Documentos de Académico
Documentos de Profesional
Documentos de Cultura
PRCTICA
N
8
REA
FSICA
UNIDAD
TEMTICA
2
ASIGNATURA
CDIGO
OPTICA
Y CB03006
ONDAS
Y
LABORATORIO
NOMBRE DE LA
PRCTICA
Ley de Snell
DURACIN
2H
RESUMEN
Se estudia el fenmeno de refraccin de la luz en una interface aireacrlico y airevidrio utilizando un puntero lser. En la prctica, el estudiante debe identificar y
relacionar las variables pticas (ngulo de incidencia, ngulo de refraccin, ngulo
de reflexin e ndice de refraccin) a travs de la observacin de la desviacin de
los rayos de luz en la interface.
OBJETIVOS
Objetivos de enseanza
1.
2.
3.
4.
5.
6.
Objetivos de aprendizaje
Potenciar el trabajo en equipo y las competencias comunicativas orales o
escritas
Manejar adecuadamente los instrumentos y material de laboratorio, para el
registro de datos de magnitudes directas o indirectas con sus respectivas
incertidumbres.
Tabulacin, organizacin, anlisis e interpretacin de resultados con apoyo
relaciones matemticas, de graficas e indicadores estadsticos.
Pgina 1 de 8
Identificar cundo un fenmeno fsico debe ser ajustado a su forma lineal para
aplicar el mtodo de regresin lineal.
Comprobar experimentalmente las propiedades de los rayos de luz al incidir en
una interface.
COMPETENCIAS
1.
Capacidad para trabajar en equipo y comunicarse con sus compaeros de
grupo
2.
Capacidad para leer e interpretar textos de carcter cientfico en su lengua
nativa o en una segunda lengua.
3.
Capacidad para elaborar e interpretar graficas a partir de datos obtenidos
en el experimento
4.
Capacidad para analizar, sintetizar, generalizar y aplicar a partir de
situaciones problema
5.
Capacidad para organizar datos, resultados sintetizar conclusiones
contrastables con modelos tericos.
6.
Capacidad para construccin, anlisis e interpretacin de grficas.
7.
Capacidad para manejar el lenguaje cientfico a un nivel de introduccin a
las ciencias (prefijos, notacin cientfico).
8.
Capacidad para buscar, organizar y clasificar informacin relacionada en el
contexto de las ciencias.
9.
Capacidad para utilizar los equipos y material de laboratorio, de forma
responsable, minimizando cualquier impacto ambiental.
MARCO DE REFERENCIA
En los medios elsticos y homogneos, las ondas se propagan en lnea recta.
Ahora bien, la direccin de desplazamiento de los movimientos ondulatorios se
modifica cuando la onda llega a la frontera de separacin entre dos medios
diferentes. En estos casos se producen los conocidos efectos de reflexin,
refraccin y dispersin de ondas.
La refraccin es la desviacin que sufre un haz de luz cuando pasa por la interface
que separa dos medios pticos. La refraccin es producida por el cambio en la
rapidez experimentada por la onda de luz cuando cambia de medio de
propagacin. Este cambio est relacionado con una propiedad ptica del medio
Pgina 2 de 8
(1)
MATERIALES,
INSTRUMENTOS
(2)
EQUIPOS, REACTIVOS
No aplica
PROCEDIMIENTO
RECOLECCIN DE DATOS
1. Ubique el acrlico sobre la plantilla de ngulos (anexo), de tal manera que
coincida la superficie (interface) con la lnea horizontal (=0).
2. Apunte la lnea de luz roja del lser hacia la interseccin de la lnea normal
y la interface (centro de la plantilla), este es el haz incidente. Se deben
observar dos lneas rojas adicionales. Una haz que se refleja en la interface
y un haz que ingresa en el material. Estos corresponden al haz reflejado y
haz refractado respectivamente.
3. Mida el ngulo de incidencia como se muestra en la figura 1. Reprtelo en
la tabla 1.
4. Mida el correspondiente ngulo de refraccin. Reprtelo en la tabla 1.
5. Repita el procedimiento anterior hasta completar la tabla 1.
Pgina 3 de 8
6. Ahora realice todos los pasos anteriores para la placa de vidrio. Registre
sus datos en la tabla 2.
( )
Pgina 4 de 8
( )
Tabla 5. Resumen de resultados por promedio.
Valor experimental n2por promedio
Error porcentual por promedio ( % )
para vidrio
(
)
Tabla 6. Resumen de resultados por ajuste lineal.
Valor experimental n2por promedio Error porcentual por ajuste lineal ( % )
para vidrio
(
)
4. Anlisis de resultados
1. A partir de la ecuacin (1) y tomando n1 = 1, calcule el n2 promedio para
y 5.
3. Realice una grfica de sin
(2 )en funcin desin
(1 ).
4. Linealice la ecuacin (2) y realice un ajuste lineal por mnimos cuadrados.
5. Calcule el ndice de refraccin n2a partir de la informacin obtenida en el
100
(2)
5. Preguntas
sin
(1 ), est esto de acuerdo con el modelo terico?
3. Cul es la interpretacin fsica de la pendiente?
4. De acuerdo a sus resultados, en qu medio es mayor la rapidez de la luz?
5. Es posible que los ngulos 1 y 2 sean iguales? Puede demostrarlo
experimentalmente?
6. Por qu los valores obtenidos de ndice de refraccin son mayores a la
unidad?
ACTIVIDADES COMPLEMENTARIAS
En caso de dudas en relacin al ajuste lineal, errores, manejo de instrumentos
consulte los siguientes documentos:
Mecnica Laboratorio 1 Medidas Directas
Mecnica Laboratorio 2 Medidas Indirectas
Mecnica Laboratorio 3 Ajuste Lineal
Ejemplo de ajuste lineal en AVA2.
Lectura 5: Taller de Ley de Snell en AVA2
Consultar videos sobre utilizacin y cuidados del lser.
Consultar videos sobre aplicaciones
procedimientos relacionados con la gua.
tecnolgicas
de
los
conceptos
ASPECTOS A EVALUAR
Preinforme que incluye el marco terico de los conceptos fundamentales de la
gua, objetivos de la prctica, revisin del montaje instrumental.
2.
Registro de datos en la bitcora con sus respectivas unidades e
incertidumbres.
3.
9.
REFERENCIAS BIBLIOGRFICAS
LIBROS
[1] SERWAY, Raymond A. y JEWETT, Jhon W. (2005) Fsica I Texto basado en
clculo, 6a Ed. Editorial Thomson.
[2] Sears F. W., Zemansky M. W., Young H. D., Freddman R. A., Fsica
Universitaria, Vol. I, Pearson Addison Wesley, Mxico, 2005. 11 Edicin TEXTO
GUIA
[3] ngel Franco Garca, Fsica con ordenador, (2011),
www.sc.ehu.es/sbweb/fisica/
Pgina 7 de 8
Pgina 8 de 8