INSTITUTO TECNOLOGICO SUPERIOR

DE PANUCO

CARRERA:

INGENIERA PETROLERA

MATERIA:

METODOS ELECTRICOS

UNIDAD:

TEMA:

SONDEOS DIPOLARES, ANLISIS DE CURVAS DE 1, 2,3 Y 4 CAPAS

CURVAS DE ORELLANA
INTEGRANTES:

NOMBRE DEL DOCENTE:

ING. JUAN JESUS PEREZ ARTEAGA

FECHA:
08/12/2017

1
 CONTENIDO
SONDEOS DIPOLARES ..........................................................................................................................................3

Distancia representativa ...........................................................................................................................................5

ANLISIS DE CURVAS DE 1, 2, 3 Y 4 CAPAS .......................................................................................................6

CURVAS DE ORELLANA.........................................................................................................................................8

2
SONDEOS DIPOLARES
Se tiene un Sondeo Elctrico Dipolar (SED) cuando se obtienen valores de la resistividad aparente del
subsuelo, utilizando cualquiera de los dispositivos mostrados en los grficos Anteriores, en funcin de la
separacin creciente entre dipolos, El procedimiento que se emplea es similar al aplicado en el mtodo
SEV. El mtodo SED se desarroll con el propsito de reemplazar las dificultosas mediciones de SEV
profundos en los que las lneas de corriente son demasiado largas. Como el campo dipolar decrece con R3
(Ec. 138 y siguientes), sus requerimientos de energizacin son mayores.

El potencial de un dipolo Ubicado un dipolo de corriente AB en un sistema de coordenadas cartesianas

y siendo b = AB <<R; y P (x, y) un punto cualquiera ser:

Convencin de signos en los SD1 (ilustracin 1)

Ilustracin 1

3
De modo que reemplazando los valores de R1 y R2 en la ecuacin obtendremos el valor de U en funcin de R:

Ilustracin 2

Donde M se denomina momento del dipolo: (ilustracin 3)

Ilustracin 3

De manera similar al mtodo SEV, se obtienen valores de la resistividad aparente para valores de R
crecientes, lo que se hace habitualmente desplazando el dipolo de potencial y manteniendo fijo el de corriente
por la mayor dificultad de su instalacin en condiciones de que sean mnimas las resistencias de contacto. Por
otra parte, no debe descuidarse el que AB y MN puedan considerarse realmente dipolos.

Mientras que:

En los tres casos. Suelen medirse SD bilaterales o que suele conseguirse con un solo SD bilateral.
(Ilustracin 4 y 5)

Ilustracin 5

Ilustracin 4

4
Distancia representativa
Los SD deben graficarse de manera similar a los SEV, lo que se consigue representando la en funcin de la
"distancia representativa", que segn el dispositivo ser:

SDO: R

SDE: R= AO = OB

SDA: pR

La determinacin de p en este ltimo caso se efecta con ayuda de un baco en funcin de la relacin
AB/R y del ngulo. Clases de resistividad aparente en los sondeos dipolares

Las distintas resistividades se obtienen girando MN alrededor de O, previamente se establece una

convencin de signos, tanto para la corriente I como para los ngulos de los dispositivos. Para aprovechar todo
el desarrollo efectuado en el mtodo SEV, resulta conveniente partir de una expresin del potencial en funcin
de la resistividad Schlumberger y expresar en funcin de este parmetro las distintas clases de resistividad de
los SED.

5
ANLISIS DE CURVAS DE 1, 2, 3 Y 4 CAPAS
En 1971 Ghosh propuso un mtodo de de convolucin conocido como filtro digital lineal (Koefoed, 1979) a
partir del cual fue posible utilizar computadoras para calcular curvas maestras para sondeos elctricos verticales
tipo Schlumberger y Wenner.

El programa sintetiza un perfil (vertical) de resistividad aparente para un modelo de n -capas en el cual
las variables son los espesores y las resistividades de las mismas. Los modelos generados se comparan con
curvas de campo y se llevan a cabo ajustes tanto a las resistividades como a los espesores de las capas por
medio de un proceso de prueba y error, hasta obtener una correspondencia lo ms cercanamente posible a la
curva de campo. Sin embargo, en los casos en que un buen conductor subyace a una capa resistiva ( 120
2) el mtodo de Ghosh produce resultados inexactos debido a la estructura del filtro, el cual tiene muy
pocos coeficientes para evitar la rpida cada en la curva de resistividad. Para solucionar este problema se han
diseado otro tipo de filtros lineales (p.e.ONeill y Merrik, 1984) y ahora los nuevos paquetes de software
pueden ser usados con las condiciones de contraste ms extremas.

Aunque la mayor parte de los programas soporta mode los de hasta 25 capas, normalmente no se
requieren ms de 6 para describir adecuadamente el subsuelo. Un nmero mayor de capas incrementa
dramticamente el tiempo requerido para producir un ajuste aceptable y generalmente, los datos no lo
justifican adems de que se puede incurrir en la sobre-interpretacin de los mismos. De forma similar al ajuste
con curvas maestras, es recomendable ajustar primero los segmentos de la curva de campo a
separaciones de electrodos ms pequeas y posteriormente ajustar aquellos segmentos correspondientes
a separaciones progresivamente mayores.

