ÍNDICE

Introducción…………………………………………………………………………….….
Microscopio de Túnel de Barrido (Scanning Tunelling Microscope)…………………
Antecedente al Microscopio de Túnel de Barrido (J. S. Villarrubia)……….…
Creadores…………………………………………………………………………..
Efecto Túnel………………………………………………………………………..
Operación de Microscopio………………………………………………………..
Elementos………………………………………………………………………..…
En la cámara de preparación:……………………………………………
En la cámara de medida:…………………………………………………
Capacidades del STM…………………………………………………………….
Tabla de Ventajas y Desventajas………………………………………………
Microscopio de Fuerza Atómica (Atomic Force Microscope)…………………………
Métodos de Empleo……………………………………………………………….
1.- De Contacto…………………………………………………………….
2.- De No Contacto………………………………………………………..
3.- De Contacto Intermitente (Tapping Mode)………………………….
Tabla de Ventajas y Desventajas………………………………………………………..
Conclusión………………………………………………………………………………….
Bibliografía…………………………………………………………………………………

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Introducción

La tecnología actual nos permite desarrollar artefactos tan importantes como

destacables, con la investigación actual y todos los avances nos han permitido
crear lo que hoy conocemos como las microscopias de sonda de barrido (SPM)
donde una sonda puntiaguda barre la superficie de una muestra, monitorizándose
la interacciones que ocurren entre la punta y la muestra. Las aplicaciones son muy
diversas: medidas de propiedades como la conductividad superficial, distribución
de carga estática, fricciones localizadas, campos magnéticos, y modulación
elástica.

Las microscopias principales son:

El microscopio de túnel de barrido (Scanning Tunneling Microscopy) y el

microscopio de fuerza atómica (Atomic Force Microscopy).

Gracias a esto los avances han aumentado en cantidades enormes, y no solo por
permitirnos la nanotecnología, los dispositivos de acercamiento nos muestran una
mejor visión de lo que nos rodea por lo que la interacción con nuestro entorno
puede llegar a desarrollarse con un control que de otro modo no podría existir.

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 Antecedente al Microscopio de Túnel de Barrido (J. S. Villarrubia) Russell

Young, John Ward y Fredric Scire publicaron su documento en 1972, al

principio fue poco conocido, pero cerca de 30 años después, cada persona que
quisiera aspirar a una carrera de microscopia, tenía que conocerlo. Su trabajo era
sobre un tipo de microscopio, para ser preciso, el “Scanning Probe Microscopy”. El
que Russell creó fue llamado “Topografiner”, el cual mantenía una distancia
constante entre la muestra y la punta del microscopio; las variaciones en el campo
podían ser registradas y era lo que utilizaban como información para crear las
imágenes que arrojaba finalmente el microscopio.

Creadores

Ya en 1981, Gerd Binnig y Heinrich Rohrer, del Laboratorio IBM (International

Business Machines) de Zúrich, desarrollaron el microscopio de efecto túnel, un
nuevo límite a la escala de la microscopía, que la lleva de la micro a la
nanoescala.

Efecto Túnel

El fundamento de esta microscopía se basa en complicados modelos cuánticos

que pueden explicarse de un modo sencillo de la siguiente manera: Si dejamos
caer una pelota desde lo alto de un valle, está rodará colina abajo hasta empezar
a subir por el otro lado hasta alcanzar la altura desde donde la soltamos, nos
parece muy lógico debido a la conservación de la energía. Para que la pelota
cruce el valle y pase la montaña es necesario aplicarle una mayor energía. Sin
embargo dentro de la mecánica cuántica esto no es precisamente lo que sucede,
debido a que se manejan probabilidades, existirá una mayor probabilidad de que
cuando soltemos la pelota, la veamos dentro del valle, pero también existirá la
probabilidad de que la veamos del otro lado de la montaña, donde hay condiciones
agradables para la pelota, como si hubiese atravesado un túnel que pasa por la
montaña, de ahí el nombre del efecto. Ahora hay que pensar que la pelota, no es
una pelota, sino una nube de electrones que en lugar de atravesar la montaña,
pasan por un vacío que representa una barrera de potencial hasta llegar a la punta
del microscopio generalmente hecha de tungsteno. Según la mecánica cuántica,
los electrones no están definidos por una posición precisa, sino por una nube de
probabilidad. Los electrones que pueden pasar al otro lado de la barrera generan
una intensidad de corriente denominada intensidad de túnel y es el parámetro de
control que permite realizar la topografía de superficie de la muestra.

