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CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P.

Reyes / enero de 2009


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CONTROL ESTADSTICO
DEL PROCESO







Con base en el Texto de Control Estadstico de la Calidad de
Douglas Montogomery







DR. PRIMITIVO REYES AGUILAR
Diciembre, 2008

Mail. Primitivo_reyes@yahoo.com / Cel. 044 55 52 17 49 12
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CONTENIDO
Contenido
1. IMPORTANCIA DE LA MEJORA CONTINUA ..................................................................................... 6
1.1 CALIDAD Y MEJORAMIENTO ...................................................................................................... 6
1.2 HISTORIA DEL CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO .............................................................. 8
Antecedentes ............................................................................................................................... 8
CEP en occidente ........................................................................................................................ 11
CEP en Japn .............................................................................................................................. 12
Desarrollo del Control Estadstico del Proceso .......................................................................... 14
Teorema del lmite central ......................................................................................................... 15
Interpretacin ............................................................................................................................ 16
1.3 LAS 7 HERRAMIENTAS BSICAS PARA LA SOLUCIN DE PROBLEMAS .................................... 18
Hoja de verificacin o registro ................................................................................................... 18
Diagrama de Pareto ................................................................................................................... 20
Diagrama de Dispersin ............................................................................................................. 24
Histogramas ............................................................................................................................... 31
Lluvia de ideas (Brainstorming) .................................................................................................. 32
Diagrama de Causa efecto ......................................................................................................... 33
Carta de tendencias ................................................................................................................... 38
Diagrama de flujo ....................................................................................................................... 39
Pasos para la elaboracin de un diagrama de flujo ................................................................... 40
Diagrama de flujo de tiempo valor agregado ......................................................................... 44
Diagrama de Flujo Fsico ............................................................................................................ 45
Estratificacin............................................................................................................................. 46
Las cartas de control .................................................................................................................. 46
1.4 MTODOS LEAN PARA LA MEJORA .......................................................................................... 47
Los 7 desperdicios o Muda ........................................................................................................ 47
Mtodos Lean para la mejora .................................................................................................... 48
Mapeo de la cadena de valor ..................................................................................................... 48
Las 5 Ss y la administracin visual .............................................................................................. 51
Preparaciones rpidas (SMED) ................................................................................................... 52
Poka Yokes o A prueba de error ................................................................................................ 53
Trabajo estandarizado ............................................................................................................... 54
1.5 LAS SIETE HERRAMIENTAS ADMINISTRATIVAS........................................................................ 55
Diagrama de Afinidad ................................................................................................................ 56
Fig. 1.26 ejemplos de diagrama de interrelacionesDiagrama de rbol ..................................... 60
Diagrama de rbol ...................................................................................................................... 61
Diagrama Matricial ..................................................................................................................... 64
Matrices de Prioridades o prioritizacin .................................................................................... 68
1.6 MTODOS ESTADSTICOS PARA LA MEJORA DE CALIDAD ....................................................... 78
Cartas de control ........................................................................................................................ 78
Diseo de experimentos ............................................................................................................ 79
Muestreo de aceptacin ............................................................................................................ 80
1.7 ADMINISTRACIN POR CALIDAD TOTAL ................................................................................. 82
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Costos de calidad ....................................................................................................................... 83
2. MTODOS Y FILOSOFA DEL CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO (CEP) ................................... 85
Concepto de variacin ............................................................................................................... 85
2.1 DISTRIBUCIN NORMAL .......................................................................................................... 85
Estandarizacin de valores reales .............................................................................................. 91
2.2 PRUEBA DE NORMALIDAD ....................................................................................................... 93
2.3 LA CARTA DE CONTROL COMO PRUEBAS DE HIPTESIS ......................................................... 95
2.4 BASES ESTADSTICAS DE LAS CARTAS DE CONTROL ................................................................ 99
Tamao de muestra y frecuencia de muestreo ....................................................................... 106
Subgrupos racionales ............................................................................................................... 107
Anlisis de patrones en cartas de control ................................................................................ 108
2.5 IMPLEMENTACIN DEL CEP................................................................................................... 109
3. CARTAS DE CONTROL POR VARIABLES ........................................................................................ 111
3.1 INTRODUCCIN .................................................................................................................... 111
3.2 CARTAS DE CONTROL DE MEDIAS-RANGOS .......................................................................... 111
Interpretacin de cartas de control R X ............................................................................ 116
Capacidad o habilidad del proceso .......................................................................................... 128
La curva caracterstica de operacin ....................................................................................... 135
3.3 CARTAS DE CONTROL PARA X y S ....................................................................................... 138
3.4 CARTAS PARA LECTURAS INDIVIDUALES ............................................................................... 145
3.5 SELECCIN ENTRE CARTAS POR VARIABLES Y POR ATRIBUTOS ............................................ 149
3.6 APLICACIN DE CARTAS DE CONTROL POR VARIABLES ........................................................ 152
4. CARTAS DE CONTROL PARA ATRIBUTOS ..................................................................................... 154
4.1 INTRODUCCIN ..................................................................................................................... 154
4.2 CARTA DE CONTROL PARA FRACCIN NO CONFORME - p ................................................... 155
4.3 CARTA DE CONTROL np ......................................................................................................... 167
4.4 TAMAO DE MUESTRA VARIABLE ......................................................................................... 168
4.5 CURVA CARACTERSTICA DE OPERACIN Y ARL .................................................................... 172
4.6 CARTAS DE CONTROL PARA NO CONFORMIDADES (DEFECTOS) c y u .............................. 176
Tamao de muestra constante - CARTA c ............................................................................... 176
Seleccin del tamao de muestra ............................................................................................ 182
Carta de control de defectos por unidad U ............................................................................. 183
Sistema de demeritos .............................................................................................................. 189
La curva caracterstica de operacin ....................................................................................... 190
4.7 CARTAS DE CONTROL PARA TASAS DE DEFECTOS EN ppm ................................................... 192
5. OTRAS CARTAS DE CONTROL ESPECIALES ................................................................................... 193
5.1 CARTAS DE CONTROL PARA CORRIDAS CORTAS DE PRODUCCIN ....................................... 193
Cartas de control dnom ........................................................................................................... 193
Cartas de control de medias rangos estandarizada ................................................................. 194
Cartas de control por atributos ................................................................................................ 195
5.2 CARTAS DE CONTROL MODIFICADAS Y DE ACEPTACIN ...................................................... 195
Cartas de control modificadas ................................................................................................. 195
Cartas de control de aceptacin .............................................................................................. 197
5.3 CARTA DE CONTROL PARA DESGASTE DE HERRAMIENTA O MATERIAL ............................... 199
5.4 CARTA DE PRECONTROL O DE ARCOIRIS .............................................................................. 202
5.5 CARTAS DE CONTROL PARA PROCESOS DE SALIDA MLTIPLE ............................................. 205
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5.6 CARTAS DE CONTROL Cusum ................................................................................................. 206
Cusum normal .......................................................................................................................... 206
Cusum en forma tabular .......................................................................................................... 211
EL PROCEDIMIENTO DE LA MASCARILLA EN V ............................................................................ 214
5.7 CARTA DE CONTROL DE MEDIAS MOVILES EXPONENCIALMENTE PONDERADAS (EWMA) .. 219
5.8 CARTA DE CONTROL DE MEDIA MOVIL ................................................................................. 224
6. ANLISIS DE CAPACIDAD DEL PROCESO ..................................................................................... 229
6.1 INTRODUCCIN ..................................................................................................................... 229
Condiciones para realizar un estudio de capacidad del proceso ............................................. 232
6.2 NDICES DE CAPACIDAD ......................................................................................................... 234
ndice de capacidad potencial Cp ............................................................................................ 234
ndice de capacidad real Cpk ................................................................................................... 237
ndice de capacidad potencial Cpm o PCRm y Cpkm o PCRkm ................................................ 239
6.3 CAPACIDAD DEL PROCESO CON HISTOGRAMA O PAPEL DE PROBABILIDAD NORMAL ........ 241
Histograma ............................................................................................................................... 241
Papel de probabilidad normal .................................................................................................. 243
Capacidad del proceso con cartas de control .......................................................................... 247
Capacidad de procesos con Minitab: normales y no normales ............................................. 250
Capacidad de procesos no normales. ...................................................................................... 254
Anlisis de capacidad con experimentos diseados ................................................................ 255
6.7 ESTUDIOS DE CAPACIDAD DE SISTEMAS DE MEDICIN ........................................................ 256
Error del equipo de medicin .................................................................................................. 256
Repetibilidad y reproducibilidad (R&R) ................................................................................... 259
R&R Capacidad de los sistemas de medicin - AIAG .............................................................. 263
Definiciones.............................................................................................................................. 264
Exactitud : ................................................................................................................................ 265
Estudios R&R - Mtodo Corto del Rango ................................................................................. 267
Estudio de R&R Mtodo largo ................................................................................................. 268
Mtodo de Promedios- Rango ................................................................................................. 269
Clculos con Excel o manual: ................................................................................................... 269
Interpretacin de los resultados .............................................................................................. 275
Estudios de R&R por atributos ................................................................................................. 280
Interpretacin de resultados ................................................................................................... 288
7. MUESTREO DE ACEPTACIN POR ATRIBUTOS ............................................................................ 290
7.1 EL PROBLEMA DE LA ACEPTACIN POR MUESTREO ............................................................. 290
7.2 MUESTREO SIMPLE POR ATRIBUTOS ..................................................................................... 294
Muestreo aleatorio simple ....................................................................................................... 294
La curva OC .............................................................................................................................. 294
Puntos especficos en la curva OC ........................................................................................... 297
Inspeccin rectificadora ........................................................................................................... 298
Muestreo doble, mltiple y secuencial .................................................................................... 301
7.4 TABLAS DE MUESTREO MIL-STD-105E (ANS Z1.4, ISO 2859) ................................................ 309
Descripcin de la norma .......................................................................................................... 309
7. 5 PLANES DE MUESTREO DE DODGE- ROMIG (1920) ............................................................. 316
Planes de AOQL ........................................................................................................................ 317
Planes de LTPD ......................................................................................................................... 317
8. MUESTREO DE ACEPTACIN POR VARIABLES ............................................................................. 319
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Ventajas y desventajas ............................................................................................................. 319
8.1 CONTROL DE LA FRACCIN DEFECTIVA ................................................................................. 320
8.2 DISEO DE UN PLAN DE MUESTREO POR VARIABLES ........................................................... 323
8.3 TABLAS ASQC Z1.9 1993 ..................................................................................................... 325
8.4 OTROS PROCEDIMIENTOS DE MUESTREO POR VARIABLES .................................................. 333
Muestreo secuencial por variables .......................................................................................... 333


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1. IMPORTANCIA DE LA MEJORA CONTINUA

1.1 CALIDAD Y MEJORAMIENTO

Las dimensiones de la calidad segn Garvin son:
1. Desempeo (sirve el producto para el uso adecuado?)
2. Confiabilidad (qu tan frecuentemente falla el producto?)
3. Durabilidad (cul es la vida til del producto?)
4. Serviciabilidad (qu tan fcil se repara el producto?)
5. Esttica (tiene el producto el estilo, color, forma, empaque y apariencia adecuada?)
6. Caractersticas (qu hace el producto ms all de su desempeo bsico?)
7. Calidad percibida (cul es la reputacin de la empresa o del producto?)
8. Cumplimiento de estndares (el producto est hecho de acuerdo a estndares de diseo
original?)

As la calidad tradicionalmente es adecuacin al uso.

Dentro de la adecuacin al uso existen la calidad de diseo y la calidad de conformancia. La de
diseo se refiere al diseo original del producto, los materiales utilizados, especificaciones, y
mtodos empleados. La calidad de conformancia se refiere a que tan bien cumple el producto los
requerimientos de las especificaciones de su diseo, que bsicamente depende del proceso de
manufactura.

Una definicin ms moderna es que la calidad es inversamente proporcional a la
variabilidad.

De esta forma se define la mejora de calidad como:
Mejoramiento de la calidad es la reduccin de la variabilidad en
productos y servicios.

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EUA JAPON






LIE Objetivo LSE
Fig. 1.1 Enfoques de conformancia

Como los mtodos estadsticos tienen un papel importante en el mejoramiento de la calidad, son
objeto de estudio de la Ingeniera de calidad. Los datos relacionados con la calidad se clasifican en
atributos y en variables. Los de atributos son discretos, enteros. Los de variables corresponden a
mediciones con valores reales como longitud, voltaje, etc. Existen diferentes herramientas
estadsticas para tratar con ambos tipos de datos.

Los productos no conformes o defectivos son los que no cumplen una o varias
especificaciones.


Un tipo especfico de no cumplimiento de especificaciones es llamado defecto o no
conformancia.


Caractersticas del producto: Son los elementos que en conjunto describen la calidad del producto,
evaluadas respecto a especificaciones, como son:

1. Fsicos: Longitud, peso, voltaje, viscosidad
2. Sensoriales: Gusto, apariencia, color
3. Relacionados con el tiempo: Confiabilidad, durabilidad, serviciabilidad.

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1.2 HISTORIA DEL CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO

Antecedentes
La teora de la administracin se desarroll bsicamente en los pases industrializados, en
respuesta a los problemas que presentaron las grandes empresas caractersticas del sistema
capitalista.
1
Sus primeros indicios se observan con el economista Adam Smith con el concepto de
divisin del trabajo para aumentar la productividad en 1776.
2

Smith not que en una industria de fabricacin de alfileres, diez personas, cada
una realizando una tarea especfica, podran producir 48,000 alfileres por da.
Propuso que si cada uno trabajara por separado y en forma independiente, los diez
trabajadores tendran suerte en hacer 200 (o an 10) alfileres al da.
3


Smith concluy que la divisin del trabajo incrementaba la productividad sin embargo se
consideraba al trabajador como extensin de la mquina. Durante la revolucin industrial,
iniciada en el siglo XVIII en Gran Bretaala mano de obra era sustituida por mquinas de una
manera acelerada.
4
Esto, a su vez, abarat la fabricacin de productos en las fbricas. Surge la
administracin cientfica con Frederick Taylor.

Frederick Winslow Taylor (1856-1915): l no desarroll una teora de administracin, sino que
haca nfasis en los aspectos empricos.
5
En 1911 public sus Principios de la Administracin
Cientfica
6
donde describe la administracin cientfica, y us este trmino para definir la nica y
mejor manera de realizar un trabajo. Los estudios realizados antes y despus de esta publicacin,
lo erigieron como el padre de la administracin cientfica.
7
Sus cuatro principios son:

1
Simn, Nadima S., Evaluacin Organizacional, SICCO, Mxico, 1997, p. 7
2
Smith, Adam, An Inquiry into the Nature and Causes of the Wealth of Nations, A. Strahan and T.
Cadell, London, 1793, pp. 7-8
3
Robbins, Stephen P., Management: Concepts and Applications, Englewood Cliffs, Nueva Jersey,
1987, p. 31.
4
Ibidem, p. 31.
5
Simn, Nadima, op. cit., p. 9
6
Taylor, Frederick W., Principles of Scientific Management,, Harper & Bros., Nueva York, Estados
Unidos de Amrica, 1911
7
Robbins, Stephen, op cit. p. 33.
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1. Crear una ciencia para cada elemento del trabajo del individuo, que sustituya al
mtodo emprico; 2. Escoger cientficamente y luego entrenar, ensear y
desarrollar al trabajador; 3. Colaborar ampliamente con los trabajadores para
asegurar que todo el trabajo se realice conforme a los principios de la ciencia que
se ha ido desarrollando; 4. Hay una divisin casi igual del trabajo y la
responsabilidad entre la administracin y los trabajadores. La administracin se
encarga de todo el trabajo para el cual est mejor dotada que los trabajadores.
8


Taylor
9
seal que la creacin de nuevos mtodos de trabajo era responsabilidad nica de
gerentes y administradores. La mayor desventaja del taylorismo es que los trabajadores pueden
ser descalificados como si fueran extensin de las mquinas,
10
como consecuencia, se tiene
poca motivacin y alto ausentismo.

Frank (1864-1924) y Lillian Gilberth: disearon arreglos laborales para eliminar movimientos
manuales y corporales intiles, tambin experimentaron en el diseo y uso de herramientas y
equipo adecuado para optimizar el desempeo del trabajo.
11
Encontraron que no es el trabajo
montono la causa de tanta insatisfaccin laboral, sino la falta de inters que muestran los
gerentes por los trabajadores.
12


El Fordismo de Henry Ford: se implant en empresas con lneas de productos durables en
Estados Unidos de Amrica, foment la modificacin de las normas de consumo y de vida de los
trabajadores, considerados como verdaderos consumidores potenciales, para lo cual era necesario
aumentar su poder de compra y reducir costos de produccin, con sistemas de proteccin social.
13



8
Ibidem, p. 34 tomado de la obra de Frederick Taylor, Principles of Scientific Management, Nueva
York, Harper and Brothers, 1911, pp. 36-37.
9
Taylor, op. cit. 1911, p.20.
10
Hall, Richard, Organizaciones: Estructura y proceso. Mxico, Prentice Hall Hispanoamericana,
1982, p. 304
11
Ibidem, p. 33
12
Koontz, Harold, op. cit. , p. 34.
13
Neffa, Julio Cesar, Transformaciones del proceso del trabajo y de la relacin salarial en el marco
del nuevo paradigma productivo. Sus repercuciones sobre la accin sindical, en Sociologa del
Trabajo, Nueva poca, nm. 18, primavera de 1993, pp. 80-82
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Con las crisis de los aos ochenta, la produccin masiva uniforme ya no es competitiva, surge un
nuevo paradigma que hace nfasis en la respuesta flexible frente a los cambios impredecibles del
mercado.
14


Control de calidad por inspeccin
Durante la primera guerra mundial el sistema de manufactura se volvi ms complejo,
involucrando a ms trabajadores reportando a un supervisor de produccin, con Taylor aparecen
los primeros inspectores de control de calidad; los trabajadores y el supervisor se enfocaron a la
produccin, desligndose del auto - control de calidad de los artculos que producan, esto tuvo
auge entre los aos 1920's y 1930's. Para evitar quejas y devoluciones de los clientes, los
productos se revisaban y separaban al final del proceso, identificando los defectuosos por un
departamento de Control de Calidad, sin embargo como la inspeccin 100% realizada por
personas tiene errores, se estableci un departamento de Servicio para corregir los productos
defectuosos en el mercado.
15
Se establecen despus planes de muestreo militares, asumiendo que
cualquier proceso producir defectos, los esfuerzos se enfocan a detectarlos, no a prevenirlos. Los
productos defectuosos, eran reprocesados o desechados, incrementando los costos de produccin
entre un 20 a 30% e incrementando el precio final del producto al menos 20%16, absorbiendo el
cliente las ineficiencias de la empresa. El departamento de Control de Calidad se convierte en el
"polica de la calidad" y se le responsabiliza de todos los problemas de calidad en la empresa, est
formado por especialistas y tcnicos que se encargan principalmente de detectar defectos en el
producto final.

Con objeto de reducir el costo de la no calidad se desarroll y aplic el Control Estadstico del
Proceso como una siguiente etapa.


14
Ibidem, p. 83-84
15
Vid. Valdez, Luigi, Conocimiento es futuro, CONCAMIN, Mxico, 1995, pp. 122-123
16
Ibidem, pp. 125-126
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Control estadstico del proceso (CEP)
CEP en occidente
Durante la segunda guerra mundial se requirieron cantidades masivas de productos, las
inspecciones de rutina de los inspectores no eran suficientes, en algunas compaas, tales como la
Western Electric, bajo contrato de la American Bell Telephone Company, estableci mtodos de
control de calidad ms rigurosos que infundieran confianza en sus instrumentos y
electrodomsticos, en 1924 se form su departamento de Ingeniera de Inspeccin, entre sus
primeros miembros se encuentran Harold F. Dodge, Donald A. Qaurles, Walter A. Shewhart, Harry
G. Romig y otros.

Segn Duncan Walter Shewhart de los Laboratorios Bell fue el primero en aplicar las cartas de
control en 1924 haciendo un esbozo de la carta de control
17
. Por otra parte H. Dodge y H. Romig
desarrollaron las tablas de inspeccin por muestreo de Dodge-Romig
18
, como una alternativa a la
inspeccin 100% al producto terminado, sin embargo su adopcin en occidente fue muy lenta,
Freeman, sugiere que esto se dio por la tendencia de los ingenieros americanos a eliminar la
variacin, y su desdn por las teoras probabilsticas, as como a la falta de estadgrafos
industriales, adecuadamente entrenados.
19


El trabajo de Shewhart, Dodge y Romig, constituye la mayor parte de lo que hoy se conoce como
Control Estadstico del Proceso. De esta forma con objeto de hacer ms eficientes a las
organizaciones de inspeccin, se proporciona a los inspectores con unas cuantas herramientas
estadsticas, tales como cartas de control y tablas de muestreo
20
. Se reduce el nivel de variacin
del proceso hasta los lmites predecibles y se identifican las oportunidades de mejora. Se
establecen sistemas de medicin formales desde los proveedores hasta el producto final y el
proceso se "estandariza. Hoy en da la herramienta de las cartas de control (CEP) es utilizada por
los crculos de control de calidad para la identificacin de problemas.
En 1931, W.A. Shewhart publica su libro Economic Quality Control of Quality of Manufactured
Product, donde describe las cartas para el control estadstico del proceso. En medio de los aos

17
Duncan, Acheson, op. cit.p. 16.
18
Ibidem, p. 1
19
Freeman, H.D., Statistical Methods for Quality Control, MechanicalEngineering, April 1937, p.
261.
20
Feigenbaum, A.V., op. cit., 1986, p. 16
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30s los mtodos de control estadstico de calidad se empezaron a aplicar en la Western Electric,
brazo de manufactura de los laboratorios Bell, sin embargo no fueron reconocidos estos mtodos
ampliamente.

Durante la II guerra mundial se expandi el uso de los mtodos estadsticos de control de procesos
en la industria de la manufactura, la American Society for Quality Control se form en 1946 para
promover su uso. De 1946 a 1949 W. Deming es invitado a Japn a dar seminarios sobre control
estadstico de calidad a sus industriales, extendiendo el uso de stos mtodos. Aparecen las obras
de Eugene L. Grant y A.J. Duncan sobre control estadstico del proceso. En occidente es hasta la
dcada de los ochenta cuando se voltea hacia los mtodos estadsticos ya muy comunes en Japn
dado el xito industrial de este pas.

En los aos recientes, empresas de alta tecnologa como Motorola, General Electric, Xerox, AT&T,
etc., desarrollan e implantan una metodologa de calidad total denominada Calidad 6 sigma con el
objetivo de reducir los errores y defectos a un mximo de 3.4 partes por milln (ppm), donde una
de las herramientas clave es el control estadstico del proceso, que permite obtener ahorros de
costos muy importantes.

CEP en Japn
En 1950 el experto Edwards W. Deming inici el entrenamiento en mtodos estadsticos en el
Japn, incluyendo conferencias dirigidas a los lderes industriales, en esta poca Kaoru Ishikawa
experto japons en control de calidad inici sus estudios sobre conceptos de control de calidad,
describe su propia motivacin como sigue:
Yo desarroll un gran respeto por el Dr. Shewhart por medio del estudio profundo
de sus conceptos en cartas de control y estndares... Sin embargo, me sorprend un
poco que en EUA, donde efectu una visita de estudio, sus mtodos casi no se
aplicaban. Yo deseo importar sus conceptos al Japn y asimilarlos para adaptarlos
a situaciones en Japn, de tal forma que los productos japoneses mejoraran su
calidad
21



21
Ishikawa, Kaouru, "Tributes to Walter A. Shewhart," Industrial Quality Control, Vol. 22, No. 12,
1967, pp. 115-116.
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En 1955, Kaouru Ishikawa introdujo las tcnicas de cartas de control en Japn, los japoneses
aprendieron el control de calidad de occidente, invitaron a Deming, Juran y otros eruditos a Japn
para que les enseasen el control estadstico del proceso. Sin embargo la implantacin de estas
tcnicas fue posible despus de su modificacin y adaptacin a las empresas japonesas,
incluyendo la creacin de varias herramientas tiles como refinamiento del control estadstico de
calidad, tales como las 7 herramientas estadsticas utilizadas normalmente por los crculos de
control de calidad y la aplicacin de tcnicas estadsticas avanzadas.

Entre las 7 herramientas estadsticas se encuentran: Diagrama de Ishikawa, Diagrama de Pareto,
Hoja de verificacin, Diagrama de dispersin, Estratificacin, Histogramas y Cartas de control.

Estas tcnicas junto con las computadoras han alcanzado un alto nivel en Japn, todas las
industrias japonesas confan en los mtodos estadsticos avanzados para el diseo de productos,
22

esto tambin ha permitido que los supervisores de las fbricas japonesas utilicen estadstica de
alto nivel para analizar problemas. Por ejemplo para el caso del diseo de experimentos se tiene:
el diseo estadstico de experimentos es el arreglo, bajo el cual se efecta un programa
experimental, incluye la seleccin de los niveles ptimos de los factores que tienen influencia en la
calidad del producto
23
, ayuda a optimizar el tiempo y los elementos de diseo, determinando los
materiales ms baratos de tal forma que el producto cumpla las especificaciones, y todava se
asegure que el producto se desempear en forma satisfactoria bajo condiciones variables.

Con la aplicacin del Control Estadstico del Proceso, el trabajador tiene de nuevo la oportunidad
de controlar la calidad de su trabajo, no a travs de inspeccin 100%, sino a travs de tcnicas de
muestreo y de cartas de control, como mtodo preventivo de defectos, lo que permite su
autocontrol para reducir la variabilidad del proceso de produccin, se complementa con las siete
herramientas estadsticas y el ciclo de control de Deming (planear, hacer, verificar y actuar).


22
Amsden, R., op. cit. , p. 537.
23
Winer, B., Statistical Principles in Experimental Design, McGraw Hill, 1971. p. 5.
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Desarrollo del Control Estadstico del Proceso
W. A. Shewhart demostr que cuando se extraen muestras de tamao 4 6 de distribuciones casi
normales, triangulares, uniformes, etc., y se calculan las medias de esas muestras, al graficar las
medias en un histograma siguen una distribucin normal.
24



* * * *
* * * *
*** * *
*** * *




Distribucin de promedios
Universo de las muestras

Fig. 1.2 Experimentos de Shewhart para las cartas de control

Encontr que las medias de las muestras correspondan a las medias de la poblacin y que la
desviacin estndar de las medias de las muestras se relacionaban con la desviacin estndar de la
poblacin, como sigue (TEOREMA DEL LMITE CENTRAL):

n
X
o
o =
__
(1.1)
Donde n es el tamao de la muestra y o es la desviacin estndar de la poblacin.

Poblacin con media y desviacin estndar o y cualquier distribucin.




24
Shewhart, W.A., Economic Control of Quality of Manufactured Product, Van Nostrand Reinhold
Co., 1931, p. 182

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X1 X2 X3
X-media 1 X-media 2 X-media 3

Conforme el tamao de muestra se incrementa las muestras se distribuyen normalmente con
media de medias y desviacin estndar de las medias de las muestras o / \n. Tambin se
denomina Error estndar de la media.

Fig. 1.3 Distribucin de las medias muestrales - Normal

En general si las x
i
estn distribuidas en forma idntica y su distribucin se asemeja a la normal, el
teorema del lmite central trabaja bien para n>=3 o 4, condiciones propicias para el control
estadstico de los procesos.

Teorema del lmite central
La distribucin normal tiene muchas propiedades tiles, una de estas se refiere a la combinacin
lineal de variables aleatorias independientes. Si x
1
, x
2
x
3
, ...., x
n
son variables aleatorias
independientes no necesariamente normales, con media
1
,
2
, ...
n
y varianzas o
1
2
, o
2
2
, ..., o
n
2

respectivamente, entonces la distribucin del estadstico siguiente:
y = a
1
x
1
+ a
2
x
2
+ ............. + a
n
x
n


es normal con media
Promedios
F
r
e
q
u
e
n
c
y
7 6 5 4 3
14
12
10
8
6
4
2
0
Histogram of Promedios
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y =
a
1

1 +
a
2

2 +
... + a
n

n
y varianza
o
y
2
= a
1
2
o
1
2
+ a
2
2
o
2
2
...,+ a
n
2
o
n
2

donde a
1
, a
2
, ... a
n
son constantes.

El Teorema del Lmite Central establece que la distribucin de la variable:

[y -

=
n
i 1

i
]

=
n
i 1
o
i
2

(2.5)


Se aproxima a la distribucin normal conforme n tiende a infinito. Es decir que la suma de las n
variables aleatorias independientemente distribuidas es aproximadamente normal,
independientemente de la distribucin de las variables individuales.

La aproximacin se mejora conforme se incrementa n, en general si las x
i
estn distribuidas en
forma idntica y su distribucin se asemeja a la normal, el teorema del lmite central trabaja bien
para n>=3 o 4, condiciones propicias para el control estadstico de los procesos.

Interpretacin
Normalmente para conocer el estado de un proceso en determinado momento, es necesario
obtener un histograma de la caracterstica de inters, tomando al menos 30 piezas. Se calcula la
media y la desviacin estndar de la muestra y se trata de inferir sobre las caractersticas del
proceso. Haciendo esto peridicamente se pueden tener los comportamientos siguientes:


Hora 4
Hora 2
Hora 3
Hora 1


a) Proceso fuera de control b)Proceso en control
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en media y variabilidad en media y esv. est.

Fig. 1.4 Comportamiento de procesos en control y fuera de control
25


Llevando un control de proceso a travs de histogramas no sera prctico y aprovechando sus
hallazgos del comportamiento de las medias Shewhart sugiri llevar un control del proceso
tomando muestras no de 50 piezas, sino de slo 5 consecutivas, monitoreando el comportamiento
del proceso a travs de las cartas de control de Shewhart, la media del proceso con las medias de
las muestras y la variabilidad con su rango. Tomado lmites de control establecidos a 3o de
medias o rangos.


