tamao las muestras: 100

Sample No.of Defect Sample No.of Defectves

1 44 11 36
2 48 12 52
3 32 13 35
4 50 14 41
5 29 15 42
6 31 16 30
7 46 17 46
8 52 18 38
9 44 19 26
10 48 20 30

LOTE TAMAO DEFECTUOSOLOTE TAMAO DEFECTUOSOS

1 200 21 6 200 40
 2 200 20 7 180 27
3 200 27 8 180 23
4 200 33 9 180 20
5 200 22 10 200 26

LOTE TAMAO DEFECTUOSOLOTE TAMAO DEFECTUOSOS

11 200 28 19 220 18
12 200 21 20 220 24
13 200 23 21 200 13
14 200 21 22 200 23
15 200 25 23 200 12
16 200 29 24 200 19
17 200 20 25 200 26
18 220 28
 Sample No.of Defect LC LCS LCI
100 1 44 40 54.6969385 25.3030615 60
100 2 48 40 54.6969385 25.3030615
100 3 32 40 54.6969385 25.3030615 50
100 4 50 40 54.6969385 25.3030615
100 5 29 40 54.6969385 25.3030615 40
100 6 31 40 54.6969385 25.3030615
100 7 46 40 54.6969385 25.3030615 30
100 8 52 40 54.6969385 25.3030615
100 9 44 40 54.6969385 25.3030615 20
100 10 48 40 54.6969385 25.3030615
100 11 36 40 54.6969385 25.3030615 10
100 12 52 40 54.6969385 25.3030615
100 13 35 40 54.6969385 25.3030615 0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12131
100 14 41 40 54.6969385 25.3030615
100 15 42 40 54.6969385 25.3030615
100 16 30 40 54.6969385 25.3030615
100 17 46 40 54.6969385 25.3030615
100 18 38 40 54.6969385 25.3030615
100 19 26 40 54.6969385 25.3030615
100 20 30 40 54.6969385 25.3030615
800

P 0.4
nP 40
 No.of Defectves
LC
LCS
LCI

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 1213141516 17 181920
Sample Defects n c LCS LCI
1 6 5 8 16.4852814 0 18
2 4 5 8 16.4852814 0
3 8 5 8 16.4852814 0 16
4 10 5 8 16.4852814 0 14
5 9 5 8 16.4852814 0
12
6 12 5 8 16.4852814 0
7 16 5 8 16.4852814 0 10
8 2 5 8 16.4852814 0 8
9 3 5 8 16.4852814 0
6
10 10 5 8 16.4852814 0
11 9 5 8 16.4852814 0 4
12 15 5 8 16.4852814 0 2
13 8 5 8 16.4852814 0
0
14 10 5 8 16.4852814 0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
15 8 5 8 16.4852814 0
16 2 5 8 16.4852814 0
17 7 5 8 16.4852814 0
18 1 5 8 16.4852814 0
19 7 5 8 16.4852814 0
20 13 5 8 16.4852814 0
160
18

16

14

12

10 c
LCS
8 LCI
6 Defects

0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20
Sample Defects Defects per ui LC LCS LCI
1 6 1.2 1.6 3.29705627 0 3.5
2 4 0.8 1.6 3.29705627 0
3 8 1.6 1.6 3.29705627 0 3
4 10 2 1.6 3.29705627 0
5 9 1.8 1.6 3.29705627 0 2.5
6 12 2.4 1.6 3.29705627 0
2
7 16 3.2 1.6 3.29705627 0
8 2 0.4 1.6 3.29705627 0 1.5
9 3 0.6 1.6 3.29705627 0
10 10 2 1.6 3.29705627 0 1
11 9 1.8 1.6 3.29705627 0
12 15 3 1.6 3.29705627 0 0.5
13 8 1.6 1.6 3.29705627 0
0
14 10 2 1.6 3.29705627 0 1 2 3 4 5 6 7 8 91
15 8 1.6 1.6 3.29705627 0
16 2 0.4 1.6 3.29705627 0
17 7 1.4 1.6 3.29705627 0
18 1 0.2 1.6 3.29705627 0
19 7 1.4 1.6 3.29705627 0
20 13 2.6 1.6 3.29705627 0
1.6
3.5