Operación del Microscopio

El manejo que se le da al microscopio debe de ser llevado a cabo con

precisión, debido a las pequeñísimas distancias que existen entre la punta y la
muestra. Debido a esta sensibilidad todo el sistema está controlado
electrónicamente. Es por eso que la toma de medidas y los movimientos de la
punta son realizados mediante piezas eléctricas con precisiones de hasta 0.05 nm
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y que son controlados por el usuario, a través de las interfaces correspondientes,
mediante una computadora.

Elementos

La instalación del microscopio se puede dividir en dos zonas diferentes, una

cámara de ultra alto vacío para preparación de muestras, y otra cámara de ultra
alto vacío donde se encuentra el grupo de medida. A continuación presentan los
componentes que se tienen en cada una de ellas. (Aragón)

En la cámara de preparación:

 Una barra de transporte lineal calefactable mediante bombardeo con

electrones.
 Un LEED (Low Energy Electron Diffraction).
 Un evaporador de crisol y un cañón de electrones para evaporación
mediante bombardeo electrónico.
 Espectrómetro de masas de tipo cuadrupolo (rango: 1 - 100 uma).
 Cañón de iones por pulverización catódica.
 Una bomba iónica de sublimación de Ti, idéntica a la que hay en la cámara
de medida.

En la cámara de medida:

 Un Microscopio túnel de barrido (STM) en ultra alto vacío, de alta

resolución, con criostato de baño de helio líquido, para trabajar desde 5 K
hasta temperatura ambiente. Capaz de trabajar en espectroscopia túnel de
modulación (STS, IETS, CITS), con convertidor I-V compensado en offset
para corrientes reales por debajo de 1 pA y preamplificador conmutable.
 Manipulador de puntas y muestras (Wobble Stick).
 Carrusel para almacenamiento de puntas y muestras a temperatura
ambiente.
 Bomba iónica de sublimación de Ti con todos sus accesorios.
 Criostato de Nitrógeno.
 Resistencia calefactora dentro del criostato de la unidad de medida, que
nos permite controlar la temperatura de la muestra.
 Sensor de temperatura.

En el exterior se tiene el sistema electrónico de control del STM y software de

adquisición y proceso de datos, escalable para operación en modo AFM. Unidad
de control del STM. Software de imagen, espectroscopia y nanolitografía. Este
grupo de elementos engloba a toda la electrónica y el software para la adquisición
y análisis de datos.

Capacidades del STM

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 Además de su funcionalidad que tiene como microscopio capaz de crear
una imagen representativa que podamos observar, también tiene la capacidad de
develarnos características magnéticas de muestras de materiales, esto debido a
que se le puede cambiar la punta de wolframio, por otra con propiedades
magnéticas. Las lecturas se pueden hacer a diferentes temperaturas, aumentando
así, la variedad de propiedades que se pueden estudiar de una muestra. Otra de
sus aplicaciones es la nanolitografía, que permite la impresión de patrones de
tamaños nanométricos, gracias a la emisión de un haz de electrones a través de la
punta del microscopio. El poder realizar grabados a tan mínima escala, empieza a
abrir las puertas a la nanotecnología, que sin duda representa uno de los más
grandes avances de la humanidad.