25
Ford Motor Co., Continuing Process Control and Process Capability Improvement, Dearborn,
Michigan, 1983
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1.3 LAS 7 HERRAMIENTAS BSICAS PARA LA SOLUCIN DE PROBLEMAS















Figura 3.1 Las 7 herramientas estadsticas de calidad

H

Fig. 1.5 Las 7 herramientas estadsticas para la mejora y solucin de problemas

Hoja de verificacin o registro
Se utiliza para reunir datos basados en la observacin del comportamiento de un proceso con el
fin de detectar tendencias, por medio de la captura, anlisis y control de informacin relativa al
proceso. Bsicamente es un formato que facilita que una persona pueda tomar datos en una
forma ordenada y de acuerdo al estndar requerido en el anlisis que se est realizando. Las hojas
de verificacin tambin conocidas como de comprobacin o de chequeo organizan los datos de
manera que puedan usarse con facilidad ms adelante.

Pasos para la elaboracin de una hoja de verificacin:

1. Determinar claramente el proceso sujeto a observacin. Los integrantes deben enfocar su
atencin hacia el anlisis de las caractersticas del proceso.
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2. Definir el perodo de tiempo durante el cul sern recolectados los datos. Esto puede variar de
horas a semanas.
3. Disear una forma que sea clara y fcil de usar. Asegrese de que todas las columnas estn
claramente descritas y de que haya suficiente espacio para registrar los datos.
4. Obtener los datos de una manera consistente y honesta. Asegrese de que se dedique el
tiempo necesario para esta actividad.

Anotar frecuencia de ocurrencia de los eventos (con signos |, X, *, etc.)









Figura 1.6 Ejemplo de hoja de verificacin o registro

Consejos para la elaboracin e interpretacin de las hojas de verificacin
1. Asegrese de que las observaciones sean representativas.
2. Asegrese de que el proceso de observacin es eficiente de manera que las personas tengan
tiempo suficiente para hacerlo.
3. La poblacin (universo) muestreada debe ser homognea, en caso contrario, el primer paso es
utilizar la estratificacin (agrupacin) para el anlisis de las muestras/observaciones las cuales
se llevarn a cabo en forma individual.

Ejercicio: Hacer hoja de registro con las antigedades en la organizacin y concluir:
Antigedad Registro
0.5 -1 aos
1.1 2 aos
2.1 4 aos
4.1 7 aos
Ms de 7 aos
Conclusiones:
DEFECTO 1 2 3 4 TOTAL
Tamao errneo IIIII I IIIII IIIII III IIIII II 26
Forma errnea I III III II 9
Depto. EquivocadoIIIII I I I 8
Peso errneo IIIII IIIII I IIIII III IIIII III IIIII IIIII 37
Mal Acabado II III I I 7
TOTAL 25 20 21 21 87
DIA
DEFECTO 1 2 3 4 TOTAL
Tamao errneo IIIII I IIIII IIIII III IIIII II 26
Forma errnea I III III II 9
Depto. EquivocadoIIIII I I I 8
Peso errneo IIIII IIIII I IIIII III IIIII III IIIII IIIII 37
Mal Acabado II III I I 7
TOTAL 25 20 21 21 87
DIA
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Diagrama de Pareto
Se utiliza para identificar problemas o causas principales:
Herramienta utilizada para el mejoramiento de la calidad para identificar y separar en forma crtica
los pocos proyectos que provocan la mayor parte de los problemas de calidad.

El principio enuncia que aproximadamente el 80% de los efectos de un problema se debe a
solamente 20% de las causas involucradas.

El diagrama de Pareto es una grfica de dos dimensiones que se construye listando las causas de
un problema en el eje horizontal, empezando por la izquierda para colocar a aquellas que tienen
un mayor efecto sobre el problema, de manera que vayan disminuyendo en orden de magnitud. El
eje vertical se dibuja en ambos lados del diagrama: el lado izquierdo representa la magnitud del
efecto provocado por las causas, mientras que el lado derecho refleja el porcentaje acumulado de
efecto de las causas, empezando por la de mayor magnitud.

Pasos para desarrollar el diagrama de Pareto:
1. Seleccione qu clase de problemas se van a analizar.
2. Decida qu datos va a necesitar y cmo clasificarlos. Ejemplo: Por tipo de defecto, localizacin,
proceso, mquina, trabajador, mtodo.
3. Defina el mtodo de recoleccin de los datos y el perodo de duracin de la recoleccin.
4. Disee una tabla para el conteo de datos con espacio suficiente para registrarlos.
5. Elabore una tabla de datos para el diagrama de Pareto con la lista de categoras , los totales
individuales, los totales acumulados, la composicin porcentual y los porcentajes acumulados
6. Organice las categoras por orden de magnitud decreciente, de izquierda a derecha en un eje
horizontal construyendo un diagrama de barras. El concepto de otros debe ubicarse en el
ltimo lugar independientemente de su magnitud.
7. Dibuje dos ejes verticales y uno horizontal.

Ejes verticales:
- Eje izquierdo: Marque este eje con una escala desde 0 hasta el total general
- Eje derecho: Marque este eje con una escala desde 0 hasta 100%
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Eje horizontal:
- Divida este eje en un nmero de intervalos igual al nmero de categoras clasificadas.
8. Dibuje la curva acumulada (curva de Pareto), Marque los valores acumulados (porcentaje
acumulado) en la parte superior, al lado derecho de los intervalos de cada categora, y conecte
los puntos con una lnea continua.
9. Escriba en el diagrama cualquier informacin que considere necesaria para el mejor
entendimiento del diagrama de Pareto.

Ejemplo de Diagrama de Pareto:
El departamento de ventas de un fabricante de materiales de empaque tiene registrada una lista
de las quejas que se han recibido durante el ltimo mes.
Tipo de queja No.
de
quejas
Total
Acumulado
Composicin
Porcentual
Porcentaje
Acumulado

A) Entregas fuera de tiempo

25

25

35.71

35.71

B) Calibre fuera de especificaciones
(B) Calibre fuera de especificaciones

23

48

32.85

68.56

C) Material sucio y maltratado 7

55

10

78.56

D) Material mal embalado 6

61

8.57


87.13

E) Dimensiones fuera de especificaciones

3

64

4.28

91.41
F) Inexactitud en cantidades 2

66

2..85

94.26

G) Mala atencin del personal

1

67

1.42

95.68

H) Maltrato del material por transportistas

1

68

1.42


97.7
I) Fallas en documentacin

1

69


1.42

98.52

J) Producto con cdigos equivocados

1

70

1.4

99.94




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DIAGRAMA PARETO




























Figura 1.7a Diagrama de Pareto

1
2
3
6
7
23
25
78.56
87.13
95.68
97.7
99.94
35.71
68.56
91.41
A B C D E F G H I J
94.26
98.52
%
A
C
U
M
U
L
A
D
O
N
O
D
E
Q
U
E
J
A
S
50
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Las quejas A, B y C representan el 78.56%, siendo en estas en las que debemos de enfocarnos
primero a resolver.

Ejemplo: Se tienen los gastos siguientes:
TIPO_GTO GASTO CANT
A Papelera 20
B Toners 60
C Vaticos 80
D Gasolina 30
E Copiado 10

Diagrama de Pareto en Minitab
- Capture los datos en la columna C1 (tipo de defecto), en la columna C2 (frecuencias)
- Seleccione: Stat>Quality Tools>Pareto Chart
Escoja la opcin Chart defects table , en el campo labels in seleccione: C1 y en Frequencies
in seleccione: C3. Combine defects alter the first 80%.
- Clic en OK
- El sistema despliega la grfica de Pareto:

Construir un diagrama de Pareto y su lnea acumulativa

Figura 1.7b Diagrama de Pareto
C
o
u
n
t
P
e
r
c
e
n
t
C1
Count
15.0 10.0 5.0
Cum % 40.0 70.0 85.0 95.0 100.0
80 60 30 20 10
Percent 40.0 30.0
Other A D B C
200
150
100
50
0
100
80
60
40
20
0
Pareto Chart of C1
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En la grfica observamos que aproximadamente el 85% de los gastos es debido a los gastos C, B,
D.
Ejercicio: Hacer un diagrama de Pareto con los gastos principales:
Ordenarlos de mayor a menor
Tipo de Gasto Descripcin Frecuencia





Frecuencia %














Diagrama de Dispersin
Se utiliza para analizar la correlacin entre dos variables, se puede encontrar: Correlacin
positiva o negativa, fuerte o dbil o sin correlacin.

El diagrama de dispersin es una tcnica estadstica utilizada para estudiar la relacin entre dos
variables. Por ejemplo, entre una caracterstica de calidad y un factor que le afecta.

La ventaja de utilizar este tipo de diagramas es que al hacerlo se tiene una comprensin ms
profunda del problema planteado.

Conclusiones:
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La relacin entre dos variables se representa mediante una grfica de dos dimensiones en la que
cada relacin est dada por un par de puntos (uno para cada variable).

La variable del eje horizontal x normalmente es la variable causa, y la variable del eje vertical y es
la variable efecto.









Fig. 1.8 Grfica de dispersin donde se observa una correlacin positiva

La relacin entre dos variables puede ser: positiva o negativa. Si es positiva, significa que un
aumento en la variable causa x provocar una aumento en la variable efecto y y si es negativa
significa que una disminucin en la variable x provocar una disminucin en la variable y.

Por otro lado se puede observar que los puntos en un diagrama de dispersin pueden estar muy
cerca de la lnea recta que los atraviesa, o muy dispersos o alejados con respecto a la misma. El
ndice que se utiliza para medir ese grado de cercana de los puntos con respecto a la lnea recta es
la correlacin. En total existen cinco grados de correlacin: positiva evidente, positiva, negativa
evidente, negativa y nula.


A
c
c
i
d
e
n
t
e
s

l
a
b
o
r
a
l
e
s
Numero de rdenes urgentes
Correlacin
positiva,
posible

A
c
c
i
d
e
n
t
e
s

l
a
b
o
r
a
l
e
s
Numero de rdenes urgentes
Correlacin
positiva,
posible

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Figura 1.9 Diagrama de dispersin y su correlacin entre X,Y

Si todos los puntos estuvieran completamente sobre la recta la ecuacin lineal sera y = a + bx.
Como la correlacin no siempre es perfecta, se calculan a y b de tal forma que se minimice la
distancia total entre puntos y la recta. Los clculos son:

( )

=
2
2
2
x x n
xy x x y
a

( )

=
2
2
x x n
y x xy n
b

El ndice de correlacin (r) se puede calcular estadsticamente mediante las ecuaciones que a
continuacin se presentan

SCy SCx
SCxy
r

=
n
y x
xy SCxy

Correlacin entre las variables Y y X
Correlacin Positiva
Evidente
0
5
10
15
20
25
0 5 10 15 20 25
X
Y
Correlacin Negativa
Evidente
0
5
10
15
20
25
0 5 10 15 20 25
X
Y
Correlacin
Positiva
0
5
10
15
20
25
0 5 10 15 20 25
X
Y
Correlacin
Negativa
0
5
10
15
20
25
0 5 10 15 20 25
X
Y
Sin Correlacin
10
15
20
25
5 10 15 20 25
X
Y
0
5
0
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( )
2
2
n
x
x SCx

=

( )
2
2
n
y
y SCy

=
Donde:
r = Coeficiente de correlacin lineal
SCxy = Suma de cuadrados de xy
SCx = Suma de cuadrados de x
SCy = Suma de cuadrados de y

=
2
x Sumatoria de los valores de la variable x al cuadrado

=
2
y Sumatoria de los valores de la variable y al cuadrado

= xy Sumatoria del producto de xy


( ) =

2
x Cuadrado de la sumatoria de la variable x
( ) =

2
y Cuadrado de la sumatoria de la variable y
n = nmero de pares ordenados (pares de datos x, y)


El factor de correlacin es un nmero entre 1 (correlacin negativa evidente) y +1 (correlacin
positiva evidente), y r = 0 indicara correlacin nula.
La correlacin se utiliza para cuantificar el grado en que una variable provoca el comportamiento
de otra. Por ejemplo si se encuentra que la variable temperatura tiene una correlacin positiva
con el porcentaje de artculos defectuosos, se deben buscar soluciones al problema de los
artculos defectuosos mediante acciones asociadas con la variable temperatura; de lo contrario,
sera necesario buscar la solucin por otro lado.

Ejemplo: Un ingeniero que trabaja con botellas de refresco investiga la distribucin del producto y
las operaciones del servicio de ruta para mquinas vendedoras. El sospecha que el tiempo
requerido para cargar y servir una mquina se relaciona con el nmero de latas entregadas del
producto. Se selecciona una muestra aleatoria de 25 expendios al menudeo que tienen mquinas
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vendedoras y se observa para cada expendio el tiempo de solicitud- entrega (en minutos) y el
volumen del producto entregado (en latas). Calcular el coeficiente de correlacin y graficar. Los
datos se muestran a continuacin:



















Utilizando las ecuaciones para obtener el coeficiente de correlacin tenemos:

SCxy = 2027.71
SCx = 698.56
SCy = 6105.94
r = 0.98

El coeficiente de correlacin r = 0.98 por lo cual tenemos suficiente evidencia estadstica para
afirmar que el tiempo de entrega est relacionado con el nmero de latas.

Observacin No. Latas, x tiempo, y x^2 y^2 xy
1 2.00 9.95 4.00 99.00 19.90
2 8.00 24.45 64.00 597.80 195.60
3 11.00 31.75 121.00 1,008.06 349.25
4 10.00 35.00 100.00 1,225.00 350.00
5 8.00 25.02 64.00 626.00 200.16
6 4.00 16.86 16.00 284.26 67.44
7 2.00 14.38 4.00 206.78 28.76
8 2.00 9.60 4.00 92.16 19.20
9 9.00 24.35 81.00 592.92 219.15
10 8.00 27.50 64.00 756.25 220.00
11 4.00 17.08 16.00 291.73 68.32
12 11.00 37.00 121.00 1,369.00 407.00
13 12.00 41.95 144.00 1,759.80 503.40
14 2.00 11.66 4.00 135.96 23.32
15 4.00 21.65 16.00 468.72 86.60
16 4.00 17.89 16.00 320.05 71.56
17 20.00 69.00 400.00 4,761.00 1,380.00
18 1.00 10.30 1.00 106.09 10.30
19 10.00 34.93 100.00 1,220.10 349.30
20 15.00 46.59 225.00 2,170.63 698.85
21 15.00 44.88 225.00 2,014.21 673.20
22 16.00 54.12 256.00 2,928.97 865.92
23 17.00 56.63 289.00 3,206.96 962.71
24 6.00 22.13 36.00 489.74 132.78
25 5.00 21.15 25.00 447.32 105.75
TOTALES 206.00 725.82 2,396.00 27,178.53 8,008.47
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Figura 1.10 Diagrama de dispersin con tendencia

En la grfica observamos que al aumentar el nmero de latas el tiempo de entrega aumenta.

Para realizar el grfico de dispersin en Excel realice el siguiente procedimiento:

1. Seleccione el icono asistente para grficos.
2. Seleccione el tipo de grfico xy(dispersin), y subtipo de grfico: dispersin, compara
pares de valores.(siguiente)
3. En la pestaa rango de datos seleccione los valores de x y y de la tabla de datos. En la
pestaa serie agregue el ttulo, el rango de valores x, y se da por default al haber
seleccionado el rango de datos .(siguiente)
4. Ponga el titulo del grfico y eje de valores x y y de la tabla de datos. En esta pantalla puede
agregar lneas de divisin al grfico y otras opciones (siguiente) (finalizar)
5. Para realizar algn cambio, por ejemplo en la escala haga clic en la escala de valores y
aparecer un men que le permitir realizarlos.

-
10.00
20.00
30.00
40.00
50.00
60.00
70.00
80.00
- 5.00 10.00 15.00 20.00 25.00
t
i
e
m
p
o

d
e

e
n
t
r
e
g
a

(

y

)



Numero de latas (x)
Diagrama de dispersion
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Para determinar la funcin de regresin y correlacin en Minitab se siguen los pasos siguientes
(despus de cargar los datos correspondientes a X y a Y en las columnas C1 y C2):

Minitab > Stat >Regresin ... Indicar la columna de Respuestas Y y la de predictores X y aceptar
con OK. Observar el valor del coeficiente de correlacin y de determinacin.

Para obtener la lnea de mejor ajuste de la regresin, se procede como sigue en Minitab:
Minitab > Stat >Fitted Line Plot ... Indicar la columna de Respuestas Y y la de predictores X,
seleccionar si se quiere ajustar con los datos con una lnea, una funcin cuadrtica o cbica y
aceptar con OK. Observar el mayor valor del coeficiente de correlacin que indica el mejor ajuste.

Ejercicio: Hacer un diagrama de dispersin con los datos siguientes:
Errores (escala 5 por divisin)
Antiguedad
Conclusiones:

Antigedad Errores
4 20
2 12
8 36
6 28
10 44
5 25
7 32
1 5
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Histogramas
Se utilizan para ver la distribucin de frecuencia de una tabla de datos










Figura 3.5 Distribucin de frecuencias o histograma

Figura 1.11 Histograma en Excel

Pasos para hacer un histograma:

1. Contar el nmero de datos, identificar el valor mximo, el mnimo y el rango.

2. Determinar el ancho de clase = Rango / 5 a 8.

3. Contar cuantos datos entran dentro de cada celda.

4. Graficar las frecuencias de cada celda.

Ejercicio: Realizar un histograma con los datos de edades siguientes:
2.41 17.87 33.51 38.65 45.70 49.36 55.08 62.53 70.37 81.21
3.34 18.03 33.76 39.02 45.91 49.95 55.23 62.78 71.05 82.37
4.04 18.69 34.58 39.64 46.50 50.02 55.56 62.98 71.14 82.79
4.46 19.94 35.58 40.41 47.09 50.10 55.87 63.03 72.46 83.31
8.46 20.20 35.93 40.58 47.21 50.10 56.04 64.12 72.77 85.83
9.15 20.31 36.08 40.64 47.56 50.72 56.29 64.29 74.03 88.67
11.59 24.19 36.14 43.61 47.93 51.40 58.18 65.44 74.10 89.28
12.73 28.75 36.80 44.06 48.02 51.41 59.03 66.18 76.26 89.58
13.18 30.36 36.92 44.52 48.31 51.77 59.37 66.56 76.69 94.07
15.47 30.63 37.23 45.01 48.55 52.43 59.61 67.45 77.91 94.47

0
2
4
6
8
10
12
14
16
18
15-24 25-34 35-44 45-54 55-64 65-75
Frec.
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Paso 1. Nmero de datos = Valor mayor = Valor menor = Rango =
Paso 2. Ancho de clase = Rango / 6 = redondear a:
Paso 3. Contar elementos para cada clase:
Columna Intervalo Registro de frecuencias
Frecuencia
1 0 -17


2 18-35
3 36-53
4 54-71
5 72-89
6 90 en
adelante

Paso 4. Hacer la grfica del histograma:













Conclusiones:


Lluvia de ideas (Brainstorming)

En las sesiones de lluvia de ideas se generan nuevas ideas mediante la participacin de todo el
equipo.Para comenzar con el proceso de tormenta de ideas, en el cual se genera informacin la
gente se rene en una sala en la cual se recomienda la disposicin de las mesas en forma de U
para facilitar el debate. La gente que participa en la sesin deber de pertenecer a diferentes
reas o tener puntos de vista diferentes, esto con el objeto de enriquecer la sesin.

CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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El facilitador debe de contar con experiencia en la conduccin de sesiones de tormentas de ideas,
o al menos haber tenido experiencias previas.
Para conducir un grupo se lleva a cabo la siguiente metodologa:
1. Seleccionar el problema a tratar.
2. Pedir a todos los miembros del equipo generen ideas para la solucin del problema, las cuales
se anotan en el pizarrn sin importar que tan buenas o malas sean estas.
3. Ninguna idea es evaluada o criticada antes de considerar todos los pensamientos
concernientes al problema.
4. Aliente todo tipo de ideas, ya que al hacerlo pueden surgir cosas muy interesantes, que
motivan a los participantes a generar ms ideas.
5. Apruebe la naturalidad y el buen humor con informalidad, en este punto el objetivo es tener
mayor cantidad de ideas as existirn mayores posibilidades de conseguir mejores ideas.
6. Se les otorga a los participantes la facultad de modificar o mejorar las sugerencias de otros.
7. Una vez que se tengan un gran nmero de ideas el facilitador procede a agrupar y seleccionar
las mejores ideas por medio del consenso del grupo de trabajo.
8. Las mejores ideas son discutidas y analizadas con el fin del proponer una solucin.

La tcnica tormenta de ideas puede ser aplicada con gran frecuencia al llevar a cabo otras
herramientas, como por ejemplo, diagramas causa-efecto (Ishikawa), Diseo de experimentos,
pruebas de confiabilidad, etc.

EJERCICIO: Realizar una lluvia de ideas para solucionar el problema de llegar a tiempo a algn
lugar.

Diagrama de Causa efecto
Muestra la relacin entre una caracterstica de calidad y los factores de influencia, para
encontrar las causas posibles. Se usa la lluvia de ideas, debe hacerse sin juicios previos y
respetando las opiniones.

Tcnica para generar ideas creativas cuando la mejor solucin no es obvia.
Reunir a un equipo de trabajo (4 a 10 miembros) en un lugar adecuado
El problema a analizar debe estar siempre visible
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Generar y registrar en el diagrama de Ishikawa un gran nmero de ideas, sin
juzgarlas, ni criticarlas
Motivar a que todos participen con la misma oportunidad
El diagrama causa-efecto, tambin llamado espina de pescado por la semejanza de su forma,
tambin es conocido por diagrama de Ishikawa.

Es utilizado para explorar, e identificar todas las causas posibles y relaciones de un problema
(efecto) o de una condicin especfica en las caractersticas de un proceso.

Una vez elaborado, el diagrama causa-efecto representa de forma clara, ordenada y completa
todas las causas que pueden determinar cierto problema.

Constituye una buena base de trabajo para poner en marcha la bsqueda de las verdaderas causas
de un problema.

Los pasos para elaborar el diagrama de causa- efecto son los siguientes:

1. Seleccione el efecto (problema) a analizar. Se puede seleccionar a travs de un consenso, un
diagrama de Pareto, otro diagrama o tcnica.
2. Realice una lluvia de ideas para identificar las causas posibles que originan el problema.
3. Dibuje el diagrama:
- Coloque en un cuadro a la derecha la frase que identifique el efecto (caracterstica de
calidad)
- Trace una lnea horizontal hacia la izquierda del cuadro que contiene la frase. A esta lnea
se le conoce como columna vertebral.
- Coloque lneas inclinadas que incidan en la columna vertebral (causas principales).
- Dibuje lneas horizontales con flechas que incidan en las lneas inclinadas conforme a la
clasificacin de las causas (causas secundarias)
- Dibuje lneas inclinadas que incidan en las lneas de las causas secundarias (causas
terciarias)

4. Clasifique las causas derivadas de la lluvia de ideas, de la siguiente manera:
- Causas principales.
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- Causas secundarias.
- Causas terciarias.

5. Jerarquice las causas por grado de importancia y defina aquellas que tengan un efecto
relevante sobre la caracterstica especfica.
6. Elabore y ejecute un programa de correccin de las causas relevantes.


Figura 1.12 Diagrama de causa efecto, de Ishikawa o espina de pescado

Ejemplo: En una fbrica de componentes electrnicos se detectaron fallas en la lnea de ensamble
al realizar la prueba de un circuito, por lo cual se procedi a realizar una investigacin utilizando el
diagrama causa-efecto.

El problema es soldadura defectuosa, siendo el efecto que se va a analizar.

Primero se determinan las causas principales Ms:
- Mquinas
- Mano de obra
- Mtodos
Diagrama de Ishikawa
Medio
ambiente Mtodos Personal
Qu
produce
bajas ventas
de
Tortillinas
Ta Rosa?
Clima
hmedo
Calidad del
producto
Tipo de
exhibidor
Falta de
motivacin
Ausentismo
Rotacin de
personal
Maquinara Materiales
Clientes con
ventas bajas
Malos
itinerarios
Descompostura
del camin
repartidor
Distancia de
la agencia al
changarro
Medicin
Seguimiento
semanal
Conocimiento
de los
mnimos por
ruta
Frecuencia
de visitas
Elaboracin
de pedidos
Posicin de
exhibidores
Falta de
supervi
cin
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- Materiales
- Mediciones
- Medio ambiente

Estas constituyen las causas primarias del problema y es necesario desafiarlas para encontrar
causas ms especficas secundarias y terciarias.
Se construye el diagrama espina de pescado con las causas primarias (Ms), a partir de estas
causas se agrupan las causas secundarias y terciarias derivadas de la lluvia de ideas.


















Figura 1.13 Diagrama de causa efecto

El equipo analiza cada causa y por medio de eliminacin y consenso determina cuales son las
verdaderas causas que estn ocasionando el problema. Una vez determinada las causas se realiza
un anlisis Por qu, Por qu, por qu (Why-Why Why), el cual consiste en preguntarnos cinco
veces por qu?, para encontrar la causa raz del problema.
SOLDADURA DEFECTUOSA
MATERIALES MTODOS
MAQUINAS MANO DE OBRA
UNION
SOLDADURA
DESOXIDANTE
LACA DE
PROTECCION
TERMINALES
CORTOS OXIDADOS
ANGULO
INCORRECTO DE
LA FLAMA
TIEMPOS DE
ESPERA
SECUENCIA
SOLDADURA
VELOCIDAD DE
AVANCE
DIMENSIONES
INADECUADAS
TEMPERATURA
PUNTA OXIDADA
FORMA
PUNTA
HABILIDAD
FORMACION
LIMITES
ERGONOMICOS
MEDIO AMBIENTE
MEDICIONES
FUERA DE
DIMENSIONES
ESPECIFICADS
SUPERFICIE
S CON
POLVO E
IMPUREZAS
C
a
u
s
a
s
p
r
in
c
ip
a
le
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a
s
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En el ejemplo anterior las causas primarias fueron agrupadas en (Ms): mediciones, mquinas,
personal, medio ambiente, mtodos y materiales. Es posible realizar este diagrama con causas
primarias diferentes a las Ms, ej:

Problema: Por qu la versin del sistema Abacab, no satisface los requerimientos del cliente.
Las causas primarias en las que se organiza este problema son las siguientes:

- Polticas y procedimientos del sistema
- Funcionalidad.
- Diseo
- Accesibilidad
- Tiempo de respuesta
- Confiabilidad

Diagrama de Causa Efecto en Minitab
- Capture los datos en la columna C1 (tipo de defecto), en la columna C2 (frecuencias)
- Seleccione: Stat>Quality Tools>Cause and Effect Diagram

Llenar las columnas C1 a C5 con las diferentes causas correspondientes a los conceptos de
Personal, Mquinas, Materiales, Mtodos, Mediciones y Medio ambiente.

Introducir los datos en la pantalla de entrada, indicando el problema en Effect y aceptar
con OK.

Ejercicio: Realizar un Diagrama de Causa efecto para identificar las causas potenciales de
un problema y concluir.




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Carta de tendencias
Definicin:
Es una ayuda grfica para el control de las variaciones de los procesos administrativos y de
manufactura.

Usos:
Saber el comportamiento de un sistema o proceso durante el tiempo.
Tomar las acciones correctivas a tiempo si la tendencia afectar en forma negativa.

Ejemplo: Se tienen los datos siguientes de errores de planeacin de la produccin durante 15
semanas: Se puede hacer en Minitab con Stat, Quality Tools, Run Chart, Subgroup size = 1








Permite observar el comportamiento de los datos durante un periodo de tiempo determinado.











Fig. 1.14 Carta de tendencias
Carta de tendencia
0
0.05
0.1
0.15
0.2
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15
Semana
%

e
r
r
o
r
e
s
Semana % errores Semana % errores
1 0.15 9 0.04
2 0.04 10 0.05
3 0.08 11 0.07
4 0.07 12 0.04
5 0.04 13 0.02
6 0.05 14 0.03
7 0.01 15 0.01
8 0.03
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Diagrama de flujo
Dentro de los sistemas de calidad resulta de gran utilidad representar la estructura y relaciones de
los sistemas mediante diagramas de flujo.

Ventajas de los diagramas de flujo
- Proveen una secuencia grfica de cada uno de los pasos que componen una operacin desde el
inicio hasta el final. Permitiendo una mejor visualizacin y comprensin del proceso.
- Los diagramas de flujo pueden minimizar grandes volmenes de documentacin, incluyendo la
documentacin ISO 9000.
- Facilitan el desarrollo de Procedimientos Estndar de Operacin.
- Al tener un procedimiento de operacin estndar se reduce en gran medida la variacin y el
tiempo de ciclo.
- Los diagramas de flujo permiten detectar reas de mejora en los procesos.

Se utiliza para identificar los procesos, las caractersticas crticas en cada uno, la forma de
evaluacin, los equipos a usar, los registros y plan de reaccin, se tienen los tipos
siguientes:
Diagramas de flujo de proceso detallados
Diagramas fsicos de proceso
Diagramas de flujo de valor

Fig. 1.15 Smbolos utilizados en los diagramas de flujo
Smbolos para Diagramas de Flujo
Iniciar/Detener Transmisin
Operaciones
(Valor agregado)
Decisin
Inspeccin /Medicin
Transportacin
Almacenar
Entrada/Salida
Lneas de Flujo
Retraso
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Descripcin de smbolos
En la construccin de diagramas de flujo de procesos se utilizan los smbolos descritos a
continuacin:


Operacin de transformacin: de la cual resulta un cambio fsico o
qumico del producto.



Inspeccin: Verificacin de alguna caracterstica mediante un estandar de
calidad prestablecido.



Transporte: Movimiento fsico del producto o un componente.


Demora: Indica la necesidad de un periodo de inactividad en espera de
operacin inspeccin o transporte.


Almacenamiento: Mantener un producto en almacenamiento hasta
que contine su procesamiento o sea vendido.

Pasos para la elaboracin de un diagrama de flujo

1. Describir el proceso a evaluar: Es importante comenzar con los procesos que se
consideran de mayor impacto en la organizacin.

