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3. CARACTERÍSTICAS CUALITATIVAS
Fuente de entropía: Evento de colapso de frecuencia de 2 flancos inyectados
dentro de un par de etapas RO.
Método: Oscilador en anillo (RO) basado en el tiempo de colapso de 2 flancos
de carrera en un par de etapas RO con un lazo sintonizable automático.
Ventajas:
- Solidez frente a variaciones PVT y ataques intencionales en la fuente de
alimentación en los rangos definidos
- Fácil detección del evento de colapso (no requiere de un detector de fase,
por tanto hay menos no idealidades);
- Tiempo de colapso promedio como indicador de la condición de operación,
la cual el lazo sintonizable automático está basado
- No se requiere sintonización de alta resolución ni minimizar la complejidad
del diseño y costo (debido a que la sintonización no introduce tendencia
dentro los bits de salida y un amplio rango objetivo es aceptable)
- No se requiere delicados circuitos de sintonización o extensiva regulación
de voltaje (debido a la simplicidad y solidez del esquema sintonizable)
Resultado de “NIST randomness tests” (15): Aprobado
4. CARACTERÍSTICAS CUANTITATIVAS
Tecnología CMOS fabricado: 40nm y 180nm
Densidad de Layout: 836 um2
Tasa de información (bits de salida): 2 Mb/s (en 40nm)
Eficiencia energética: 23 pJ/bit a 0.9V; 11pJ/bit a 0.6V (en 40nm)
Rango de temperatura (T): -40 a 120 ºC
Rango de voltaje (V): 0.6 a 0.9 V
5. ESTRUCTURA
A) Anillo configurable (basado en el “mismatch” de dispositivo - P)
B) Lazo dinámico sintonizable automático (basado en ciclos para colapsar como
buen indicador de la calidad de bits aleatorios generados): Configura
automáticamente el anillo para conocer el tiempo de colapso suficiente y así
maximizar la entropía
6. ORGANIZACIÓN DEL PAPER
Sección II: El concepto de usar el colapso de frecuencia en un par de etapas RO
como fuente de entropía. Modelo matemático de la fuente de entropía
Sección III: Implementación detallada del prototipo TRNG y lazo sintonizable
automático contra variaciones PVT
Sección IV: Resultados de mediciones de ambos 40 y 180nm chips de prueba
7. PROPUESTA
Demostrar un diseño de TRNG totalmente digital robusto frente a variaciones PVT
y ataques intencionales en la fuente de alimentación.
Palabras claves:
- Cryptography
- Frequency collapse
- Model, noise, oscillator
- PVT variation
- Security
- True random number generator