INTERFERENCIA DE ONDAS DE LUZ

Objetivo:
Deducir la naturaleza de las ondas de luz analizando patrones de interferencia.

Material:
1. Interfermetro de precisin.
2. Lser diodo.
3. Plataforma mecnica variable.

Introduccin al interfermetro de precisin.

El interfermetro de precisin proporciona una introduccin terica y prctica
del fenmeno de interferencia. Mediante este instrumento pueden realizarse
mediciones muy precisas para los siguientes tres modos:
Michelson.
El interfermetro Michelson es histricamente importante, cuyo diseo
proporciona una configuracin muy simple de la interferometra empleando
principios bsicos. Se pueden realizar mediciones de longitud de onda de la luz, ndice
de refraccin del aire y otras sustancias.
Twyman-Green.
El interfermetro Twyman-Green es una herramienta importante
contempornea para la verificacin de componentes pticos. Ha permitido crear
sistemas pticos que tienen una precisin dentro a una fraccin de una longitud de
onda.
Fabry-Perot.
El interfermetro de Fabry-Perot es tambin una importante herramienta
contempornea usada frecuentemente para la espectrometra de alta resolucin. Las
franjas obtenidas resultan ser ms agudas, ms finas y ms espaciadas que las franjas
de Michelson, por lo que las pequeas diferencias de longitud de onda pueden
analizarse con un alto grado de precisin. El interfermetro de Fabry-Perot es
tambin importante en la teora del lser, pues proporciona bsicamente una cavidad
resonante en la cual la amplificacin de la luz toma lugar.
Sobre la fuente de luz.
Se recomienda emplear un lser para estos experimentos. Una fuente de luz
espectral (por ejemplo, una fuente incandescente de luz) tambin puede usarse, pero
sta realmente abarca slo un experimento Una fuente de lser es fcil de utilizar, ya
que se pueden producir franjas muy brillantes y agudas.

Teora de interferencia.
Un haz de luz puede modelarse como una onda oscilante de campos elctricos y
magnticos. Cuando dos o ms haces de luz se cruzan en el espacio estos campos se
pueden sumar segn el principio de superposicin. Es decir, en cada punto del espacio
el campo elctrico y magntico se determina como el vector suma de los campos de
cada haz por separado.
Si cada haz de luz proviene de una fuente independiente no existir relacin
entre las oscilaciones electromagnticas de los haces. En algn instante de tiempo
habr puntos en el espacio donde los campos se suman para producir un mximo. Sin
embargo, las oscilaciones de la luz visible son tan rpidas que el ojo humano no puede
percibir dichas oscilaciones. Puesto que no hay ninguna relacin fija entre las
oscilaciones un punto al cual existe un mximo en un instante quizs tenga un mnimo
en otro instante prximo. As, el ojo humano promedia estos resultados y percibe una
intensidad uniforme de luz.
Si los haces de luz provienen de la misma fuente generalmente existe un cierto
grado de correlacin entre la frecuencia y la fase de las oscilaciones. En un punto del
espacio la luz que se combina por los haces puede estar continuamente en fase. En este
caso, el campo combinado ser siempre un mximo y se ver como un punto brillante.
En otro punto la luz de los haces puede estar continuamente fuera de fase y se ver
como un mnimo o punto oscuro.
Thomas Young fue uno de los primeros en disear un mtodo para producir tal
patrn de interferencia. l hizo pasar un haz de luz estrecho a travs de dos ranuras.
Enfrente de las ranuras coloc una pantalla y all se form un patrn regular de
bandas oscuras y brillantes.
Las ranuras de Young pueden emplearse como un simple interfermetro. Si el
espaciamiento entre las ranuras se conoce entonces con el espaciamiento de los
mximos y mnimos se puede determinar la longitud de onda de la luz. Inversamente,
si la longitud de onda de la luz se conoce el espaciamiento de las ranuras puede
obtenerse a partir de los patrones de interferencia.
El Interfermetro de Michelson.
En 1881, 78 aos despus de que Young introdujo el experimento de las dos
ranuras, Michelson dise y construy un interfermetro usando un principio similar.
Originalmente dise su interfermetro como un instrumento para probar la
existencia del ter, un medio hipottico en la cual la luz se propaga. Debido en gran
parte a sus esfuerzos actualmente el ter no se considera como una hiptesis viable.
Pero ms all de esto, el interfermetro de Michelson se ha convertido en un
instrumento ampliamente usado para medir la longitud de onda de la luz de una
fuente conocida para medir las distancias extremadamente pequeas, y para analizar
medios pticos.
La Figura 1 muestra un diagrama del interfermetro de Michelson. El haz de
luz del lser atraviesa el divisor de haz, de esta forma el 50% de la luz incidente se
refleja y el otro 50% se transmite. El haz incidente por lo tanto se divide en dos haces;
un haz es transmitido hacia el espejo mvil (M1) y el otro es reflejado hacia el espejo
fijo (M2). Ambos espejos reflejan la luz directamente hacia el divisor de haz. La mitad