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2. Definir todos los pasos que componen un producto o servicio: Existen diferentes
maneras de hacerlo. Una de ellas consiste en que el equipo de trabajo anote en tarjetas
los diferentes pasos que conforman el proceso, con este mtodo el equipo puede arreglar
y ordenar los pasos del proceso. Otra manera de hacerlo es mediante el uso de programas
de diagramas de flujo en computadoras, de esta manera se tiene mayor flexibilidad que en
el mtodo anterior y se ahorra bastante tiempo.
Cada paso deber de ser discutido y analizado a detalle utilizando la pregunta por qu
se hace de esta manera?

3. Conectar las actividades: Cuando los pasos que componen el proceso han sido descritos
se construye el diagrama de flujo, conectando las actividades mediante flechas, cada
smbolo debe describir la actividad que se realiza con pocas palabras.

4. Comparar el proceso actual con el proceso considerado como ideal las siguientes
preguntas pueden servir de gua:
Existen pasos demasiado complejos?
Existe duplicidad o redundancia?
Existen puntos de control para prevenir errores? deberan de existir?
El proceso funciona en la manera en la cual debera de hacerse?
Se puede realizar el proceso de diferente manera?

5. Mejoras del proceso: Una vez que se contestan las preguntas mediante tormenta de ideas
se realizan mejoras. Definiendo los pasos que agregan valor y los que no agregan se puede
llevar a cabo una simplificacin sustancial del proceso.
Las mejoras son priorizadas y se llevan a cabo planes de accin.

6. Implementar el nuevo procedimiento: Una vez realizadas las mejoras se dan a conocer a
las personas involucradas en el proceso y se verifica su efectividad.

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Diagrama de flujo: Una visita a la farmacia
26


Ejemplo: Operacin de despacho de una frmula.

EVENTO SMBOLO TIEMPO
(min.)
DISTANCIA
(pies)
Abrir la puerta, caminar hacia el rea de la farmacia
del almacn.
0.8

50
Esperar para ser atendido.

1
Sacar la frmula de la billetera o del bolsillo y
entregarla al dependiente.
0.4
Esperar hasta cuando el dependiente despache la
frmula y calcule el valor.
10
Sacar la tarjeta de crdito de la billetera y entregarla
al dependiente.
0.4
Esperar que el dependiente diligencie el
desprendible de la tarjeta de crdito.
1
Verificar el desprendible 0.2
Firmar el desprendible 0.1
Esperar el desprendible y el medicamento

0.3
Colocar la tarjeta y el desprendible dentro de la
billetera


0.2
Recoger el medicamento y caminar de regreso hasta
la puerta
0.8 50

Figura 1.16 Ejemplo de diagrama de flujo


26
Adaptado de Hamid Noori/Russell Radford, Administracin de Operaciones y produccin, Ed.
Mc.Graw Hill Pp.282
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Ejercicio: Hacer el diagrama de flujo de un proceso e identificar reas de oportunidad












Inicio
Fin
Paso 2A Paso 2B Paso 2C
Paso 1
Paso 3
Bueno? Retrabajo
S
No
Inicio
Fin
Paso 2A Paso 2B Paso 2C
Paso 1
Paso 3
Bueno? Retrabajo
S
No
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Diagrama de flujo de tiempo valor agregado
Es utilizado para detectar cuales son las actividades que agregan valor al proceso y las que no
agregan valor.

Pasos para realizarlo:
Dibujar una lnea horizontal para representar el tiempo total que se ocupa en el proceso.
Relacione todos los pasos del proceso detalladamente, despus decida si el paso tiene valor para
el cliente.
Dibujar una lnea vertical fina que represente el tiempo que se requiere para completar el paso.
Dibjela arriba de la lnea, si representa valor agregado, o debajo si no lo representa.
En cada lnea vertical seale el paso del proceso.
Puede dibujar una barra con el tiempo de valor agregado como porcentaje de tiempo total del
proceso.

Ventajas:
Delinea grficamente la cantidad de tiempo sin valor que se usa en el proceso.
Ayuda a reducir el tiempo sin valor y eliminar pasos innecesarios.
Ejemplo











Figura 1.17 Diagrama de flujo de valor
Visita al consultorio mdico
Espera Espera
R
e
g
i
s
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r
a
r
s
e
S
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Diagrama de Flujo Fsico
Pasos para realizarlo:
Dibuje el esquema fsico de su rea de trabajo, incluyendo estaciones de trabajo, reas de
espera, reas de mquinas, etc.
Use flechas para delinear el flujo de la parte dentro del rea. Cada flecha debe delinear un paso
del proceso.
Ventajas
Muestra el nmero de movimientos para completar el proceso.
Muestra la complejidad del flujo y las curvas.
Puede aadir tiempo a cada paso, para mostrar cuellos de botella y tiempo sin valor agregado Vs
tiempo con valor agregado.













Figura 1.18 Ejemplo de diagrama de flujo fsico

EJERCICIO: Realizar un diagrama de flujo de un proceso
Edificio A
Edificio B
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Estratificacin
Se utiliza para separar un aspecto general en los estratos que lo componen, por ejemplo,
por regiones, estados, municipios, etc. Clasificacin de los datos o factores sujetos a
estudio en una serie de grupos con caractersticas similares.

Problemas con boletas
Por regin

Por estado

Por municipio

Figura 1.19 Estratificacin de un problema

Ejercicio: Describir un ejemplo de estratificacin de un aspecto poblacional
Inicio:
Primer paso:

Segundo paso:

Tercer paso:


Las cartas de control
Sirven para monitorear el proceso, prevenir defectivos y facilitar la mejora. Hay dos tipos
de cartas de control: por atributos (juzga productos como buenos o malos) y por variables
(variables como, temperaturas).

Figura 1.20 Carta de control con sus lmites de control y lnea central
Cartas de control
7.5
8.5
9.5
10.5
11.5
12.5
0 10 20 30
Lmite
Superior de
Control
Lmite
Inferior de
Control
Lnea
Central
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Figura 1.21 Patrones de anormalidad en cartas de control

Las cartas de control detectan la variacin anormal en un proceso, denominadas
causas especiales o causas asignables de variacin.
El patrn normal de un proceso se llama causas de variacin comunes.
El patrn anormal debido a eventos especiales se llama causa especial de
variacin.

1.4 MTODOS LEAN PARA LA MEJORA

A continuacin se muestran los mtodos para hacer ms flexibles y esbeltas las operaciones en las
organizaciones:

Los 7 desperdicios o Muda

Son aspectos que no agregan valor al cliente, es decir no est dispuesto a pagar por ellos y
hacen que la operacin sea costosa y lenta:

Escuche la Voz del Proceso
Regin de control,
captura la variacin
natural del proceso
original
Causa Especial
identificada
El proceso ha cambiado
TIEMPO
Tendencia del proceso
LSC
LIC
Carta de control
M
E
D
I
D
A
S
C
A
L
I
D
A
D
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Servicios no requeridos
Movimientos excesivos
e innecesarios
Transportes innecesarios
Inventarios innecesarios
Esperas o firmas innecesarios
Errores
Retrabados o reinspecciones


Ejercicio: Identificar tres Mudas en la organizacin
_______________________________________________________________.
_______________________________________________________________.
_______________________________________________________________.

Mtodos Lean para la mejora

Para reducir el Muda se utilizan diversos mtodos Lean como son:
Mapeo de la cadena de valor
Las 5 Ss
Cambios rpidos (SMED)
Poka Yokes o A Prueba de error
Trabajo estandarizado

Mapeo de la cadena de valor
Se trata de realizar un mapeo de los procesos, identificando las actividades que no agregan valor
(Muda) para su reduccin o eliminacin, as como las actividades que agregan valor para su
optimizacin, a continuacin se presenta un ejemplo:


Ejemplos de muda:
Caminar
Esperar al ciclo
de mquina
Transporte de
partes
Reportes sin uso
Movimientos
innecesarios
Inventario
innecesario
Ejemplos de muda:
Caminar
Esperar al ciclo
de mquina
Transporte de
partes
Reportes sin uso
Movimientos
innecesarios
Inventario
innecesario
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Ejercicio: Mejora del tiempo de ciclo de atencin en una sala de emergencia:

Se realiza un mapeo del proceso con todas las actividades relacionadas con la
atencin en una sala de emergencia, considerando tiempos y distancias.


Proceso Original
Resumen Smbolo Nmero Tiempo en Distancia Proceso: Admisin a la sala de emergencia
de pasos minutos Sujeto: Paciente con una lesion en el tobillo
Operacin 5 23 ---
Principio: Entrada a sala de emergencia
Transporte 9 11 815
Final: Salida del hospital
Inspeccin 2 8 ---
Retraso 3 8 ---
Almacenaje 0 ---
Total 19 50 815
No. de Pasos Tiempo Min. Distancia en pies Descripcin
1 0.5 15 X Entrada a la sala de emergencia (SE), acercarse a la ventanilla
2 10 --- X Sentarse a llenar la historia clnica del paciente
3 0.75 40 X La enfermera acompaa al paciente a la sala de evaluaciones
4 3 --- X La enfermera examina la lesin
5 0.75 40 X Regresa a la sala de espera
6 1 --- X Espera hasta que haya una cama disponible
7 1 60 X Trasladarse hasta la cama de la (SE)
8 4 --- X Espera hasta que llegue el mdico
9 5 --- X El mdico examina la lesin y le hace preguntas al paciente
10 2 200 X La enfermera lleva al paciente a radiologa
11 3 --- X El tcnico somete al paciente a los rayos X
12 2 200 X Regresa a la cama asignada en la (SE)
13 3 --- X Espera hasta que el mdico regrese
14 2 --- X El mdico comunica su diagnositco y hace reconmendaciones
15 1 60 X Regresa al rea de entrada del servicio de Emergencias
16 4 --- X Registrar la salida del lugar
17 2 180 X Caminar hasta la farmacia
18 4 --- X Recoger la prescripcion mdica
19 1 20 X Salir del Edificio
Total 50 815
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Se identifican las actividades que representan Muda y que son actividades que
no agregan valor y se reducen o eliminan, quedando el proceso mejorado
como sigue:
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Las 5 Ss y la administracin visual

Objetivo: Encontrar cualquier cosa y tener idea del estado de la operacin en menos de 30
segundos, por una persona familiarizada con el rea de trabajo.
Palabras japonesas que inician con s: Seiri, Seiton, Seiso, Seiketsu y Shitsuke.

1.- SEIRI significa: ORGANIZAR y SELECCIONAR:
Trabajo en proceso, Herramientas innecesarias, Maquinaria no ocupada, Productos
defectuosos, Papeles y documentos, lo ms importante en este punto es:

Diferenciar entre lo necesario y lo innecesario.









Fig. 1.22 reas de oportunidad para 5Ss

2.- SEITON significa PONER LAS COSAS EN ORDEN.
Las cosas deben mantenerse en orden de manera que estn listas para ser utilizadas
cuando se necesiten.








Fig. 1.23 Implementacin del orden de 5Ss


1 2
1
2
2G974 0074D
2G974 0074D
1G569 6264D
1G569 6264D
3
3G235
3G235
9964D
9964D
A
1 2
B
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3.- SEISO significa: LIMPIEZA.
- Mantener limpio el lugar de trabajo.

4.- SEIKETSU significa: LIMPIEZA ESTANDARIZADA.
- Hacer del aseo y de la pulcritud un hbito,
principiando con la propia persona.

5.- SHITSUKE (DISCIPLINA).
- Seguir los procedimientos en los procesos administrativos y de manufactura.

Las 5s se han definido como Seleccin u Organizacin, Orden, Limpieza, Estandarizacin
y Disciplina. Los dos elementos ms importantes son la Organizacin y el Orden ya que de
ellos depende el xito de las actividades de Mejora.

Trabajan en medio del polvo, suciedad, desorden, aceite, etc. dificulta la bsqueda
de piezas, tiles, informacin, requisiciones, herramientas etc. evitando esto se previenen
los accidentes, no se generan defectos y todo se encuentra.

Ejercicio: Identificar reas de oportunidad de aplicacin de las 5Ss en la organizacin
_______________________________________________________________.
_______________________________________________________________.
_______________________________________________________________.

Preparaciones rpidas (SMED)

Objetivo: Cambiar el proceso para un servicio diferente en menos de 10 minutos
1. Formar un equipo de trabajo
2. Filmar las actividades de preparacin
3. Separar actividades de preparacin internas y externas
4. Convertir actividades de preparacin internas a externas
5. Afinar las operaciones (paralelo, externas, etc.)
6. Verificar resultados y dar reconocimiento al equipo

La Preparacin interna (IED), son las operaciones realizadas con el servicio suspendido.
La Preparacin externa (OED), son las operaciones realizadas mientras se estn
proporcionando los servicios.


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Ejemplo de Cambio rpido SMED: Se redujo el tiempo de preparacin en una estacin
de servicio de 11 minutos a 1 minuto, ya que antes primero se detena, llamaban al
dependiente, buscaba las mercancas, etc. ahora las mercancas clave estn cerca del
mostrador y no se pierde tiempo. Otro ejemplo es la obtencin de pasaportes en 40
minutos o un trmite en las oficinas de hacienda.

Ejercicio: Identificar reas de oportunidad para implementar cambios rpidos.
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_______________________________________________________________.

Poka Yokes o A prueba de error

Objetivo: Prevenir o detectar la ocurrencia de errores humanos.
Causas de los errores:
Procedimientos incorrectos
Variacin excesiva en procedimientos
Procesos o procedimientos no claros o no documentados
Errores humanos mal intencionados
Cansancio, distraccin, Falla de memoria o confianza, etc.

Pasos para el desarrollo de Poka Yokes
1. Describir el defecto: Formar un equipo de trabajo, mostrar la tasa de errores
2. Identificar el lugar donde se descubren o producen los errores
3. Detalle de los procedimientos de la operacin donde se producen los errores
4. Identificar desviaciones de los procedimientos donde se producen los errores.
Identificar las condiciones donde se ocurren los errores (investigar)
6. Identificar el tipo de dispositivo Poka Yoke requerido para prevenir el error.
7. Desarrollar un dispositivo Poka Yoke

Ejemplo: Instalacin de puertas automticas para permitir la entrada solo a personal
autorizado.

Ejercicio: Identificar reas de oportunidad para implementar A Prueba de error / Poka
Yokes.
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Trabajo estandarizado
Objetivo: Documentar en instructivos, procedimientos y ayudas visuales, la forma como
deben realizarse las operaciones y actividades para que todos las realicen de la misma
manera, para tener productos homogneos.

Por estandarizacin se entiende:
Siempre seguir la misma secuencia de trabajo
Los mtodos totalmente documentados
Los mtodos estn visibles en cada estacin de trabajo
El material y documentos de trabajo estn colocados siempre en el mismo lugar
La informacin se presenta de la misma forma en toda la organizacin
Se tiene el registro del movimiento detallado del cuerpo humano

Ejercicio: Identificar reas de oportunidad para implementar procedimientos e
instructivos para estandarizar las operaciones.
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_______________________________________________________________.
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1.5 LAS SIETE HERRAMIENTAS ADMINISTRATIVAS

- Diagrama de afinidad:
o Organiza grandes cantidades de informacin

- Diagrama doble de interrelaciones:
o Muestra los enlaces de causas y efectos entre aspectos relacionados

- Diagrama de rbol:
o Diagrama los niveles de destalle para alcanzar un objetivo principal y los
objetivos secundarios relacionados

- Diagrama Matricial:
o Muestra las relaciones y correlaciones entre ideas

- Matrices de prioridad:
o Asigna prioridades a asuntos, tareas o posibles opciones con base en
criterios conocidos

- Carta de Programa de Decisin de Procesos (CPDP):
o Revela cadenas de eventos y planes de contingencia

- Diagrama de redes y actividades:
o Desarrolla u programa para tareas complejas

APLICACIONES

Las herramientas para la mejora continua se emplean de manera ideal en los casos
siguientes:
Dividir un requerimiento general de detalles especficos
Identificar y eliminar las causas raz de un problema
Programar actividades complejas
Planeacin de contingencia
Ayudar a una organizacin a pasar de la manera antigua de pensar a otras formas
ms novedosas de hacerlo
Realizar una seleccin final de una lista de opciones
Evaluar opciones de diseo de producto
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Diagrama de Afinidad

Es una herramienta que se emplea para organizar grandes cantidades de informacin
agrupando los aspectos de la misma con base en relaciones clave entre ellos; tambin se
conoce como mtodo KJ. Cuando se emplea este diagrama, se organizan las ideas o reas
generales de problemas para adquirir la comprensin de un problema o asunto complejo,
as como para identificar las causas potenciales de un problema. La herramienta ayuda a
mejorar el compromiso y el apoyo del equipo.

- Usar cuando existe un caos, el equipo aporta ideas, se requiere un pensamiento
trascendental o el tema es un aspecto amplio.

PASOS
1. Reunir el equipo y elegir un lder, todos relacionados con el asunto a tratar.
2. Establecer el asunto o problema en forma de pregunta.
3. Realizar una tormenta de ideas respecto al problema o aspecto y registrarla en
fichas de trabajo.
4. Desplegar las tarjetas en una mesa grande o muro.
5. Acomodar las tarjetas en pilas similares o por familias.
6. Crear tarjetas de encabezado
7. Dibujar el diagrama de afinidad
a. Trazar un crculo en torno a cada agrupamiento
b. El diagrama queda completo cuando el equipo alcanza el consenso
8. Discutir el diagrama de afinidad
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FUENTE HTTP://WWW.SAPDESIGNGUILD.ORG/RESOURCES/GLOSSARY_USAB/IMAGES/AFFINITYEE1.JPG



FUENTE:
HTTP://WWW.MEX.OPS-OMS.ORG/DOCUMENTOS/TUBERCULOSIS/MEJORA/4_DIAGRAMA_AFINIDAD.PDF

Fig. 1.24 ejemplos de diagrama de afinidad
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Diagrama doble de Interrelaciones



Un diagrama doble de interrelaciones es una herramienta grfica que se emplea para
organizar problemas o aspectos complejos y que implican muchas variables, se emplea
para estudiar las relaciones entre los elementos de un problema e identificar las causas
raz o las soluciones, es similar al diagrama de afinidad en la medida que el proceso de
construccin de una grfica doble interrelaciones es creativo.

Ayuda a identificar las causas potenciales de un problema. permite que el equipo observe
al mismo tiempo muchos efectos y trace la relacin entre dichos efectos y varias causas.

PASOS
1. Reunir el equipo y elegir un lder.
2. Poner el asunto o problema en forma de pregunta.
3. Realizar una tormenta de ideas respecto al problema o aspecto y registrarla en
fichas de trabajo.
4. Analizar las relaciones.
5. Revisar el Diagrama doble de interrelaciones.
6. Identificar causas y efectos raz.
a. Una causa raz es una categora de la que sale la gran cantidad de flechas.
b. Un efecto raz es una categora a la que llega una gran cantidad de flechas.
7. Estudiar el Diagrama doble de interrelaciones.

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FUENTE: PRIMER CERTIFIED QUALITY MANAGER WWW.QUALITY COUNCIL.COM

FIG. 1.25 EJEMPLOS DE DIAGRAMA DE INTERRELACIONES
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FUENTEHTTP://WWW.CALIDADEDUCATIVA.ORG/CONGRESO2008/MEMORIA/TUFINO_COMPL
EMENTARIO/TUFINO_INTERRELACION.PDF

Fig. 1.26 ejemplos de diagrama de interrelaciones
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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Diagrama de rbol




Un diagrama de rbol (diagrama sistemtico) es una tcnica que se emplea para buscar la
forma ms apropiada y eficaz de alcanzar un objetivo especfico. Esta herramienta grfica
de diagrama los diversos niveles de detalle, estos representan acciones (o tareas) que
siguen rutas lgicas para implantar un objetivo amplio. Al implantar los puntos detallados
de accin, se crea un efecto de dominio que lleva al logro del objetivo principal.

Cuando se trabaja sobre un objetivo amplio, un diagrama de rbol ayuda a orientar tareas
especficas, es posible emplearlo para planear la implantacin de una solucin detallada
en forma ordenada. El diagrama de rbol funciones para dividir un aspecto u objetivo ms
complejo.

PASOS
1. Reunir un equipo apropiado.
2. Elegir la declaracin de objetivo.
3. Generar los encabezados de primer nivel del rbol
4. Completar el diagrama de rbol bajo cada encabezado principal
5. Revisar el diagrama de rbol terminado.


CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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FUENTE:
HTTP://WWW.PROGRAMAEMPRESA.COM/EMPRESA/EMPRESA.NSF/PAGINAS/B274A80F363DE039C12570290
041808D?OPENDOCUMENT

FUENTE HTTP://DGPLADES.SALUD.GOB.MX/2006/HTDOCS/HG/NUEVAS/HESTRA7.PDF
FIG. 1.27 EJEMPLOS DE DIAGRAMA DE RBOL
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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FIG. 1.28 EJEMPLOS DE DIAGRAMA DE RBOL
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Diagrama Matricial


FIG. 1.29 EJEMPLO DE DIAGRAMA MATRICIAL

Los diagramas matriciales son herramientas que se emplean para revelar las correlaciones
entre ideas, tares y responsabilidad y que aparecen en diversas formas matriciales, es
posible emplear estas herramientas para organizar y comparar dos o ms conjuntos de
artculos para mostrar cules de ellos estn relacionados, asimismo pueden mostrar la
fortaleza estadstica y la direccin de influencia de cada relacin.

Pueden tener cualquiera de las siguientes formas: L, T, Y, X y C

PASOS
1. Reunir a un equipo apropiado
2. Elegir las consideraciones clave
a. Qu tipo de informacin se desea mostrar en la matriz?
3. Elegir la forma apropiada de la matriz
4. Definir los smbolos de relacin a emplear y crear una leyenda
5. Concluir la matriz.

PERSONAL

CURSO Direccin Supervisin Ingenieros
Trab. De
Produc.
Trab. De
Mant.
Trab. De
Oficina
Control Estadstico del
proceso

Diseo de productos


Despliegue de funciones
de Calidad


Mejora de Procesos

Eficacia de equipos

Benchmarking


Ingeniera concurrente

Medicin







Visin Global Taller de trabajo

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FUENTE: CQM PRIMER WWW.QUALITYCOUNCIL.COM
FIG. 1.30 EJEMPLOS DE DIAGRAMA MATRICIAL







Field Code Changed
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DIAGRAMAS MATRICIALES
27


FIG. 1.31 DIAGRAMA MATRICIAL EN L DIAGRAMA MATRICIAL A



FIG. 1.32DIAGRAMA MATRICIAL EN T DIAGRAMA MATRICIAL EN Y




27
Diagramas tomados de la direccin www.fundibeq.org 28 de diciembre de 2008
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FIG. 1.33 DIAGRAMA MATRICIAL EN X DIAGRAMA MATRICIAL EN C TRIDIM



FIG. 1.34 APLICACIN EN EL DESARROLLO DEL PRODUCTO (MATRIZ DE QFD):
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Matrices de Prioridades o prioritizacin

Las matrices de prioridades son herramientas para tomas decisiones. Utilizando criterios
ponderados y acordados, se emplean tales herramientas para asignar prioridades a
aspectos, tareas u opciones posibles. Se basan en la combinacin de un diagrama de rbol
y uno matricial.

Pueden ayudar a reducir el nmero de opciones; de modo que sea posible tomar
decisiones con mayor facilidad, debido a que las matrices de prioridades proporcionan un
enfoque lgico a la eleccin de un conjunto de opciones, son ideales para elegir un
problema para que lo ataque el equipo y estrechar una lista de soluciones potenciales
para un problema.

PASOS

1. Reunir un equipo apropiado.
2. Establecer el objetivo principal a alcanzar y las opciones que ayuden a lograrlo.
3. Generar los criterios por los que se juzgarn las opciones.
4. Juzgar cada criterio contra todos los dems.
5. Comparar entre s las opciones para todos los criterios retenidos.
6. Compara cada opcin con base en todos los criterios combinados.

Brassard
28
proporciona tres tipos de matrices de prioridades:

- El mtodo del criterio analtico completo
- El mtodo del criterio de consenso
- El mtodo combinado de Diagrama de relaciones y Matriz

Loa criterios son prioritizados, ponderados y aplicados contra las opciones de decisin
generadas, seleccionando una decisin con base en nmeros como resultado.

28
Brassard, M. (1989), The Memory jogger plus +, Methuen, Goal/QPC
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Fuente: CQM PRIMER www.qualitycouncil.com

Fig. 1.35 Ejemplos de matrices de priorizacin
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Carta de Programa de Decisin de Procesos (CPDP)


















Fig. 1.36 Ejemplo de diagrama de rbol y plan de contingencia CPDP - reunin


Una Carta de programa de decisin del proceso (CPDP) es una herramienta dinmica de
planeacin que se emplea para diagramar en forma sistemtica todas las posibles cadenas
de eventos para alcanzar un objetivo amplio o para implantar una solucin compleja.

Se enumeran todos los eventos concebibles y una contramedida apropiada en este flujo
cronolgico, se emplea este mtodo cuando existe incertidumbre en un proceso de
implantacin, cuando el problema u objetivo es nico o desconocido.

Las Cartas de programa de decisin del proceso se clasifican por las herramientas que se
emplea:
- CPDP planeado por adelantado: anticipan lo inesperado antes de la
implantacin verdadera. Se efecta una tormenta de ideas de todas las distintas
posibilidades y se elaboran planes de contingencia con anticipacin.
- CPDP en tiempo real: se desarrollan alternativas durante la implantacin.

La CPDP se clasifica por el formato grfico:
Planeacin de una
reunin
Reservar sala de
reuniones
Verificar equipo
audiovisual
Efectuar los
arreglos de
alimentacin
Sala de reuniones no
disponible
Equipo audiovisual no
disponible
Banquete no
disponible
Men no
disponible
Cambiar fecha de
reunin

Reservar otro sitio

Rentar equipo
audiovisual

Reservar otro sitio

Ordenar a otro
proveedor

Solicitar un men
distinto

Ordenar otro
proveedor de
banquetes

= Seleccionado
= No factible
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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- Grfico: combinacin de diagrama de rbol y diagrama de flujo.
- Descripcin: lista numerada de eventos y contramedidas.

Se emplea una CPDP para describir de manera sistemtica una solucin u objetivo
complejos, otro propsito es probar teoras durante la implantacin de una solucin
compleja.


PASOS
1. Reunir el equipo apropiado
2. Elegir el flujo bsico de implantacin
3. Elegir el formato de la carta
4. Establecer el objetivo principal
5. Enumerar los pasos del proceso
6. Determinar contramedidas
7. Evaluar las contramedidas
- Evaluar las contramedidas y marcarlas en la forma siguiente
= Seleccionada
= No factible


Fig. 1.37 Ejemplo de diagrama de rbol y plan de contingencia CPDP en general
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FUENTE HTTP://SYQUE.COM/QUALITY_TOOLS/TOOLS/TOOLS12.HTM

Fig. 1.38 Ejemplo de diagrama de rbol y plan de contingencia CPDP para manufactura
Field Code Changed
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Diagrama de redes de actividades

Un diagrama de redes de actividades (tambin conocido como diagrama de flechas) es
una tcnica de administracin de redes de uso generalizado para la planeacin e
implantacin de tareas complejas, en particular las ms comunes que cuentan con
subtareas conocidas. Es una combinacin de la Tcnica de Revisin y Evaluacin y
Programas (PERT) y el Mtodo de Ruta Crtica (CPM).

Se emplea el diagrama de redes de actividades para desplegar soluciones complejas con
programas muy estrictos de tiempo. Identifica los pasos y subtareas y muestra el flujo de
rutas simultneas de implantacin










PASOS
1. Reunir el equipo apropiado.
a. Los miembros del equipo debern conocer a fondo las tareas y subtareas
2. Identificar todas las tareas que requiere el proyecto.
3. Determinar la secuencia de actividades.
4. Calcular el tiempo que se requiere cada actividad.
5. Calcular la ruta crtica del proyecto.
6. Calcular la fecha ms tarda de inicio y ms temprana de conclusin de cada
subtarea.
7. Calcular la holgura total.
8. Disear el diagrama de redes de actividades.

1
da
1
da
1
da
3
da
2
da
3
da
2
da
5
da
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EJEMPLO: INAUGURACIN DE UN NUEVO RESTAURANTE


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Fig. 1.39 Ejemplo de diagrama de flechas (PERT)

El TE de un evento representa el tiempo ms breve posible en que el evento puede alcanzarse, y
se calcula sumando los tiempos t de la secuencia de actividades que conduce al mismo.
Cuando hay ms de un camino que conduce a un evento, el camino que consume el mayor tiempo,
determina el tiempo ms breve posible en que puede esperarse alcanzar dicho evento.
El valor TE de un evento N se calcula de la siguiente manera:
a) Se empieza con el primer evento (su TE es igual a cero), considerando sus directos sucesores
etc..., hasta llegar al ltimo evento del proyecto. (Su TE indica el tiempo mnimo esperado para
terminar el proyecto).
b) Se identifican todos los eventos que preceden directamente al evento N.
c) Para cada uno de estos eventos se aade a su TE la duracin t de la actividad que le conecta con
el evento N.
d) Se elige entre los resultados as obtenidos el mayor. Este ser el nico TE del evento N. Los
dems valores obtenidos son irrelevantes y no se volvern a considerar.
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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Los valores TE as obtenidos, se escribirn en el Diagrama de Flechas por encima del respectivo
evento.
El TL de un evento representa el tiempo mximo en que debe alcanzarse el evento para poder
seguir el proyecto tal y como ha sido planificado, siendo el TL del ltimo evento el tiempo
establecido para finalizar el proyecto.
El valor TL de un evento N se calcula de la siguiente manera:
a) Se empieza con el ltimo evento (= fin del proyecto), operando en sentido inverso hasta el
primero. El TL del ltimo evento se considera aqu como un dato externo, ya establecido. (Deseo
del cliente, compromiso, fecha "orientativa" interna, a menudo el valor TE obtenido en el Paso 4
para el evento final del proyecto, etc...).
b) Se identifican todos los eventos sucesores del evento N.
c) Para cada uno de estos eventos se resta de su TL la duracin t de la actividad que le conecta con
el evento N.
d) Se elige entre los resultados as obtenidos el menor. Este ser el nico TL del evento N. Los
dems valores obtenidos son irrelevantes y no se volvern a considerar.