Tabla de Ventajas y Desventajas

Microscopio Ventajas Desventajas
STM Tiene una resolución Solo se puede emplear con
nanométrica materiales conductores
STM modo corriente Óptima para estructuras
constante rugosas por regulación de Barrido lento
altura
STM modo de altura Barrido rápido Sólo para superficies muy
constante lisas (<<5nm)

Microscopio de Fuerza Atómica (Atomic Force Microscope)

Viendo por primera vez la luz del día en 1986 gracias a la invención de G.
Binnig, C. F. Quate, y Ch. Gerber, el microscopio de fuerza atómica es utilizado
para obtener la topografía de muestras, así como determinar propiedades físicas
como: viscosidad, fuerza eléctrica y fuerza magnética, gracias a un conjunto de
sensores para la recopilación de información que luego es procesada y analizada.
Las partes fundamentales que conforman un AFM son: la punta, el escáner,
el detector, el sistema de control electrónico y el sistema de aislamiento de
vibración. (Castrellón-Uribe, 2005)
La manera en que opera el microscopio es mediante la utilización de una
sonda o punta afilada de forma piramidal o cónica, la sonda va acoplada a un
listón o palanca microscópica muy flexible de sólo unos 200 µm.
El principio físico del Microscopio de Fuerza Atómica se basa en que al
acercar el cantiléver a la superficie de la muestra, las fuerzas de mecánicas de
contacto entre la punta y la muestra doblan el cantiléver según la ley de Hooke.
Simultáneamente un detector laser mide esta deflexión a medida que la punta se
desplaza sobre la superficie de la muestra generando una imagen de la superficie.
La fuerza interatómica que contribuye a la deflexión del cantilever es la fuerza de
Van der Waals.

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Métodos de Empleo
Dentro de la utilización del microscopio, se pueden emplear diferentes
métodos de aplicación para la toma de topografía o medición de propiedades de
los materiales deseados, hay veces que es el material el que determina que
método debe de emplearse debido a su delicadeza. A continuación se presentan
los tres principales métodos de empleo del microscopio de fuerza atómica.
1.- De Contacto: Para este método, se tiene presente que deberá existir un
contacto de la punta con la muestra en todo momento, es decir, el paso de la
punta para cartografiar la muestra será de manera física. La punta se une al final
del cantiléver con una baja constante de resorte, menor que la constante de
resorte efectiva que mantienen los átomos de la muestra. Conforme la punta barre
la superficie, la fuerza de contacto origina la flexión del cantiléver de modo que
éste se adapta a la superficie topográfica de la muestra.
2.- De No Contacto: Se utiliza cuando no se desea dañar por ningún motivo la
muestra. Lo que se recolecta de información para generar las imágenes son las
interacciones que tiene cantiléver luego de que es puesto a oscilar cerca de su
frecuencia de resonancia.
3.- De Contacto Intermitente (Tapping Mode): En esta aplicación, la puntav está
en intermitente contacto con la superficie a la vez que la barre. La variación de la
amplitud de oscilación de la punta, debida a la amortiguación sobre la superficie es
lo que se utiliza como señal de control.
Tabla de Ventajas y Desventajas
Microscopio Ventajas Desventajas
AFM de contacto Amplia gama de muestras Problemas de destrucción
a analizar de la punta o modificación
de la superficie
AFM de no contacto No existe modificación ni El barrido ha de ser muy
contaminación de la lento
superficie de la muestra
AFM de contacto -Medida muy estable -No puede trabajar en
intermitente -Resolución elevada medio líquido
-Proporciona las mejores -No se llega a resolución
prestaciones para la atómica
medida topográfica de alta -Barridos más lentos
resolución

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Bibliografía

Aragón, I. U. (s.f.). Microscopio de sonda local de ultra alto vacío a baja

temperatura para caracterización y manipulación de nanoestructuras, STM.
Obtenido de http://ina.unizar.es/equipos/microscopioSTM.htm

Castrellón-Uribe, M. C. (2005). Microscopio de Fuerza Atómica. Zacatecas,

Zac.

J. S. Villarrubia, R. D. (s.f.). The Topografiner: An Instrument for Measuring

Surface Microtopography. Obtenido de http://nvlpubs.nist.gov/nistpubs/sp958-
lide/214-218.pdf

TEMA 9: Microscopia de Efecto Túnel y Fuerza Atómica. (s.f.). Obtenido de

http://www.uco.es/~iq2sagrl/TranspTema9.pdf