02 de octubre de

2014

CONTROL ESTADSTICO DE PROCESOS

PRIMER EXAMEN PARCIAL - UASF

EXAMEN PERODO I - 2014 II

CONTROL ESTADSTICO DE PROCESOS
Carrera Profesional:
Cdigo:

Nombres y Apellidos:
Semestre:
Fecha:
1) Utilizando los siguientes datos consignados en las tablas halle la media aritmtica; Desviacin Estndar y Varianza.
PESOS(Kg)
Xi
fi
Xi. fi
( X - X )2
fi.( X - X )2
X -X
i

[10 ; 20>

14

[20 ; 30>

16

[30 ; 40>

18

[40 ; 50>

32

[50 ; 60>

20

n=
2) Encontrar la media aritmtica, desviacin estndar y la varianza:
[Li ; Ls>
Xi
fi
Xi. fi
( X i - X )2 fi.( X i - X )2
Xi - X
[4 ; 6>

[6 ; 8>

[8 ; 10>

12

[10 ; 12>

[12 ; 14>

20

3.- En la tabla que sigue, se enumeran veinte muestras de tamao 5 junto con sus medias y recorridos, de una caracterstica de
calidad de cierto artculo. A2 = 0,577; d2 = 2,326; D4 = 2.115; D3 = 0
Muestra

Muestra

2.3972 0.0052

11

2.3887 0.0082

2.4191 0.0117

12

2.4107 0.0032

2.4215 0.0062

13

2.4009 0.0077

2.3917 0.0089

14

2.3992 0.0107

2.4151 0.0095

15

2.3889 0.0025

2.4027 0.0101

16

2.1407 0.0138

2.3921 0.0091

17

2.4109 0.0037

2.4171 0.0069

18

2.3944 0.0052

2.3951 0.0068

19

2.3951 0.0038

10

2.4215 0.0048

20

2.4015 0.0017

Determinar:
a) Los lmites de control y la lnea central de la carta X de esta caracterstica de calidad.
b) Los lmites de control y la lnea central de la carta de control R.

ING. DAVID ANDRS SANGA TITO

INGENIERA INDUSTRIAL VII SEMESTRE

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2014

CONTROL ESTADSTICO DE PROCESOS

PRIMER EXAMEN PARCIAL - UASF

4.- Los datos de la siguiente tabla se obtuvieron de un proceso de fabricacin de fuentes de tensin. La caracterstica de calidad
es la tensin (en voltios) de la fuente, y las muestras empleadas para la inspeccin eran de tamao 5.
Determinar:
a) Los lmites de control y la lnea central de la
b) Suponiendo que la caracterstica de calidad
desviacin tpica del proceso.
5.- Una compaa de productos electrnicos
de controlar el proceso, durante 21 das de
de la lnea de produccin y se inspeccionaron.
de tubos defectuosos encontrados cada da:

Muestra

Muestra

103 4

11

105 4

102 5

12

103 2

104 2

13

102 3

105 11

14

105 4

104 4

15

104 5

106 3

16

105 3

7
102 7
Da Tubos Defectuosos
8
105 2
1
11
9
106 4
2
15
10
104 3
3
12
4

carta X.
tiene una distribucin normal, estima la
fabrica tubos de rayos catdicos. Con objeto
cierto mes, se muestrearon cada da 50 tubos
En la siguiente tabla, se presenta el nmero

17
106 5
Da Tubos Defectuosos
18
102 2
12
23
19
105 4
13
15
20
103 2
14
12

10

15

11

16

11

12

17

16

12

18

15

14

19

10

20

13

10

13

21

12

11

15

Determinar:
a) Los lmites de control y la lnea central de la carta p de la fraccin de tubos de rayos catdicos defectuosos.
b) Traza la grfica de control p, est el proceso bajo control?

EXAMEN PERODO I - 2014 I

CONTROL ESTADSTICO DE PROCESOS (solucin del examen 2/OCT/2014)
Nombres y Apellidos:
Carrera Profesional:
Semestre:
Cdigo:
Fecha:
1) Utilizando las expresiones poblacionales para media aritmtica; Desviacin Estndar y Varianza resuelva los
siguientes problemas para datos agrupados y con ajuste estimado:
SOLUCIN:
PESOS(Kg)
Xi
fi
Xi. fi
( X - X )2
X -X
fi.( X - X )2
i

[10 ; 20>

15

ING. DAVID ANDRS SANGA TITO

14

210

-22,8

519,84

7277,76
INGENIERA INDUSTRIAL VII SEMESTRE

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CONTROL ESTADSTICO DE PROCESOS

