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Can de electrones. Fuente de electrones (filamento de W, de B6La y de emisin de campo (FEG: can Schottky y ctodo frio).
Lentes electromagnticas: propiedades, aberraciones. Resolucin y profundidad de campo. Magnificacin.

Resolucin
La imagen se forma cuando la muestra absorbe y refleja las diferentes longitudes de onda. Parte de la luz transmitida
o reflejada es detectada y se forma una imagen.
En general, los sistemas pticos formadores de imagen estn compuestos de lentes y diafragmas circulares es por
eso que es importante el estudio de la difraccin a travs de una rendija circular. Cuando emanan rayos de luz de un
punto y pasan a travs de una lente con apertura semiangular alfa, forman la imagen de un punto, con una
intensidad difusa alrededor de l, llamada disco de Airy.

Debido a la naturaleza ondulatoria de la luz, cuando sta

atraviesa una apertura circular se difracta produciendo un
patrn de interferencia de regiones iluminadas y oscuras
sobre una pantalla alejada de la apertura. El patrn de
difraccin resultante en una apertura circular iluminada
uniformemente tiene una regin central brillante conocida
como disco de Airy rodeada de una serie de anillos
concntricos denominados patrn de Airy. El dimetro del
disco central est relacionado con la longitud de onda de la
luz y el tamao de la abertura circular.
Para posiciones puntos en la pantalla cuya posicin angular
respecto del centro de la apertura vienen dada por
1.22
=

El poder de resolucin de un instrumento ptico es una medida de su capacidad para separar las imgenes de dos
objetos que se encuentra muy juntos en el espacio objeto.
La distancia (D) entre los dos mnimos de dicho anillo situados a ambos lados del pico de mxima intensidad viene
dada por la expresin:

1 2 0.61
= =
1.22

Donde es la longitud de onda de la luz, n el ndice de refraccin del material donde se encuentra el objeto y la
semiapertura numrica. Si en lugar de un objeto tenemos dos objetos puntuales separados una distancia d. Segn el
criterio propuesto por Rayleigh, estos dos puntos podrn distinguirse cuando el mximo de intensidad de un disco
de Airy coincide con el primer mnimo del segundo disco. De acuerdo con esto, la distancia d deber ser mayor que
d1/2 para reconocer los puntos como entidades individuales. El valor d1/2 se denomina lmite de resolucin. Para
distancias menores que d1/2, los puntos aparecern como una mancha difusa y ser imposible discriminarlos. De la
teora de difraccin de Rayleigh, podemos derivar la relacin:

0.61 0.61
1= 1/2 = =

Donde es la longitud de onda de la luz y es el ndice de refraccin del medio entre el objeto y la lente. El
denominador de la expresin anterior se denomina apertura numrica (AN). Es importante notar, que la separacin
entre puntos no depende de alguna propiedad de la lente excepto de su apertura semiangular. En un microscopio
electrnico, las lentes generan campos magnticos y no hay cambio apreciable en el ndice de refraccin cuando los
electrones pasan a travs de ellos. Por esta razn, se asume un valor de =1. Adems, los ngulos en los que se
desvan los rayos al ser desviados por la lente son pequeos y puede hacerse la aproximacin ( ) ( )
con cierto grado de precisin. Con lo asumido anteriormente, la resolucin terica del microscopio electrnico es:

0.61
1 =

Figura 1.Perfil de intensidad del disco Airy en un punto. En ordenadas se representa la intensidad de la imagen. En Abcisas, la distancia desde
el eje de la lente. 0: eje de la lente. D: dimetro del disco central de intensidad, dado por D= 1.22 Lambda/nsenalfa. Figura 2.-Definicin de
resolucin en trminos de separacin del disco de Airy. El mximo central de una imagen coincide con el primer mnimo de densidad de la
imagen adyacente, D= 1.22 Lambda/nsenalfa

Como se desprende de las ecuaciones, la longitud de onda de la luz utilizada es un factor importante en la resolucin
de un microscopio. Cuanto ms corta es la longitud de onda mayor resolucin se alcanza.
En un principio se hicieron intentos con luz ultravioleta o rayos X, pero las dificultades para focalizar estas
radiaciones impidieron llegar a resultados tiles. El resultado ms interesante vino de la mano de la mecnica
cuntica. La teora cuntica de Max Planck y la teora de la relatividad de Albert Einstein permitieron asociar a
electrones en rpido movimiento con una radiacin de corta longitud de onda. Combinando ambos principios, De
Broglie mostr que una partcula movindose a una velocidad cercana a la de la luz tena una forma de radiacin
asociada con ella, esta relacin esta expresada por