de la luz de M1 se refleja del divisor de haz a la pantalla de visin y la mitad de la luz

de M2 es transmitida a travs del divisor de haz a la pantalla de visin.

Figura 1. Interfermetro de Michelson

De esta forma, el haz de luz original se divide y las porciones del haz resultante
son llevadas de regreso. Puesto que los haces provienen de la misma fuente sus fases
estn altamente correlacionadas. Cuando se coloca una lente entre la fuente (lser) y
el divisor de haz el rayo de luz se extiende, y un patrn de interferencia de anillos
obscuros y brillantes o franjas se puede observar en la pantalla de visin (Figura 2).

Figura 2. Anillos circulares

Adems, ya que los dos haces de luz que fueron divididos provienen de la
misma fuente, estos estn inicialmente en fase. Su fase relativa, cuando ellos se
encuentran en algn punto de la pantalla, depender de la diferencia de longitud de
trayectorias pticas en alcanzar ese punto.
Moviendo M1 la longitud de trayectoria de uno de los haces puede modificarse.
Ya que el haz atraviesa la trayectoria entre M1 y el divisor de haz dos veces, y si
movemos M1 1/4 de longitud de onda ms cerca al divisor entonces se reducir la
longitud de camino ptico del haz por longitud de onda. As, el patrn de
interferencia cambiar y los radios de los mximos se reducirn, ocupando ahora la
posicin de los mnimos anteriores. Si M1 se mueve 1/4 de longitud de onda adicional
ms cerca al divisor, los radios de los mximos se reducirn otra vez por lo que los
mximos y mnimos cambiarn de posicin, pero este nuevo arreglo ser
indistinguible del patrn original.

Moviendo lentamente el espejo una distancia conocida dm y contando m (el

nmero de veces que el patrn de franjas se restaura a su estado original) la longitud
de onda () puede calcularse como
2d
= m
m
En contraste, si la longitud de onda de la luz se conoce el mismo procedimiento
puede usarse para medir dm.
Instalacin y operacin del equipo.
Alineacin del lser
Ajusta el lser de modo que el haz est aproximadamente 4cm sobre el borde de la
mesa, y alinea el haz como se indica en los pasos 4 y 5.
1. Fija la base del interfermetro en la mesa de laboratorio con la perilla del
micrmetro apuntando hacia ti.
2. Coloca el banco de alineacin del lser a la izquierda de la base del
interfermetro, aproximadamente perpendicular y coloca el lser sobre el
banco.
3. Asegura el espejo mvil en el orificio de la base del interfermetro.
4. Gira el lser. Utilizando los tornillos de nivel del banco del lser ajusta la
altura hasta que el haz este aproximadamente paralelo con el borde de la base
del interfermetro, e incida en el centro del espejo mvil. Para comprobar que
el haz es paralelo con la base, coloca un pedazo de papel en la trayectoria del
haz con el borde de la orilla del papel en la base. Marca la altura del haz en el
papel. Usando el pedazo de papel comprueba que la altura del haz sea igual en
ambos extremos del banco.
5. Ajusta la posicin x-y del lser hasta que el haz del espejo mvil se refleje
nuevamente en la abertura del lser. Esto puede realizarse fcilmente si se
desliza suavemente el extremo posterior del lser hacia el eje del banco de
alineacin, (Figura 3).

