TAREA (Fecha de entrega 10 de abril de 2019)

1. (Valor 1.0)
Una celda de concentración Zn/Zn2+ es construida con ambos electrodos de cinc
puro. La concentración de Zn2+ para media celda es 1.0 M, para la otra es 10-2 M
¿Se genera un voltaje entre las dos mitades? ¿Si se genera, cuanto es y cual
electrodo se oxida? Si no se genera voltaje, explique porque.

2. (Valor 1.0)
a) Enumere dos técnicas de caracterización de propiedades mecánicas.

Resistencia a la abrasión: Propiedad que permite a un material resistir y mantener

su apariencia original al ser frotado con otro objeto; cualidad muy importante en
materiales de pavimentación y revestimiento. (Arquitectura y Construcción, 2019)
Dureza: es la oposición que ofrecen los materiales a alteraciones físicas como la
penetración, la abrasión y el rayado.

b) Enumere dos técnicas que permitan determinar si un material es o no cristalino.

Difracción de rayos X: A partir de la posición angular, la intensidad y la forma de

los máximos de difracción en un patrón de difracción de rayos X de polvos (figura
1), se puede obtener información estructural del sólido cristalino que se estudia,
tomando en cuenta: a) la posición angular: parámetros de celda, sistema cristalino,
grupo espacial de simetría, b) la intensidad: estructura cristalina, posiciones
atómicas, factores térmicos y de ocupación y c) el ancho: información
microestructural, tamaño de cristalita, tensiones. (Materiales Avanzados, 2019)

c) Enumere dos técnicas para caracterización química de metales.

Colorimetría: que implica reacciones en disolución con formación en color y la

comparación subsiguiente de intensidades de haces de luz visible, transmitidos a
través de la solución, que se analiza con una serie de soluciones estándares con
una gradación establecida de color.

Análisis volumétrico (o dosificado): que implica la determinación del volumen de

una solución de concentración conocida, necesaria para que ésta reaccione
cuantitativamente con una solución de una cantidad de sustancia medida por peso
o por volumen, en donde el peso del elemento a determinar se calcula a partir del
volumen del reactivo usado. (Servicio Geologico Mexicano, 2019)

3. (Valor 1.0)
Consultar cuáles son las limitaciones (por ejemplo en que elementos/materiales no
se puede usar) y la resolución de cada una de las siguientes técnicas:

a. SEM (Microscopio Electrónico de Barrido)

Resumen:
La microscopia electrónica de barrido o SEM se basa en el principio de la
microscopia óptica en la que se sustituye el haz de luz por un haz de electrones.
Con esto conseguimos hasta los 100 Å, resolución muy superior a cualquier
instrumento óptico.
Su funcionamiento consiste en hacer incidir un barrido de haz de electrones sobre
la muestra. La muestra (salvo que ya sea conductora) está generalmente recubierta
con una capa muy fina de oro o carbón, lo que le otorga propiedades conductoras.
La técnica de preparación de las muestras se denomina “sputtering” o pulverización
catódica.
Al alcanzar el haz la superficie de la muestra se generan principalmente las
siguientes partículas
– Electrones retrodispersados (e1)
– Electrones secundarios (e2)
Además de radiación electromagnética (rayos X) y otras partículas menos
significativas.
El microscopio se encuentra internamente equipado con unos detectores que
recogen la energía y la transforman en las siguientes imágenes y datos:
– Detector de electrones secundarios: (SEI – Secundary Electron Image) con los
que obtenemos las imágenes de alta resolución.
– Detector de electrones retrodispersados: (BEI – Backscattered Electron Image)
Con menor resolución de imagen pero mayor contraste para obtener la topografía
de la superficie.
– Detector de energía dispersiva: (EDS – Energy Dispersive Spectrometer) detecta
los rayos X generados y permite realizar un análisis espectrográfico de la
composición de la muestra. (Patología + Rehabilitación + Contrucción, 2019)

Limitaciones:
– El ensayo debe realizarse en condiciones de vacío (alto vacío) lo que impide
ensayar muestras que no sean estables a baja presión.
– No pueden ensayarse muestras húmedas, contaminadas o que puedan
desprender gases bajo presión.
– Las muestras deben metalizarse antes el ensayo. (Patología + Rehabilitación +
Contrucción, 2019)

Resolución:
 (Pardell, 2019)

La resolución del microscopio electrónico de barrido SEM es de 100 Å o 10

nanómetros.

b. TEM (Microscopio Electrónico de Transmisión)

Resumen:
En TEM, un haz de electrones de alta energía (300 keV) atraviesa una muestra muy
delgada (menor a los 150 nm), lo que altera varias propiedades físicas del haz de
electrones que son recopiladas por diversos detectores: Detector de amplio ángulo
HAADF, CCD de alta velocidad y GIF (para EELS y EFTEM). La iluminación con el
haz se hace en dos formas: en TEM con iluminación contante sobre la muestra y en
STEM donde un haz muy pequeño (“nanoprobe”) barre la muestra en un área
rectangular. De acuerdo al funcionamiento de la lente objetiva tenemos dos modos
de operación del instrumento: en Modo Imagen y en Modo Difracción. Por otro lado
al interaccionar el haz de electrones con la muestra, esta última emite rayos X
característicos que son colectados por un detector EDS especial. (Laboratorio
Nacional de Investigación en Nanociencia y Nanotecnologia - Linan, 2019)
 (Laboratorio Nacional de Investigación en Nanociencia y Nanotecnologia - Linan, 2019)

Limitaciones:
TEM trabaja de una manera tal que veamos las 2.as imágenes de los especímenes
3D, visto como parte de la transmisión. Porque nuestros aros y cerebro entienden
la luz reflejada rutinario podemos asumir que podemos poder interpretar imágenes
de TEM, pero éste no es verdad.