Los valores TL as obtenidos, se escribirn en el Diagrama de Flechas debajo del respectivo evento.

La holgura de un evento es la diferencia entre el tiempo mximo permisible y el tiempo mnimo
posible para alcanzarlo.
La holgura indica entonces el margen de seguridad de tiempo de que se dispone para alcanzar este
evento, sin comprometer el plan de marcha del proyecto. La holgura de un evento puede ser
positiva, negativa o igual a cero.

El camino crtico es aquella secuencia de actividades, desde el primer evento hasta el ltimo, en la
que los eventos disponen de la holgura mnima.
Se identificar en el Diagrama de Flechas, el camino crtico, sealando las actividades que lo
constituyen con lneas ms gruesas.
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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Fig. 1.40 Determinacin de la Ruta Crtica en el diagrama de flechas (PERT)
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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1.6 MTODOS ESTADSTICOS PARA LA MEJORA DE CALIDAD

Se utilizan tres mtodos estadsticos principales para la mejora de la calidad y la solucin de
problemas: las cartas de control, el diseo de experimentos y el muestreo estadstico, adems de
las herramientas estadstica para la solucin de problemas en planta por grupos de trabajo o
Crculos de calidad.

Cartas de control
En 1924 WALTER SHEWHART realiz experimentos y desarroll las Cartas de Control en la planta
telefnica Western Electric de los los Bell Labs, las cuales tienen las siguientes caractersticas:
Tcnicas tiles para el monitoreo de procesos
Permiten identificar situaciones anormales en 6Ms
Sirven para prevenir la generacin de defectivos












Fig. 1.41 Carta de control
LSC = Lmite superior de control
LC = Lnea central
LIC = Lmite inferior de control
Fig. 1.4 Carta de control de Shewhart y sus lmites de control

La carta de control es una tcnica muy til para el monitoreo de los procesos, cuando se presentan
variaciones anormales donde las medias o los rangos salen de los lmites de control, es seal de

0
5
10
15
LCS
Promedio
LCI
Perfil
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que se debe tomar accin para remover esa fuente de variabilidad anormal. Su uso sistemtico
proporciona un excelente medio para reducir la variabilidad.

Diseo de experimentos
Un experimento diseado es muy til para descubrir las variables clave que tienen influencia en las
caractersticas de calidad de inters del proceso. Es un mtodo para variar en forma sistemtica
los factores controlables del proceso y determinar los efectos que tienen esos factores en los
parmetros finales del producto. Permite reducir la variabilidad en la caracterstica de calidad y en
determinar los niveles ms adecuados de los factores controlables que optimicen el desempeo
del proceso. Fisher inicia el desarrollo del diseo de experimentos en la agricultura en Inglaterra
en los aos 1920s.
ENTRADAS CONTROLABLES
X1 X2 XP


INSUMOS DEL PROCESO Y CARACT.DE CALIDAD

Materias primas,
Componentes, etc.


Z1 Z2 ZQ
ENTRADAS NO CONTROLABLES

Fig. 1.42 Proceso de produccin, entradas y salidas

El principal mtodo para disear experimentos es el diseo factorial, en el cual los factores son
variados de tal forma de probar todas las posibles combinaciones de los niveles de los factores.

El diseo de experimentos es una herramienta fuera de lnea es decir se utiliza durante el
desarrollo de los productos o procesos, ms que durante su fabricacin.


PROCESO

CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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Una vez que se han identificado las variables que afectan el desempeo del proceso, normalmente
es necesario modelar la relacin entre estas variables y la caracterstica de calidad de inters. Para
lo cual se puede utilizar el anlisis de regresin.

El monitoreo en el proceso de las variables relevantes que afectan las caractersticas de calidad se
hace por medio de cartas de control.

Muestreo de aceptacin
Est relacionado con la inspeccin y prueba del producto, donde se selecciona e inspecciona una
muestra aleatoria de un lote mayor, resultando en una aceptacin o rechazo de ese lote mayor,
esto ocurre en la recepcin de materias primas y componentes y en el producto terminado.

Tiene las siguientes ventajas:

- El costo de evaluacin es menor que con la inspeccin al 100%
- Se puede aplicar ms fcilmente cuando se trata de realizar pruebas destructivas.
- Se puede aplicar presin sobre la calidad de los lotes de proveedores ya que con una pequea
muestra puede ser rechazado el total de us lote.
Entre sus desventajas se encuentran:
- Se pueden cometer errores al aceptar lotes defectivos, dada la probabilidad finita de
encontrar productos defectivos en la muestra.
- Si los lotes no son uniformes, el muestreo no es una tcnica confiable.
- No se garantiza que los lotes aceptados estn libres de defectivos.







LOTE MUESTRA ALEATORIA
Fig. 1.43 Esquema del muestreo estadstico

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En 1926 HAROLD F. DODGE Y HARRY G. ROMIG, desarrollaron las tcnicas de Muestreo
Estadstico.

A continuacin se muestran diferentes esquemas de la aplicacin del mtodo.

a) INSPECCIN EN LINEA ENVIO





b) INSPECCION DE RECIBO
ENVIO




c) INSPECCION RECTIFICADORA ACEPTAR ENVIO



RECHAZO


DISPOSICIN DE LOTES

Fig. 1.44 Variaciones del muestreo de aceptacin

El muestreo de aceptacin tiende a reforzar el apego o conformancia a especificaciones pero no
tiene un efecto de retroalimentacin en el proceso de produccin o diseo que mejoren la calidad.

PROCESO INSPECCION CLIENTE
PROCESO INSPECCION
CLIENTE
PROCESO INSPECCION
CLIENTE

SCRAP RETRAB
AJO
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En el transcurso del tiempo, las tres tcnicas estadsticas anteriores han tenido la evolucin
siguiente:
100%







0%
Tiempo
Fig. 1.45 Evolucin de la aplicacin de mtodos estadsticos


1.7 ADMINISTRACIN POR CALIDAD TOTAL

Para que sean efectivas las herramientas estadsticas, su aplicacin debe ser parte de un programa
mayor de Calidad Total (Total Quality Management en EUA, Company Wide Quality Control en
Japn, Seis Sigma de Motorola, Modelo de Direccin por Calidad de Mxico (PNC), Malcolm
Baldrige de EUA, QS 9000, ISO TS 16949, VDA 6.1 VW, ISO 9000:2000, etc.), donde la alta direccin
lleve el liderazgo por la calidad, no funcionarn como elementos aislados.

La filosofa de Deming y Juran implica que la responsabilidad por la calidad se expande a toda la
organizacin, sin embargo para no caer en el error de que la responsabilidad de todos es la de
nadie, la calidad debe planearse.

Deming impulso el uso del CEP y los mtodos estadsticos en Japn para la reduccin de la
variabilidad y mejora continua de calidad, con sus 14 recomendaciones a la direccin.


MUESTREO DE
ACEPTACION


CONTROL DE PROCESO



DISEO DE
EXPERIMENTOS
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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Fig. 1.46 Modelo de gestin de calidad ISO 9000

Costos de calidad
Son costos asociados con producir, identificar, evitar o reparar productos que no cumplan
especificaciones. Normalmente se clasifican en cuatro categoras: Prevencin, Apreciacin, Falla
interna y Falla externa, algunos de los elementos que incluyen son los siguientes:

Costos de prevencin Costos de falla interna
Planeacin e Ingeniera de calidad Scrap o desperdicio
Revisin de nuevos productos Retrabajos
Diseo de productos y procesos Re-inspeccin
Control de proceso Anlisis de falla
Entrenamiento Ineficiencias
Coleccin y anlisis de datos de calidad Descuentos


EL CEP ES PARTE DEL SISTEMA DE CALIDAD
ISO TS 16949 ISO 9001:2000
MEJORA CONTINUA
C
l
i
e
n
t
e
R
e
q
u
e
r
i
m
i
e
n
t
o
s
S
a
t
i
s
f
a
c
c
i
o
n
Responsabilidad
de la Direccin
Administracin
de Recursos
Medicin,
anlisis,
mejora
Realizacin
del Producto
(y/o servicio)
Producto
/
Servicio
Entrada
Salida
Informacin
Informacin
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Costos de apreciacin Costos de falla externa
Inspeccin y prueba en recibo Atencin de quejas
Inspeccin y prueba de productos Producto regresado
Materiales usados en pruebas Cargos por garanta
Mantenimiento de equipo de prueba Costos legales

Costos de prevencin
Son los costos asociados con los esfuerzos de diseo y manufactura enfocados a la prevencin de
defectos, de tal forma de hacer bien las cosas a la primera vez.

Costos de apreciacin
Son los costos asociados con la medicin, evaluacin, o auditora a productos, componentes y
materiales comprados para asegurar su conformancia a los estndares establecidos.

Costos de falla interna
Son los costos incurridos cuando los productos, componentes o materiales y servicios no cumplen
los requerimientos de calidad, y los defectos son descubiertos antes de embarcar al cliente.

Costos de falla externa
Son los costos incurridos cuando el desempeo del producto no es el adecuado una vez que lo
utiliza el cliente.
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2. MTODOS Y FILOSOFA DEL CONTROL ESTADSTICO DEL
PROCESO (CEP)

Concepto de variacin
Los mtodos estadsticos se basan en que no existen dos productos EXACTAMENTE iguales de un
proceso de manufactura, por tanto la VARIACIN es inevitable, su anlisis se hace con el apoyo de
la estadstica.

2.1 DISTRIBUCIN NORMAL

Un proceso opera en condiciones normales, si tiene los materiales dentro de de especificaciones y
del mismo lote, un mtodo consistente, un medio ambiente adecuado, el operador capacitado, y
el equipo ajustado correctamente, si se toman mediciones en alguna caracterstica del producto,
mostrar el siguiente comportamiento:

Fig. 2.1 Construccin de la distribucin normal

La distribucin normal es una de las distribuciones ms usadas e importantes. Se ha desenvuelto
como una herramienta indispensable en cualquier rama de la ciencia, la industria y el comercio.
LAS PIEZAS VARAN DE UNA A OTRA:
Pero ellas forman un patrn, tal que si es estable, se denomina distr. Normal
LAS DISTRIBUCIONES PUEDEN DIFERIR EN:
SIZE TAMAO TAMAO
TAMAO TAMAO TAMAO TAMAO
TAMAO
TAMAO TAMAO
UBICACIN DISPERSIN FORMA
. . . O TODA COMBINACIN DE STAS
Distribucin grfica de la variacin
La Curva normal
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Muchos eventos reales y naturales tienen una distribucin de frecuencias cuya forma es muy
parecida a la distribucin normal. La distribucin normal es llamada tambin campana de Gauss
por su forma acampanada.

Cuando se incluyen todos los datos de un proceso o poblacin, sus parmetros se indican con
letras griegas, tales como: promedio o media = (mu), y desviacin estndar (indicador de la
dispersin de los datos) = o (sigma).

Para el caso de estadsticos de una muestra se tiene media = X y desv. est.= s.

Propiedades de la distribucin normal estndar

- La distribucin normal estndar tiene media = 0 y desviacin estndar o =1. La media,
Mediana y Moda coinciden, son iguales y se localizan en el pico.










Fig. 2.2 Propiedades de la distribucin normal

- El rea bajo la curva o probabilidad de menos infinito a ms infinito vale 1.
- La distribucin normal es simtrica, la mitad de curva tiene un rea de 0.5.
- La escala horizontal de la curva se mide en desviaciones estndar.
- La forma y la posicin de una distribucin normal dependen de los parmetros o , , por lo
que hay un nmero infinito de distribuciones normales.

z
0 1 2 3 -1 -2 -3
z
0 1 2 3 -1 -2 -3 0 1 2 3 -1 -2 -3
x x+o x+2o x+o3 x-o x-2o x-3o x x+o x+2o x+o3 x-o x-2o x-3o
XX
La desviacin estndar
sigma representa la
distancia de la media al
punto de inflexin de la
curva normal
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Lmite inferior de especs. Lmite superior de especificaciones
Fig. 2.3 Distribuciones normales con varias desv. estndar


LIE LSE
Fig. 2.4 Distribuciones normales con varias medias y desviaciones estndar

Curvas Normales con Medias iguales pero
Desviaciones estndar diferentes
Curvas Normales con Medias iguales pero
Desviaciones estndar diferentes
= 20
o = 3.1
o = 3.9
o = 5.0
o = 3.1
o = 3.9
o = 5.0
Normales con Medias y
Desviaciones estndar diferentes
Normales con Medias y
Desviaciones estndar diferentes
= 5, o = 3
= 9, o = 6
= 14, o = 10
= 5, o = 3
= 9, o = 6
= 14, o = 10
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Existe una relacin del porcentaje de probabilidad o rea bajo la curva normal a la desviacin
estndar. En la figura observamos por ejemplo que el rea bajo la curva para o 1 tiene un
porcentaje de 68.26%, o 2 = 95.46% y
% 73 . 99 3 = o
.


















Fig. 2.5 rea bajo la curva de Distribucin normal

Lo anterior se puede calcular con la Tabla de distribucin normal o con Excel (Fx
=distr.norm.estand(Z) proporciona el rea desde menos infinito hasta Z).

En la tabla normal, se busca el valor de Z y se encuentra el rea bajo la curva.

La primera tabla sirve para determinar el rea o probabilidad que se encuentra fuera de los lmites
de especificaciones. La segunda tabla proporciona valores de rea bajo la curva para Zs mayores a
cero. En cada una se muestran ejemplos de su uso.


+1s +2s +3s -1s -2s -3s
68.26%
95.46%
99.73%
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Ejemplo 2.1
a) Determinar el rea bajo la curva de menos infinito a Z = - 1.
P(Z<= -1) = 0.1587

b) Determinar el rea bajo la curva de menos infinito a Z = - 2.
P(Z<= - 2) = 0.0228
c) Determinar el rea bajo la curva entre Z >= -2. hasta Z <= -1
P(- 2 <= Z<= -1) = 0.1359
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Ejemplo 2.2
a) Determinar el rea bajo la curva de menos infinito a Z = 1.
P(Z <= 1) = 0.8413

b) Determinar el rea bajo la curva de menos infinito a Z = 2.
P(Z <= 2) = 0.9772 8
c) Determinar el rea bajo la curva de menos Z = 1 a Z = 2
P(1 <= Z <= 2) = 0.9772 0.8413 = 0.1369
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EJERCICIO 2.1:
Qu porcentaje del rea bajo la curva normal estndar o probabilidad est incluido dentro de los
siguientes rangos?
a) P(1.2 <= Z <= 2.2) = P(Z <= 2.2) P(Z <= 1.2) =
b) P(-2.1 <= Z <= -0.4) = P(Z <= - 0.4) P(Z <= -2.1) =
c) P( -1.3 <= Z <= 2.7) = P(Z <= 2.7) P(Z <= -1.3) =
d) P( Z >= 2.4) = P(Z <= -2.4) =
e) P( Z<=-2.9) + P(Z>= 3.1) = P(Z <= -2.9) + P(Z <= -3.1) =
f) P(Z>= 1.9) = P(Z <= -1.9) =

Estandarizacin de valores reales

En la prctica, se tienen valores reales de promedio diferentes de cero y con desviacin estndar
diferentes de uno, para determinar la probabilidad o rea bajo la curva, se determina el nmero
de desviaciones estndar Zo entre algn valor X y la media de la poblacin o de la muestra X
como sigue:

o

=
X
Z s se consideran los datos completos del proceso.

s
X X
Z

= s se consideran slo los datos de una muestra.

Ejemplo 2.3 El departamento de personal de una empresa requiere que los solicitantes a un
puesto en cierta prueba alcancen una calificacin de 500. Si las calificaciones de la prueba se
distribuyen normalmente con media = 485 y desviacin estndar = o 30 Qu porcentaje de
los solicitantes pasar la prueba?

Calculando el valor de Z obtenemos:
o

=
X
Z =
5 . 0
30
485 500
=


Buscamos el valor correspondiente Z en las tablas de distribucin normal estndar o por medio de
Excel =distr.norm.estand(0.5). Z
0.5
= 0.69146 = 69.146%. donde la probabilidad de que la
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calificacin sea menor a 500 es P (X <= 500). Dado que el porcentaje pedido es ) 500 ( > X P la
solucin es 1-0.69146 =0.3085, por tanto slo 30.85% de los participantes pasarn la prueba.
Otra forma es tomando la Z como negativa con P(Z <= -0.5) = 0.3085.

Fig. 2.6 rea bajo la curva de Distribucin normal


Ejemplo 2.4 Suponga que un proceso tiene una distribucin normal dada tiene una media de 20 y
una desviacin estndar de 4. Calcule la probabilidad
P (X >=24) = 1 P(X <= 24) =

En la barra de herramientas seleccione el icono de funciones fx>Estadsticas>Distr.Norm.Estand.
OK. El sistema muestra la siguiente ventana, en la cual llenamos los siguientes datos:

Fig. 2.7 Clculo del rea bajo la curva normal sin requerir Z

El resultado de la frmula = 0.8413. , dado que esta es la probabilidad P(Xs24), la probabilidad
buscada es: P(X > 24) = 1 - 0.8413= 0.1587

485
Z.05
30.85%
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EJERCICIO 2.2:

Un producto tiene un peso promedio de 75 Kgs. con una desviacin estndar de 10Kgs.

a) Cul es la probabilidad de que un producto pese ms de 85Kgs.?
b) Cul es la probabilidad de que un producto pese menos de 55Kgs.?
c) Cul es la probabilidad de que el producto pese entre 60 y 80 Kgs.?.
d) Cul es la probabilidad de que el producto pese entre 55 y 70 Kgs.?
e) Cul es la probabilidad de que el producto pese entre 85 y 100Kgs.?

2.2 PRUEBA DE NORMALIDAD
Para probar normalidad de datos, se pueden utilizar los mtodos de Anderson Darling o Ryan si el
tamao de muestra es mayor a 15 y se utiliza la prueba de Kolmogorov Smirnov para 15 datos o
menos de muestra, observando la grfica de probabilidad normal.

a) En el mtodo de Anderson Darling o Ryan Joiner, si el valor de probabilidad P de la prueba es
mayor a 0.05, se considera que los datos son normales. Seguir los siguientes pasos:

Generar 100 datos aleatorios en Minitab con Media = 264.6 y Desviacin estndar S = 32.02 con:
1. Calc > Random data > Normal
2. Generate 100 Store in columns C1 Mean 264.06 Estandar deviation 32.02 OK

Nos aseguramos que los datos se distribuyan normalmente con la prueba de Anderson Darling o
Ryan Joiner como sigue:

1. Stat > Basic statistics > Normality Test
2. Variable C1 Seleccionar Ryan Joiner test OK

El P value debe ser mayor a 0.05 para que los datos se distribuyan normalmente
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Fig. 2.7 Grfica de probabilidad de un proceso normal

b) Otra opcin por medio de una grfica de probabilidad normal, se tiene:
3. Graph > Probability plot > Normal
4. Graph Variable C1
5. Distribution Normal OK
Los puntos deben quedar dentro del intervalo de confianza para indicar que es normal la
distribucin.

Fig. 2.8 Grfica de probabilidad normal con Int.de confianza
Datos
P
e
r
c
e
n
t
350 300 250 200 150
99.9
99
95
90
80
70
60
50
40
30
20
10
5
1
0.1
Mean
>0.100
269.3
StDev 30.72
N 100
RJ 0.994
P-Value
Probability Plot of Datos
Normal
Datos
P
e
r
c
e
n
t
400 350 300 250 200 150
99.9
99
95
90
80
70
60
50
40
30
20
10
5
1
0.1
Mean
0.533
269.3
StDev 30.72
N 100
AD 0.317
P-Value
Probability Plot of Datos
Normal - 95% CI
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2.3 LA CARTA DE CONTROL COMO PRUEBAS DE HIPTESIS

Se pueden cometer dos tipos de errores cuando se prueban hiptesis:

Error tipo I, se rechaza Ho cuando es verdadera.
Error tipo II, no se rechaza Ho cuando es falsa.

Las probabilidades de esos dos tipos de errores son:
o = P(error tipo I)
| = P(error tipo II)

donde la potencia de la prueba es

Potencia = 1 - | = Probabilidad de rechazar correctamente Ho.

Alfa a veces se denomina riesgo del productor, denotando la probabilidad de que un lote bueno o
un proceso que produce partes aceptables en relacin a una caracterstica de calidad sea
rechazado.

Beta a veces se denomina riesgo del consumidor denotando la probabilidad de aceptar lotes de
calidad pobre, o permitiendo que un proceso contine operando de manera insatisfactoria
respecto a una caracterstica de calidad.

El procedimiento general para pruebas de hiptesis es especificar una probabilidad de error tipo I
o o, y disear un procedimiento de prueba que minimice la probabilidad de error tipo II.

Conforme se incrementa el tamao n de muestra, se reduce la probabilidad de error tipo II.

PROBABILIDAD DE ERROR TIPO II

Tomando como estadstico de prueba Zc, y asumiendo que sigue una distribucin normal N(0,1).
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( )
n
X Z
c
o

0
= (2.6)
Para encontrar la probabilidad de error tipo II, se debe asumir que Ho es falsa y entonces hallar la
distribucin de Zc. Suponiendo que la media de la distribucin realmente es:

1
=
0
+ o con o > 0

La hiptesis alterna H
1
es verdadera y bajo esta suposicin, el estadstico Zc es:


|
|
.
|

\
|
~ 1 ,
n
N Zc
o

BAJO H
0
BAJO H
1





- Z
o/2
0 Z
o/2
Zc = o o / n
Fig. 2.9 La distribucin de Zc bajo Ho y H1

La probabilidad del error tipo II es la probabilidad de que Zc se encuentre entre - Z
o/2
y Z
o/2
dado
que la hiptesis alterna es verdadera.

Para evaluar esta probabilidad, se evaluan F(Z
o/2)
) F(-Z
o/2
), donde F es la distribucin acumulativa
normal estndar. La probabilidad de error tipo II es (funciona igual para cuando o < 0):


|
|
.
|

\
|
u
|
|
.
|

\
|
u =
o
o
o
o
|
o o
n
Z
n
Z
2 / 2 /
(2.7)

Ejemplo 2.5: si los estndares especifican que la media de una lata de caf es de 16.0 oz., y de
acuerdo a la experiencia se sabe que la desviacin estndar del contenido es de 0.1 oz. Las
hiptesis son:
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Ho: = 16.0
Ho: = 16.0
Asumiendo una probabilidad de error tipo I de 0.05 y tomando una muestra de 9 latas, se tiene
que el estadstico de prueba es:

( )
9
1 . 0
16
0
= X Z

Se rechaza Ho si Zo > Z
0.025
= 1,96

Suponiendo que se desea encontrar la probabilidad del error tipo II si el valor verdadero de la
media es
1
=16.1 implicando que o = 16.1 16.0 = 0.1, se tiene:


|
|
.
|

\
|
u
|
|
.
|

\
|
u =
o
o
o
o
|
o o
n
Z
n
Z
2 / 2 /



|
|
.
|

\
|
u
|
|
.
|

\
|
u =
1 . 0
9 1 . 0
96 . 1
1 . 0
9 1 . 0
96 . 1 |
= u (- 1.4 ) - u ( -4.96 )
= 0.1492

Es decir que la probabilidad de no rechazar Ho si la media es 16.1 oz. Es de 0.1492, o que la
potencia de la prueba es de 1 -| = 1 0.1492 = 0.8508.

De la ecuacin anterior para |, se observa que es una funcin de n, y de o , tomando o como 0.05
y graficando | contra d = o / o, se obtienen las curvas caractersticas de operacin (OC).

(ver grfica de curva OC)

En las curvas OC se observa que:

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1. Entre mayor sea el valor de o, se reduce la probabilidad de error tipo II para una n y o dadas.
Es decir que la prueba detecta ms fcilmente grandes diferencias.
2. Conforme se incrementa n, la probabilidad de error tipo II es ms pequeo para una o y o
dadas. Es decir que la prueba se hace ms potente si se incrementa el tamao de muestra.

Las cartas de control fueron desarrolladas por el Dr. Walter A. Shewhart de los Bell Telephone
Labs., se denominan Cartas de Control de Shewhart y se usan para el monitoreo del proceso en
lnea. A continuacin se explica la teora de variabilidad de Shewhart.

Causas comunes y causas especiales

La variabilidad natural siempre existe en cualquier proceso de produccin, no importa que tan
bien diseado est. Esta variabilidad natural es denominada causas comunes o aleatorias de
variabilidad, un proceso que opera en estas condiciones se dice que est en control estadstico.

Existen otras fuentes de variabilidad que pueden ser causadas por mquinas, errores de
operadores o materiales defectuosos. Esta variabilidad es muy grande en relacin con la
variabilidad natural y es originada por causas especiales o asignables haciendo que el proceso
opere fuera de control estadstico (ver pgina siguiente).

De la figura cuando el proceso est en control, la mayor parte de la produccin se encuentra
dentro de los lmites de control (LSC y LIC). Sin embargo cuando el proceso est fuera de control,
una gran proporcin del proceso se encuentra fuera de estos lmites.

El Objetivo del CEP es la deteccin oportuna de la ocurrencia de causas especiales para tomar
acciones correctivas antes de que se produzcan unidades defectivas o no conformes, para esto se
utilizan las cartas de control en lnea, permitiendo tambin la estimacin de la capacidad o
habilidad del proceso y la reduccin continua de la variabilidad hasta donde sea posible.

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2.4 BASES ESTADSTICAS DE LAS CARTAS DE CONTROL

Una carta tpica representando un proceso en control estadstico se muestra a continuacin.
Contiene una lnea central que representa el valor promedio de la caracterstica de calidad
correspondiente al estado en control y dos lneas adicionales llamadas lmites inferior y superior
de control (LIC y LSC), los cuales se seleccionan de tal forma que casi la totalidad de los puntos se
encuentren dentro de ellos, si esto ocurre no se requiere tomar ninguna accin.

LSC

LC


LIC Tiempo

Fig. 2.10 Carta de control de Shewhart

Un punto que se encuentre fuera de los lmites de control mostrar evidencia que el proceso est
fuera de control y ser necesario una investigacin de la causa especial y la accin correctiva
necesaria para eliminarla. Tambin se tendr un alto riesgo de situacin fuera de control si los
puntos se agrupan es forma sistemtica dentro de los lmites de control o muestran una
tendencia.

Por ejemplo, la carta de control de medias prueba la hiptesis de que la media del proceso est en
control y tiene un valor
0
si un valor de media muestral
i
X cae dentro de los lmites de control;
de otra forma se concluye que el proceso est fuera de control y que la media del proceso tiene un
valor diferente del de
0,
por decir
1,
donde
1
=
0.


Se puede decir que las probabilidades de los errores tipo I y tipo II de la carta de control, son
esquemas de prueba de hiptesis para analizar el desempeo de las cartas de control.

CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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La probabilidad del error tipo I de la carta de control se presenta cuando se concluye que el
proceso est fuera de control cuando en realidad no lo est.

La probabilidad de error tipo II de la carta de control se presenta cuando se concluye que el
proceso est en control cuando en realidad est fuera de control. La curva caracterstica de
operacin (OC), con | en el eje vertical, indica la capacidad de la carta para detectar corridas de la
media o rango del proceso de diferentes magnitudes.

Ejemplo 2.6: Para el caso de pistones, evaluando la caracterstica de calidad de dimetro interno
del anillo. Si la media del proceso es 74 y la desviacin estndar es de 0.01mm, con un tamao de
muestra de n=5, se tiene:

La desviacin estndar de las medias es:
0045 . 0
5
01 .
= = =
n
X
o
o
Asumiendo que el proceso est en control y de acuerdo al teorema del lmite central se asume que
las medias
i
X se distribuyen normalmente, se debe espera que el 100(1-o )% se encuentren entre
74 Z
o/2
(0.0045).

Si se escoge arbitrariamente a Z
o/2 =
3, se obtienen los lmites de control a 3 sigma:
LSC = 74 + 3 (0.0045) = 74.0135
LIC = 74 3 (0.0045) = 73.9865

74.0135


74


74.9865 Tiempo

Fig. 2.11 Carta de Control tpica
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El ancho de los lmites de control es inversamente proporcional al tamao de muestra n, para un
mltiplo de sigma dado, La seleccin de los lmites de control es equivalente a preparar la regin
crtica para probar la hiptesis en el tiempo:
H
0
: = 74
H
1
: = 74
Con o = 0.01 conocida.

Se puede definir un modelo general para una carta de control, si w es un estadstico muestral que
mide alguna caracterstica de calidad de inters y asumiendo que su media es
w
con desviacin
estndar o
w
se tiene:

LSC =
w
+ Lo
w
(2.8)
LC =
w

LIC =
w
- Lo
w


Donde L es la distancia de los lmites de control a partir de la lnea central expresada en
unidades de desviacin estndar.

El uso ms importante de la carta de control es la mejora del proceso, a travs de su monitoreo, al
principio se observar que los procesos no estn en control estadstico, sin embargo con las cartas
de control se podrn identificar causas especiales que al ser eliminadas, resulten en una reduccin
de la variabilidad mejorando el proceso.










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DISTRIBUCION DISTRIBUCION COMPORTAMIENTO DEL PROCESO
DE LOS VALORES DE LAS MEDIAS LSC = 74.0135, LC = 74, LIC = 73.9865
INDIVIDUALES o=.01
0045 . 0 =
X
o

Fig. 2.12 Comparacin de la variabilidad de la poblacin y la de las medias y operacin de la carta
de control

El proceso de mejora usando la carta de control requiere la accin de la supervisin, operador e
ingeniera, la carta de control slo detecta causas especiales o asignables.

Para identificar y eliminar las causas asignables, es importante encontrar las causas raz del
problema y atacarlas para lo cual se puede utilizar el Plan de accin para situaciones fuera de
control OCAP, activado con la ocurrencia de cada evento. Incluye Puntos de chequeo que son
causas potenciales asignables y terminadores que son las acciones que resuelven la situacin fuera
de control. Este documento OCAP es un documento vivo que debe ser actualizado
constantemente.

