DEPARTAMENTO DE CIENCIAS EXACTAS

CARRERA DE INGENIERA MECNICA

ASIGNATURA: FSICA III

NRC: 4999

INFORME/TRABAJO PREPARATORIO DE LABORATORIO N5

Profesor: Ing. Pedro ngel Merchn Gavilanes

INTEGRANTES
Michelle Estefana Prez
Juan Carlos Quijije

FECHA DE REALIZACIN: 2012-11-06

FECHA DE ENTREGA: 2012-11-20

SANGOLQU-ECUADOR

GUA DE PRCTICA N3.1

Tabla de contenidos
...........................................................................................................................1
RESUMEN DE LA PRCTICA.........................................................................2
Tema: DIFRACCIN DE RAYOS X................................................................3
1. Objetivo(s)...................................................................................................3
2. Materiales y Equipos...................................................................................3
3. Procedimiento..............................................................................................3
4. Tabulacin de Datos....................................................................................4
5. Ejemplo de Clculos....................................................................................5
6. PREGUNTAS...............................................................................................5
7) CONCLUSIONES........................................................................................8
8) BIBLIOGRAFA..........................................................................................9
9) ANEXOS......................................................................................................9

GUA DE PRCTICA N3.1

RESUMEN DE LA PRCTICA
ESPAOL
Esta prctica de laboratorio nos ayuda a comprender la Difraccin de Rayos
X est basada en las interferencias pticas que se producen cuando una
radiacin monocromtica atraviesa una rendija de espesor comparable a la
longitud de onda de la radiacin. Los Rayos X tienen longitudes de onda de
Angstroms, del mismo orden que las distancias interatmicas de los
componentes de las redes cristalinas. Al ser irradiados sobre la muestra a
analizar, los Rayos X se difractan con ngulos que dependen de las distancias
interatmicas.

ENGLISH

This lab helps us to understand the X-ray diffraction is based on the optical
interference which occur when monochromatic radiation passes through a slit
of thickness comparable to the wavelength of the radiation. X-rays have
wavelengths Angstroms, the same order as the interatomic distances of
components of the crystal lattices. By being irradiated onto the sample to be
analyzed, the X-rays are diffracted at angles that depend on the interatomic
distances.

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Tema:

DIFRACCIN DE RAYOS X

1. Objetivo(s)
Comprobar la Ley de Bragg.
Identificar la naturaleza ondulatoria de los rayos x.
Explicar la difraccin de los rayos X.
2. Materiales y Equipos

Aparato bsico de rayos x

Tubo de rayos x
Colimador con diafragma de rendija
Portamuestras
Mesa giratoria
Escala goniometrica
Filtro de Zircn
Monocristal de NaCl o Lif
Tubo contador para rayos
Indicador de valor medio
Contador digital

3. Procedimiento
3.1

3.2
3.3

Introduzca en la abertura de salida de los rayos x el colimador con

diafragma de rendija para limpiar a un estrecho haz de rayos x. En el
curso de este, colocar el filtro de zirconio, para monocromatizar la
radiacin, es decir, permitir el paso de la radiacin K de molibdeno
con =0.71*10^-10 m.
Colocar el monocrsital sobre la mesa giratoria y sujetarlo entre esta y
el portamuestras.
Conectar convenientemente el tubo contador en su respectivo soporte.
Empujar la escala goniomtrica hasta el tope derecho. Soltar el
acoplamiento entre los ejes de giro para la muestra de cristal y para el

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portador del tubo contador en el tornillo moleteado. Colocar ambos
indicadores, del gonimetro y del tubo contador, de tal forma que las
puntas de los indicadores, indiquen exactamente sobre el punto cero de
la escala angular. Luego acoplar entre si los ejes a travs del tornillo
moleteado.
Conectar correctamente el indicador del valor medio en los valores
U=400V y f=1000imp/s e igualmente el contador digital en 1s.
Sensibilidad >1.5Vss y posicin start.
Verificando esta operacin, encender el aparato de rayos x, colocar el
tiempo de funcionamiento en 1 hora. Encender la alta tensin. Pasar el
selector de alta tensin a la posicin 7 el selector de corriente de
emisin a la posicin de 1mA.
Colocar la disposicin del cristal giratorio sobre el ngulo de cristal
=3(Indicador corto) y medir el numero de impulsos en 1s, por lo
menos 3 veces.
Aumentar al ngulo en pasos de 0.5, hasta los 30 y medir cada vez
el numero de impulsos.
Registrar los datos en la hoja tcnica.

