13.

Se supone que la cobertura de una prueba en el proceso de verificación de un

semiconductor tiene una eficacia del 80% Esto es, la probabilidad de que un chip
defectuoso no pase la prueba es 0.8. Se someten a prueba tres chips. Supóngase que
la falla en cada chip defectuoso es independiente de las que aparezcan en otras
pruebas. Sea la variable aleatoria x el número de chips defectuosos que no pasan la
prueba. ¿Cuál es el valor esperado de x?

SOLUCION:

X: Número de chips que pasan la prueba.

S X f(x)
PPP 0 0.008
PPF 1 0.032
PFP 1 0.032
PFF 2 0.128
FPP 1 0.032
FPF 2 0.128
FFP 2 0.128
FFF 3 0.512

Distribución de frecuencias:

0.6

0.5 0.512

0.4
0.384

0.3

0.2

0.1 0.096

00.008
0 0.5 1 1.5 2 2.5 3 3.5

X 0 1 2 3
f(x) 0.008 0.096 0.384 0.512
M= 0(0.008)+1(0.096)+2(0.384)+3(0.512)
M=2.4