=

Donde h: constante de Plank; m: masa de la partcula y v : velocidad. Si una haz de electrones se acelera mediante
una diferencia de potencial (ddp)= V, la energa cintica adquirida es

1
= 2 =
2
2 1/2
Donde = (
) = (2)1/2 por lo tanto = (2)1/2

12.26
h: 6.624E-34 jouls/s; m: 9.10E-31 kg y e: 1.60E-19 coul. o tambin = Donde esta expresada en

Mediante la utilizacin de un haz de electrones acelerados es posible conseguir longitudes de onda, del orden de
105 veces menores que cuando se utiliza luz visible.

Sin embargo, en un EM el kV real suele ser algo superior al que indica el equipo:

= 0 (1 + 0 /2 2 )

Donde e: carga del electrn (e-), m: masa del e-, e: velocidad de la luz

= 0 (1 + 0.978 16 0 )

LENTES ELECTROMAGNETICAS
Una lente electromagntica est constituida, por un cilindro anular de hierro blando (pieza polar), rodeado por una
bobina de cobre. Al circular una corriente por los enrollamientos de la bobina, se genera un campo magntico en el
espacio anular de la pieza polar. La longitud focal de la lente est determinada por el voltaje de aceleracin aplicado
y por la intensidad de campo magntico en la lente, el cul es una funcin inversa del producto de la corriente (I) en
la bobina y el nmero de vueltas de la misma (N).

=
()2
Donde K es una constante.
La distancia focal puede cambiarse variando la corriente que circula por los enrollamientos de la bobina. A medida
que incrementamos la corriente que pasa por la bobina, se incrementa el campo magntico, las lentes se hacen ms
potentes y la longitud focal decrece. Los electrones al llegar a la lente, son influenciados por el campo magntico y
siguen una trayectoria helicoidal. Este movimiento, no afecta las condiciones de focalizacin y pueden aplicarse las
mismas leyes pticas que rigen los diagramas de rayos de microscopa de luz. Los electrones viajan en el haz a una
fraccin apreciable de la velocidad de la luz y es necesario hacer una correccin relativista. La misma puede ser
expresada como:
= 0 (1 + 0.97816 0 )
Las lentes que se emplean en un microscopio, ya sea de luz o electrnico, no son perfectas sino que tienen defectos
que deterioran la resolucin (aberraciones).
Aberraciones esfricas: este tipo de defecto es la incapacidad de una lente para focalizar todos los haces incidentes
en un punto. Los rayos que pasan por la porcin de la lente ms alejada del eje ptico son focalizados ms cerca de
la lente que aquellos rayos que la atraviesan cercanos al eje (paraxiales). En la actualidad se ha logrado corregir en
dos rdenes de magnitud la aberracin esfrica, mediante el uso de monocromadores. Hay un disco de dimetro
mnimo, entre estos dos focos, en el que convergen los rayos, conocido como disco de mnima confusin. El
dimetro del mismo est dado por la expresin:
= . 3
Donde Cs es el coeficiente de aberracin esfrica que est relacionado con la energa del haz y la longitud focal f; y
la apertura semiangular de la lente. Como vemos, la aberracin esfrica puede ser minimizada, pero nunca
eliminada. Se puede minimizar disminuyendo pero si se hace demasiado pequea, la resolucin limitada por la
difraccin se hace importante. Hay un tamao ptimo de apertura en la cual la aberracin esfrica es minimizada sin
afectar la resolucin.
1/4
= 0.67 1/4
1/4
= 3/4 Siendo B una cte.
Aberraciones cromticas: esta aberracin es causada por la diferencia de energas que tienen los electrones del haz.
Al decir diferencia de energas estamos significando diferencia de longitudes de onda, que a su vez est asociada con
diferencias en la velocidad de los electrones. Electrones ms rpidos, de corta longitud de onda son menos
desviados por la lentes que los electrones ms lentos, de mayor longitud de onda. Hay por lo tanto, distintos puntos
de focalizacin. Este efecto se traduce en una imagen borrosa, similar a la que est fuera de foco. Si diferenciamos la
expresin de la longitud focal obtenemos:

