Control Estadstico de Procesos

The strength of SPC is its simplicity

Control Estadstico de Procesos

Control Estadstico de Procesos (CEP) es un

conjunto de herramientas que permite tomar
decisiones analticas y determinar si un proceso
est funcionando adecuadamente o no.
Control Estadstico de Procesos

La variabilidad est presente en todo proceso,

decidir cundo la variacin es por causas
naturales y cundo es por causas que se pueden
corregir es la clave del control de calidad.
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Un proceso en el que la variabilidad se debe solo

a causas comunes (o naturales) se dice que est
bajo control.

Un proceso se encuentra fuera de control

cuando las causas que generan la variabilidad
son especiales (o asignables) y por lo tanto
pueden ser corregidas.
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El CEP est ntimamente ligado con el ciclo PHVA
(PDSA) puesto que inicia con la planeacin y
observacin de los datos y luego sigue los mismos
pasos para desarrollarlo.
Control Estadstico de Procesos
Control Estadstico de Procesos
 Cartas de Control

Recuerde que el objetivo principal del CEP es

eliminar la variabilidad en el proceso. Sabemos
que esto no es posible, pero las cartas de control
son la herramienta ms efectiva para reducir la
variabilidad hasta el nivel ms bajo posible.
Cartas de Control
 Cartas de Control
Elementos
Una carta de control es una visualizacin grfica de una
caracterstica de calidad que se ha medido o calculado a partir
de una muestra versus el nmero de muestra o el tiempo.

El grfico contiene una lnea central que representa el

valor promedio de la caracterstica de calidad
correspondiente al estado en control.

Otras dos lneas horizontales, llamadas el lmite de control

superior (LCS) y lmite de control inferior (LCI) se eligen de
manera que si el proceso est bajo control, casi todos los
puntos de muestra caern entre ellos.
Cartas de Control
Elementos
 Cartas de Control
Elementos
Cartas de Control Shewhart

Lmite de Control Inferior:

Lnea central:

Lmite de Control Superior: +

 Cartas de Control
Ejemplo:
En la fabricacin de semiconductores, una etapa
importante es la fotolitografa, en la que se usa una luz
sensible se aplica material fotorresistente a la oblea de silicio,
el patrn de circuito se expone en la resistencia a travs del
uso de luz UV de alta intensidad, y el material de resistencia
no deseado es eliminado a travs de un ataque qumico o
por plasma hmedo.

Se sigue con un proceso de coccin dura para aumentar la

resistencia a la adherencia y la resistencia al grabado. La
caracterstica de calidad importante en el horneado duro es
el ancho de flujo de la resistencia, una medida de cunto se
 Cartas de Control
Ejemplo:
Se expande debido al proceso de horneado.
Supongamos que el ancho de flujo se puede controlar en
un media de 1.5 micras, y se sabe que la desviacin
estndar del ancho de flujo es de 0.15 micras.

Cada hora, se toma una muestra de cinco obleas, se

calcula el ancho de flujo promedio y se grafica en la
carta.
 Cartas de Control
0.15
= = 1.5 = = = 0.0671
5

LCI: = 1.5 0.0671

LC: = 1.5
LCS: + = 1.5 + 0.0671

Bajo normalidad de la variable, = 2

Un proceso 3-Sigma, 2 = 3.
Cartas de Control
Cartas de Control
 Cartas de Control
1. Las cartas de control reducen el rechazo, el reproceso y
el desperdicio, por tanto, la productividad aumenta. No
mates tu productividad.

2. Las cartas de control ayudan en la prevencin de

defectos. Si no tiene un control de proceso efectivo, le est
pagando a alguien para hacer un producto no conforme.
Hazlo bien la primera vez.

3. Las cartas de control evitan el ajuste innecesario del

proceso, puede distinguir entre ruido de fondo y variacin
anormal. Si no est roto, no lo arregles.
 Cartas de Control

4. Las cartas de control proporcionan informacin que

permite la implementacin de un cambio en el proceso
y mejora del rendimiento.