ENTRADA PROCESO SALIDA


SISTEMA DE
EVALUACIN

Verificacin Deteccin de causa
y seguimiento asignable



Implantar Identificar causa
Accin raz del problema
Correctiva


Fig. 2.13 PROCESO DE MEJORA USANDO LA CARTA DE CONTROL

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La carta de control es un dispositivo de estimacin de parmetros del proceso una vez que exhibe
control estadstico, se puede estimar la media, varianza, proporcin, etc. que pueden ser utilizados
para determinar la capacidad de los procesos para producir productos aceptables, base de
decisiones gerenciales y contractuales.

Las cartas de control pueden ser clasificadas en dos clases: por atributos y por variables
dependiendo de cmo se evale la caracterstica de calidad.

Si la caracterstica de calidad se puede evaluar y expresar como un nmero real en alguna escala
de medicin continua, se denomina una variable. En tales casos se utilizan cartas de control de
medias, que describan la tendencia central y cartas de control basadas en rango o desviacin
estndar para controlar la variabilidad del proceso.

Muchas caractersticas de calidad no pueden ser medidas en una escala continua, en esos casos se
puede juzgar cada producto como conforme o como no conforme sobre la base de que posea o no
ciertos atributos, o se pueden contar el nmero de no conformidades o defectos que aparecen en
una unidad de producto. Las cartas de control para tales caractersticas de calidad, se denominan
cartas de control por atributos.

Un factor importante en la aplicacin de cartas de control es su diseo, es decir la seleccin de
tamao de muestra, lmites de control y frecuencia de muestreo. Para la carta de control por
variables del ejemplo se utiliz una muestra de 5 partes, lmites de control a 3-sigma y una
frecuencia de muestreo cada hora.

Si se incrementa el tamao de muestra, decrece la probabilidad del error tipo II, aunque el diseo
de la carta de control tambin debe tomar consideraciones econmicas considerando los costos
de muestreo, prdidas por fabricar productos defectuosos y costo de investigar indicaciones fuera
de control que son falsas alarmas.

Otra consideracin en el uso de cartas de control es el tipo de variabilidad exhibida por el proceso:

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1. Procesos estacionarios: los datos del proceso varan alrededor de una media fija de una manera
fija y estable. Es decir se tiene un proceso en control de acuerdo a Shewhart es el rea de
aplicacin de las cartas de control ms efectivo.

2. Procesos con datos no correlacionados: las observaciones dan la apariencia de haberse
extrado de una poblacin estable (normal u otra), en anlisis de series de tiempo se denomina
ruido blanco. En este caso los datos pasados histricos no dicen nada en relacin a predecir su
comportamiento futuro.

3. Procesos estacionarios con datos correlacionados: las observaciones sucesivas de en estos
datos son dependientes; es decir un valor por arriba de la media tiende a ser seguido por otro
valor arriba de la media y viceversa, esto produce corridas lentas y largas en algn lado de la
media.

4. Procesos no estacionarios: ocurren en los procesos qumicos e industrias de proceso, los
procesos son muy inestables y tienen corridas inestables alrededor de una media fija. En estos
casos se estabiliza el desempeo de los procesos por medio de control automtico por
retroalimentacin.

Las cartas de control han sido muy populares por las siguientes razones:

1. Son una herramienta probada para mejorar la productividad. Su aplicacin exitosa ayuda a
reducir desperdicios y retrabajos, que son factores que reducen la productividad (productos
buenos por hora).
2. Son efectivas como herramientas de prevencin de defectos. Apoyan el concepto de hacerlo
bien a la primera vez, es ms costoso seleccionar productos buenos en un lote con productos
defectuosos, que fabricarlos bien desde el principio.
3. Evitan que se hagan ajustes innecesarios en el proceso. Apoyan el concepto de si no esta mal,
no lo arregles, ya que identifican las causas comunes de las especiales, evitan que se hagan
ajustes cuando slo se estn teniendo variaciones aleatorias en el proceso.
4. Proporcionan informacin de diagnstico. Proporcionan un patrn de puntos que permite la
toma de decisiones para la mejora del proceso, al operador o al ingeniero experimentado.
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5. Proporcionan informacin acerca de la capacidad o habilidad del proceso. Proporcionan
informacin acerca de los parmetros importantes del proceso y de su estabilidad con el
tiempo, permitiendo la estimacin de la capacidad del proceso para producir dentro de
especificaciones.

SELECCIN DE LOS LMITES DE CONTROL

Abriendo los lmites de control decrece riesgo de error tipo I (falsa alarma) sin embargo se
incrementa el riego de error tipo II y viceversa. Con lmites de control de 3-sigma la probabilidad
de error tipo I es de 0.0027. Si se selecciona el nivel de riesgo de error tipo I en 0.002 o 0.001 en
cada lado, se tienen los lmites de control a una distancia de 3.09-sigmas y los lmites de control
sern:

LSC = 74 + 3.09 (0.0045) = 74.0139
LIC = 74 3.09 (0.0045) = 73.9861

Estos lmites de control se denominan lmites probabilsticos a 0.001. A continuacin se presenta
una comparacin entre lmites.

+3.09 o
+3.0 o
LC

-3.00o
-3.09 o

Fig. 2.14 Lmites de control de Shewhart y Europeos

Los lmites de control a 0.001 se utilizan en pases europeos.
Algunos analistas sugieren el uso de lmites preventivos trazados a 2-sigmas de la lnea central,
para el caso de lmites de control a 3-sigmas y a 0.025 de probabilidad para lmites de control a
0.001. Estos lmites aumentan la sensibilidad de la carta de control para identificar corrimientos de
la media del proceso, en forma ms rpida. Si un punto cae fuera de los lmites preventivos, Una
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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desventaja es que crean confusin con el personal y se incrementa el riesgo de error tipo I (falsas
alarmas).

Tamao de muestra y frecuencia de muestreo

Al disear una carta de control, se debe especificar tanto el tamao de muestra como la
frecuencia de muestreo, tamaos de muestra grandes permiten detectar pequeas corridas en la
media del proceso como se observa en las curvas caractersticas de operacin.

Para la frecuencia de muestreo, la prctica industrial sugiere tomar muestras pequeas
frecuentes, principalmente en produccin masiva o cuando existe la posibilidad de que existan
muchas causas especiales, actualmente con las computadoras esto es cada vez ms fcil.

Otra forma de determinar la frecuencia de muestreo y el tamao de muestra, es a travs de la
longitud media de racha de la carta de control (ARL), que es el nmero de puntos que deben ser
graficados antes de que un punto indique una condicin fuera de control.


p
ARL
1
= (2.9)

donde p es la probabilidad de que un punto exceda los lmites de control. Para el caso de 3-sigma
p=0.0027 y el ARL
0
= 370. Es decir que si el proceso est en control, se generar un punto fuera de
control como falsa alarma cada 370 puntos.

Si se toman muestras en intervalos fijos de tiempo en horas (h), entonces aparecer una falsa
alarma cada tiempo promedio de indicacin (ATS) en horas.

ARLh ATS = (2.10)

En el ejemplo si se toman muestras cada hora, se genera una falsa alarma cada 370 horas.

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Para evaluar que tan efectiva es la carta para detectar corrimientos en la media del proceso, se
utilizan las curvas caractersticas de operacin. Por ejemplo, si n=5 y la media se corre de
74.015mm, la probabilidad de que un punto caiga dentro de los lmites de control es
aproximadamente 0.50, por tanto utilizando p=0.50, se puede calcular el ARL
1
para una situacin
fuera de control como sigue:

2
5 . 0
1 1
1
= = =
p
ARL
Esto significa que el proceso requiere 2 muestras antes de detectar el corrimiento. Si el muestreo
se hace cada hora, el ATS = 2 h, si esto fuera inaceptable, se podran tomar muestras ms
frecuentes por ejemplo cada media hora o incrementar el tamao de muestra. Si n=10, de la curva
caracterstica de operacin se observa que p=0.9 y el ARL
1
= 1.11 y el ATS = 1.11 h, lo cual puede
ser ms aceptable.

En resumen las dos alternativas siguientes dan un resultado similar:

Diseo 1 Diseo 2
n = 5 n = 10
Frec. Cada hora Frec. cada hora.

Las muestras se toman de manera ms frecuente a la ocurrencia de cambios en el proceso
registrados en bitcoras (cambio de turno, cambio de materiales, ajustes, fallas, etc.), con objeto
de detectar las causas de situaciones fuera de control.

Subgrupos racionales

La idea fundamental en las cartas de control es colectar los datos de la muestra de acuerdo al
concepto de subgrupo racional es decir que el subgrupo debe seleccionarse de tal forma que si
estn presentes causas asignables, la diferencia entre los subgrupos sea maximizada, minimizando
la diferencia dentro del subgrupo.
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El tiempo en que se tomen las muestras es una buena base para formar subgrupos, evitando que
algunas observaciones se tomen al final de un turno y las restantes al inicio del siguiente ya que
ocasiona diferencias dentro del subgrupo.

Por lo anterior se recomienda tomar productos consecutivos de produccin para formar la
muestra (cuyo tamao puede ser entre 4 y 6), minimizando diferencias dentro del subgrupo. En
algunos procesos como los qumicos, es suficiente tomar una sola unidad de producto como
muestra, dado que existe homogeneidad.

Anlisis de patrones en cartas de control

Una carta de control indicar una condicin fuera de control cuando uno o ms puntos caigan ms
all de los lmites de control o cuando los puntos graficados formen un patrn no aleatorio de
comportamiento.

En general una racha o corrida es una secuencia de observaciones del mismo tipo. Adems de las
corridas ascendentes o descendentes, se encuentran las que estn por debajo o sobre la media.

Dado que una corrida de 8 o ms puntos tiene una probabilidad de ocurrencia muy baja, se
considera que una racha o corrida con una longitud de 8 puntos indica una condicin fuera de
control.






Fig. 2.15 Proceso fuera de control por tendencias o corridas

Otro patrn de inestabilidad se presenta cuando el comportamiento del proceso muestra patrones
cclicos.

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Para reconocer un patrn de comportamiento no slo se requiere conocer las tcnicas
estadsticas, sino tambin es necesario tener un conocimiento profundo del proceso.

En el libro de la Western Electric (1956) se recomiendan las reglas siguientes para detectar
patrones no aleatorios en las cartas de control:

1. Un punto fuera de los lmites de control de 3-sigma.
2. Dos de tres puntos consecutivos sobre los lmites preventivos a 2-sigma.
3. Cuatro de cinco puntos consecutivos que se encuentren a una distancia de 1-sigma o ms all
a partir de la lnea central.
4. Ocho puntos consecutivos graficados hacia un lado de la lnea central.

Algunas reglas adicionales recomendadas por la industria son:

5. Siete puntos formando una tendencia creciente o decreciente.
6. Quince puntos consecutivos encontrados entre ms menos 1-sigma de la lnea central
(adhesin a la media).
7. Catorce puntos en un rengln alternndose arriba y abajo.
8. Siete puntos que se encuentren ms all de 1-sigma de la lnea central.
9. Un patrn no usual o no aleatorio de datos.
10. Uno o ms puntos cerca de los lmites preventivos.

Debe tenerse cuidado de no exagerar en la aplicacin de las reglas ya que se pueden tener muchas
falsas alarmas quitndole efectividad al programa del CEP.

2.5 IMPLEMENTACIN DEL CEP

El CEP proporciona un retorno sobre la inversin apreciable cuando se implanta exitosamente, ya
que permite la mejora continua a travs de la reduccin de la variabilidad. Las cartas de control
son una herramienta importante para esta mejora.

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El CEP no sirve si se implanta y despus no se mantiene, ya que la mejora continua debe ser parte
de la cultura de la organizacin.

Para su implantacin es necesario el liderazgo gerencia y el trabajo en equipo, as como evaluar los
avances y comunicarlos a la organizacin, lo cual puede motivar a mejorar otros procesos.

Los elementos recomendados para un programa de CEP exitoso son:

1. Liderazgo gerencial
2. Un enfoque de grupo de trabajo
3. Educacin y entrenamiento de empleados en todos los niveles
4. nfasis en la mejora continua
5. Un mecanismo para reconocer el xito y comunicacin hacia la organizacin.


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3. CARTAS DE CONTROL POR VARIABLES

3.1 INTRODUCCIN

Una caracterstica que se mide en una escala numrica se denomina una variable. Por ejemplo
temperaturas, dimensiones, volumen, tiempo, etc. Las cartas de control de R X son
ampliamente utilizadas para monitorear la media y la variabilidad de las variables, con objeto de
evitar o minimizar que se tengan productos fuera de especificaciones y estabilizar los procesos.





LIE MEDIA LSE LIE MEDIA LSE LIE MEDIA LSE

MEDIA Y DESV. ESTANDAR MEDIA CORRIDA DESVIACION ESTANDAR
EN NIVELES NORMALES MAYOR A LA REQUERIDA

Fig. 3.1 Estados posibles de un proceso en control

3.2 CARTAS DE CONTROL DE MEDIAS-RANGOS

Asumiendo que una caracterstica de calidad est distribuida normalmente con media y
desviacin estndar o ambas conocidas. Si x
1
, x
2
, .... x
n
forman una muestra de tamao n entonces
se puede calcular la media de la muestra X .
Ahora como las medias de las muestras estn normalmente distribuidas con media
i X
= o / n
, y siendo que la probabilidad 1-o de que cualquier media muestral caer entre los lmites:

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n
Z Z
X
o
o
o o 2 / 2 /
+ = + (3.1)
y

n
Z Z
X
o
o
o o 2 / 2 /
=
Lo anterior ser vlido an si la distribucin de la poblacin no es normal pero si estable.

En la prctica los lmites de control se estiman a partir de 20 o 25 muestras preliminares o
subgrupos, el tamao de subgrupo es de 4, 5 o 6 normalmente. Si se tienen m subgrupos, la gran
media se calcula como sigue:

m
X
X
m
i
i
=
=
1
(3.2)
Representa la lnea central de la carta de medias.

Para estimar la o del proceso, se pueden utilizar los rangos de los subgrupos, para cada uno de los
subgrupos el rango es calculado como:

R = x
max
x
min
(3.3)



Si R
1,
R
2
, ....., R
m
, son los rangos de los diferentes subgrupos, el rango promedio es:


m
R
R
m
i
i
=
=
1
(3.4)

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DESARROLLO DE LA FORMULA PARA LOS LMITES DE CONTROL

La variable W de rango relativo relaciona al rango con la desviacin estndar como sigue:

W = R / o (3.5)

Los parmetros de la distribucin de W son funcin de n. La media de W es d
2
. Por tanto un
estimador de o es R / d
2
, donde d
2
est tabulado para diferentes valores de n, de esta forma si R
es el rango promedio de las primeras muestras, usando:

2
d
R
= o (3.6)
Los lmites de control de la carta de medias son:


n d
R
X LSC
2
3
+ = Lmite superior de control (LSC)


n d
R
X LIC
2
3
= Lmite inferior de control (LIC) (3.7)

X Lnea central (LC)

Si de define a
n d
R
A
2
2
3
= se tienen las ecuaciones siguientes:

LSC = X + A
2
R (3.8)

LIC = X - A
2
R

El valor de A
2
se encuentra tabulado en una tabla de constantes.

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Para el caso de los rangos, la lnea central es R . El estimador para o
R
puede hallarse de la
distribucin del rango relativo W = R / o, si la desviacin estndar de W es d
3
en funcin de n, se
tiene:

R = W o (3.9)
La desviacin estndar de R es:
o
R
= d
3
o
Como o es desconocida, se puede estimar de o = R / d
2
, resultando:

2
3
d
R
d
R
= o (3.10)
De esta forma los lmites de control para el rango son:

LSC = R + 3
R
o = R + 3
2
3
d
R
d = R [ 1+ 3
2
3
d
d
] = D
4
R (3.11)

LIC = R - 3
R
o = R - 3
2
3
d
R
d = R [ 1- 3
2
3
d
d
] = D
3
R

Donde las constantes A
2
, d
2
D
3
y D
4
se encuentran tabuladas en funcin de n para facilitar el
clculo de los lmites de control como sigue:

Tabla 3.1 Constantes para lmites de control en cartas X-R
n A
2
D
3
D
4
d
2

2 1.88 0 3.267 1.128
3 1.023 0 2.574 1.693
4 0.072 0 2.282 2.059
5 0.577 0 2.115 2.326
6 0.483 0 2.004 2.534
7 0.419 0.076 1.924 2.704
8 0.373 0.136 1.864 2.847
9 0.337 0.184 1.816 2.97
10 0.308 0.223 1.777 3.078

Para valores pequeos de n, el rango es un buen estimador de la varianza tal como lo hace la
varianza de la muestra S
2
. La eficiencia relativa del mtodo del rango a la S
2
se muestra abajo:

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Eficiencia
n Relativa
2 1.000
3 0.992
4 0.975
5 0.955
6 0.930
10 0.850

Para n >= 10 el rango pierde eficiencia rpidamente ya que ignora los valores intermedios entre
x
max
y x
min
sin embargo para valores pequeos de n (4,5 o 6) empleados en las cartas de control, es
adecuado. Para cuando n>10 se utiliza la desviacin estndar en vez del rango.

EQUIPO DE MEDICIN
La resolucin del equipo debe ser de al menos 1/10 de la tolerancia y debe tener habilidad para
realizar la medicin con un error por Repetibilidad y Reproducibilidad (R&R) menor al 10% (ver
procedimiento de estudios R&R).

LIMITES PRELIMINARES
Siempre que un proceso este siendo analizado a travs de una carta de control, es muy importante
llevar una bitcora registrando todos los cambios (tiempo y descripcin) conforme ocurran, por
ejemplo: cambio de turno, cambio de materiales, ajuste de mquina, interrupcin de energa,
arranque de mquina, etc. Con objeto de identificar las causas asignables en caso de presentarse
para la toma de acciones correctivas.

Al iniciar una carta de control tomando m subgrupos (20 a 25) se calculan y grafican los lmites de
control preliminares para determinar si el proceso estuvo en control (ver procedimiento de
Grficas de Control). Para probar esta hiptesis, se analizan todos los puntos graficados y se hace
un anlisis para identificar si hay puntos fuera de los lmites de control o patrones anormales de
comportamiento, si as fuera, los lmites de control preliminares se pueden utilizar para el control
futuro del proceso.

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Si no se prueba la hiptesis de que el proceso est en control, por algn patrn de anormalidad
presente, se determina la causa especial de la anormalidad, se toman acciones correctiva para que
no vuelva a presentar, se eliminan los puntos correspondientes al patrn de anormalidad y se re-
calculan o revisan los lmites de control. Se analiza la carta de control para observar un
comportamiento aleatorio, si aun no se tiene, se repite el proceso anterior hasta lograrlo. Una vez
teniendo todos los puntos en control, los nuevos lmites de control ms cerrados que los
originales se utilizan para el control futuro del proceso.

Cuando no sea posible encontrar causas especiales para los patrones de anormalidad o puntos
fuera de control, no se eliminan y se consideran para la determinacin de los lmites de control
revisados para el control futuro del proceso.

Interpretacin de cartas de control R X

Se debe iniciar con la interpretacin de la carta R, identificando causas especiales y despus
analizar la carta X . Adems de la situacin de un punto fuera de control, se tienen otros
patrones de anormalidad como los siguientes:
Patrones cclicos: Puede ser ocasionado por cambios ambientales, fatiga del operador, o
fluctuaciones en las presiones u otras variables del proceso.

LSC

LC

LIC
Fig. 3.2 Patrn de anormalidad cclico

Mezclas de lotes: Se presenta cuando los puntos graficados se localizan cerca o fuera de los lmites
de control, con muy pocos puntos cerca de la lnea central, puede ser causada por un sobre
control de los operadores sobre el proceso o cuando se toman productos de varias fuentes con
diferente media.

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LSC

LC


LIC

Fig. 3.3 Patrn de anormalidad con mezcla de lotes

Corrimiento en la media del proceso. Esto puede ser generado por un cambio en mtodos,
operadores, materias primas, mtodos de inspeccin, etc.
LSC

LC

LIC

Fig. 3.4 Patrn de anormalidad con corrimiento en media

Una tendencia ascendente o descendente: Son causadas por deterioracin gradual de
herramientas u otro componente crtico del proceso, en los procesos qumicos puede deberse a la
separacin de algn componente.
LSC

LC


LIC
Fig. 3.5 Patrn de anormalidad de tendencia ascendente

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Estratificacin: Se muestra como una adhesin a la media, puede ser causado por lmites mal
calculados, tomar piezas de procesos diferentes o falta de resolucin del equipo de medicin.

LSC

LC

LIC

Fig. 3.6 Patrn de anormalidad de estratificacin

Por lo general la carta R es ms sensible a cambios en la normalidad de los procesos, por ejemplo
cuando n = 4 el error tipo I no es 0.00027 sino 0.00461.

En resumen los patrones de anormalidad ms comunes son:
- Un punto fuera de los lmites de control
- Siete puntos formando una tendencia ascendente o descendente
- Dos de tres puntos a ms de dos sigma de la lnea central en el mismo lado
- Cuatro de cinco puntos a ms de una sigma de la lnea central del mismo lado.
- Siete puntos en secuencia sobre o bajo la lnea central
- Catorce puntos alternndose arriba y debajo de la media
- Quince puntos dentro de una sigma de la lnea central en ambos lados
- Cualquier otro patrn de anormalidad

Ejemplo 3.1 Para el caso de anillos de pistones de automvil, se desea establecer un control
estadstico para el dimetro interno de los anillos, a travs de una carta de medias-rangos. Se
toman 25 subgrupos de 5 piezas cada uno.

El anlisis se inicia con la carta R ya que los lmites para la carta X dependen de la variabilidad del
proceso, y a menos que esta variabilidad se encuentre en control, esos lmites tendrn poco
significado.

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De las cartas de control se calcula un rango promedio R de 0.023mm (ver tabla de constantes
para D
3
y D
4
con n=5):

LIC
R
= R D
3
= 0.023 (0) = 0
LSC
R
= R D
4
= 0.023 (2.115) = 0.049

Si la carta de control para R se encuentra en control estadstico, se puede ahora calcular los lmites
para la carta X donde la lnea central X es 74.001 (ver tabla de constantes para obtener el
valor de A
2
con n=5).

LSC = X + A
2
R = 74.001 + (0.577) (0.0023) = 74.014
LIC = X - A
2
R = 74.001 - (0.577) (0.0023) = 73.988

Si no se observan condiciones fuera de control en la carta X . Si ambas cartas estn en
control, se puede concluir que el proceso est en control y se pueden adoptar los lmites actuales
para el control futuro del proceso.

Ejemplo 3.2: Se toman datos de la dimensin crtica de una parte, con el proceso corriendo
normalmente, en 25 subgrupos de tamao n=5, uno cada hora:

X11 X12 X13 X14 X15 Medias Rangos Desv. Est.
138.1 110.8 138.7 137.4 125.4 130.1 27.9 12.1
149.3 142.1 105.0 134.0 92.3 124.5 57.0 24.7
115.9 135.6 124.2 155.0 117.4 129.6 39.1 16.2
118.5 116.5 130.2 122.6 100.2 117.6 30.0 11.1
108.2 123.8 117.1 142.4 150.9 128.5 42.7 17.7
102.8 112.0 135.0 135.0 145.8 126.1 43.0 17.9
120.4 84.3 112.8 118.5 119.3 111.1 36.1 15.2
132.7 151.1 124.0 123.9 105.1 127.4 46.0 16.7
136.4 126.2 154.7 127.1 173.2 143.5 47.0 20.2
135.0 115.4 149.1 138.3 130.4 133.6 33.7 12.3
139.6 127.9 151.1 143.7 110.5 134.6 40.6 15.9
125.3 160.2 130.4 152.4 165.1 146.7 39.8 17.9
145.7 101.8 149.5 113.3 151.8 132.4 50.0 23.2
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138.6 139.0 131.9 140.2 141.1 138.2 9.2 3.6
110.1 114.6 165.1 113.8 139.6 128.6 55.0 23.5
145.2 101.0 154.6 120.2 117.3 127.7 53.6 21.8
125.9 135.3 121.5 147.9 105.0 127.1 42.9 16.0
129.7 97.3 130.5 109.0 150.5 123.4 53.2 20.7
123.4 150.0 161.6 148.4 154.2 147.5 38.2 14.4
144.8 138.3 119.6 151.8 142.7 139.4 32.2 12.1


Los clculos y grficas se hicieron utilizando
el paquete MINITAB y se muestran a continuacin.

Las cartas de control quedan como sigue:

Fig. 3.7 Cartas de control iniciales

El proceso se observa en control estadstico, con estos lmites de control calculados, se contina
corriendo el proceso para otros 10 datos con el comportamiento siguiente:
X11 X12 X13 X14 X15 Medias Rangos Desv. Est.
131.0 184.8 182.2 143.3 212.8 170.82 81.8 33.2801
19 17 15 13 11 9 7 5 3 1
150
140
130
120
110
Sample
S
a
m
p
l
e

M
e
a
n
_
_
X=130.88
UCL=154.45
LCL=107.31
19 17 15 13 11 9 7 5 3 1
80
60
40
20
0
Sample
S
a
m
p
l
e

R
a
n
g
e
_
R=40.86
UCL=86.40
LCL=0
Xbar-R Chart of X11, ..., X15
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181.3 193.2 180.7 169.1 174.3 179.72 24.1 9.0461
154.8 170.2 168.4 202.7 174.4 174.1 47.9 17.5943
157.5 154.2 169.1 142.2 161.9 156.98 26.9 9.9693
216.3 174.3 166.2 155.5 184.3 179.32 60.8 23.222
186.9 180.2 149.2 175.2 185.0 175.3 37.7 15.2797
167.8 143.9 157.5 171.8 194.9 167.18 51 18.8798
178.2 186.7 142.4 159.4 167.6 166.86 44.3 17.1516
162.6 143.6 132.8 168.9 177.2 157.02 44.4 18.3454
172.1 191.7 203.4 150.4 196.3 182.78 53 21.5062


Fig. 3.8 Cartas de control con 10 puntos adicionales del proceso

Suponiendo que se identificaron las causas asignables responsables de los puntos fuera de control
identificados en la carta de medias y que se hicieron ajustes al proceso para corregirlo, se tomaron
otros diez datos con los resultados siguientes:
X11 X12 X13 X14 X15 Medias Rangos
131.5 143.1 118.5 103.2 121.6 123.6 39.9
111.0 127.3 110.4 91.0 143.9 116.7 52.9
129.8 98.3 134.0 105.1 133.1 120.1 35.7
145.2 132.8 106.1 131.0 99.2 122.9 46.0
114.6 111.0 108.8 177.5 121.6 126.7 68.7
28 25 22 19 16 13 10 7 4 1
180
165
150
135
120
Sample
S
a
m
p
l
e

M
e
a
n
_
_
X=144.26
UCL=169.04
LCL=119.47
28 25 22 19 16 13 10 7 4 1
80
60
40
20
0
Sample
S
a
m
p
l
e

R
a
n
g
e
_
R=43.0
UCL=90.9
LCL=0
1
1
1
1
1
1
1
1
Xbar-R Chart of X11, ..., X15
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 122
125.2 86.4 64.4 137.1 117.5 106.1 72.7
145.9 109.5 84.9 129.8 110.6 116.1 61.0
123.6 114.0 135.4 83.2 107.6 112.8 52.2
85.8 156.3 119.7 96.2 153.0 122.2 70.5
107.4 148.7 127.4 125.0 127.2 127.1 41.3

Las cartas de control quedan como sigue:

Fig. 3.9 Cartas de control con causas identificadas y eliminadas de puntos anormales

Ejemplo 3.3 Se considera otro ejemplo con los datos individuales siguientes, procesados con el
paquete Minitab:
HORA X1 X2 X3 X4 X5 Medias Rangos
1 -30 50 -20 10 30 8 80
2 0 50 -60 -20 30 0 110
3 -50 10 20 30 20 6 80
4 -10 -10 30 -20 50 8 70
5 20 -40 50 20 10 12 90
6 0 0 40 -40 20 4 80
7 0 0 20 -20 -10 -2 40
8 70 -30 30 -10 0 12 100
9 0 0 20 -20 10 2 40
28 25 22 19 16 13 10 7 4 1
160
140
120
100
Sample
S
a
m
p
l
e

M
e
a
n
_
_
X=127.06
UCL=153.18
LCL=100.95
28 25 22 19 16 13 10 7 4 1
100
75
50
25
0
Sample
S
a
m
p
l
e

R
a
n
g
e
_
R=45.3
UCL=95.7
LCL=0
Xbar-R Chart of X11, ..., X15
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 123
10 10 20 30 10 50 24 40
11 40 0 20 0 20 16 40
12 30 20 30 10 40 26 30
13 30 -30 0 10 10 4 60
14 30 -10 50 -10 -30 6 80
15 10 -10 50 40 0 18 60
16 0 0 30 -10 0 4 40
17 20 20 30 30 -20 16 50
18 10 -20 50 30 10 16 70
19 50 -10 40 20 0 20 60
20 50 0 0 30 10 18 50

Las cartas de control quedan como sigue:

Fig. 3.10 Cartas de control iniciales


Se realizan pruebas de normalidad a las medias y a los rangos para ver si se tienen un proceso
normal:
19 17 15 13 11 9 7 5 3 1
40
20
0
-20
Sample
S
a
m
p
l
e

M
e
a
n
_
_
X=10.9
UCL=47.53
LCL=-25.73
19 17 15 13 11 9 7 5 3 1
150
100
50
0
Sample
S
a
m
p
l
e

R
a
n
g
e
_
R=63.5
UCL=134.3
LCL=0
Xbar-R Chart of X1, ..., X5
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 124

Fig. 3.11 a y b Prueba de normalidad en medias y rangos de un proceso estable e

Por las pruebas de normalidad de rangos y medias, se deduce que el proceso est en Control
Estadstico (en ambos casos el P value es mayor a 0.05).

