos analizados 5001
Mínimo 2
Máximo 3
Promedio 2.5
Desviación Estándar 0.294
Hipótesis Nula Distribución Beta
Nivel de significancia (a) 0.05
Grados de libertad (g.l) 37
P-value < 0.005
Parámetros de la distribución 1.89 + 1.22 * BETA(1.67, 1.64)
Conclusión Con un error cuadrado de 0.051839 entre las distribuciones
continuas la que mejor se ajusta a los datos del tiempo de
Montaje es la distribución Beta con parámetros (1.67, 1.64)
Tabla 8. Resumen planteamiento prueba de bondad de ajuste para tiempo de servicio en la estación de Photoresist Strip
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Montaje Estación 1 Estación 2 Estación 3 Estación 4 Estación 5 Estación 6
(seg) (seg) (seg) (seg) (seg) (seg) (seg)
Distribución Normal Gamma Triangular Weibull Normal Normal Uniforme
Parámetros (45,12) (40,3) (90,120,180) (15,5) (120,20) (90,10) (80,120)
Tabla 1. Resumen planteamiento prueba de bondad de ajuste para tiempo de servicio en las 3 estaciones del sistema actual
Módulo de Arena
Descripción del Módulo Empleado
Empleado
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Módulo de Arena
Descripción del Módulo Empleado
Empleado
Resource, son los distintos recursos que se utilizan en los procesos, es decir 6
máquinas y dos trabajadores
Tabla 2. Descripción de los módulos empleados en la construcción del modelo de simulación del sistema actual .
Referencias
Walpole, R. E., Myers, R. H., & Myers, S. L. (1999). Probabilidad y estadística para ingenieros. Pearson
Educación.
Pedrosa, I., Juarros-Basterretxea, J., Robles-Fernández, A., Basteiro, J., & García-Cueto, E. (2015).
Pruebas de bondad de ajuste en distribuciones simétricas,¿ qué estadístico utilizar?. Universitas
Psychologica, 14(1), 245-254.
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