PRIMER EXAMEN PARCIAL - UASF

[20 ; 30>

25

16

400

-12,8

163,84

2621,44

[30 ; 40>

35

18

630

-2,8

7,84

141,12

[40 ; 50>

45

32

1440

7,2

51,84

1658,88

[50 ; 60>

55

20

1100

17,2

295,84

5916,80

n= 100

3780

17616

xi .fi

1) x = I=1

fi. xi - x

V(x) = I=1

3780
x = 37,80
100

n-1

fi. xi - x

17616
V(x) = 177,94
100 - 1

17616
=
s(x) = 13,34
n-1
100 - 1
2) Encontrar la media aritmtica, desviacin estndar y la varianza:
SOLUCIN:
[Li ; Ls>
Xi
fi
Xi. fi
( X i - X )2 fi.( X i - X )2
Xi - X
I=1

s(x) =

[4 ; 6>

40

-5,04

25,40

203,2

[6 ; 8>

28

-3,04

9,24

36,96

[8 ; 10>

12

108

-1,04

1,08

12,96

[10 ; 12>

11

66

0,96

0,92

5,52

[12 ; 14>

13

20

260

2,96

8,76

175,23

n= 50

502

433,87

xi .fi

1) x = I=1

fi. xi - x

V(x) = I=1

502
x = 10,04
50

n-1

fi. xi - x

433,87
V(x) = 8,85
50 - 1

433,87
=
s(x) = 2,97
n-1
50 - 1
3.- En la tabla que sigue, se enumeran veinte muestras de tamao 5 junto con sus medias y recorridos, de una caracterstica de
calidad de cierto artculo. A2 = 0,577; d2 = 2,326; D4 = 2.115; D3 = 0
s(x) =

I=1

Muestra

Muestra

2.3972 0.0052

11

2.3887 0.0082

2.4191 0.0117

12

2.4107 0.0032

2.4215 0.0062

13

2.4009 0.0077

2.3917 0.0089

14

2.3992 0.0107

2.4151 0.0095

15

2.3889 0.0025

2.4027 0.0101

16

2.1407 0.0138

2.3921 0.0091

17

2.4109 0.0037

2.4171 0.0069

18

2.3944 0.0052

2.3951 0.0068

19

2.3951 0.0038

10

2.4215 0.0048

20

2.4015 0.0017

Determinar:
a) Los lmites de control y la lnea central de la carta X de esta caracterstica de calidad.
b) Los lmites de control y la lnea central de la carta de control R.
SOLUCIN
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PRIMER EXAMEN PARCIAL - UASF

Apartado a)
Realizamos una recopilacin de los datos ofrecidos por el enunciado del problema:
Se desconoce y .
Tamao de la muestra: n = 5.
Nmero de muestras: m = 20.
Nos piden obtener la carta de control de medias X, cuyos lmites de control son:
3
LCS = +
.R + A2 .R
d2 . n
LC =

1 m
. x
m i=1 i

LCS = -

3
.R - A2 .R
d2 . n

Donde A2 y d2, estn tabulados para varios valores de n, en nuestro caso, n = 5, consultamos en la tabla:
A2 = 0.577
d2 = 2.326
Siendo:

Ya disponemos de todos los datos necesarios para obtener los lmites de control de la carta de medias X, empezamos por la lnea
central:

Y posteriormente, obtenemos los lmites superior e inferior de control:

LSC = + A2R = 2.39021 + 0.5770.006985 2.394240
LIC = - A2R = 2.39021 - 0.5770.006985 2.386180
Como resumen, los lmites de control para la carta X son:
LSC = 2.394240
LC = 2.39021
LIC = 2.386180
Apartado b)
En este apartado, nos piden obtener la carta de control de rangos R, cuyos lmites de control son:

Donde D4 y D3, estn tabulados para varios valores de n, en nuestro caso, n = 5, consultamos en la tabla:
D4 = 2.115
D3 = 0
Calculamos los lmites de control de la carta R:
LSC = D4R = 2.1150.006985 0.014773
LC = R = 0.006985
LIC = D3R = 00.006985 = 0
4.- Los datos de la siguiente tabla se obtuvieron de un proceso de fabricacin de fuentes de tensin. La caracterstica de calidad
es la tensin (en voltios) de la fuente, y las muestras empleadas para la inspeccin eran de tamao 5. Considere d2= 2,326; A2 =
0,577
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CONTROL ESTADSTICO DE PROCESOS