=

Se demuestra que: cualquier cambio en el voltaje de aceleracin o en la corriente de las lentes, causar un cambio
en la longitud focal de las mismas (f: Long focal; V voltaje, I: intensidad de corriente). Estas variaciones afectan la
resolucin en mayor o menor medida segn la sensibilidad que tenga la lente a tales cambios. El parmetro que
representa esa cualidad es el coeficiente de aberracin cromtica (Cc). La resolucin dc limitada por los defectos
cromticos est dada por:
2
= ( )

Este tipo de efecto puede ser eliminado logrando una muy buena estabilidad en el voltaje de aceleracin. El Cc
puede reducirse incrementando la intensidad de campo magntico en la lente.
Astigmatismo: se produce por la asimetra del campo magntico de la lente. Dicha asimetra hace que la longitud
focal en una direccin sea distinta a la longitud focal en la direccin perpendicular a la anterior. Puede deberse a
diversas causas, como por ejemplo baja precisin en el maquinado de la lente, falta de homogeneidad en el material
de la pieza polar, contaminacin, incorrecta alineacin del eje ptico. La imagen aparecer borrosa y deformada y
ser imposible alcanzar un foco ptimo. La cantidad de astigmatismo est definida como la distancia entre las lneas
focales. Para corregir este defecto, suele colocarse, cercano a la lente, una serie de enrollamientos (corrector de
astigmatismo), que aplican un dbil campo magntico sobre el haz electrnico para alcanzar la simetra deseada. El
corrector de astigmatismo corrige la asimetra tanto en magnitud como en direccin.
Entre las caractersticas principales que tiene un microscopio electrnico se encuentran la gran profundidad de
campo y profundidad de foco que posee.
Profundidad de campo (D0): el rango de posiciones que puede tomar un objeto, sin que se perciban cambios en la
nitidez de la imagen, se denomina profundidad de campo. Una imagen aparecer en foco cuando el objeto se
encuentre en un plano apropiado. Si parte del objeto se ubica por encima o por debajo de dicho plano, habr partes
de la imagen que estarn fuera de foco.
1
0 =

Profundidad de foco (Df): Un trmino que suele confundirse con la profundidad de campo es la profundidad de foco
(Df). Esta es anloga a la anterior pero para el rango de posiciones en que puede ubicarse la imagen sin aparecer
fuera de foco, para una posicin fija del objeto. La profundidad de foco (Df) se relaciona con la magnificacin (M) y
con la profundidad de campo, (Do).
1
= = 0

Tanto la profundidad de campo como la de foco son funciones inversas de la apertura semi-angular y directa de la
resolucin.