El basamento geo elctrico (el fondo de la secuencia) se considera se mi infinito por lo que
solamente se requiere su resistividad. Algunos programas pueden desplegar simultneamente la curva de
campo y la curva de ajuste as como parmetros estadsticos que describen la calidad del modelo. El proceso
de optimizacin se lleva a cabo automticamente a partir de iteraciones sucesivas hasta reducir el grado de
desajuste hasta alcanzar un lmite estadstico aceptable especificado previamente. Una de las mayores
ventajas del ajuste por computadora es que proporciona los medios para investigar problemas de
equivalencia y supresin de manera rpida y eficiente. Otros programas de ajuste ms sofisticados pueden
incluso seleccionar el mtodo de convolucin pues diferentes mtodos pueden producir diferentes resultados.
Mientras el usuario del programa est al tanto de sus ventajas y desventajas es muy probable que se
obtengan interpretaciones confiables.

El riesgo es que, como ocurre en otros procesos en donde se utiliza la computadora, y por razones
inexplicables, los resultados generados de esta forma suelen tener ms credibilidad pues se suponen ms
exactos que los obtenidos utilizando medios ms tradicionales lo cual no es necesariamente cierto. De
hecho, existe una tendencia casi generalizada e indeseable, de importar datos a las computadoras y

6
utilizar programas de interpretacin para producir un resultado sin siquiera pensar acerca de la metodologa
o los errores experimentales o bien acerca de las condiciones geolgicas y lo apropiado del modelo resultante.

Una vez que se han obtenido los modelos de capas horizontales para cada SEV, estos pueden ser
colocados uno al lado de otro como se hace con los registros de pozos para correlacionar los
diferentes estratos con resistividades comparables para generar una imagen bidimensional de las
variaciones laterales y verticales en la resistividad. Este proceso se puede extender a tres dimensiones de tal
forma que se puedan producir mapas de espesores de capas individuales o de resistividad a diferentes
profundidades. La etapa final de la interpretacin consiste en la correlacin de cada uno de los modelos SEVs
con la geologa local, para lo cual se pueden preparar tablas de resistividad y posible tipo de material que
representa o bien especificar geogrficamente tipo de roca y rango de resistividades en vez de solamente
numerarlas capas.

Zohdy (1989) desarroll una tcnica para la inversin automtica de curvas de SEVs en la cual se utiliza
optimizacin por mnimos cuadrados. El proceso consiste en ajustar sucesivamente un modelo inicial hasta
que la diferencia entre los datos observados y la curva generada por el modelo se reduce a un valor mnimo.
Una suposicin fundamental es que existen tantas capas en el subsuelo como puntos en la curva de campo y
que la resistividad verdadera de cada una de estas mltiples capas corresponde al valor de la resistividad
asociada a cada punto (Figura 18).

La profundidad media asociada inicialmente a cada capa corresponde al valor de la separacin

electrdica a la que fue medida dicha resistividad multiplicada por una constate. El valor de esta constante es
tal que reduce la diferencia entre las curvas de resistividad calculada y observada a un mnimo y se determina a
partir de un proceso de prueba-error.

Ilustracin 6

Ilustracion 6.- Tcnica automtica de inversin de un sondeo. (A) Datos observados y estratos iniciales. (B)
ajuste de capas y curva modelo resultante. La diferencia e entre las curvas modelada y observada se usa para
aplicar la correccin c a las capas. (C) El modelo de capas final y curva terica generada que resulta ser muy
parecida a la curva observada.
7
 El modelo inicial se usa para generar una curva de sondeo sinttica que se compara con la curva de
campo. Despus se lleva a cabo un proceso iterativo para ajustar las resistividades del modelo mientras se
mantienen fijos los valores de los extremos de la curva. Despus de cada iteracin se re calcula la curva terica
y se compara con la curva de campo.

Este proceso se repite hasta que la diferencia de la raz cuadrtica media (RMS) entre las dos curvas
alcanza un mnimo (ilustracin 6). Existe un buen nmero de programas de inversin disponibles tanto
comercial como gratuitamente que utilizan esta metodologa. Adems de los programas de inversin
mencionados existen muchos otros que han sido creados asociados con cierto equipo de campo y tambin
como desarrollos especficos para la generacin de imgenes tomogrficas reales (e.g. Shima,
1990;Daily y Owen, 1991; Noel y Xu, 19991; Xu y Noel, 1993). Los paquetes de inversin para la generacin de
imgenes estn disponibles comercialmente, generalmente relacionados a un estilo particular de adquisicin
de datos y/o a un equipo de adquisicin particular.