3.4

3.5

3.6

3.7
3.8

4. Tabulacin de Datos
Con los datos obtenidos, resmalos en el siguiente cuadro de valores:
Cristal: Fluoruro de Litio 9800 v
Inclinacin del
cristal
Impulsos N
S-1
Inclinacin del
cristal
Impulsos N
S-1
Inclinacin del
cristal
Impulsos N
S-1

3.0

4.0

5.0

6.0

7.0

8.0

9.0

10.0

11.0

72

26

56

46

64

47

554

68

12.0

13.0

14.0

15.0

16.0

17.0

18.0

19.0

20.0

38

31

20

16

15

18

14

15

13

21.0

22.0

23.0

24.0

25.0

26.0

27.0

28.0

29.0

30.0

44

15

14

13

12

11

13

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5. Ejemplo de Clculos
Para esta tabla no hay clculos que se realicen, solo toma de datos de ngulo
de inclinacin y numero de impulsos generados por estos, los cuales se
muestran en la pantalla.
6. PREGUNTAS
A) Construya un grafico Impulsos Inclinacin del cristal y efecte un
estudio de l.

Impulsos-Inclinacin del cristal

600
500
400

Impulsos

300
200
100
f(x) = - 3.54x + 103.4
R = 0.08

0
0

10

15

20

25

30

Inclinacin del cristal

ANLISIS

Mediante la grafica podemos darnos cuenta donde se producen los mximos y

mnimo, los cuales nos determinan los valores de los impulsos para cada
ngulo de inclinacin del cristal.
Para nuestra prctica obtuvimos un mximo de impulsos en el valor de 10
con un nmero de impulsos de 554.

35

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B) Analticamente demuestre los mximos en base a la ecuacin de Bragg
considerando los siguientes datos:

CRISTAL

NaCl
2d(pm)

Cristal:

LiF

2d:

402,76x10-12m

LiF
593.94

402.76

n=( 402,76 1012) sin

Siendo que para =13 el mximo de impulsos fue 12:

n=( 402,76 1012) sin 12
n=7,37 1011
11
El valor terico de n=7,10 10
el error porcentual ser:

( 8.377.1100 )

Error =100

Error =3.80

C) Explique el razonamiento que permiti a W.L. Bragg explicar la

difraccin de Rayos X
Bragg al ver que para algunas longitudes de onda muy cortas no era posible
construir una rejilla de difraccin con una distancia d tan pequea para
las longitudes de onda de rayos x del orden de 0.1 nm, distancia que ya era
localizada entre tomos, propuso usar a los tomos de los cristales como
rejillas de difraccin, debido a que los cristales posean esa distancia. Para

