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Treballs Docents, curs 2008 / 2009

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Sistema de adquisicin de datos de un acelermetro


(ADXL330) con la DAQ-6024E y LabVIEW
Luis Ernesto Uribe, Flix Coll, Pau Riera
Tercer Curso de Ingeniera Tcnica Industrial, Especialidad en Electrnica Industrial

Resumen Este documento presenta un sistema para la INCLINMETRO


adquisicin de datos a travs de la DAQ-6024E y el programa
El objetivo es obtener el ngulo de inclinacin de los ejes Y
Labview. Se utiliza el sensor ADXL330, que es un
acelermetro e inclinmetro de Analog Devices. (longitudinal) y X (transversal), como se muestra en la figura
1.
INTRODUCCIN
Actualmente existen muchas aplicaciones, tanto a nivel
industrial como comercial, en las que se utilizan este tipo de
sensores. Se puede destacar su actual importancia en sistemas
de telfonos mviles, plataformas de juego, sistemas de
seguridad en automviles, entre otras.

El sensor ADXL330 es un acelermetro completo de tres ejes


acondicionado con salidas de voltaje de seal, todo montado
en un CI monoltico. El rango del sensor es de . Se puede
medir la aceleracin de la gravedad esttica en las Figura 4. Ejes del sensor
aplicaciones de deteccin de inclinacin, as como la
aceleracin dinmica resultante de movimiento, choque o
vibraciones. Para realizar el clculo del ngulo de inclinacin, aplicamos el
siguiente algoritmo.

Ecuacin 1. Tensin de salida de cada eje

Figura 1. Acelermetro ADXL330

En la siguiente figura se muestra la placa de adquisicin de


datos que se utiliza para la interfaz con el programa
LabVIEW.
De la ecuacin 1 despejamos el ngulo, que queda en funcin
de los otros parmetros del sistema:

Ecuacin 2. ngulo de Inclinacin


Figura 2. Placa DAQ-6024E
El acelermetro tiene una sensibilidad tpica de 300 mv/g y el
Se utiliza el conversor SCSI2-68 fabricado por la Universitat offset sobre cada eje se mide con una aceleracin a 0 g. En
de les Illes Balears. este caso tendramos para el eje x un offset de 1,47 V y para el
eje y de 1,49 V. La anchura de banda es de 50 Hz, por lo tanto
ser necesario adquirir las muestras de los diferentes ejes a
una frecuencia mnima de 100 muestras/s, esto se programa en
LabVIEW mediante un bloque while que toma muestras con
un periodo de 10 ms1.

1
Figura 3. Conversor SCSI2-68 Se sigue esta misma estructura para todas las aplicaciones.

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SIMULACIN DEL INCLINMETRO

En las siguientes figuras se observa el funcionamiento del


Figura 5. Control while sistema en los distintos ejes, as como la activacin de la
alarma cuando se supera un ngulo de inclinacin de .
Para su implementacin en LabVIEW, utilizamos la siguiente
estructura de funciones:

Adquisicin de la seal de datos desde la DAQ-


6024E. Como se observa utilizamos el canal nmero
7 de la placa.

Figura 6. Adquisicin de la seal

Clculo del ngulo de inclinacin en grados.

Figura 8. Eje transversal (X) y activacin de la alarma

PRUEBA DE IMPACTO

Utilizamos la funcin acelermetro del sensor para simular


la activacin de un airbag. Esto suceder cuando se percibe
una fuerte desaceleracin que supera el umbral de los 2g.
Figura 6. Aplicacin de la ecuacin 2
Para obtener la aceleracin se aplica el siguiente algoritmo. Se
Procesamiento de la seal y control de la medida del multiplica por 9,8 para obtener la aceleracin en m/s.
ngulo. Si el ngulo sobrepasa los salta una
alarma en el panel frontal.

Ecuacin 3. Aceleracin en m/s

Para su desarrollo en LabVIEW se sigui la siguiente


estructura de bloques. Cuando se inicia un test de impacto, los
datos de ste se guardan en tiempo real en un array para el
posterior tratamiento y representacin de los mismos.

Se utiliza una estructura tipo case para implementar


la iniciacin y finalizacin del test de impacto.

