UNIVERSIDAD DE LA SERENA

FACULTAD DE INGENIERIA
DEPTO. DE INGENIERIA EN MINAS
AREA DE METALURGIA

Informe N2: Procesamiento de minerales

Anlisis granulomtrico.

Integrantes: Ignacio Bustos Avils

Eduardo Castillo Ley
Mirna Cofre Castillo
Bastin Plaza Jorquera
Fecha de entrega: 21/04/2016
Profesora: Macarena Torres Villalobos
Laboratorio: L-2
 Introduccin
Uno de los costos ms altos en el procesamiento de minerales corresponde a las
etapas de la reduccin de tamaos, por lo cual, es necesario el control estricto del tamao
de partculas para as optimizar el rendimiento de equipos y obtener buenas respuestas
metalrgicas y por ende econmicas.
En sta segunda experiencia, analizamos la granulometra de una muestra de 2039
gramos, la roleamos, separaremos 3 veces y luego tamizamos y medimos pesos y otras
caractersticas para cara medida granulomtrica. Usaremos desde la malla #4 a la #200
teniendo como fondo la -200#.

Objetivos
- Tabular datos obtenidos
- Confeccionar registro granulomtrico
- Graficar la distribucin granulomtrica, trazado geomtrico semi logartmico y Log-
Log.
- Clasificar la fraccin inferior al tamiz N200, usando la expresin de Schuhmann.
- Calcular la superficie especfica de la muestra.

Equipos
- Tamices
- Tamizador
- Balanza electrnica
- Implementos varios
 Procedimiento

1) Primero, se prepar una muestra y se puso en la balanza electrnica

obteniendo un peso de 2039 gramos.

2) Roleamos la muestra para homogeneizarla con un pao roleador de goma,

repitiendo la accin aproximadamente 50 veces. Para homogeneizar la
muestra ptimamente se debe rolear 400 veces.

3) Se utiliz un separador para dividir la muestra inicial en dos, eligiendo la parte

menor como rechazo y la parte mayor como muestra. Luego la muestra elegida
(de aproximadamente 1000 gramos), se vuelve a colocar en el separador y se
divide nuevamente en dos, rechazando la parte menos y tomando como
muestra la parte mayor (de aproximadamente 500 gramos) y por ltimo
volvemos a separar en dos sta muestra, rechazando la menor y tomando
como muestra final la parte mayor.

4) Pesamos la ltima muestra obteniendo un valor de 293,5 gramos.

5) sta muestra se puso en la parte superior de las mallas #4-#200, teniendo

como fondo -200#.

6) Por ltimo ponemos las mallas en el vibrador y esperamos 15 minutos antes de

pesar cada malla.

7) Se realizan clculo de parmetros cmo la abertura, abertura media, pesos

corregidos, retenidos parciales, retenidos acumulados y pasantes acumulados
adems de un parmetro mi/dpi con las siguientes frmulas:

a) Abertura: se toma la abertura conocida de la malla 4 (4750m):

(+1) =
2

b) Abertura media: se tomaron los datos de las aberturas de las mallas 4 y 6 y

se saca un promedio obteniendo la abertura media para la malla 6:

#4 + #6
= . #6
2
 4750 + 3359
= 4055
2
Las aberturas medias posteriores se obtuvieron mediante las siguientes
ecuaciones:
.
. (1) = . 2 . (+1) =
2
c) Pesos corregidos: para calcular los pesos corregidos debemos obtener el
factor de correccin a travs de la siguiente frmula.

293,5 291,9
= 0,00548
291,9

Con esto utilizamos la siguiente frmula para cada peso corregido:

. = .

d) Retenidos parciales: indica el porcentaje de material retenido en cada

malla, se calcula con la siguiente regla de 3.

293 100%
=
. %

e) Retenidos acumulados: es la suma de todos los retenidos parciales

anteriores a l.

. = .
1

f) Pasantes acumulados: es el opuesto a los retenidos acumulados, es decir, el

100% menos los retenidos acumulados en cada malla.

. = 100% .

g) Mi/Dpi: parmetro que se calcula con la siguiente ecuacin.

Finalmente pasar a milmetros (mm).
Los datos detallados anteriormente se tabularon en el siguiente diagrama:
TAMICES US PESOS EN GRAMOS PORCENTALES % X
TAMIZ N ABERTURA m A. MEDIA m A MEDIAcm OBTENIDO O. CORREG RET. PARC. RET. ACUM. PAS. ACUM MI/DPI m MI/DPI cm