El modelado directo utilizando el mtodo de elemento finito se puede llevar acabo utilizando
software disponible comercialmente. A partir de la utilizacin de esta tcnica se puede calcular la respuesta
elctrica y desplegar en pseudo-secciones a partir de la comparacin con los datos originales. Este enfoque se
usa generalmente para generar geometras del subsuelo realistas a partir de modelos estructurales
definidos (Ilustracin7).

Ilustracin 8

CURVAS DE ORELLANA

8
 Ilustracin 10 Ilustracin 9

La interpretacin consiste obtener la curva de resistividad aparente. Es decir: obtener espesores y

resistividades; por ejemplo, si se trata de cinco capas tenemos que obtener 5 resistividades y 4 espesores.

Grficos necesarios:

Grfico patrn de 2 capas (en adelante GP2) y grficos auxiliares tipos A, Q, H y K Para una interpretacin
correcta deberamos disponer de un catlogo de curvas de 3 capas, mas estos mismos grficos auxiliares. La
metodologa es anloga a la descrita aqu. Disponiendo solamente del grfico patrn de dos capas, la
precisin no es buena y los errores aumentan con el nmero de capas, pero es una buena base para
completar la interpretacin con un programa informtico.

Preparacin:

Previamente calcamos la curva de resistividad aparente (curva de campo) en un papel vegetal,

preferiblemente los puntos de medidas y no la curva estimada que parece unirlos; trazamos con regla una o dos
lneas horizontales y verticales, calcndolas del papel logartmico del grfico de campo. Realizamos una
interpretacin cualitativa de la curva, apreciando el nmero de capas y el tipo. Por ejemplo: si baja, sube y baja
parecen cuatro capas: tipo HK.

Procedimiento:

9
1. Superponemos el primer tramo (la primera subida o bajada) a una de las ramas del GP2. Calcamos el
origen del GP2 y lo rotulamos como 1+ (primera cruz) y marcamos con una rayita horizontal la altura que
habra alcanzado la curva de campo si hubiera continuado segn vemos en el GP2 (Esta rayita se rotula 2 y se
llama marca de resistividad).

2. Vamos a un grfico auxiliar, el que corresponda segn la forma de la primera parte de la curva de campo (A,
Q, H o K). El objetivo es dibujar (a trazos discontinuos) una curva que saliendo de la 1+ termine en la marca de
resistividad 2.

2a) En los grficos auxiliares Q y H se sita la 1+ sobre el origen de coordenadas del grfico auxiliar y se
calca a trazos una de las lneas continuas del grfico auxiliar, la que vaya hasta la marca de resistividad 2.

2b) En los grficos auxiliares A y K se desliza la 1+ sobre el eje vertical del grfico auxiliar, hasta que la marca
de resistividad 2. Coincida con el eje horizontal (arriba) del grfico auxiliar. En este momento se calca a trazos
una de las lneas continuas del grfico auxiliar, la que vaya desde la 1+ hasta la marca de resistividad 2.

3. Volvemos al GP2 y repetimos el paso 1, pero con una limitacin: el origen del GP2 debe situarse a lo largo
de la lnea de trazos que acabamos de dibujar en el paso 2. Conseguida la superposicin, marcamos sobre el
vegetal lo mismo que en el paso 1: una cruz (calcamos el origen de coordenadas) y una raya horizontal
(calcamos la altura que hubiera alcanzado la curva si hubiera continuado). En este caso las rotularemos como
2+ y 3.

4 Repetimos los pasos 2 y 3 tantas veces como sea necesario, eligiendo el grfico auxiliar que corresponda,
y rotulando secuencialmente: 3+ y 4 etc...

5 Volvemos al grfico de campo (mejor una hoja de papel semilogartmico limpia) y leemos y anotamos los
resultados: Ordenada de la 1+ es 1 (resistividad de la 1 capa). Altura de las sucesivas marcas de
resistividad (2, 3...) sern las resistividades de las capas 2, 3 etc. Abcisa de la 1+ es el espesor de la 1
capa (E1) 6 Espesores de las capas 2 y sucesivas: Volvemos a los grficos auxiliares que hayamos
utilizado (uno, dos o ms), situando el vegetal en la misma posicin que cuando calcamos la lnea de trazos. En
el primero de ellos ahora aparece la 2+; de las lneas de trazos del grfico auxiliar, seguimos la que pase por la
2+ hasta leer arriba el valor correspondiente, supongamos que fuera 6.

10
Bibliografa
manuel. hidrologia. 6 de noviembre de 2016. 7 de diciembre de 2017 <http://hidrologia.usal.es/temas/SEV.pdf>.

miguel, doctor.Geol. tierra. 15 de 11 de 2015. 7 de 12 de 2017

<http://tierra.rediris.es/hidrored/ebooks/miguel/ProspeccGeoelec.pdf>.

orta, ximena. google. 15 de mayo de 2016. 2017 de julio de 2017

<http://www.academia.edu/30285256/UNIDAD_3.-
_METODOLOGIA_DE_LOS_SONDEOS_ELECTRICOS_VERTICALES>.

11