Temas Selectos I

Herramientas para la mejora

continua de la calidad

TIN4011

Otoo de 2017
Ejemplo:

En un proceso en el que el lmite de especificacin inferior es LSL= 225, se construy

un plan de muestreo por variables en el que se desconoce la desviacin estandar del
proceso, por lo que se defini que el plan debera consistir en un tamao de muestra
n= 40 y una distancia crtica k= 1.9.
Al momento de tomar la muestra y realizar las mediciones se encuentra que la
media X= 255 y la desviacin estndar de la muestra = 15.
Indique si el lote debe ser aceptado o rechazado. Utilice el procedimiento 1.
 Definicin del plan de muestreo de aceptacin por variables,
cuando se conoce la desviacin estndar del proceso
Procedimiento 2:
Se toma una muestra de n tems del lote, y se calcula el valor de ZLSL

Se utiliza el valor de ZLSL para estimar la fraccin defectuosa del lote o proceso, como el
rea bajo la curva Normal estndar por debajo de ZLSL .

Dado que la fraccin defectuosa de la muestra se considera como un buen estimado de

la fraccin defectuosa del lote p, entonces si excede un valor mnimo especificado M, se
debe rechazar el lote. Si no excede el valor especificado M, se debe aceptar.
 Cuando solo se pone un lmite en la especificacin (LSL o USL), se puede utilizar
cualquiera de los dos procedimientos. En el caso de que la especificacin se refiera al
lmite superior, se usara:

En el caso en que no se conozca se debe estimar por la desviacin estndar de la

muestra s, y reemplazar s directamente en la ecuacin para calcular ZLSL
Ejemplo:

Se construy un plan de muestreo por variables en el que se conoce la desviacin

estandar del proceso (= 20), estimndose que el plan debera consistir en un
tamao de muestra n= 15 y una k= 1.5
a) Determine la fraccin defectuosa mxima permitida, M.
Diseo de un plan de muestreo
por variables con una curva OC
especificada
Procedimiento 2, Mtodo M:
Dado:
(p1, 1-)
(p2, )

a) Usar el Nomograma

b) Determinar la fraccin defectuosa

mxima permitida M

c) Determinar para Z y comparar

con los resultados de la muestra.
Grfica para determinar la fraccin
defectuosa mxima permitida M
Ejemplo:

Continuacin...

b) Suponga que al momento de tomar la muestra se obtiene una media X= 230. Si el

lmite de especificacin inferior LSL= 210, indique si el lote debe ser aceptado o
rechazado.
Grfica para determinar para Z
Ejemplo:

Usted tiene un empresa que se dedica a la fabricacin de piezas de plsticos para

telfonos celulares. Su cliente requiere que el plstico de dichas piezas tenga una
densidad de al menos 0.70 g/cm3, por lo que le ha solicitado que de comn acuerdo,
establezcan un plan de muestreo de aceptacin que sea apropiado, ya que las piezas le
llegan en lotes de 4000 unidades.
El cliente requiere que el plan se disee para aceptar con una probabilidad del 90%,
lotes con un porcentaje de defectuosos del 2% (AOQL), mientras que si los lotes
alcanzan un porcentaje de defectuosos del 10%, deber tenerse una probabilidad del
95% de que sean rechazados.
(a) Qu tipo de plan eligira usted?
(b) De acuerdo con su respuesta en (a), defina el plan ms adecuado.
(c) Supongase que al analizar el primer lote con el plan de muestreo que se defini, se
obtiene como resultado una media x=0.73 y una desviacin estandar de la muestra
=1.05x10-2 Cul debera ser el destino del lote?