Figura 7. Se genera un array de la seal y se realiza el control

Se realiza la implementacin de cada eje de la forma


explicada anteriormente, para el eje x utilizamos el canal del
conversor nmero 7, y para el eje y el nmero 5. Mediante
esta implementacin, conseguimos medir el ngulo left/rigth
del eje transversal y front/back del eje longitudinal.

Figura 12. Control del test de impacto y obtencin de la aceleracin en


cada eje

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Obtencin de la aceleracin total sobre el plano XY.

Ecuacin 4. Aceleracin total

Figura 12. Airbag

SIMULACIN DE LA PRUEBA DE IMPACTO

Figura 9. Construccin del array e implementacin de la ecuacin 3 En la siguiente figura se observa el funcionamiento de la
aplicacin.

Representacin grfica mediante un mdulo


waveformchart y obtencin de los datos del impacto
en un archivo de texto. Este archivo se guarda en un
path especificado en la configuracin del mdulo
Write Measurement File. El nombre del archivo es
Datos Choque.

Figura 13. Panel frontal de la prueba de impacto


Figura 10. Mdulos de representacin y obtencin de los datos
Como se coment anteriormente se genera tambin un archivo
La activacin del airbag se realiza mediante dos de texto con los valores del tiempo y la aceleracin. Una
bloques. El primero (figura 12) representa la seal muestra de estos datos se observa a continuacin.
digital de activacin. El segundo (figura 13)
representa el airbag en s. Se genera un array tras la Tiempo Aceleracin
prueba de impacto y se calcula su mximo valor, 2.032000 7.520352
comparndolo con el umbral establecido (2g=19,6 2.032000 11.153298
m/s). 2.047000 10.493491
2.063000 13.799963
2.063000 14.031359
2.078000 12.340053
2.094000 9.380521
2.094000 2.790267
2.110000 1.321857
2.110000 0.917817
2.125000 1.058017
2.141000 0.344704
Figura 11. Seal digital de activacin
2.141000 0.629152
Tabla 1. Datos choque

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MEDIDA DE LA POSICIN RELATIVA
Mediante esta experimentacin se ha podido comprobar la
La tensin de salida de los ejes X, Y y Z es proporcional a la gran utilidad de los sensores basados en acelermetros e
aceleracin del sensor, el clculo de la posicin se realiza inclinmetros, as como el gran potencial del programa
integrando dos veces esta funcin. LabVIEW de Nationals Instruments para la adquisicin de
datos analgicos a travs de dispositivos DAQ. La facilidad de
Esta es una solucin terica, implementado el sistema real se su interfaz grfica, permite el posterior tratamiento digital de
presentan una serie de problemas causados por el offset as estos datos para su control.
como por el ruido. Este offset debera ser restado a la seal y
el ruido eliminado mediante funciones de filtro. REFERENCIAS

A continuacin se observa la estructura de bloques en [1] Analog Devices, i MEMS Accelerometer ADXL 330, 2006.
LabVIEW. Como en el caso anterior, se calcula el valor de la [2] Freescale Semiconductor, Measuring Tilt with Low-g Accelerometer,
aceleracin y luego se aplican las integraciones. 2005.

[3] Freescale Semiconductor, Implementing Positioning Algorithms using


Accelerometer, 2007.

Assignatura dInstrumentaci Electrnica II impartida pels


professors Jaume Verd, Bartomeu Alorda y Vicen Canals del
Departament de Fsica de la UIB.

Flix Coll Carrera (Palma de Mallorca, 1985)


es estudiante de tercer curso de Ingeniera
Tcnica Industrial (esp. Electrnica Industrial)
en la UIB.

Figura 14 . Obtencin de la velocidad y posicin a partir de la aceleracin

Luis Ernesto Uribe (Bogot, 1985) es


estudiante de tercer curso de Ingeniera Tcnica
Industrial (esp. Electrnica Industrial) en la UIB.

Pau Riera Benito (Palma de Mallorca) es


estudiante de tercer curso de Ingeniera Tcnica
Industrial (esp. Electrnica Industrial) en la UIB.
CONCLUSIONES

SIMULACIN DE LA POSICIN RELATIVA

En la siguiente figura se aprecia el funcionamiento de la


aplicacin.

Figura 15. Clculo de la velocidad y posicin

Obsrvese en la figura anterior la influencia del ruido en las


seales calculadas.
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