30 20 10 0 -10
99
95
90
80
70
60
50
40
30
20
10
5
1
Medias
P
e
r
c
e
n
t
Mean 10.9
StDev 8.065
N 20
AD 0.355
P-Value 0.425
Probability Plot of Medias
Normal
120 100 80 60 40 20 0
99
95
90
80
70
60
50
40
30
20
10
5
1
Rangos
P
e
r
c
e
n
t
Mean 63.5
StDev 22.54
N 20
AD 0.478
P-Value 0.210
Probability Plot of Rangos
Normal
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 125
Ejemplo 3.4 Para elaborar la carta, inicialmente se toman al menos 25 subgrupos con
muestras de cinco partes cada cierto periodo (por ejemplo cada hora).
Se toman varios datos de hilos y se construye una carta de medias rangos con m =
subgrupos, donde el rango se calcula tomando el valor mayor menos el valor menor del
subgrupo, con n = 5.
Por ejemplo:
Variables
Subgrupo
1
Subgrupo
2
Subgrupo
m
X1 2 5 3
X2 4 3 4
X3 3 6 1
X4 5 7 5
X5 1 4 2
09:00 a.m. 10:00 a.m. 11:00 a.m.
Media 3 5 3
Rango 4 4 4

Se obtiene una media de medias X y un rango promedio R, para proceder a determinar los
lmites de control como sigue:

LSC = X + 0.577x R
LIC = X - 0.577x R

Para el caso de los rangos, la lnea central es R los lmites de control para el rango son:
LSC = 2.114x R

LIC = 0


Se identifican situaciones fuera de control, se investigan las causas y se toman acciones
preventivas para prevenir la reincidencia y se recalculan los lmites de control futuros.

CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 126

Figura 3.12 Carta de control X-R fuera de control

Despus de identificar las causas de las situaciones fuera de control en los subgrupos 2 y 14 y
tomando acciones preventivas para evitar la reincidencia, se eliminan los subgrupos fuera de
control y se recalculan los lmites de control.

Figura 3.13 Carta de control de medias rangos X-R estable
.
Ejercicio Hacer una carta X-R utilizando las fichas de ejemplo por equipos.

Sample
S
a
m
p
l
e

M
e
a
n
20 18 16 14 12 10 8 6 4 2
602
600
598
_
_
X=600.23
UCL=602.474
LCL=597.986
Sample
S
a
m
p
l
e

R
a
n
g
e
20 18 16 14 12 10 8 6 4 2
8
6
4
2
0
_
R=3.890
UCL=8.225
LCL=0
1
1
Xbar-R Chart of Supp2
Sample
S
a
m
p
l
e

M
e
a
n
18 16 14 12 10 8 6 4 2
602
601
600
599
598
__
X=599.938
UCL=602.247
LCL=597.629
Sample
S
a
m
p
l
e

R
a
n
g
e
18 16 14 12 10 8 6 4 2
8
6
4
2
0
_
R=4.003
UCL=8.465
LCL=0
Xbar-R Chart of Supp2
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 127
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1
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2
.5
7
0
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4
0
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3
2
.2
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0
2
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6
2
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7
0
5
5
0
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3
2
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CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 128
Capacidad o habilidad del proceso

Una vez que se tiene un proceso en control estadstico, se puede estimar su capacidad o habilidad,
tomando como referencia la desviacin estndar del proceso estimada o.

Ejemplo 3.3 (continuacin..)
o =
2
d
R
=
326 . 2
023 . 0
= 0.0099
Donde el valor de d
2
se encuentra en las tablas de constantes para una n=5. Si la especificacin de
los anillos de pistones es de 74.000 0.05 mm, se tienen como lmites inferior y superior de
especificaciones los siguientes:

LIE = 73.950
LSE = 74.0500

Los lmites de tolerancia naturales del proceso inferior y superior (LTNI y LTNS) se encuentran a 3-
sigma del proceso por abajo y por arriba de la media del proceso, o sea en:

LTNS = X + 3o = 74.001 + 3 (0.0099) = 74.0307
LTNI = X - 3o = 74.001 - 3 (0.0099) = 73.9713






LIE LTNI MEDIA LTNS LSE
Fig. 3.14 Localizacin de Lmites de especificaciones y naturales

Se observa que los lmites de tolerancia naturales del proceso se encuentran dentro de los lmites
de especificacin, por tanto en principio no se observa que haya partes fuera de especificaciones.
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 129

Otra forma de expresar lo anterior es con el ndice de habilidad potencial Cp (o PCR) siendo:

Cp =
o 6
LIE LSE
(3.12)

Cp = 68 . 1
05984 . 0
10 . 0
) 0099 . 0 ( 6
95 . 73 05 . 74
= =


Se pueden presentar tres casos:

Caso 1. Si Cp es menor que 1, implica que la banda entre los lmites de tolerancia naturales es
mayor que la banda permitida por los lmites de especificacin.





LTNI LIE LSE LTNS

Caso 2. Si Cp es igual a 1, implica que las bandas para los lmites de tolerancia natural y de
especificaciones coinciden (aunque para el caos de 3-sigma aun hayan 2700 ppm fuera de
especificaciones).




LIE LSE
LNTI LNTS

Caso 3. Si Cp es mayor que 1, implica que la banda entre los lmites de tolerancia natural del
proceso, es menor que la banda permitida por las especificaciones.

CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 130





LIE LTNI LTNS LSE

La fraccin de la banda de las especificaciones utilizada por el proceso se estima como sigue:

CR = (1 / Cp) 100% (3.13)
CR = (1 / 1.68) 100% = 59.2%

Es decir que el proceso utiliza aproximadamente el 60% de la banda especificada.

Se puede estimar la fraccin de anillos no conformes producidos, con ayuda de la distribucin
normal, como sigue:

p = P { x < 73.950 } + P { x > 74.001 }
= |
.
|

\
|
u |
.
|

\
|
u
0099 . 0
001 . 74 050 . 74
0099 . 0
001 . 74 950 . 73

= u (-5.15) + 1 - u (4.04)
~ 0 + 1 0.99998
~ 0.00002
Por lo anterior alrededor de 0.002% o 20 partes por milln (ppm) de los anillos producidos estarn
fuera de especificaciones.
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 131
Ejemplo 3.2 (continuacin...). Para la carta de control de las medias, despus de haber eliminado
las causas especiales y tomado acciones para prevenir su recurrencia, se tiene el clculo de
habilidad como sigue (considerando que los lmites de especificacin son 85 y 175):


Fig. 3.15 Capacidad de proceso del ejemplo 3.2
180 160 140 120 100 80 60
LSL USL
LSL 85
Target *
USL 175
Sample Mean 127.063
Sample N 150
StDev (Within) 19.4626
StDev (Ov erall) 19.8965
Process Data
Cp 0.77
CPL 0.72
CPU 0.82
Cpk 0.72
Pp 0.75
PPL 0.70
PPU 0.80
Ppk 0.70
Cpm *
Ov erall Capability
Potential (Within) Capability
PPM < LSL 26666.67
PPM > USL 6666.67
PPM Total 33333.33
Observ ed Performance
PPM < LSL 15338.42
PPM > USL 6888.71
PPM Total 22227.13
Exp. Within Performance
PPM < LSL 17253.10
PPM > USL 7991.57
PPM Total 25244.67
Exp. Ov erall Performance
Within
Overall
Process Capability of X11, ..., X15
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 132
Ejemplo 3.3. Para las cartas X-R se tiene el clculo de la capacidad o habilidad del proceso, una vez
estable (considerando que los lmites de especificacin son -80 y +80):


Fig. 3.16 Capacidad de proceso del ejemplo 3.3

Para el clculo de otros ndices que toman en cuenta la posicin de la media, revisar el captulo de
capacidad del proceso o el procedimiento de cartas X R.

REVISIN O RE-CLCULO DE LA LNEA CENTRAL Y LMITES DE CONTROL

Los lmites de control calculados como lmites preliminares, deben ser revisados en forma
peridica que puede ser por semana, mes o cada 25, 50 o 100 puntos dependiendo del proceso en
particular.

Lo recomendable en cada revisin es tomar las acciones necesarias para que la media del proceso
X se acerque cada vez ms a la media de las especificaciones (en caso de ser bilaterales) o se
aleje lo ms posible de la especificacin (en caso de ser unilateral).
60 30 0 -30 -60
LSL USL
LSL -80
Target *
USL 80
Sample Mean 10.9
Sample N 100
StDev (Within) 27.3001
StDev (Ov erall) 25.2301
Process Data
Cp 0.98
CPL 1.11
CPU 0.84
Cpk 0.84
Pp 1.06
PPL 1.20
PPU 0.91
Ppk 0.91
Cpm *
Ov erall Capability
Potential (Within) Capability
PPM < LSL 0.00
PPM > USL 0.00
PPM Total 0.00
Observ ed Performance
PPM < LSL 434.76
PPM > USL 5684.82
PPM Total 6119.59
Exp. Within Performance
PPM < LSL 157.38
PPM > USL 3083.22
PPM Total 3240.59
Exp. Ov erall Performance
Within
Overall
Process Capability of X1, ..., X5
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 133

En cada carta de control X o R es necesario identificar las causas especiales que originen
condiciones fuera de control, tomar acciones correctivas para prevenir su reincidencia, eliminar
esos puntos tanto en la carta X como en la carta R y recalcular los lmites de control, para usarse
en el control futuro del proceso.

LMITES DE CONTROL, DE ESPECIFICACIN Y DE TOLERANCIA NATURAL

Es importante hacer notar que no existe ninguna relacin matemtica entre los lmites de
especificacin y los de control o los de tolerancia natural.

Los lmites de especificacin son establecidos externamente al proceso por ingenieros de
manufactura, el cliente o por los diseadores del producto.

SUBGRUPOS RACIONALES
Para el caso de la carta de medias-rangos, los subgrupos se seleccionan de tal forma de minimizar
la variabilidad entre muestras individuales, observando slo su variabilidad aleatoria y
maximizando la posibilidad de detectar corridas en la media del proceso en funcin del tiempo.

De esta forma la carta X monitorea la variabilidad entre subgrupos respecto al tiempo y la carta
R monitorea la variabilidad interna entre muestras en un tiempo dado.

CAMBIO DE TAMAO DE MUESTRA
Cuando el proceso ya mostr estabilidad durante un periodo largo de tiempo, es posible reducir el
esfuerzo y costo de control a travs de reducir el tamao de muestra. Los lmites de control se
pueden recalcular sin tomar muestras adicionales como sigue:

= ant R rango promedio para el tamao de subgrupo anterior
= nuevo R rango promedio para el tamao de subgrupo nuevo
n
ant
= tamao de subgrupo anterior
n
nuevo
= tamao de subgrupo nuevo
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 134
d
2 ant
= factor d
2
para el tamao de subgrupo anterior
d
2 nuevo
= factor d
2
para el tamao de subgrupo nuevo

Los nuevos lmites de control para la carta X son (seleccionando A
2
en base al nuevo tamao de
subgrupo n
nueva
, la lnea central no se cambia):
LSC
X
= X + A
2
[d
2 nuevo
/ d
2 ant
] ant R (3.14)
LIC
X
= X - A
2
[d
2 nuevo
/ d
2 ant
] ant R

Para el caso de la carta R los nuevos lmites de control son (seleccionando D
3
y D
4
para el nuevo
tamao de muestra n
nueva
):
LSC
R
= D
4
[d
2 nuevo
/ d
2 ant
] ant R (3.15)
LC
R
= = nuevo R [d
2 nuevo
/ d
2 ant
] ant R
LIC
R
= max { 0, D
3
[d
2 nuevo
/ d
2 ant
] ant R }

Si en Ejemplo 3.1 de trabajo se quisiera cambiar de n=5 a n=3, se tendra:

De la tabla de constantes se tiene: d
2 ant.
= 2.326, d
2 nueva
= 1.693, A
2 nueva
= 1.023, por tanto los
lmites nuevos son:

LSC
X
= 74.001 + (1.023) [ 1.693 / 2.326 ] (0.023) = 74.018
LIC
X
= 74.001 - (1.023) [ 1.693 / 2.326 ] (0.023) = 73.984

Para la carta R, de la tabla de constantes para n=3 se tiene D
3
= 0, D
4
= 2.578, por tanto:

LSC
R
= (2.578) ) [ 1.693 / 2.326 ] (0.023) = 0.043
LIC
R
= (0) ) [ 1.693 / 2.326 ] (0.023) = 0.0
LC
R
= [ 1.693 / 2.326 ] (0.023) = 0.017

LIM.SUP.NVO

LIMITES
ANTERIORES CARTA X
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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LIM.INF.NVO.

LIMITE SUP. ANT.
LIMITE SUP.NVO.

CARTA R

0

Fig. 3.17 Revisin de lmites de control cambiando de n=5 a 3

Como se puede observar el efecto de reducir el tamao de muestra hace que se incremente el
ancho de los lmites de control en la carta X (porque
n
o
es ms pequeo con n=5 que con n=3) y
se reduzca la media de R y su lmite superior en la carta R.

La curva caracterstica de operacin
La habilidad de las cartas de control R X para detectar corrimientos en la media del proceso es
indicada por su curva caracterstica de operacin (OC). Su determinacin se muestra a
continuacin.
Si en la carta para X se conoce la desviacin estndar del proceso o y es constante, cuando la
media del proceso
0
cambia a otro valor
1 =

0
+ k o, la probabilidad de no detectar el cambio en
la primera muestra subsecuente es el riesgo |, donde:

| = P { LIC <= X <= LSC ,
1 =

0
+ k o } (3.16)
dado que X ~ N (, o
2
/n) y que los lmites de control son:
LSC =
0
+ L o/ n (3.17)
LIC =
0
- L o/ n

CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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La probabilidad de que un punto de X
i
caiga dentro de lmites de control sabiendo que la media
del proceso ya es
1,
es igual a la probabilidad de que el punto se encuentre abajo del lmite
superior (u
LSC
) menos la probabilidad de que se encuentre abajo del lmite inferior de control
(u
LIC
). Considerando la desviacin Estndar de las medias, o sea:
+
LSC u ( Z
LSC
, o
x
)

i
X

LC
u ( Z
LIC
, o
x
)
LIC
-

Fig. 3.18 Clculo del error Beta o tipo II

Entonces | =
(

+
u
n
k LSC
/
) (
0
o
o
-
(

+
u
n
k LIC
/
) (
0
o
o


| =
(

+ +
u
n
k n L
/
) ( /
0 0
o
o o
-
(

+
u
n
k n L
/
) ( /
0 0
o
o o
(3.18)

Donde u es la distribucin normal acumulativa. La expresin anterior se reduce a:

| = u ( L k n ) - u ( - L k n ) (3.19)


Ejemplo 3.4 Para una carta R X con L=3 (lmites a 3-sigma de medias), tamao de muestra n=5,
y se desea determinar el corrimiento a
1 =

0
+ 2 o en la primera muestra subsecuente al
corrimiento de la media del proceso, se tiene:

| = u ( 3 2 5 ) - u ( - 3 2 5 )
= u (-1.47) - u (-7.37)
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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= 0.0708

Este es el riesgo | o la probabilidad de no detectar tal corrimiento. La probabilidad de s detectarlo
es 1- | =
= 1 0.0708 = 0.9292.

Con las frmulas anteriores se construyen las curvas caractersticas de operacin | para diferentes
valores de n en funcin de k.

Si n=5 y el corrimiento es de +1o, de las curvas OC se tiene que | = 0.75 y la probabilidad de
detectar el corrimiento en la segunda muestra se calcula como |(1- |) = 0.19, y as sucesivamente.
La longitud de la corrida media es el nmero esperado de muestras antes de que el corrimiento
sea detectado, se denomina ARL o :

ARL =
| 1
1
(3.20)
En este caso ARL = 1 / 0.25 = 4. Es decir que el se requieren tomar cuatro muestras antes de
detectar un corrimiento de 1.0o con n = 5.

Para construir la curva OC para la carta de rangos, se utiliza la distribucin del rango relativo
W=R/o. Si el valor de la desviacin estndar cuando el proceso est en control es o
0,
entonces la
curva OC muestra la probabilidad de no detectar un corrimiento a un nuevo valor o
1
, donde o
1
>o
0
, en la primera muestra despus del corrimiento. Se grafica | contra = o
1
/o
0
.

Por ejemplo si = 2 con n=5, slo se tienen una probabilidad del 40% de detectar este corrimiento
en cada muestra subsecuente. Por tanto la carta R tiene poca sensibilidad de detectar pequeos
corrimientos en sigma, para cual se debe usar la carta S con n>10.

LONGITUD DE CORRIDA MEDIA

La longitud de corrida media para la carta de Shewhart cuando el proceso est en control es:

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ARL = 1 / P ( un punto fuera de control) = ARL
0
= 1 / o (3.21)

Cuando el proceso est fuera de control es:

ARL
1
= 1 / ( 1 - | ) (3.22)

De las grficas de ARL anexas, se observa que para detectar un corrimiento de 1.5o con n=3, se
requiere un ARL
1
= 3. Se puede reducir el ARL
1
a 1 si se incrementa la n=16.

3.3 CARTAS DE CONTROL PARA X y S

Estas cartas de control son recomendadas cuando:

1. El tamao de muestra es moderadamente grande n>10 o 12 (donde el rango pierde eficiencia
por no tomar en cuenta valores intermedios).
2. El tamao de muestra es variable.

Su construccin es similar a la de la carta de medias-rangos, excepto que en lugar del rango R en
cada subgrupo se calcula la desviacin estndar S.
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Figura 3.19 Ejemplo de carta X-S

S
2
es un estimador insesgado de la varianza poblacional o
2
sin embargo S no es un estimador
insesgado de o. Si la distribucin es normal, entonces S estima a c
4
o donde c
4
es una constante
que depende del tamao de muestra n. Adems la desviacin estndar de S es
4
1 c o .


) 2 / ) 1 ((
) 2 / (
1
2
2 / 1
4
I
I
|
.
|

\
|

=
n
n
n
c (3.18)

CASO DE n CONSTANTE

Con esta informacin se pueden establecer los lmites de control para la carta X y S, cuando se
conoce el valor de o dado que existe un historial.

Para la carta S se tiene: Para la carta X se tiene:
LSC
s
= c
4
o + 3
4
1 c o = B
6
o LSC
X
= + Ao (3.20)
19 17 15 13 11 9 7 5 3 1
40
20
0
-20
Sample
S
a
m
p
l
e

M
e
a
n
_
_
X=10.9
UCL=46.91
LCL=-25.11
19 17 15 13 11 9 7 5 3 1
60
45
30
15
0
Sample
S
a
m
p
l
e

S
t
D
e
v
_
S=25.23
UCL=52.71
LCL=0
Xbar-S Chart of X1, ..., X5
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LC
s
= c
4
o LC =
LIC
s
= c
4
o - 3
4
1 c o = B
5
o LIC
X
= - Ao

Los valores para las constantes se encuentran tabuladas para diferentes valores de n en la tabla de
constantes.

En el caso de que no se conozca la desviacin estndar de la poblacin, se puede estimar
utilizando diversas muestras m con datos histricos, donde se obtenga la desviacin estndar en
cada una de ellas y se promedien.

=
=
m
i
i
S
m
S
1
1
(3.21)


4
__
c
S
= o (3.22)

Como el estadstico S /c
4
es un estimador insesgado de o, los parmetros de la carta sern los
siguientes:

LSC
s
=
2
4
4
1 3 c
c
S
S + = B
4
S (3.23)

LC
s
= S
LIC
s
=
2
4
4
1 3 c
c
S
S = B
3
S

Para el caso de la carta X , cuando S /c
4
se una para estimar o los lmites de control para esta
carta son:

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LSC
x
= X +
n c
S
4
3 = X + A
3
S (3.24)
LC
x
= X
LIC
x
= X -
n c
S
4
3 = X - A
3
S

Todas las constantes c
4
, As y Bs se encuentran tabuladas en funcin de n en la tabla de
constantes, como sigue:

Tabla 3.2 Constantes para lmites de control en cartas X-S
n c
4
A A
3
B
3
B
4
B
5
B
6 .

5 0.94 1.342 1.427 0 2.089 0 1.964
6 0.9515 1.225 1.287 0.03 1.97 0.029 1.874
7 0.9594 1..134 1.182 0.118 1.882 0.113 1.806
8 0.965 1.061 1.099 0.185 1.815 0.179 1.751
9 0.9693 1 1.032 0.239 1.761 0.232 1.707
10 0.9727 0.949 0.975 0.284 1.716 0.276 1.669
11 0.9754 0.905 0.927 0.321 1.679 0.313 1.637
12 0.9776 0.866 0.886 0.354 1.646 0.346 1.61
13 0.9794 0.832 0.85 0.382 1.618 0.374 1.585
14 0.981 0.802 0.817 0.406 1.594 0.399 1.563
15 0.9823 0.775 0.789 0.428 1.572 0.421 1.544
16 0.9835 0.75 0.763 0.448 1.552 0.44 1.526
17 0.9845 0.728 0.739 0.466 1.534 0.458 1.511
18 0.9854 0.707 0.718 0.482 1.518 0.475 1.496
19 0.9862 0.688 0.698 0.497 1.503 0.49 1.483
20 0.9869 0.671 0.68 0.51 1.49 0.504 1.47
21 0.9876 0.655 0.663 0.523 1.477 0.516 1.459
22 0.9882 0.64 0.647 0.534 1.466 0.528 1.448
23 0.9887 0.626 0.633 0.545 1.455 0.539 1.438
24 0.9892 0.612 0.619 0.555 1.445 0.549 1.429
25 0.9896 0.6 0.606 0.565 1.435 0.559 1.42



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CASO DE n VARIABLE

En el caso de tamao de muestra variable, se utiliza el promedio ponderado de las medias y de las
desviaciones estndar como sigue:

=
=
=
m
i
i
m
i
i i
n
X n
X
1
1
(3.25)


2 / 1
1
2
) 1 (
(
(
(
(

=
m
i
i i
m ni
S n
S (3.26)
Ejemplo 3.4 Para una carta X-S con lmites variables, se tomaron los datos siguientes, corriendo en
Minitab:
Datos Muestra Datos Muestra Datos Muestra Datos Muestra
74.030 1 74.000 7 73.994 14 74.009 21
74.002 1 73.985 8 74.000 14 74.005 21
74.019 1 74.003 8 73.984 14 73.996 21
73.992 1 73.993 8 74.012 15 74.004 22
74.008 1 74.015 8 74.014 15 73.999 22
73.995 2 73.998 8 73.998 15 73.990 22
73.992 2 74.008 9 74.000 16 74.006 22
74.001 2 73.995 9 73.984 16 74.009 22
73.998 3 74.009 9 74.005 16 74.010 23
74.024 3 74.005 9 73.998 16 73.989 23
74.021 3 73.998 10 73.996 16 73.990 23
74.005 3 74.000 10 73.994 17 74.009 23
74.002 3 73.990 10 74.012 17 74.014 23
74.002 4 74.007 10 73.986 17 74.015 24
73.996 4 73.995 10 74.005 17 74.008 24
73.993 4 73.994 11 74.006 18 73.993 24
74.015 4 73.998 11 74.010 18 74.000 24
74.009 4 73.994 11 74.018 18 74.010 24
73.992 5 73.995 11 74.003 18 73.982 25
74.007 5 73.990 11 74.000 18 73.984 25
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74.015 5 74.004 12 73.984 19 73.995 25
73.998 5 74.000 12 74.002 19 74.017 25
74.014 5 74.007 12 74.003 19 74.13 25
74.009 6 74.000 12 74.005 19
73.994 6 73.996 12 73.997 19
73.997 6 73.983 13 74.000 20
73.985 6 74.002 13 74.010 20
73.995 7 73.998 13 74.013 20
74.006 7 74.006 14 73.998 21
73.994 7 73.967 14 74.001 21





Fig. 3.20 Ejemplo de carta X-S con lmites variables
25 23 21 19 17 15 13 11 9 7 5 3 1
74.02
74.01
74.00
73.99
73.98
Sample
S
a
m
p
l
e

M
e
a
n
_
_
X=74.0009
UCL=74.02046
LCL=73.98134
25 23 21 19 17 15 13 11 9 7 5 3 1
0.024
0.018
0.012
0.006
0.000
Sample
S
a
m
p
l
e

S
t
D
e
v
_
S=0.00736
UCL=0.02403
LCL=0
Xbar-S Chart of Datos
Tests performed with unequal sample sizes
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Pgina 144
Ejemplo 3.5 Otro ejemplo con n variable, la X = 74.001 y la S = 0.0098, por tanto los lmites de
control son:

LSC
X
= 74.015
LC
X
= 74.001
LIC
X
= 73.987

Para la carta S
LSC
S
= 0.020
LC
S
= 0.0098
LIC
S
= 0

Como mtodo alterno para n variable se puede utilizar la n si no hay mucha variacin entre los
diferentes tamaos de muestra (dentro de n 25%).

ESTIMACIN DE o

El valor de la desviacin estndar o puede ser estimado del valor de S como sigue:


4
c
S
= o

Para el ejemplo:
4
c
S
= o = 0.0094 / 0.94 = 0.01, tomando el valor de c
4
para n=5.

Existe una variante de las cartas de medias-desviacin estndar denominadas cartas de medias-
varianza.
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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3.4 CARTAS PARA LECTURAS INDIVIDUALES

Existen muchas situaciones donde el tamao de muestra es n =1, por ejemplo:
1. Cuando hay inspeccin automtica de piezas individuales.
2. La tasa de produccin es muy baja y no es inconveniente tomar muestras de ms de una pieza.
3. Las mediciones entre unidades muestra difieren muy poco (slo por errores de medicin de
laboratorio) como en procesos qumicos.
4. En plantas de proceso como las de papel, el espesor de los acabados tiene una variabilidad
muy baja a travs del rollo.

En tales situaciones se utiliza la carta de control por lecturas individuales. Los rangos mviles se
empiezan a calcular a partir de la segunda muestra como i MR =
1

i i
X X .
Para este caso, los lmites de control para la carta X son:
LSC
x
=
2
3
d
MR
X +
LC
x
=
__
X
(3.27)
LIC
x
=
2
3
d
MR
X
n = 2

Ejemplo 3.6 Se toman varios datos de viscosidades y se construye una carta de lecturas
individuales, donde el rango se calcula tomando cada dos valores consecutivos, por tanto el valor
de n = 2 y habr (m 1) rangos en total. Con m = nmero de subgrupos.

Lote Viscocidad
1 33.75
2 33.05
3 34.00
4 33.81
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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5 33.46
6 34.02
7 33.68
8 33.27
9 33.49
10 33.20
11 33.62
12 33.00
13 33.54
14 33.12
15 33.84


Fig. 3.21 Carta de lecturas individuales o rango mvil (I-MR)

El proceso est en control estadstico.

Ejemplo 3.7: Se toman varios datos de edades y se construye una carta de lecturas
individuales, donde el rango se calcula tomando cada dos valores consecutivos, por tanto
el valor de n = 2 y habr (m 1) rangos en total. Con m = nmero de valores individuales.
15 14 13 12 11 10 9 8 7 6 5 4 3 2 1
34.5
34.0
33.5
33.0
32.5
Observation
I
n
d
i
v
i
d
u
a
l

V
a
l
u
e
_
X=33.523
UCL=34.802
LCL=32.245
15 14 13 12 11 10 9 8 7 6 5 4 3 2 1
1.6
1.2
0.8
0.4
0.0
Observation
M
o
v
i
n
g

R
a
n
g
e
__
MR=0.481
UCL=1.571
LCL=0
I-MR Chart of Viscocidad
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 147
Por ejemplo:
Valores individuales Rango
23 -
15 8
11 4
24 13
38 14
19 19

Al final se hace un promedio de los valores individuales X y un promedio de rangos
mviles R y los lmites de control para la carta I-MR se calculan con las frmulas
siguientes:

Para la carta I: ) * 66 . 2 ( R X LSCx + = ) * 66 . 2 ( R X LICx =
y para la carta R: 0 = LICr R LSCr * 27 . 3 =




Figura 3.22 Carta de control I-MR. El proceso no est en control estadstico.

Ejercicio Hacer una carta I-MR utilizando las fichas de ejemplo por equipos.
Observation
I
n
d
i
v
i
d
u
a
l

V
a
l
u
e
100 90 80 70 60 50 40 30 20 10 1
601
600
599
598
_
X=599.548
UCL=601.176
LCL=597.920
Observation
M
o
v
i
n
g

R
a
n
g
e
100 90 80 70 60 50 40 30 20 10 1
2.4
1.8
1.2
0.6
0.0
__
MR=0.612
UCL=2.000
LCL=0
1
1
1
1
1
I-MR Chart of Supp1
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 148










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3
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1
2
1
3
1
4
1
5
1
6
1
7
1
8
1
9
2
0
2
1
2
2
2
3
2
4
2
5
2
6
2
7
2
8
2
9
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0
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CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 149
3.5 SELECCIN ENTRE CARTAS POR VARIABLES Y POR ATRIBUTOS

Las cartas por atributos tiene la ventaja que consideran varias caractersticas a la vez clasificando
la unidad como conforme o no conforme, si no cumple alguna de esas caractersticas. Por otra
parte si esas caractersticas se controlan como variables, debe llevarse una carta de control para
cada una de esas caractersticas, lo cual es ms laborioso, otra alternativa es el C.E.P. multivariado.

Las cartas por variables proporcionan mayor informacin del proceso que las de atributos, tal
como la media del proceso y su variabilidad, tambin proporcionan informacin para realizar
estudios de capacidad de los procesos.

Las cartas por variables permiten tomar acciones cuando se presentan situaciones fuera de
control, antes de que se produzcan artculos no conformes, lo que no sucede con las cartas por
atributos hasta que el proceso genere ms disconformes.



LIE
1

2

3
LSE
Reaccin de carta X-R Reaccin de carta p

Fig. 3.23 Comparacin de sensibilidad entre cartas de control

Tal vez la ventaja ms importante de la carta X-R es que proporciona un indicador de inicio de
problemas y permite al personal operativo tomar acciones correctivas antes que se produzcan
defectivos realmente, de esta forma las cartas X-R son indicadores gua de falla, mientras que las
cartas p (o c o u) no reaccionan a menos que el proceso haya cambiado tanto que se produzcan
ms defectivos.