5. Las cartas de control proporcionan informacin sobre

la capacidad del proceso, el valor de los parmetros
importantes y su estabilidad a lo largo del tiempo. Esta
informacin es de gran utilidad para los diseadores de
productos y procesos.
 Cartas de Control

6. La carta de control solo detectar las causas

asignables. La gestin, el operador y la ingeniera deben
eliminarlas.

7. Una parte muy importante asociada a la carta de

control es el plan de accin fuera de control (OCAP o
PAFC). Los grficos de control sin un OCAP no son tiles
como una herramienta de mejora de procesos.
 Cartas de Control
Diseo

Lmites de Control
Al mover los lmites de control ms lejos de la lnea
central, reducimos el riesgo de un error de tipo I, pero
tambin aumentarn el riesgo de un error de tipo II.

Si movemos los lmites de control ms cerca de la lnea

central, se obtiene el efecto contrario.
 Cartas de Control
Lmites de Precaucin
Cartas de Control Shewhart

Lmite de Precaucin Inferior:

Lnea central:

Lmite de Precaucin Superior: +

<
 Cartas de Control
Lmites de Precaucin
0.15
= = 1.5 = = = 0.0671
5

LPI: = 1.5 0.0671

LC: = 1.5
LPS: + = 1.5 + 0.0671

Un proceso 3-Sigma, =2.

 Cartas de Control
Lmites de Precaucin
 Cartas de Control
Tamao de Muestra y Frecuencia de Muestreo
Al elegir el tamao de muestra, debemos tener en cuenta el tamao
del cambio que estamos tratando de detectar. Si el cambio es
grande, utilizaremos tamaos de muestra pequeos y viceversa.

La longitud promedio de corrida (ARL) puede ser utilizada para

determinar el nmero de muestras a tomar. ARL es la cantidad
promedio de puntos que debe trazarse antes de que un punto
indique una condicin fuera de control.
= 1/

El tiempo promedio hasta la seal (TPS) puede ser de inters

tambin.
=
 Cartas de Control
Tamao de Muestra y Frecuencia de Muestreo

Curva de Operacin Caracterstica para una Carta

.
 Cartas de Control
Tamao de Muestra y Frecuencia de Muestreo

Supongamos que hubo un cambio en la media del proceso y

que ahora es = 1.725.

Si = 5, p = 0.65, = 1.54, = 1.54

Si = 10, p = 0.9, = 1.11, = 1.11
 Cartas de Control
Tamao de Muestra y Frecuencia de Muestreo
Subgrupo racional: es uno en el que la variacin dentro del mismo
slo se debe a causas fortuitas. Esta variacin dentro de un
subgrupo se usa para determinar los lmites de control.

Primer esquema: seleccionar las muestras de subgrupo del

producto o servicio que se obtienen en un momento en el tiempo,
o tan cerca de ese momento en el tiempo como sea posible.

Segundo esquema: seleccionar un producto o servicio obtenido

durante cierto tiempo, para que sea representativo de todo el
producto o servicio.
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Tamao de Muestra y Frecuencia de Muestreo
 Cartas de Control
Anlisis de Patrones
Patrn Cambio en el Nivel del Proceso
Introduccin de nuevos trabajadores.
Cambios en mtodos, materias primas o en mquinas.
Cambio en el mtodo o normas de inspeccin.
Cambio en la habilidad o motivacin de los operadores.
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Anlisis de Patrones
Patrn Tendencia
Desgaste gradual o deterioro de una herramienta.
Sedimentacin o separacin de componentes.
Fatiga del operador.
Presencia de supervisin.
Influencias estacionales.
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Anlisis de Patrones
Patrn Cclico
Cambios ambientales sistemticos.
Fluctuacin en voltaje, presin u otra variable.
Rotacin regular de operadores.
Rotacin regular de mquinas.
Fatiga del operador.
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Anlisis de Patrones
Patrn Mucha Variabilidad
Cambios ambientales sistemticos.
Fluctuacin en voltaje, presin u otra variable.
Rotacin regular de operadores.
Rotacin regular de mquinas.
Fatiga del operador.
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Anlisis de Patrones
Patrn Estratificacin
Clculo incorrecto de los lmites de control.
Una o ms distribuciones subyacentes.