CAON DE ELECTRONES
El can de electrones de un microscopio electrnico es la responsable de la generacin del haz de electrones. Debe
reunir ciertos requerimientos, entre ellos que produzca un alto brillo y tenga alta estabilidad.
Las fuentes de electrones pueden ser termoinicas o de emisin de campo.
El generador electrnico de emisin termoinica est constituido por un filamento (F) (ctodo), un cilindro con una
apertura central, llamado cilindro de Wehnelt (G) que rodea al filamento y tiene un potencial ligeramente ms
negativo que ste. El nodo (A) se encuentra por debajo del cilindro de Wehnelt. En un emisor trmico, los
electrones se emiten a partir de un material incandescente. La funcin de la corriente incandescente del filamento
es dar a los electrones suficiente energa trmica para sobrepasar la barrera energtica que evita que los electrones
sean liberados. Todos los metales liberan electrones cuando se calientan a la temperatura adecuada, y cuanta mayor
temperatura se aplica, mayor cantidad de electrones se emiten. Sin embargo, la mayora de los materiales no
sobreviven largo tiempo a las temperaturas requeridas para que sometidos a estos procesos, liberen una cantidad
significativa de electrones. El Tungsteno (W) tiene una temperatura de fusin suficientemente alta (3650 Kelvin), lo
que permite que el material soporte temperaturas elevadas por mayor tiempo (~ 2600- 3000K) y por tanto, es el
material elegido para un emisor termoinico tpico. El filamento es calentado por el pasaje de corriente. Los
electrones emitidos termoinicamente por el ctodo son acelerados hacia el nodo, pasan por la apertura circular
central de ste y un haz de alta energa es emitido hacia la columna del microscopio. El cilindro de Wehnelt tiene
como funcin controlar el dimetro del rea en la punta del filamento donde se emiten los electrones. Estos son
concentrados en un plano de mnima seccin transversal, en el cul la densidad de electrones por unidad de rea es
la ms alta, llamado punto de entrecruzamiento. Este es considerado la fuente efectiva de electrones. El dimetro
del haz en el entrecruzamiento depende del rea del filamento desde donde se emiten los electrones y puede
controlarse por la diferencia de potencial (bias) entre la punta del filamento y el cilindro de Wehnelt.
Otra manera de obtener emisin es reducir la barrera energtica de trabajo, la cual limita la emisin. Materiales
con bajas funciones de trabajo emiten a menores temperaturas (LaB6 por ejemplo). A estos materiales suele
referrselos frecuentemente como emisores de campo parcial, ya que se explota el concepto de que su baja funcin
de trabajo permite la operacin a menores temperaturas que el tungsteno (~1400-2000 K). El uso del trmino
emisor de campo parcial no es rigurosamente cierto, ya que el mecanismo primario de excitacin sigue siendo
activacin trmica.
Las fuentes de emisin de campo operan mediante una reduccin de la barrera de energa por un campo aplicado
que permite la formacin de tneles cunticos de electrones a travs de la barrera reducida hacia el vaco. Este es un
proceso distinto a la emisin termoinica. Existen dos tipos de emisores de campo: los asistidos trmicamente
(tambin denominados Schottky) y los Emisores de campo fro, como lo implican sus nombres, los emisores asistidos
trmicamente requieren calor, mientras que los de campo fro no. Ambos necesitan la aplicacin de un campo
externo para extraer el haz de electrones de una punta o extremo muy pequeo.
Para el caso de los caones termoinicos y de hexaboruro de lantano (LaB 6), se forma un sistema de trodo con el
filamento, cpsula de Wehnelt y nodo. Mediante el diseo de la fuente de poder, la cpsula de Wehnelt es
ligeramente negativa con el filamento y resulta un campo electrosttico que funciona como una pequea lente
produciendo un enfoque de los electrones que son emitidos solamente desde una regin limitada de punta caliente
de la fuente de Tungsteno. Esta diferencia de voltaje es normalmente conocida como voltaje
desviado del can. En los emisores de campo un sistema mltiple de nodos es utilizado en lugar de la
configuracin de trodo. En este caso se aplica un voltaje de extraccin. Los voltajes de desviacin son generalmente
de unos cientos de volts, mientras que en el voltaje de extraccin en un FEG (field emission gun) es generalmente en
el rango de 3-5 kV.
El filamento y la cpsula de Wehnelt (o ltimo nodo para un FEG) se conectan tambin a la terminal negativa de la
fuente de alto voltaje. Por lo tanto, el haz de electrones que abandona el Wehnelt se acelera por el alto voltaje hacia
el nodo, que se coloca en la base del can. Esta aceleracin proporciona a los electrones su velocidad axial (Z).
Algunos de estos electrones logran pasar por una pequea apertura en el nodo que es la entrada a la columna de
electrones. Una vez que pasa el electrodo del can (con potencial de tierra) la aceleracin Z de los electrones es
esencialmente cero y viajan a velocidad constante (determinado por el alto voltaje) hasta que golpean la muestra.
La funcin de las lentes remanentes y los deflectores en el cuerpo de un microscopio sirven para provocar la
desviacin y enfoque posterior del haz hacia el espcimen, de la forma en que el analista lo requiera.
Finalmente, puede notar que los electrones son emitidos a partir de un filamento termoinico de una manera muy
similar a como ocurre en un foco. En el caso del foco, la falla del filamento se debe a la transferencia de masa y a la
fusin. Esto involucra el movimiento de tomos metlicos alejndose del punto de la falla (aun cuando se est abajo
del punto de fusin). El sobrecalentamiento de los filamentos genera que este fenmeno se produzca con mayor
rapidez, reduciendo por tanto, la vida til del filamento.