Figura 3. Alineacin del lser

Modo Michelson.
1. Alinea el lser y la base del interfermetro como se describi anteriormente. El
rayo lser debe estar aproximadamente paralelo al borde de la base; debe
incidir en el centro del espejo mvil y debe reflejarse nuevamente dentro de la
abertura del lser.
2. Monta el espejo ajustable sobre la base del interfermetro (sobre el tornillo
micromtrico). Coloca una de las piezas para sujetar componentes enfrente del
lser. La otra pieza debe ubicarse del lado opuesto del espejo ajustable y fija la
pantalla de visin por medio de la superficie magntica (Figura 4).
3. Coloca el divisor de haz (espejo semi-plateado) a un ngulo de 45 respecto del
lser, de modo que el haz refleje en el centro del espejo fijo.

Figura 4. Instalacin del modo Michelson

4. Ahora sobre la pantalla debern aparecer dos conjuntos de puntos brillantes.
Cada uno de esos conjuntos incluye un punto brillante con dos o ms puntos de
menor intensidad (por las mltiples reflexiones que han experimentado).
Ajuste nuevamente el ngulo del divisor hasta que los dos conjuntos de puntos
estn lo mas cerca posible. Una vez logrado esto, ajusta el tornillo para
asegurar el divisor de haz en esa posicin.
5. Usando los tornillos ubicados en la parte posterior del espejo ajustable, regula
la inclinacin de ste, hasta que los dos conjuntos de puntos coincidan en la
pantalla.
6. Fija sobre la pieza enfrente del lser una lente de 18 mm de distancia focal.
Ajusta su posicin hasta que el haz divergente se encuentre bien centrado sobre
el divisor. Ahora se debern observar anillos circulares sobre la pantalla. Si ese
no es el caso, revisa la inclinacin del espejo ajustable.

Realizando mediciones exactas de los anillos.

Las siguientes tcnicas pueden ayudar para realizar las mediciones con mayor
precisin.
1. No es necesario que el patrn de interferencia este perfectamente simtrico o
agudo. Mientras se pueda distinguir claramente los mximos y mnimos las
mediciones se pueden realizar con gran precisin.
2. Es muy fcil perder la pista al contar las franjas. La siguiente tcnica puede
ayudar. Centra el patrn de interferencia sobre la pantalla de visin usando los
tornillos de ajuste del espejo fijo. Selecciona una lnea de referencia de la escala
milimtrica y trata de alinearla con el lmite entre los mximos y los mnimos
(Figura 5). Mueve la marca del micrmetro hasta que el lmite entre el
siguiente mximo y el mnimo alcancen la misma posicin que el lmite original
(el patrn de anillos debe verse igual que la posicin original).

Figura 5. Conteo de los anillos circulares.

3. Al darle vueltas a la marca del micrmetro para contar los anillos circulares,
siempre debes girar una vuelta completa antes de que se empiece a contar,
entonces contina dndole vueltas en la misma direccin mientras vas
contando. Esto eliminar casi enteramente los errores debido al backlash en
el movimiento del micrmetro.
El backlash es un leve resbalamiento (juego) que ocurre siempre cuando se
invierte la direccin del movimiento en cualquier instrumento mecnico.
4. Siempre toma varias lecturas y promdialas para una mayor precisin.

Calibrando el micrmetro.
Para realizar mediciones ms exactas del desplazamiento del espejo, se puede
utilizar un lser para calibrar el micrmetro. Para realizar esto, configura el
interfermetro en el modo de Michelson. Gira la perilla del micrmetro y cuenta por
lo menos 20 anillos. Observa el cambio en la lectura del micrmetro y registra este
valor como d'. El movimiento real del espejo d es igual a N/2, donde es la longitud
de onda de la luz (0,6328 m para un lser estndar de HeNe) y N es el nmero de
anillos que fueron contados. En las medidas futuras, multiplica tus lecturas del
micrmetro por d/d ' para una medicin ms precisa.

Usando el difusor.
Algunas veces es ms conveniente ver el patrn de interferencia a travs de un
difusor que en la pantalla. Slo coloca el difusor donde normalmente se coloca la
pantalla y mira a travs de l hacia el interfermetro.