2.5

2 Defects per ui
LC
1.5 LCS
LCI
1

0.5

0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20
subgrupo concentraciones media rango
1 58.400348 58.9977453 57.5438414 53.0743215 57.0040641 1.45390397
2 63.4520265 64.1372791 62.8151581 59.0045528 62.3522541 1.32212105
3 64.0400159 64.7354945 63.4287123 59.6948013 62.974756 1.30678219
4 64.0024387 64.6972637 63.3895012 59.6506889 62.9349731 1.30776247
5 66.7981407 67.5415866 66.3067555 62.9326 65.8947707 1.23483111
6 61.9493548 62.608474 61.2471528 57.2405469 60.7613821 1.36132118
7 60.617079 61.2530282 59.856952 55.676571 59.3509075 1.3960762
8 63.7881116 64.4792092 63.1658556 59.3990875 62.708066 1.31335361
9 64.1539531 64.8514132 63.5476032 59.8285537 63.0953808 1.30380992
10 63.8899057 64.5827736 63.2720755 59.5185849 62.8158349 1.31069811
11 70.9599096 71.7757341 70.6494708 67.8181547 70.3008173 1.12626323
12 67.4028753 68.1568384 66.9377829 63.6425058 66.5350006 1.21905543
13 60.7210538 61.3588112 59.9654474 55.7986283 59.4609852 1.39336381
14 62.4190351 63.0863227 61.737254 57.7919108 61.2586307 1.34906865
15 65.6188567 66.3417933 65.0761983 61.5482231 64.6462678 1.26559504
16 65.1895436 65.9050139 64.6282194 61.0442468 64.1917559 1.27679452
17 58.9289972 59.5355885 58.0954754 53.6949098 57.5637427 1.44011312
18 63.0532934 63.7316116 62.3990888 58.5364749 61.9301172 1.33252278
19 63.2640879 63.9460721 62.6190483 58.7839293 62.1532844 1.32702379
20 62.0559862 62.7169599 61.3584204 57.3657229 60.8742724 1.35853949
21 64.7355049 65.4430789 64.1544399 60.5112449 63.7110672 1.288639
22 66.9002485 67.6454702 66.4133028 63.0524657 66.0028718 1.23216743
23 69.6110089 70.4033742 69.2419223 66.2346626 68.872742 1.16145194
24 63.4344864 64.119434 62.7968554 58.9839623 62.3336845 1.32257862
25 63.6526023 64.3413433 63.0244546 59.2400114 62.5646029 1.31688863
26 64.530259 65.2342636 63.9402703 60.2703041 63.4937743 1.29399324
27 67.1558188 67.9054852 66.6799849 63.352483 66.273443 1.22550038
28 62.197316 62.8607476 61.505895 57.5316318 61.0238976 1.35485263
29 64.2726388 64.9721629 63.6714491 59.9678803 63.2210328 1.30071377
30 66.8819973 67.6269016 66.394258 63.0310403 65.9835493 1.23264355
63.0762643 1.30428096
desv est= 3.51331167
desv est med 1.75665583 1.78913712
d) A su juicio, cul de las dos cartas es ms conve-
niente en este caso? Argumente.

e) El proceso es estable?

f) Se puede considerar que el proceso genera buena

calidad?

Cartas c y u

17. Qu tpo de variables se analizan mediante las cartas

c y u?

18. Cundo se aplica una carta c y cundo una u?

19. En una empresa se registra el nmero de quejas por

mal servicio. Los datos de las ltmas 25 semanas se

muestran enseguida (el orden es por rengln):

623456789012345678901

2345

a) Es adecuado hacer un anlisis mediante una carta p?

Argumente.

b) Calcule los lmites de control.

c) Obtenga la carta c y analcela.

d) El proceso es estable?

e) El nivel de calidad se puede considerar satsfactorio?

20. En una lnea de ensamble o montaje de pequeas pie-
zas en tarjetas electrnicas se cuantfi ca el nmero de

defectos de diferente tpo por medio de una muestra de

10 tarjetas. Los defectos encontrados en las ltmas 30

muestras se listan a contnuacin (datos en orden por

rengln).

28 22 25 21 26 22 36 22 32 22 23 27 26 18

29 24 6 20 25 29 26 24 32 31 29 24 27 21 27

31 20 22 28 26 24

a) Note que en promedio hay ms de un defecto por tar-

jeta, es adecuado analizar estos datos mediante una

carta p? Argumente.

b) Calcule los lmites de control para una carta c e inter-

prete los lmites obtenidos.

c) Obtenga la carta c y analcela.

d) El dato de la muestra 17 es especial, por lo que habra

que buscar las posibles causas que ocasionaron esto,

por qu?

e) Qu opina de la estabilidad del proceso?

f) El nivel de calidad se puede considerar satsfactorio?

g) Cmo aplicara un anlisis de Pareto para enfocar

mejor un proyecto de mejora?

21. En el caso del problema anterior los datos tambin

pueden analizarse mediante una carta u, si se dividen

los defectos por muestra entre el tamao de muestra

(10). De esta manera se analizara el nmero de defec-

tos por tarjeta por subgrupo o muestra. Haga lo ante-
rior y realice las siguientes actvidades.

a) Calcule los lmites de control para la carta u e interpre-

te los lmites obtenidos.

b) Obtenga la carta u y analcela.

c) Hay diferencias en lo que detect la carta c, de lo que

ha observado con la carta u? Por qu?

d) En este caso, cul carta recomendara? Por qu?

22. Se registra en una hoja de verifi cacin la cantdad de

artculos defectuosos, donde tambin se registra el

LOTE TAMAO DEFECTUOSOS LOTE TAMAO DEFECTUOSOS