Por ejemplo, cuando vemos un retrato de dos animales que hacen frente lejos de
uno a, puede aparecer (bidimensional) como única carrocería con dos culatas de
cilindro en cualquier extremo pero todavía entendemos el retrato, mientras que
entendemos la naturaleza verdadera de los animales en un decorado 3D. en
cambio, cuando vemos una imagen engañosa similar de TEM, podemos no
interpretarla correctamente, y puede también haber artefactos en imágenes de
TEM.

Esta desventaja específica en TEM se llama como limitación de la proyección. Un

aspecto determinado de esta limitación es que las imágenes, las configuraciones de
difracción, o la información de los espectros obtenida por TEM está hechas un
promedio con el espesor del espécimen. Esto significa que no hay sensibilidad de
la profundidad en una única imagen de TEM. (News Medical Life Sciences, 2019)

Resolución:
Los físicos de principios del siglo XX teorizaron sobre posibles maneras de superar
las limitaciones impuestas por la relativamente grande longitud de onda de la luz
visible (de 400 a 700 nm) mediante el uso de electrones. (Wikipedia, 2019)

c. XRD (Difracción de Rayos)

Resumen:
La difracción de rayos X (XRD) es una técnica no destructiva que hace posible el
análisis cualitativo y cuantitativo de los materiales cristalinos, en forma de polvo o
sólido. En cooperación con usuarios académicos e industriales GNR ha
desarrollado, un conjunto de difractómetros técnicamente avanzados y flexibles
orientados a satisfacer diferentes necesidades en términos de características y
presupuestos.
Es un difractómetro de alta resolución con geometría THETA/THETA, gracias al
sistema mecánico instalado que permite el control directo los motores, ofrece el
mejor desempeño analítico en muchos campos, desde el análisis de fases hasta la
determinación de propiedades microestructurales en materias primas o películas
delgadas.
Gracias a su modularidad y a la amplia gama de accesorios disponibles, el Modelo
EXPLORER permite realizar mediciones en diferentes configuraciones. (Ingenieria
S&S, 2019)

Limitaciones:

Resolución:

d. AFM ()
Resumen:

Limitaciones:

Resolución:

e. RAMAN ()
Resumen:

Limitaciones:

Resolución:

4. (Valor 1.0)
Tiene una mezcla de Fe2O3, ZnO y Mn2O3. ¿Cómo se hace una recuperación
electroquímica de los metales (Fe, Zn y Mn)? ¿Suponga que lo hace en ácido
sulfúrico, como lo hace? ¿En qué orden? A que voltajes (¿y corriente?).
5. (Valor 1.0)
En forma bien resumida, investigue que es, que mide y en que materiales se puede
usar:

a) XRF
b) FTIR
c) TGA
d) DSC
e) XPS

BIBLIOGRAFÍA
Arquitectura y Construcción. (7 de Abril de 2019). Obtenido de
http://www.parro.com.ar/definicion-de-resistencia+a+la+abrasi%F3n
Ingenieria S&S. (2 de Abril de 2019). Obtenido de http://sysingenieria.co/index-67.html
Laboratorio Nacional de Investigación en Nanociencia y Nanotecnologia - Linan. (2 de Abril
de 2019). Obtenido de http://www.linan-ipicyt.mx/Microscopio_HR-TEM.html
Materiales Avanzados. (7 de Abril de 2019). Obtenido de
https://materialesavanzados.wordpress.com/2015/01/30/metodologias-para-
determinar-estructuras-cristalinas-a-partir-%E2%80%A8de-datos-de-difraccion-de-
polvos/
News Medical Life Sciences. (2 de Abril de 2019). Obtenido de https://www.news-
medical.net/life-sciences/Limitations-of-TEM-(Spanish).aspx
Pardell, X. (2 de Abril de 2019). Pardell. Obtenido de https://www.pardell.es/el-microscopio-
electronico-de-barrido-sem.html
Patología + Rehabilitación + Contrucción. (2 de Abril de 2019). Obtenido de
https://www.patologiasconstruccion.net/2014/11/microscopia-electronica-de-
barrido-iii-esem-vs-sem/
Servicio Geologico Mexicano. (7 de Abril de 2019). Obtenido de
https://www.sgm.gob.mx/Web/MuseoVirtual/Minerales/Tecnicas-quimicas-
analiticas.html
Wikipedia. (2 de Abril de 2019). Obtenido de
https://es.wikipedia.org/wiki/Microscopio_electr%C3%B3nico_de_transmisi%C3%B
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