4 4750 5735 0,5735 15,4 15,484 5,276 5,276 94,724 0,00091999 9,200
6 3359 4055 0,4055 38,1 38,309 13,052 18,328 81,672 0,00321884 32,188
8 2375 2867 0,2867 57,4 57,715 19,664 37,992 62,008 0,00685807 68,581
12 1679 2028 0,2028 50,0 50,274 17,129 55,122 44,878 0,00844841 84,484
16 1188 1434 0,1434 36,4 36,600 12,470 67,592 32,408 0,00869804 86,980
20 840 1014 0,1014 21,2 21,316 7,263 74,854 25,146 0,00716425 71,643
30 594 717 0,0717 12,9 12,971 4,419 79,274 20,726 0,00616509 61,651
40 420 507 0,0507 12,2 12,267 4,180 83,453 16,547 0,00824565 82,456
50 297 358 0,0358 10,1 10,155 3,460 86,913 13,087 0,00965387 96,539
70 210 253 0,0253 5,7 5,731 1,953 88,866 11,134 0,00770495 77,050
100 148 179 0,0179 13,0 13,071 4,454 93,320 6,680 0,02485154 248,515
140 105 127 0,0127 4,5 4,525 1,542 94,861 5,139 0,01216571 121,657
200 74 90 0,0090 11,9 11,965 4,077 98,938 1,062 0,04549744 454,974
-200 3,1 3,117 1,062 100,000 0,000
TOTALES 291,900 293,500 100 0,14959187 1495,919

Tabla N1: Registro Granulomtrico.

TAMIZ N Abertura Retenido MI/DPI cm

Media (cm) Parcial

4 0,5735 5,276 9,200

6 0,4055 13,052 32,188
8 0,2867 19,664 68,581
12 0,2028 17,129 84,484
16 0,1434 12,470 86,980
20 0,1014 7,263 71,643
30 0,0717 4,419 61,651
40 0,0507 4,180 82,456
50 0,0358 3,460 96,539
70 0,0253 1,953 77,050
100 0,0179 4,454 248,515
140 0,0127 1,542 121,657
200 0,0090 4,077 454,974
Fondo 1,062
TOTALES 100 1495,919
 Grficos
Grfico N1: TRAZADO GEOMTRICO

% Trazado geomtrico
100
90

80

70
60

50
40
30

20
10

0
0 20 40 60 80 100 120 140 160 180 200
Malla

R.ACUM P.ACUM

Grfico N2: DIAGRAMA SEMI-LOGARTMICO

% DIAGRAMA SEMI-LOGARTMICO
100
90
80
70
60
50
40
30
20
10
0
10 100 1000 10000
DPI

R.ACUM P.ACUM
Grfico N3: DIAGRAMA SEMI-LOGARTMICO

%
DIAGRAMA LOG-LOG
100.000

10.000

1.000
1 10 100 1000 10000
DPI

R.PARCIAL P.ACUM

Parte N1: Clculo de la superficie especfica fraccin clasificada.

Tenemos los siguientes datos:
= = 1,6
= %
=
= = 2,6

6
= ( )


=
%
6 1,6
= 1495,919 = ,
2,6
5523,393 2
= = ,
98,938
Parte N2: Clculo de la superficie especfica fraccin no clasificada.
La finalidad es calcular el tamao mnimo de las partculas presentes en la fraccin
inferior (fondo -200). Para esto se determin el mdulo de distribucin (a+1), que
corresponde al tramo recto de la curva retenida parcial graficada anteriormente.
Para calcular la pendiente tomamos dos puntos de la curva:
I) P50 = (0,0358; 3,460)
II) P140 = (0,0127; 1,542) con x (cm) e y (%)
2 1
( + 1) =
2 1

1,542 log 3,460

( + 1) = = 0,779844176
log 0,0127 log 0,0358

Luego dentro del tramo recto de la curva, tomamos un dpi y un mi obteniendo un

punto P = (0,0165; 2), remplazndolo en la siguiente frmula:
= ( + 1) log + log ` , tomando punto N 11

Resolviendo: 2 = (0,779844176) log 0,0165 + log `

= 49,104

Calculando el valor de B` y luego el de B

` ( + 1)
=
(+1) 1
49,104 (0,779844176)
Resolviendo: = (0,779844176)
2 1

= 123,399

Donde R = razn de abertura utilizado (2)

Luego estimar el dimetro de la partcula ms pequea colectada en el fondo de la serie
de tamices, mediante la ecuacin:

200 = (1+1
200 2
+1
)
( + 1)
Donde:
 = Porcentaje de retenido en el colector o fondo.
+ 1 = Modulo de distribucin (Pendiente).
1 = Abertura tamiz ms fino empleado.
2 = Tamao mnimo en la fraccin inferior no clasificada anterior.
Tomando del tamiz # -200

= 1.062
+ 1 = 0,779844176
1 = 0,0074
2 = Incgnita a encontrar
Resolviendo
123,399
1.062 = (0,00740,779844176 20,779844176 )
(0,779844176)
2 = 0,004616
Calcular el rea superficial de la fraccin inferior no clasificada mediante:
6
= (1#200 2 )

Donde:

= = 1,6.
= = 2,6.
= Pendiente menos 1.
1 = Abertura tamiz ms fino empleado.
2 = Tamao mnimo en la fraccin inferior no clasificada anterior.

6 1.6 123,399
= (0,0074(0,779844181) 0.003537835(0.779844181) )
2.6 (0.779844176 1)

= 1075,2346
Y

=
%
 1075,2346
=
1,062

2
= 1012,462

Finalmente la superficie especfica corresponde a la suma de las reas superficiales

de ambas fracciones (clasificada y no clasificada)
+
=
100

1075,2346 + 5523,393 2
= = 65,986
100

CONCLUSIN