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un haz de rayos x, los espacios regulares entre los tomos de un cristal,
constituyen una rejilla de difraccin tridimensional. Los rayos x se reflejan de
los tomos individuales en todas direcciones, pero solo en una de las ondas
secundarias interferirn constructivamente para producir un haz reflejado.
D) Por qu en la difraccin de Rayos X se mide el ngulo entre el rayo
incidente y la cara del cristal y no la normal a la cara, que se usa para
explicar la reflexin?
Debido a que mientras se toman las medidas de los ngulos reflejados se
pueden medir los mximos de intensidad producidos por las interferencias
constructivas de las longitudes de onda.
E) Por qu se admite que el rayo dispersado, abandona la superficie
formando un ngulo igual al de incidencia. Qu pasara si no fuera si?
Debido a que cuando el rayo choca debe tener cierto tipo de ngulo para
conservar la cantidad de energa, si no de lo contrario la longitud de onda no
seria pequea
F) Explique en que consiste la reflexin la difraccin y la dispersin.
REFLEXION.- Se refiere al fenmeno por el cual un rayo de luz que incide
sobre una superficie es reflejado. El ngulo con la normal a esa superficie
que forman los rayos incidente y reflejado son iguales. Se produce tambin un
fenmeno de absorcin diferencial en la superficie, por el cual la energa y
espectro del rayo reflejado no coinciden con la del incidente.
DIFRACCIN.- es un fenmeno caracterstico de las ondas que consiste en la
dispersin y curvado aparente de las ondas cuando encuentran un obstculo.
La difraccin ocurre en todo tipo de ondas, desde ondas sonoras, ondas en la
superficie de un fluido y ondas electromagnticas como la luz y las ondas de
radio. Tambin sucede cuando un grupo de ondas de tamao finito se
propaga; por ejemplo, por causa de la difraccin, un haz angosto de ondas de
luz de un lser debe finalmente divergir en un rayo ms amplio a una
distancia suficiente del emisor.

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DISPERSIN.- Es el fenmeno por el cual un conjunto de partculas que se
mueve en una direccin determinada rebota sucesivamente con las partculas
del medio por el que se mueve hasta perder una direccin privilegiada de
movimiento.
G) Aun cuando la ecuacin de Bragg, para el retculo de difraccin
cristalino, es parecido a la ecuacin para los retculos planos, es
sustancialmente diferente. Explique por qu?
Porque usa en sustitucin de la rejilla de difraccin, a los tomos en un
cristal ya que las distancias d entre ellos cumplan las exigencias para las
longitudes de onda mnimas en los rayos x.
H) Explique el mecanismo de difraccin propuestos por Debye y Scherrer
El mecanismo que utilizaron para el experimento fue usar el polvo de un
cristal, ya que es lo mismo girar el cristal que pulverizarlo, puesto se necesita
incidir los rayos x en cualquier direccin.
I) Como se explica que las mediciones de difraccin de Rayos X sirvan
para determinar la longitud de onda del haz de Rayos X y a partir de
aqu se utilice para determinar la estructura de un solido
Esto se explica ya que solo para ciertos ngulos las ondas difractadas van a
tener una interferencia constructiva, y al conocer las distancias entre tomos
se puede, utilizando la ley de Bragg, obtener la longitud de onda de los rayos
x. Para determinar la estructura de un cuerpo se hace un proceso similar solo
que ahora lo que conocemos la longitud de onda.
7) CONCLUSIONES

Mediante la difraccin en los Rayos X podemos calcular donde y a que

grado se producen los maximos
Los Rayos X producen gran cantidad de radiaciones, se deben tomar
ciertos consideraciones al realizar esta practica
La longitud de onda de los rayos X es mucho menor que la longitud de
onda que es producida por la luz visible
La difraccin de rayos-x es un mtodo de alta tecnologa no destructivo
para el anlisis de una amplia gama de materiales, incluso fluidos,
metales, minerales, polmeros, catalizadores, plsticos, productos

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farmacuticos, recubrimientos de capa fina, cermica y
semiconductora. La aplicacin fundamental de la Difraccin de Rayos
X es la identificacin cualitativa de la composicin mineralgica de
una muestra cristalina.
Otras aplicaciones son el anlisis cuantitativo de compuestos
cristalinos, la determinacin de tamaos de cristales, la determinacin
del coeficiente de dilatacin trmica, as como clculos sobre la
simetra del cristal y en especial la asignacin de distancias a
determinadas familias de planos y la obtencin de los parmetros de la
red.
8) BIBLIOGRAFA

Fsica Universitaria - Zemasnky

Gua de Laboratorio de Fsica III.
George Gamow. Biografa de la Fsica. Alianza Editorial.1980.
Hey, T & Walter Patrick. El Universo Cuntico, Alianza Editorial.
1989.

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9) ANEXOS

I
magen 1.

Equipo para la difraccin de Rayos x.