En la figura, cuando la media del proceso esta en
1
se producen pocas no conformidades, si la
media del proceso se corre hacia arriba, cuando llegue a
2
la carta X-R habr mostrado un patrn
anormal o puntos fuera de control para tomar acciones correctivas, mientras que la carta p no
reaccionar hasta que la media del proceso se haya recorrido hasta
3
, o hasta que el nmero de
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 150
unidades no conformes producidas se haya incrementado. Por tanto las cartas X-R son ms
poderosas que las cartas p.

Para el mismo nivel de proteccin contra corrimientos del proceso, la carta p requiere un tamao
de muestra mayor, la X-R requiere tomar mucho menos unidades aunque las mediciones toman
ms tiempo. Esta consideracin es importante para el caso de pruebas destructivas.

Ejemplo 3.8 Si el proceso se controla con una carta X , donde el valor medio de la caracterstica
de calidad es 50 y la desviacin estndar es 2, para lmites de 3-sigma y especificaciones LIE=44 y
LSE=56, cuando el proceso est en control en el valor nominal de 50, la fraccin no conforme es
0.0027.

Suponiendo que la media del proceso del proceso se corre a 52, la fraccin defectiva producida
ser aproximadamente 0.0202, si se desea que la probabilidad de detectar este corrimiento en la
siguiente muestra subsecuente sea del 0.50, entonces el tamao de muestra en la carta X debe
ser tal que se cumpla que el LSC sea 52 o sea:

52
) 2 ( 3
50 = +
n

donde n=9,

Si se utiliza una carta p entonces el tamao de muestra requerido para tener la misma
probabilidad de detectar el corrimiento es:

) 1 (
2
p p
k
n |
.
|

\
|
=
o


Con k = 3, que es el ancho de los lmites de control, p = 0.0027 y o es la magnitud de incremento
en fraccin defectiva o sea o = 0.0202 0.0027 = 0.0175, de esta forma,

n = 79.23 ~ 80

CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 151
Donde se observa que a menos que el costo de medir 9 muestras sea mayor que 9 veces el costo
de inspeccin por atributos, las carta X es ms econmica de aplicar.

GUA PARA IMPLEMENTAR CARTAS DE CONTROL

Se sugiere lo siguiente:
1. Determinar cual es la caracterstica a controlar.
2. Seleccionar un tipo de carta de control.
3. Identificar el proceso donde se implantarn las cartas de control.
4. Tomar acciones para mejorar el proceso, como resultado de la aplicacin de la carta de
control.
5. Seleccionar el sistema de coleccin de datos y software de C.E.P.

SELECCIN DE LA CARTA DE CONTROL ADECUADA
A. Se prefiere una carta por variables en las situaciones siguientes:
1. Se inicia un proceso o producto nuevo.
2. El proceso ha estado mostrando un comportamiento inconsistente en forma crnica.
3. Se requieren pruebas destructivas.
4. Se desea economizar el control cuando el proceso es estable.
5. Existen tolerancias muy cerradas u otros problemas de manufactura.
6. El operador debe decidir si ajustar el proceso o no, o cuando evaluar el ajuste.
7. Se debe presentar evidencia de estabilidad y de capacidad como en industrias reguladas.

B. Se prefiere una carta por atributos en las situaciones siguientes:
1. Los operadores controlan las causas asignables y es necesario mejorar el proceso.
2. El proceso es una operacin de ensamble compleja y la calidad se evala por la ocurrencia de
no conformidades (computadoras, autos, etc.).
3. Es necesario un control del proceso, pero no se pueden hacer mediciones.
4. Se requiere un historial del desempeo del proceso para revisin ejecutiva.

C. Cartas de control por lecturas individuales

CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 152
1. Es inconveniente o difcil obtener ms de una medicin por muestra, o la repeticin de
muestras slo mostrar errores de medicin de laboratorio, tal como ocurre en proceso
qumicos.
2. Se cuenta con inspeccin automatizada de cada unidad de producto. Para estos casos tambin
se deben considerar las cartas de sumas acumuladas o de media mvil ponderada.
3. Los datos disponibles son muy lentos en el tiempo, por ejemplo datos contables mensuales.

3.6 APLICACIN DE CARTAS DE CONTROL POR VARIABLES

Algunas de las aplicaciones de las cartas de control por variables son:

1. Mejora de procesos de proveedores. Reducir su variabilidad a travs de centrar su proceso y
tomar acciones correctivas.
2. Seleccin de equipo productivo a travs de demostracin de su capacidad antes de su
embarque.
3. Corridas cortas en talleres de manufactura. Se controla la desviacin respecto a la media
especificada, de una caracterstica especfica de calidad para diferentes productos similares.
4. Aplicaciones no manufactureras. En estos casos se tiene que: (1) no hay especificaciones, (2)
se requiere ms imaginacin para aplicar las cartas de control. Se usan por ejemplo para
reducir el tiempo de proceso de las cuentas por pagar (pago de cheques).

TABLA DE CONSTANTES PARA EL CALCULO DE LIMITES DE CONTROL
Las constantes para lmites de control en las cartas X-R son:
n A
2
D
3
D
4
d
2

2 1.88 0 3.267 1.128
3 1.023 0 2.574 1.693
4 0.072 0 2.282 2.059
5 0.577 0 2.115 2.326
6 0.483 0 2.004 2.534
7 0.419 0.076 1.924 2.704
8 0.373 0.136 1.864 2.847
9 0.337 0.184 1.816 2.97
10 0.308 0.223 1.777 3.078

CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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n c
4
A A
3
B
3
B
4
B
5
B
6 .

5 0.94 1.342 1.427 0 2.089 0 1.964
6 0.9515 1.225 1.287 0.03 1.97 0.029 1.874
7 0.9594 1..134 1.182 0.118 1.882 0.113 1.806
8 0.965 1.061 1.099 0.185 1.815 0.179 1.751
9 0.9693 1 1.032 0.239 1.761 0.232 1.707
10 0.9727 0.949 0.975 0.284 1.716 0.276 1.669
11 0.9754 0.905 0.927 0.321 1.679 0.313 1.637
12 0.9776 0.866 0.886 0.354 1.646 0.346 1.61
13 0.9794 0.832 0.85 0.382 1.618 0.374 1.585
14 0.981 0.802 0.817 0.406 1.594 0.399 1.563
15 0.9823 0.775 0.789 0.428 1.572 0.421 1.544
16 0.9835 0.75 0.763 0.448 1.552 0.44 1.526
17 0.9845 0.728 0.739 0.466 1.534 0.458 1.511
18 0.9854 0.707 0.718 0.482 1.518 0.475 1.496
19 0.9862 0.688 0.698 0.497 1.503 0.49 1.483
20 0.9869 0.671 0.68 0.51 1.49 0.504 1.47
21 0.9876 0.655 0.663 0.523 1.477 0.516 1.459
22 0.9882 0.64 0.647 0.534 1.466 0.528 1.448
23 0.9887 0.626 0.633 0.545 1.455 0.539 1.438
24 0.9892 0.612 0.619 0.555 1.445 0.549 1.429
25 0.9896 0.6 0.606 0.565 1.435 0.559 1.42

CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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4. CARTAS DE CONTROL PARA ATRIBUTOS

4.1 INTRODUCCIN

Muchas caractersticas de calidad no pueden ser representadas numricamente, denominndose
atributos. En tales casos cada artculo completo se clasifica como conforme o no conforme a
especificaciones y/o estndares, es decir como defectivo o no defectivo, no defectuoso o
defectuoso, bueno o malo, discrepante o no discrepante.





Fig. 4.1 Cuando el producto no es funcional es no conforme, defectivo o defectuoso. Puede ser
reparado o desperdicio.

Para controlar productos defectivos o no conformes, se utiliza la carta de control p de fraccin
defectiva o la np para el nmero de defectivos o de no conformes. Se aplica a productos simples
(tornillos, lpices, botellas, etc.)

Cuando ms bien se controla el nmero de defectos o no conformidades que se observan en un
producto, se utiliza la carta de control para no conformidades o defectos c cuando la muestra es
constante o la u cuando es variable o constante. Se aplica a productos complejos (coches, TV,
cmaras de video, escritorios, refrigeradores, etc.) Un defecto o no conformidad es una
discrepancia respecto a los estndares establecidos o a las especificaciones.




Fig. 4.1 El producto puede ser funcional pero puede tener defectos o no conformidades, que pueden
ser corregidas con retrabajo o no se pueden corregir y ser desperdicio.


CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 155
4.2 CARTA DE CONTROL PARA FRACCIN NO CONFORME - p

La fraccin no conforme es la relacin entre el nmero de artculos discrepantes entre el total de
artculos, se expresa como fraccin decimal, aunque tambin se puede expresar en porcentaje. El
artculo puede tener varias caractersticas de calidad que son examinadas por un inspector, si el
artculo no est de acuerdo a los estndares, se le considera como defectuoso o no conforme.

La fraccin defectiva o no conforme en la muestra se define como la relacin entre el nmero de
unidades no conformes D al tamao de muestra n, o sea:


i
i
i
n
D
p = (4.1)

La distribucin de este estadstico sigue la distribucin binomial por tanto:


__
p = (4.2)


n
p p
p
) 1 (
2

= o (4.3)

Del modelo general para la carta de control de Shewhart, si w es un estadstico que mide una
caracterstica de calidad, con media
w
y varianza
2
w
o , los lmites de control son:

LSC =
w
+ Lo
w

LC =
w
(4.4)
LIC =
w
- Lo
w


Donde L es la distancia de la lnea central hasta los lmites de control, es comn usar L = 3.


Por tanto los lmites de control de la carta p considerando L = 3 son:
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LSC
p
=
n
p p
p
) 1 (
3
__ __
__

+
LC
p
=
__
p (4.5)
LIC
p
=
n
p p
p
) 1 (
3
__ __
__



Durante la operacin, se toman muestras de n unidades, se calcula la fraccin defectiva
i
p y se
grafca en la carta, mientras no se observe ningn patrn anormal y
i
p se localice dentro de
lmites de control, se puede concluir que el proceso est en control, de otra forma, se concluir
que la fraccin no conforme se ha desplazado de su valor original y el proceso se encuentra fuera
de control.

Cuando la fraccin defectiva del proceso es desconocida, se estima de los datos observados en m
muestras iniciales, cada una de tamao n , por lo general se toman 20 a 25 de estas. As si D
i
son
unidades no conformes en la muestra i , la fraccin defectiva de la muestra i - sima estar dada
como:

p
i
= D
i
/ n i = 1, 2, 3,....., m (4.6)

y el promedio de las fracciones individuales no conformes cuando p es desconocida es:


m
p
mn
D
p
m
i
i
m
i
i
= =
= =
1 1
(4.7)

El estadstico p estima la fraccin desconocida p, y los lmites preliminares de control son:


n
p p
p LSC
p
) 1 (
3

+ = (4.5) anterior
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p LC
p
=

n
p p
p LIC
p
) 1 (
3

=


Una vez hecha la grfica trazando los lmites anteriores, cualquier punto que se encuentre fuera
de control debe ser investigado, si se encuentra una causa asignable o especial, deben tomarse
medidas correctivas para prevenir su recurrencia, los puntos correspondientes a la situacin fuera
de control se eliminan y se calculan de nuevo los lmites de control preliminares.

Ejemplo 4.1 Para el llenado de cajas de concentrado de jugo de naranja de 6 oz., se inspecciona
cada caja y se inspecciona el sello para evitar fugas, se lleva una carta de control para tomar
acciones y mejorar el desempeo de la maquina selladora.

Para establecer la carta de control, se toman 30 muestras de 50 piezas cada una en intervalos de
una hora.
Hora Defectos Hora Defectos
1 12 16 8
2 15 17 10
3 8 18 5
4 10 19 13
5 4 20 11
6 7 21 20
7 16 22 18
8 9 23 24
9 14 24 15
10 10 25 9
11 5 26 12
12 6 27 7
13 17 28 13
14 12 29 9
15 22 30 6

Como en total se encontraron 347 cajas no conformes, se estima p como sigue:
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m
p
mn
D
p
m
i
i
m
i
i
= =
= =
1 1
=
) 50 )( 30 (
347
= 0.2313
Los lmites de control usando Minitab son:
LSC
p
= 0.4102
LC
p
= 0.2313
LIC
p
= 0.0524

Figura 4.1 Carta de control p fuera de control

De la carta de control se observa que las muestras 15 y 23 estn fuera de los lmites de control, de
tal forma que el proceso esta fuera de control.

Del anlisis de los datos de la bitcora se encontr que la muestra 15 corresponde a el cambio de
un nuevo lote de cajas el cual fue diferente y que la muestra 23 corresponde a un operador sin
experiencia asignado temporalmente a la mquina.

Tomando acciones correctivas para evitar la recurrencia de las causas anteriores y calculando
nuevos lmites preliminares con los puntos 15 y 23 eliminados, se tiene con Minitab:
28 25 22 19 16 13 10 7 4 1
0.5
0.4
0.3
0.2
0.1
0.0
Sample
P
r
o
p
o
r
t
i
o
n
_
P=0.2313
UCL=0.4102
LCL=0.0524
1
1
P Chart of Defectos
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LSC
p
= 0.3893
LC
p
= 0.2150
LIC
p
= 0.0407

Figura 4.2 Carta de control p fuera de control en un punto

En la grfica de lmites revisados, se observa que la muestra 20 excede el lmite superior de
control, sin embargo no se encontr una causa asignable, por tanto se retiene este punto para el
clculo de los lmites preliminares. Tampoco se observan patrones de anormalidad, la mayor racha
o corrida tiene 5 puntos sobre la lnea central, lo cual no representa una situacin fuera de control.
De esta forma se concluye que el proceso est en control a una p = 0.2150 adoptando los lmites
preliminares para control futuro.

28 25 22 19 16 13 10 7 4 1
0.4
0.3
0.2
0.1
0.0
Sample
P
r
o
p
o
r
t
i
o
n
_
P=0.215
UCL=0.3893
LCL=0.0407
1
P Chart of Defectos
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Figura 4.3 Carta de control p en control estadstico

Se observa que a pesar de que el proceso est en control, no se tienen presentes problemas
controlables por el operador, por tanto las causas de variabilidad son comunes y su reduccin
depende slo del control de la administracin, una vez que interviene e Ingeniera realiza una serie
de ajustes a la mquina, se monitorea la mejora.

Continuando con el ejemplo, se toman 24 muestras adicionales durante los siguientes 3 turnos, la
grfica se hizo utilizando Minitab:

Se observa que la p media del proceso ha mejorado con los ajustes y una mejor atencin de los
operadores.
25 22 19 16 13 10 7 4 1
0.4
0.3
0.2
0.1
0.0
Sample
P
r
o
p
o
r
t
i
o
n
_
P=0.2081
UCL=0.3804
LCL=0.0359
P Chart of Defectos
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Se puede probar la hiptesis que la fraccin no conforme en los ltimos 3 turnos, difiere de la
fraccin no conforme preliminar, con el procedimiento de prueba de hiptesis:

H
0:
p
1
= p
2

H
1:
p
1 >
p
2


Donde p
1
es la fraccin no conforme de los datos preliminares
(p
1
=
1
p = 0.2182) y p
2
es la fraccin no conforme del periodo actual. Para estimar p
2
se toman las
ltimas 24 muestras o sea:

m
p
mn
D
p
m
i
i
m
i
i
= =
= =
31 31
2
= 1108 . 0
1200
133
) 24 )( 50 (
133
= =

El estadstico de prueba aproximado para probar la hiptesis anterior es:


|
.
|

\
| +

=
2 1
2 1
) 1 (
2 1
0
n n
n n
p p
p p
Z con
2 1
2 2 1 1
n n
p n p n
p
+
+
=

por tanto:
1669 . 0
1200 1400
) 118 . 0 )( 1200 ( ) 2150 . 0 )( 1400 (
=
+
+
= p

10 . 7
1200
1
1400
1
) 8331 . 0 )( 1669 . 0 (
1108 . 0 2150 . 0
0
=
|
.
|

\
|
+

= Z

Para un nivel de significancia del 0.05 en la distribucin normal, se encuentra que:

Z
0
= 7.10 > Z
.05
= 1.645

CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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Por tanto se rechaza la hiptesis H
o
concluyendo que hubo una reduccin en la fraccin defectiva
promedio del proceso.

Usando slo los ltimos 24 puntos para calcular nuevos lmites se tiene:

LSC
p
= 0.2440
LC
p
= 0.1108
LIC
p
= -0.0224 = 0


Continuando con el ejemplo, usando los nuevos lmites de control, para las siguientes 40 muestras
se observa una mejora del proceso, dentro de control. Es muy importante que para identificar
fcilmente las causas asignables, se lleve una bitcora de cambios, donde se anote cada cambio
que ocurra, independientemente que afecte o no al proceso.



Figura 4.4 Carta de control p con nuevos puntos tomados
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Diseo de la carta de control

Determinacin del tamao de muestra:

Mtodo 1.
El tamao de muestra n se escoge de tal forma que la probabilidad de encontrar al menos una
unidad no conforme por muestra sea al menos .

Ejemplo 4.2, si p = 0.01 y se desea que la probabilidad de hallar al menos una unidad no conforme
sea al menos 0.95, si D es el nmero de artculos no conformes, entonces:

P{ D >= 1 }>= 0.95

Con la distribucin de Poisson se encuentra que = np debe ser mayor a 3.00, por tanto si p =
0.01, implica que el tamao de muestra debe ser al menos de 300.

Mtodo 2.
Duncan sugiere que el tamao de muestra debe ser tal que se tenga aproximadamente un 50% de
probabilidad de detectar el corrimiento de la media de un proceso en una cierta cantidad.

Asumiendo que la distribucin normal es una buena aproximacin a la binomial, se selecciona n de
tal forma que el lmite superior de control coincida con la fraccin defectiva en el estado fuera de
control.

Entonces n debe satisfacer:


n
p p
L
) 1 (
= o (4.8)

Donde L es la distancia de la lnea central a los lmites de control en desviaciones estndar, por
tanto,

CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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) 1 (
2
p p
L
n |
.
|

\
|
=
o
(4.9)

Ejemplo 4.3, si p = 0.01 y se desea que la probabilidad de detectar un corrimiento a p = 0.05 sea de
0.50, entonces o = 0.05 0.01 = 0.04 y si L = 3-sigma, se tiene:

n = 56 ) 99 . 0 )( 01 . 0 (
04 . 0
3
2
= |
.
|

\
|


Mtodo 3.
Otro mtodo a usar si la fraccin p en control es pequea, consiste en seleccionar n tan grande de
tal forma que el lmite inferior tenga un valor positivo, para poder investigar la causa de
generacin de muy bajas cantidades de artculos defectuosos con objeto de identificar errores de
inspeccin o de los equipos de medicin. Se tiene:

0
) 1 (
>

=
n
p p
L p LIC
p
(4.10)
Implica que,

2
) 1 (
L
p
p
n

> (4.11)

Ejemplo 4.4, si p = 0.05 y se tienen lmites de control a 3-sigma, el tamao de muestra ser:

171 ) 3 (
05 . 0
95 . 0
2
= > n

Si n>171 unidades, la carta de control tendr un lmite inferior de control positivo.

Es importante notar que la carta de control p se basa en la distribucin normal, es decir que la
probabilidad de ocurrencia de artculos defectivos es constante y que las unidades producidas son
independientes. Si no es el caso, se debe desarrollar una carta de control basada en el modelo de
probabilidad adecuado.
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Ejemplo 4.3 Para un servicio de mantenimiento se tomaron datos de 30 muestras de 50
servicios contabilizando las quejas en cada uno como sigue:

Servicio
No
conformes Servicio
No
conformes Servicio
No
conformes
1 12 11 5 21 20
2 15 12 6 22 18
3 8 13 17 23 24
4 10 14 12 24 15
5 4 15 22 25 9
6 7 16 8 26 12
7 16 17 10 27 7
8 9 18 5 28 13
9 14 19 13 29 9
10 10 20 11 30 6
Como en total se encontraron 347 quejas o servicios no conformes, se estima p como
sigue:
m
p
mn
D
p
m
i
i
m
i
i
= =
= =
1 1
=
) 50 )( 30 (
347
= 0.2313
Los lmites de control usando Minitab son:
LSC
p
= 0.4102 LC
p
= 0.2313 LIC
p
= 0.0524

Fig. 4.4a. Carta de control P para la fraccin de servicios no conformes.

Ejercicio Hacer una carta de control P por atributos.


30 20 10 0
0.5
0.4
0.3
0.2
0.1
0.0
Sample Number
P
r
o
p
o
r
t
i
o
n
P Chart for No confo
1
1
P=0.2313
UCL=0.4102
LCL=0.05243
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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4.3 CARTA DE CONTROL np

En lugar de tener fracciones no conformes, si el tamao de muestra es constante, se pueden
utilizar directamente el nmero de artculos defectivos o no conformes np, para evitarle
operaciones aritmticas al operador, los parmetros de esta carta son:

) 1 ( 3 p np np LSC
np
+ =
np LC
np
= (4.12)
) 1 ( 3 p np np LIC
np
=

Si no se conoce el valor de p, se puede estimar con la p .
El nmero de defectivos o no conformes es un entero, por tanto es ms fcil de graficar e
interpretar por los operadores que llevan el C.E.P.

Ejemplo 4.5, con los ltimos 39 datos de las cajas de concentrado de jugo de naranja, se tiene:

Figura 4.5 Carta de control np en control estadstico con lmites de control constantes
25 22 19 16 13 10 7 4 1
20
15
10
5
0
Sample
S
a
m
p
l
e

C
o
u
n
t
__
NP=10.41
UCL=19.02
LCL=1.80
NP Chart of Defectos
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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4.4 TAMAO DE MUESTRA VARIABLE

En algunas aplicaciones para la fraccin defectiva, la muestra es la inspeccin 100% de los lotes
producidos en un periodo de tiempo, por tanto la muestra ser variable. Se tiene varios mtodos
para llevar una carta de control:

Mtodo 1. Lmites variables

Se calculan lmites de control para cada muestra en base en la fraccin defectiva promedio p y su
tamao de muestra con
i
n p p p / ) 1 ( 3 . La amplitud de los lmites es inversamente
proporcional a la raz cuadrada del tamao de muestra.

Ejemplo 4.6, Se tomaron datos del resultado de la inspeccin diaria, registrando la produccin
total y los defectivos del da.

n-var nodef Fra-def LSC LIC Des-est
100 12 0.12 0.183686 0.007335 0.0293918
80 8 0.1 0.194093 -0.00307 0.0328611
80 6 0.075 0.194093 -0.00307 0.0328611
100 9 0.09 0.183686 0.007335 0.0293918
110 10 0.090909 0.179582 0.011438 0.028024
110 12 0.109091 0.179582 0.011438 0.028024
100 11 0.11 0.183686 0.007335 0.0293918
100 16 0.16 0.183686 0.007335 0.0293918
90 10 0.111111 0.188455 0.002565 0.0309817
90 6 0.066667 0.188455 0.002565 0.0309817
110 20 0.181818 0.179582 0.011438 0.028024
120 15 0.125 0.176003 0.015017 0.026831
120 9 0.075 0.176003 0.015017 0.026831
120 8 0.066667 0.176003 0.015017 0.026831
110 6 0.054545 0.179582 0.011438 0.028024
80 8 0.1 0.194093 -0.00307 0.0328611
80 10 0.125 0.194093 -0.00307 0.0328611
80 7 0.0875 0.194093 -0.00307 0.0328611
90 5 0.055556 0.188455 0.002565 0.0309817
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100 8 0.08 0.183686 0.007335 0.0293918
100 5 0.05 0.183686 0.007335 0.0293918
100 8 0.08 0.183686 0.007335 0.0293918
100 10 0.1 0.183686 0.007335 0.0293918
90 6 0.066667 0.188455 0.002565 0.0309817

La fraccin defectiva media se calcula como sigue:

096 . 0
2450
234
25
1
25
1
= = =

=
=
i
i
i
i
n
D
p
Y los lmites de control se calculan como sigue:
LSC
p
=
i
p
n
p
) 904 . 0 )( 096 . 0 (
3 096 . 0 3 + = + o
LC = 0.096
LIC
p
=
i
p
n
p
) 904 . 0 )( 096 . 0 (
3 096 . 0 3 = o


Figura 4.6 Carta de control np en control estadstico con lmites de control variables
23 21 19 17 15 13 11 9 7 5 3 1
20
15
10
5
0
Sample
S
a
m
p
l
e

C
o
u
n
t
__
NP=8.58
UCL=16.94
LCL=0.22
1
NP Chart of nodef
Tests performed with unequal sample sizes
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Se observa que la muestra 11 est fuera de control.

Cuando se toman lmites de control variables, el anlisis de patrones de anormalidad no tiene
sentido ya que la desviacin estndar en cada muestra esta variando y no es posible visualizar
corridas o rachas.

Mtodo 2. Tamao de muestra promedio
En este caso, se toma el promedio de los tamaos de muestra para calcular los lmites de control
aproximados, se asume que los tamaos de muestra no diferirn en forma apreciable de los
observados, aqu los lmites de control son constantes. Si existen grandes diferencias mayores al
promedio ms o menos 25%, este mtodo no es adecuado.
98
25
2450
1
= = =

=
m
n
n
m
i
i


Con lmites de control basados en 98 = n :

LSC
p
= 185 . 0
98
) 904 . 0 )( 096 . 0 (
3 096 . 0 3 = + = +
p
p o
LC = 0.096
LIC
p
= 007 . 0
98
) 904 . 0 )( 096 . 0 (
3 096 . 0 3 = =
p
p o
Otra vez de la grfica se observa que el punto 11 est fuera de control.

Mtodo 3. Carta de control estandarizada.

En este mtodo, los puntos se grafican en unidades de desviacin estndar. En la carta de control
estandarizada, la lnea central es cero y los lmites de control estn a +3 y 3 respectivamente, la
variable a graficar en la carta es:

CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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i
i
i
n
p p
p p
Z
) 1 (

= (4.13)

donde p (o p si no hay estndar) es la fraccin defectiva media del proceso en su condicin de
control estadstico; p
i
, n
i
son datos de la muestra.

Ejemplo 4.7 Con los 25 datos anteriores se obtiene una carta estandarizada, por medio de Minitab.



n-var nodef Frac.-def LSC LIC Media Z-Estand
100 12 0.12 3 -3 0 0.81655
80 8 0.1 3 -3 0 0.12172
80 6 0.075 3 -3 0 -0.63905
100 9 0.09 3 -3 0 -0.20414
110 10 0.090909 3 -3 0 -0.18166
110 12 0.109091 3 -3 0 0.46713
100 11 0.11 3 -3 0 0.47632
100 16 0.16 3 -3 0 2.17748
90 10 0.111111 3 -3 0 0.48774
90 6 0.066667 3 -3 0 -0.94679
110 20 0.181818 3 -3 0 3.06231
120 15 0.125 3 -3 0 1.08084
120 9 0.075 3 -3 0 -0.78268
120 8 0.066667 3 -3 0 -1.09326
110 6 0.054545 3 -3 0 -1.47925
80 8 0.1 3 -3 0 0.12172
80 10 0.125 3 -3 0 0.8825
80 7 0.0875 3 -3 0 -0.25866
90 5 0.055556 3 -3 0 -1.30543
100 8 0.08 3 -3 0 -0.54437
100 5 0.05 3 -3 0 -1.56506
100 8 0.08 3 -3 0 -0.54437
100 10 0.1 3 -3 0 0.13609
90 6 0.066667 3 -3 0 -0.94679
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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Figura 4.7 Carta de control p estandarizada (Zi)
Esta carta tiene la ventaja de poder identificar patrones de anormalidad e identificar curva
caracterstica de operacin, lo que no puede hacerse con la carta de lmites de control variables.
Una aplicacin diferente de la manufactura sera el control de rdenes de compra errneas para
cada semana.

4.5 CURVA CARACTERSTICA DE OPERACIN Y ARL

La curva OC muestra en forma grfica la probabilidad de aceptar incorrectamente la hiptesis de
control estadstico (i.e. cometer un error tipo II o |). Esta curva proporciona una evaluacin de la
sensibilidad de la carta de control, o sea la habilidad de detectar un corrimiento en la fraccin no
conforme del proceso, desde su valor nominal p a algn otro valor p .

La probabilidad de error tipo II para la carta de control de fraccin defectiva o no conforme es:

} { } { p LIC p P p LSC p P s < = | = } { } { p nLIC D P p nLSC D P s < (4.14)


23 21 19 17 15 13 11 9 7 5 3 1
3.0
1.5
0.0
-1.5
-3.0
Observation
I
n
d
i
v
i
d
u
a
l

V
a
l
u
e
_
X=-0.028
UCL=2.871
LCL=-2.926
23 21 19 17 15 13 11 9 7 5 3 1
4
3
2
1
0
Observation
M
o
v
i
n
g

R
a
n
g
e
__
MR=1.090
UCL=3.560
LCL=0
1
1
I-MR Chart of Z-Estand
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 173
Como D es una variable aleatoria binomial con parmetros n y p, el error | puede ser obtenido de
la funcin de distribucin acumulativa (la distribucin de Poisson se puede utilizar como una
aproximacin).

Ejemplo 4.8 Si n = 50, LIC = 0.0303 y LSC = 0.3697, el error tipo II se calcula como sigue:

} 52 . 1 { } 49 . 18 { } ) 030 . 0 )( 50 ( { } ) 3697 . 0 )( 50 ( { p D P p D P p D P p D P s < = s < = |

Sin embargo como D debe ser un entero, se toma,

} 1 { } 18 { p D P p D P s < = |
La curva OC se construy utilizando Excel y Minitab.