Determinar:
a) Los lmites de control y la lnea central de la
b) Suponiendo que la caracterstica de calidad
desviacin tpica del proceso.
SOLUCIN
Apartado a)
Realizamos una recopilacin de los datos
Se desconoce y .
Tamao de la muestra: n = 5.
Nmero de muestras: m = 20.
Nos piden obtener la carta de control de

Muestra

PRIMER EXAMEN PARCIAL - UASF

Muestra

103 4

11

105 4

102 5

12

103 2

104 2

13

102 3

105 11

14

105 4

104 4

15

104 5

106 3

16

105 3

102 7

17

106 5

105 2

18

102 2

106 4

19

105 4

10

104 3

20

103 2

carta X.
tiene una distribucin normal, estima la

ofrecidos por el enunciado del problema:

medias X, cuyos lmites de control son:

Donde A2 y d2, estn tabulados para varios valores de n, en nuestro caso, n = 5, consultamos en la tabla:
A2 = 0.577
d2 = 2.326
Siendo:

Ya disponemos de todos los datos necesarios para obtener los lmites de control de la carta de medias X, empezamos por la lnea
central:

Y posteriormente, obtenemos los lmites superior e inferior de control:

LSC = + A2R = 104.05 + 0.5773.95 = 106.32915
LIC = - A2R = 104.05 - 0.5773.95 = 101.77085
Como resumen, los lmites de control para la carta X son:
LSC = 106.32915
LC = 104.05
LIC = 101.77085
Apartado b)
Por definicin:
Sigma: = R/d2 = 3.95/2.326 1.698194
5.- Una compaa de productos electrnicos fabrica tubos de rayos catdicos. Con objeto de controlar el proceso, durante 21 das
de cierto mes, se muestrearon cada da 50 tubos de la lnea de produccin y se inspeccionaron. En la siguiente tabla, se presenta
el nmero de tubos defectuosos encontrados cada da:
Da Tubos Defectuosos

ING. DAVID ANDRS SANGA TITO

Da Tubos Defectuosos

11

12

23

15

13

15

12

14

12

10

15

11

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CONTROL ESTADSTICO DE PROCESOS

PRIMER EXAMEN PARCIAL - UASF

16

11

12

17

16

12

18

15

14

19

10

20

13

10

13

21

12

11

15

Determinar:
a) Los lmites de control y la lnea central de la carta p de la fraccin de tubos de rayos catdicos defectuosos.
b) Traza la grfica de control p, est el proceso bajo control?
SOLUCIN
Apartado a)
Realizamos una recopilacin de los datos ofrecidos por el enunciado del problema:
Carta de control p, fraccin de defectos.
Tamao de la muestra: n = 50.
Nmero de muestras: m = 21.
Nos piden obtener la carta de control de fraccin de defectos p, cuyos lmites de control son:

Siendo:

Ya disponemos de todos los datos necesarios para obtener los lmites de control de la carta de fraccin defectuosos, p:

Apartado b)
Debemos representar la carta de control p, de fraccin de tubos de rayos catdicos defectuosos, pero antes, debemos obtener los
lmites y 2 de la misma, para su posterior anlisis mediante el mtodo: Western Electric Handbook 1956.
Para obtener los lmites de advertencia y 2, existen dos formas, una es mediante una simple regla de tres, y la otra, algo ms
sofisticada, es obteniendo el valor de .
En este caso, usaremos la regla de tres para obtener los lmites de control de advertencia.
- Para el lmite superior:
(LSC - LC)/3 = (0.442571 - 0.257143)/3 0.061809
Por lo tanto, los lmites de advertencia de control 2 son:
p + 2 = 0.257143 + 20.061809 = 0.380761
Para los lmites de advertencia de control son:
p + = 0.257143 + 0.061809 = 0.318952
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PRIMER EXAMEN PARCIAL - UASF

- Para el lmite inferior:

(LC - LIC)/3 = (0.257143 - 0.071715)/3 0.061809
Por lo tanto, los lmites de advertencia de control 2 son:
p - 2 = 0.257143 - 20.061809 = 0.133525
Para los lmites de advertencia de control son:
p - = 0.257143 - 0.061809 = 0.195334
Podemos comprobar, que tanto para el lmite superior como para el inferior, el valor es el mismo, esto es as ya que existe la
misma distancia entre la lnea central, LC, con el lmite superior, LSC, y el lmite inferior, LIC.
Y en este momento, estamos en disposicin de realizar la grfica de control p:

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