NOTA: Se debe usar la distribucin de Poisson para np <=5 y distribucin Normal en caso contrario.
A continuacin se muestran curvas OC con 3 distribuciones.
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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La curva OC calculada con las diferentes distribuciones de probabilidad se muestra a continuacin:
CURVA OC POR BINOMIAL CURVA OC POR POISSON
LIC = 1, LSC =18, n = 50 LIC = 1, LSC =18, n =50
p P(d<=18|p) P(d<=1|p) Beta=dif np P(d<=18|p) P(d<=1|p) Beta=dif
0.01 1 0.910564687 0.089435313 0.5 1 0.90979599 0.090204
0.03 1 0.555279873 0.444720127 1.5 1 0.5578254 0.442175
0.05 1 0.279431752 0.720568248 2.5 1 0.2872975 0.712703
0.1 0.99999986 0.03378586 0.966214001 5 0.999998598 0.04042768 0.959571
0.15 0.999940418 0.002905453 0.997034965 7.5 0.999697003 0.00470122 0.994996
0.2 0.997488797 0.000192678 0.997296118 10 0.992813495 0.0004994 0.992314
0.25 0.97126684 1.0005E-05 0.971256835 12.5 0.948148253 5.031E-05 0.948098
0.3 0.859440124 4.0337E-07 0.85943972 15 0.819471712 4.8944E-06 0.819467
0.35 0.621587051 1.2349E-08 0.621587038 17.5 0.608934016 4.6453E-07 0.608934
0.4 0.335613264 2.7751E-10 0.335613263 20 0.381421949 4.3284E-08 0.381422
0.45 0.127345115 4.36961E-12 0.127345115 22.5 0.202192955 3.976E-09 0.202193
0.5 0.032454324 4.52971E-14 0.032454324 25 0.092040859 3.6109E-10 0.092041
0.55 0.005296752 2.84312E-16 0.005296752 27.5 0.036606283 3.249E-11 0.036606
CURVA OC POR NORMAL COMPARACION DE LAS
LIC = 0.0303, LSC = 0.3697, n = 50 BETAS CON 3 DECIMALES
p Sigma LSC Z-Value LIC Z Value PZLSC PZLIC Beta np BINOM POISSON NORMAL
0.01 0.014071247 25.56276589 1.442658181 1 0.925442 0.074558435 0.5 0.089 0.090 0.075
0.03 0.024124676 14.08101803 0.0124354 1 0.504961 0.495039094 1.5 0.445 0.442 0.495
0.05 0.03082207 10.37243767 -0.639152399 1 0.261362 0.738638167 2.5 0.721 0.713 0.739
0.1 0.042426407 6.356889963 -1.642844755 1 0.050208 0.949792486 5 0.966 0.960 0.950
0.15 0.050497525 4.350708304 -2.370413218 0.999993 0.008884 0.991109116 7.5 0.997 0.995 0.991
0.2 0.056568542 2.999900519 -2.999900519 0.99865 0.00135 0.997299184 10 0.997 0.992 0.997
0.25 0.061237244 1.954692815 -3.587685977 0.97469 0.000167 0.97452355 12.5 0.971 0.948 0.975
0.3 0.064807407 1.075494349 -4.161561348 0.858923 1.58E-05 0.858907423 15 0.859 0.819 0.859
0.35 0.067453688 0.292052231 -4.739548131 0.614877 1.07E-06 0.614875519 17.5 0.622 0.609 0.615
0.4 0.069282032 -0.437342829 -5.336159863 0.330931 4.76E-08 0.33093135 20 0.336 0.381 0.331
0.45 0.070356236 -1.141334502 -5.965356044 0.126865 1.22E-09 0.126865425 22.5 0.127 0.202 0.127
0.5 0.070710678 -1.842720272 -6.642561102 0.032685 1.55E-11 0.032684871 25 0.032 0.092 0.033
0.55 0.070356236 -2.562672611 -7.386694153 0.005194 7.58E-14 0.005193524 27.5 0.005 0.037 0.005
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Para esta carta de control, tambin se puede calcular la longitud de corrida media ARL.

Cuando es proceso est en control:

ARL
0
= 1 / o

Cuando el proceso est fuera de control:

ARL
1
= 1 / (1 - |)

Estas probabilidades de errores tipo I y II se pueden obtener o por calculo de probabilidades o
usando las curvas OC.
Figura 4.8 Curva caracterstica de operacin np

Ejemplo 4.9, suponiendo que el proceso se corre a p
1
= 0.3, siendo su valor nominal p
0
= 0.2. De la
curva OC se observa que | en este caso es 0.9973 estando en control, en este caso o = 1 - | =
0.0027 y el valor de ARL
0
es:

ARL
0
= 1 / o = 1 / 0.0027 = 370

Indicando que cada 370 puntos se puede tener una falsa alarma.




CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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4.6 CARTAS DE CONTROL PARA NO CONFORMIDADES (DEFECTOS) c y u

Una no conformidad o defecto es una caracterstica especfica que no cumple con la especificacin
del producto. Las no conformidades pueden tener una gravedad diferente desde menores hasta
crticas. Se pueden desarrollar cartas de control para el nmero total de no conformidades en una
unidad o el nmero promedio de no conformidades por unidad.

Estas cartas asumen que la ocurrencia de no conformidades en muestras de tamao constante son
modeladas bien por la distribucin de Poisson, es decir implica que las oportunidades o
localizaciones potenciales para las no conformidades sea muy infinitamente grande y que la
probabilidad de ocurrencia de una no conformidad en cualquier localizacin sea pequea y
constante. Adems cada unidad de inspeccin debe representar una rea de oportunidad
idntica para la ocurrencia de no conformidades. Si estas condiciones no se cumplen, el modelo de
Poisson no es apropiado.

Tamao de muestra constante - CARTA c

Una unidad de inspeccin es simplemente una entidad para la cual es conveniente registrar el
nmero de defectos, puede formarse con 5 unidades de producto, 10 unidades de producto, etc.
Suponiendo que los defectos o no conformidades ocurren en la unidad de inspeccin de acuerdo a
la distribucin de Poisson, o sea:

!
) (
x
c e
x p
x c
= (4.15)
Donde la media y la desviacin estndar tienen valor c; para x = 0, 1, 2, .......
Por tanto considerando L = 3-sigma, los lmites de control para la carta de no conformidades son:

CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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LSC
c
= c + 3 c
LC
c
= c (4.16)
LIC
c
= c - 3 c en el caso que sea negativo toma el valor cero.

Si no hay estndar definido c se estima con el promedio de no conformidades observadas en una
muestra preliminar inspeccionada, o sea con c , en este caso los parmetros de la carta son:

LSC
c
= c + 3 c
LC
c
= c (4.17)
LIC
c
= c - 3 c en el caso que sea negativo toma el valor cero


Cuando no hay datos histricos, se calculan lmites de control preliminares.

Ejemplo 4.18 Para el nmero de no conformidades observadas en 26 unidades de inspeccin
sucesivas de 100 muestras de circuitos impresos, se obtuvieron los datos siguientes:
No Conformidades
21 19
24 10
16 17
12 13
15 22
5 18
28 39
20 30
31 24
25 16
20 19
24 17
16 15

Donde,
LSC = 33.22
LC = 516 / 26 = 19.85 = c
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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LIC = 6.48

De la carta de control preliminar, se observa que hay 2 puntos fuera de control, el 6 y el 20.

Figura 4.9 Carta de control C fuera de control estadstico

Una investigacin revel que el punto 6 fue debido a que un inspector nuevo calific los circuitos
impresos pero no tena la suficiente experiencia, fue entrenado. El punto 20 fue causado por una
falla en el control de temperatura de la soldadora de ola, lo cual fue reparado. Por lo anterior se
toman acciones para evitar recurrencia, se eliminan y se recalculan los lmites de control.

25 22 19 16 13 10 7 4 1
40
30
20
10
0
Sample
S
a
m
p
l
e

C
o
u
n
t
_
C=19.85
UCL=33.21
LCL=6.48
1
1
C Chart of NoConform
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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Figura 4.9 Carta de control C dentro de control estadstico

Como el proceso ya se encuentra en control estadstico, estos lmites se tomarn como base para
el siguiente periodo, donde se tomaron 20 unidades de inspeccin adicionales.


No Conformidades 1
16 18
18 21
12 16
15 22
24 19
21 12
28 14
20 9
25 16
19 21

Se observa en la grfica que no se tienen puntos fuera de control, sin embargo el promedio de
defectos es alto, requiere la accin de la administracin.

23 21 19 17 15 13 11 9 7 5 3 1
35
30
25
20
15
10
5
Sample
S
a
m
p
l
e

C
o
u
n
t
_
C=19.67
UCL=32.97
LCL=6.36
C Chart of NoConform
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 180

Figura 4.10 Carta de control C dentro de control estadstico para otras 20 muestras muy alta c

Haciendo un anlisis de Pareto de los principales defectos se observ que el principal defecto de
soldadura insuficiente y soldadura fra, acumulan el 69% del total, por lo que se deben enfocar los
esfuerzos a resolver estos problemas.



















19 17 15 13 11 9 7 5 3 1
35
30
25
20
15
10
5
Sample
S
a
m
p
l
e

C
o
u
n
t
_
C=19.67
UCL=32.98
LCL=6.36
C Chart of C4

CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 181
Figura 4.11 Pareto de no conformidades
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 182
Puede ser necesario estratificar el problema identificando en que modelo de circuito impreso se
presentan los defectos principalmente.

Otra forma de anlisis es el diagrama de causa efecto para identificar las diferentes fuentes de no
conformidades.

Figura 4.12 Diagrama de Ishikawa de causas potenciales para la falla de soldadura

Seleccin del tamao de muestra

Aumentando el tamao de muestra se tiene ms oportunidad de encontrar no conformidades o
defectos, sin embargo esto tambin depende de consideraciones econmicas y del proceso, si en
lugar de tomar 1 unidad de inspeccin, se toman n unidades de inspeccin, entonces los nuevos
lmites de control se pueden calcular por los siguientes mtodos:

Mtodo 1. Con c n
En este caso tanto la lnea central como los lmites de control se modifican por el factor n,
quedando como sigue ( c es la media de las no conformidades observada en la unidad de
inspeccin anterior):

CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 183
c n c n LSC
nc
3 + =
c n LC
nc
= (4.18)
c n c n LIC
nc
3 =

Por ejemplo si se deciden utilizar 2.5 unidades de inspeccin para el caso de los circuitos impresos
(es decir inspeccionar 250 tarjetas) con n=2.5, se tiene:

c n c n LSC
nc
3 + = = (2.5)(19.67) + 3 22 . 70 ) 67 . 19 )( 5 . 2 ( =
c n LC
nc
= = (2.5)(19.67) = 49.18
c n c n LIC
nc
3 = = (2.5)(19.67) - 3 14 . 28 ) 67 . 19 )( 5 . 2 ( =


Carta de control de defectos por unidad U
Mtodo 2. Carta u
Si se encuentra un total de c no conformidades en la muestra de n unidades de inspeccin,
entonces el promedio de no conformidades por unidad de inspeccin u es:

n
c
u = (4.19)

Como c es una variable aleatoria que sigue la distribucin de Poisson, los parmetros de la carta u
de nmero de no conformidades o defectos por unidad son:


n
u
u LSC
u
3 + =
u LC
u
= (4.20)

n
u
u LSC
u
3 + =

Donde u representa el nmero promedio de no conformidades por unidad en un conjunto de
datos preliminar. Los lmites anteriores se consideran lmites preliminares.
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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Ejemplo 4.10 Para un fabricante de computadoras registrando los defectos en su lnea de
ensamble final. La unidad de inspeccin es una computadora y se toman 5 unidades de inspeccin
a un tiempo.

No conformidades
en cada 5 unidades carta u
10 9
12 5
8 7
14 11
10 12
16 6
11 8
7 10
10 7
15 5

Se calculan los lmites de control con:

adas inspeccion unidades de Suma
des conformida no de Suma
u
. . .
. . .
__
=

u =38.60 / 20 = 1.93
LSC = 3.79
LIC = 0.07

La carta de control queda como sigue:
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 185

Figura 4.13 Carta de control de defectos por unidad U con tamao de muestra constante en
control estadstico

En la carta de control no se observa falta de control estadstico, por tanto los lmites preliminares
se pueden utilizar en corridas futuras.

MUESTRA VARIABLE CARTA u

En algunos casos las cartas de control para no conformidades se utilizan en la inspeccin 100% de
la produccin o lotes de producto, por tanto las unidades de inspeccin no son constantes. En esta
carta se tiene una lnea central constante y los lmites de control varan inversamente con la raz
cuadrada del tamao de muestra n.

La lnea central y los lmites individuales de control se calculan como sigue:

19 17 15 13 11 9 7 5 3 1
4
3
2
1
0
Sample
S
a
m
p
l
e

C
o
u
n
t

P
e
r

U
n
i
t
_
U=1.93
UCL=3.794
LCL=0.066
U Chart of C6
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 186


i
u
n
u
u LSC
i
3 + =
u LC
u
= (4.21)

i
u
n
u
u LSC
i
3 + =

Ejemplo 4.11 En una planta textil, se inspeccionan defectos por cada 50m
2
los datos se muestran a
continuacin.

Unidades No conform
10 14
8 12
13 20
10 11
9.5 7
10 10
12 21
10.5 16
12 19
12.5 23

La lnea central es 42 . 1
5 . 107
153
= = u
Donde u = Total de defectos observados / Total de unidades de inspeccin
De la grfica no se observan puntos fuera de control.
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 187

Figura 4.14 Carta de control para defectos por unidad con tamao de muestra variable

Existen otras dos alternativas para el manejo de la carta u con n variable:

1. Usando un promedio de tamaos de muestra.

=
=
m
i
i
m
n
n
1
(4.22)

2. Usando una de control estandarizada (opcin preferida). Se grafica Z
i
con lmites de control en
+3 y 3, lnea central cero.


i
i
i
n
u
u u
Z

= (4.23)


10 9 8 7 6 5 4 3 2 1
3.0
2.5
2.0
1.5
1.0
0.5
0.0
Sample
S
a
m
p
l
e

C
o
u
n
t

P
e
r

U
n
i
t
_
U=1.423
UCL=2.436
LCL=0.411
U Chart of No conform
Tests performed with unequal sample sizes
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 188
Ejemplo 4.11 (Cont...) Estandarizando la carta se tiene:

Unidades NoConf SigmaU Ui-Uprom Zu
10 14 0.377261 -0.02325581 -0.06164
8 12 0.42179 0.07674419 0.181949
13 20 0.330879 0.11520572 0.34818
10 11 0.377261 -0.32325581 -0.85685
9.5 7 0.387061 -0.68641371 -1.7734
10 10 0.377261 -0.42325581 -1.12192
12 21 0.34439 0.32674419 0.948761
10.5 16 0.368169 0.10055371 0.273119
12 19 0.34439 0.16007752 0.464814
12.5 23 0.337432 0.41674419 1.235046

U prom 1.423256


La carta de control estandarizada para U, se encuentra en control estadstico como se muestra
abajo.

Figura 4.15 Carta de control U estandarizada

10 9 8 7 6 5 4 3 2 1
3
2
1
0
-1
-2
-3
Observation
I
n
d
i
v
i
d
u
a
l

V
a
l
u
e
_
X=0
UCL=3
LCL=-3
I Chart of Zu
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 189
Sistema de demeritos

Con productos complejos, se identifican diversos tipos de defectos, desde los que se consideran
menores hasta los que ponen en riesgo la salud del usuario. Por lo cual es necesario dar una
ponderacin a esos diversos tipos de defectos de acuerdo a su gravedad, un esquema posible es el
siguiente:

Defectos tipo A Muy serios: La unidad no puede funcionar o fallar en el campo, o puede causar
dao al usuario.
Defectos tipo B Serios: La unidad tendr menos vida til, o puede causar una falla de
funcionamiento mayor.
Defectos tipo C Poco serios: La unidad puede tener fallas pero continuar funcionando, o puede
incrementar los costos de mantenimiento, o tener una mala apariencia como usada.
Defectos tipo D Menores: La unidad no fallar en servicio pero tiene defectos de apariencia,
terminados o calidad de trabajo.

Supngase que para los defectos anteriores se tengan los nmeros c
iA,
c
iB,
c
iC
, c
iD
respectivamente
en la i-sima unidad inspeccionada. Se asume que cada clase de defectos es independiente y que
la ocurrencia de defectos de cada clase es modelada bien con la distribucin de Poisson. Entonces
se puede definir el nmero de demritos en la unidad de inspeccin por ejemplo como:

d
i
= 100c
iA
+ 50c
iB
+ 10c
iC
+ c
iD
(4.24)

Suponiendo que se toma una muestra de n unidades de inspeccin, entonces el nmero de
Demritos por unidad es (con

=
n
i
i
d
1
nmero total de demritos en todas las unidades de
inspeccin):

u
i
= D / n =
n
d
n
i
i
=1
(4.25)
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 190
Como u es una combinacin lineal de variables aleatorias independientes de Poisson, el estadstico
u
i
puede ser graficado en una carta de control con los parmetros siguientes:

LSC = u + 3 o
u
LC = u (4.26)
LIC = u + 3 o
u
,

Donde,
D C B A u u u u u 1 10 50 100 + + + = (4.27)
y
2 / 1
2 2 2 2
) 1 ( ) 10 ( ) 50 ( ) 100 (
(

+ + +
=
n
u u u u D C B A
u
o (4.28)
Los nmeros , , , , D C B A u u u u representan el nmero promedio de defectos de la clase A, clase B,
clase C y clase D respectivamente. Se determina a partir de datos preliminares tomados cuando el
proceso est en control estadstico.

La curva caracterstica de operacin

La curva caracterstica de operacin (OC) puede ser obtenida tanto para la carta c como para la
carta u a partir de la distribucin de Poisson.

Para la carta c, la curva OC muestra la probabilidad del error tipo II | contra la media real del
numero de defectos c, se expresa como sigue:

} { } { c LIC x P c LSC x P s < = | (4.29)

Donde x es una variable aleatoria de Poisson con parmetro c.

Ejemplo 4.12, para el caso de la carta c anterior con LSC = 33.22, LIC = 6.48, se tiene:
} 48 . 6 { } 22 . 33 { c x P c x P s < = |
cmo las cantidades deben ser enteras, esto es equivalente a:
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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} 7 { } 33 { c x P c x P s < = |
La curva OC se obtiene con la distribucin de Poisson como sigue:
C P(x<=33) P(x<=7) Pa=Beta
1 1.000 1.000 0.000
3 1.000 0.988 0.012
5 1.000 0.867 0.133
7 1.000 0.599 0.401
9 1.000 0.324 0.676
11 1.000 0.143 0.857
13 1.000 0.054 0.946
15 1.000 0.018 0.982
17 1.000 0.005 0.994
19 0.999 0.002 0.997
21 0.994 0.000 0.994
23 0.981 0.000 0.981
25 0.950 0.000 0.950
27 0.892 0.000 0.892
29 0.801 0.000 0.801
31 0.682 0.000 0.682
33 0.546 0.000 0.546
35 0.410 0.000 0.410
37 0.289 0.000 0.289
39 0.191 0.000 0.191
C promedio 19.67


Figura 4.16 Curva caracterstica de operacin de la carta C con media 19.67
0.000
0.200
0.400
0.600
0.800
1.000
1.200
1 3 5 7 9 11 13 15 17 19 21 23 25 27 29 31 33 35 37 39
Pa=Beta
Pa=Beta
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Para el caso de la carta u, la curva OC puede generarse con:

} { } { u LIC x P u LSC x P s < = |
} { } { u nLIC c P u nLSC c P s < = | (4.30)
} { u nLSC c u nLIC P s < = |


4.7 CARTAS DE CONTROL PARA TASAS DE DEFECTOS EN ppm

Las cartas por atributos c y u no son convenientes en estos casos ya que tendran ceros la mayor
parte del tiempo, una alternativa es graficar los intervalos de tiempo entre ocurrencias de los
defectos o eventos.

Asumiendo que los defectos ocurren de acuerdo a la distribucin de Poisson, entonces la
distribucin de tiempo transcurrido entre eventos sigue la distribucin exponencial, sin embargo
dara una carta de control muy asimtrica.

Nelson, sugiere una alternativa transformando la variable aleatoria exponencial a una variable
aleatoria de Weibull de tal forma que sea una buena aproximacin a la normal. Si y representa la
variable aleatoria exponencial original, la transformacin adecuada es:

x = y
1/3.6
= y
0.277
(4.31)

Por tanto se construye una carta de control para x, asumiendo que x sigue una distribucin
normal.

Por ejemplo para el monitoreo de fallas de una vlvula importante, se usar el nmero de horas
entre fallas como la variable a monitorear. En la pgina siguiente se muestra este ejemplo.
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 193
5. OTRAS CARTAS DE CONTROL ESPECIALES

5.1 CARTAS DE CONTROL PARA CORRIDAS CORTAS DE PRODUCCIN

Cartas de control dnom

Se pueden utilizar cartas de medias-rangos en situaciones las corridas de produccin sean cortas,
tomando las desviaciones respecto a la media de especificaciones en lugar del valor como tal.

Ejemplo 5.1 Si se tienen 2 piezas la A y la B, donde la dimensin nominal de la pieza A T
A
= 50mm,
y la dimensin nominal de la pieza B es T
B
= 25mm, cuando se produce las piezas A o B se toman
muestras y se evala la desviacin respecto a su media.

Muestra Pieza M1 M2 M3 D1 D2 D3 Media Rango
1 A 50 51 52 0 1 2 1.00 2
2 A 49 50 51 -1 0 1 0.00 2
3 A 48 49 52 -2 -1 2 -0.33 4
4 A 9 53 51 -1 3 1 1.00 4
5 B 24 27 26 -1 2 1 0.67 3
6 B 25 27 24 0 2 -1 0.33 3
7 B 27 26 23 2 1 -2 0.33 4
8 B 25 24 23 0 -1 -2 -1.00 2
9 B 24 25 25 -1 0 0 -0.33 1
10 B 26 24 25 1 -1 0 0.00 2

Ver carta en la pgina siguiente.

Se deben cumplir 3 premisas para estas cartas:
1. La desviacin estndar debe ser la misma para todas las partes, sin esto no se cumple usar la
carta de medias estandarizada.
2. El procedimiento trabaja mejor cuando el tamao de muestra es constante para todas las
diferentes partes.
3. La media utilizada debe ser la media de las especificaciones, a excepcin de cuando se tiene
slo un lmite de especificacin.
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 194

Figura 4.1 Carta DNOM para corridas cortas

Cartas de control de medias rangos estandarizada

Si la desviacin estndar para las diferentes partes es diferente, se usan estas cartas. Sean
i
i T R ..... el rango medio y el valor nominal de x para un nmero de parte especfico. Para todas las
muestras de este nmero de parte, graficar,


i
S
R
R
R = (5.1)
Se toman de datos histricos o de especificaciones para el rango, o se puede estimar de o con
4
2
c
Sd
Ri ~ sus lmites de control son D
3
y D
4.
Para la media graficar,
i
i
S
R
T x
x

= (5.2)
La lnea central para la carta x estandarizada es cero, y sus lmites de control son LSC = A
2
y LIC = -
A
2
.
10 9 8 7 6 5 4 3 2 1
3.0
1.5
0.0
-1.5
-3.0
Sample
S
a
m
p
l
e

M
e
a
n
_
_
X=0.167
UCL=2.929
LCL=-2.596
10 9 8 7 6 5 4 3 2 1
6.0
4.5
3.0
1.5
0.0
Sample
S
a
m
p
l
e

R
a
n
g
e
_
R=2.7
UCL=6.950
LCL=0
Xbar-R Chart of D1, ..., D3
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Pgina 195

Cartas de control por atributos

Se utilizan cartas de control estandarizadas con lmites de control LSC=+3 y LIC=-3. Los estadsticos
a graficar son:
Carta p
n p p
p p
Z
i
i
/ ) 1 (

=
Carta np
) 1 ( p p n
p n np
Z
i
i

=
(5.3)
Carta c
c
c c
Z
i
i

=
Carta u
n u
u u
Z
i
i
/

=

5.2 CARTAS DE CONTROL MODIFICADAS Y DE ACEPTACIN

Cartas de control modificadas
Las cartas de control modificadas se utilizan cuando la variabilidad es pequea respecto a los
lmites de especificaciones, es decir el Cp es mucho mayor que 1. En este caso la media del
proceso puede variar sobre un rango permitido sin afectar el desempeo del proceso.
La carta de control modificada X esta diseada para detectar slo si la media verdadera del
proceso , est localizada de tal forma que el proceso genere una fraccin de productos no
conformes mayor de algn valor especificado o.

Se permite que vare entre
I
y
S
de tal forma que no se exceda la fraccin defectiva o. Se
asume que el proceso est normalmente distribuido y que o sea conocida y est en control.

CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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LIEsp. |--- 6o ---| LSEsp.

Figura 5.2 Proceso con habilidad alta, Cp>>1



o

o o
LIE
I

S
LSE

Z
o
o

Z
o
o


o / n




LIC LSC

Figura 5.3 Localizacin de los lmites de control

Donde:
o
o
Z LIE
I
+ = (5.4)
o
o
Z LSE
S
=

n
Z o
o
n
Z o
o
n
Z o
o
o o
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 197
Donde Z
o
es el punto superior 100(1-o) de la distribucin normal, si se especifica un error o, los
lmites de control superior e inferior son:

o
o

o
o
o
|
.
|

\
|
= + =
n
Z
Z LSE
n
Z
LSC
S
(5.5)
o
o

o
o
o
|
.
|

\
|
+ = =
n
Z
Z LIE
n
Z
LIC
I


Lo comn es que Z
o
=3.

En las cartas modificadas, o es una fraccin no conforme que se acepta con una probabilidad (1-o).
Si la variabilidad del proceso cambia, stas cartas no son apropiadas, de tal forma que se
recomienda siempre usar en forma adicional una carta R o S, de donde incluso se estime la o
inicial.

Cartas de control de aceptacin

En este caso se toma en cuenta ambos errores tipo I y tipo II, ya sea de rechazar un proceso que
opera en forma satisfactoria o de aceptarlo si opera en forma insatisfactoria.

Los lmites de control para este caso se basan en una n especificada y una fraccin no conforme
del proceso que nos gustara rechazar con una probabilidad (1-|), por tanto:

o
o

|
|
|
.
|

\
|
+ = =
n
Z
Z LSE
n
Z
LSC
S
(5.5)
o
o

|
|
|
.
|

\
|
+ + = + =
n
Z
Z LIE
n
Z
LIC
I


Es posible tambin seleccionar un tamao de muestra de tal forma que se obtengan los
requerimientos para o, |, y o. Igualando los lmites de control superiores:

CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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o
o
o
|
.
|

\
|
=
n
Z
Z LSE LSC = o
|

|
|
.
|

\
|

n
Z
Z LSE
Se obtiene

2
|
|
.
|

\
|

+
=
o
| o
Z Z
Z Z
n (5.6)

Ejemplo 5.2 Si delta = 0.01, alfa = 0.00135, gama = 0.05 y beta = 0.20, haciendo los clculos se
obtiene una n = 31.43 ~ 32.

2
645 . 1 33 . 2
84 . 0 00 . 3
|
.
|

\
|

+
= n

Ejemplo 5.3 De Duncan se tiene:
29


LSE o=0.025

LSE-1.96o

Amplitud de variacin 0.10
Aceptable para
__
X
0.10

LIE+1.96o

LIE o=0.025

Figura 5.4 Carta de control de aceptacin


29
Duncan A., Control de Calidad y Estadstica Industrial, Alfaomega, Mxico, 1989, pp. 527-530
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 199
En la figura si suponemos que o=0.025 y | = 0.10, asumiendo un proceso normal, los lmites para la
carta de control de aceptacin estarn en:

LSC = LSE 1.96o - 1.282o/ n
LIC = LIE + 1.96o + 1.282o/ n

5.3 CARTA DE CONTROL PARA DESGASTE DE HERRAMIENTA O MATERIAL

Cuando un desgaste natural ocurre, se presenta una tendencia natural en la carta de control, la
distancia entre los lmites de especificacin debe ser mucho mayor que 6o
X
, por lo que se puede
usar el concepto de la carta de control modificada (o
X
= R/d
2
).

El ajuste inicial de la herramienta se inicia a 3o
x
arriba del lmite inferior de especificacin, y el
mximo que se le permite variar es hasta 3o
x
abajo del lmite superior de especificacin. Esto
minimiza los ajustes a realizar durante las corridas de produccin. Se puede utilizar un valor
diferente de Zo = 3 si se requiere una mayor proteccin en la fraccin defectuosa. Para este
problema tambin se puede utilizar la carta de regresin.



LSE


_
X
o
LSE-3o
x

Amplitud dentro de la cual
se espera encontrar las 6
_
X
o
medias de las piezas Distribucin de x

_
X
o
LIE+3o
x



LIE

Fig. 5.5 Carta de control para desgaste de herramienta o material
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 200

Como se puede observar, slo se puede emplear sta carta si la amplitud de los lmites de
especificacin es suficiente mayor a 6o
x
para alojar la carta de control.

La pendiente b de la lnea central y lmites de control se pueden calcular por los mtodos
siguientes:

1. Dibujando una lnea central que pase por los puntos graficados y estimando en forma grfica
la pendiente.
2. Utilizando la tcnica de mnimos cuadrados, donde si se tienen un total de m muestras con el
nmero de muestra i = 1,2,3..m la pendiente b es (los datos se pueden codificar para
facilidad):


= ))] 1 ( /( 6 [ ))] 1 ( /( 12 [
2
m m X m m iX b
i i
(5.7)

3. Utilizando un paquete de computadora que incluye el clculo de mnimos cuadrados.

Los valores sugeridos de inicio y paro del proceso son
, 1
,
2
donde:
2 1
/ 3 3 d R LIE LIE
x
+ = + = o (5.8)

2 2
/ 3 3 d R LSE LSE
x
= = o

El nmero de puntos que tienen que pasar para llegar de
, 1
,
2
es:

M* = (
, 1
-
2
) / b (5.9)

Es importante considerar que antes de llevar una carta de medias para desgaste es indispensable
asegurarse que la carta de rangos est en control estadstico. En caso de que la media en lugar de
crecer, decrezca, las
, 1
,
2
se invierten:
Los lmites de control se encuentran a una distancia vertical
_
2
R A de la lnea central.
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 201
Ejemplo 5.4 El dimetro exterior de una vlvula tiene una especificacin de 1.1555 0.0005. Se
han tomado 13 muestras de 5 piezas cada una sin ajustar la herramienta de corte, en intervalos de
media hora. Los resultados son:

Muestra i
1 2 3 4 5 6 7 8
i X
_
1.15530, 1.15540,1.15544, 1.15546, 1.15550, 1.15556, 1.15568, 1.15570,

i
R 0.00020, 0.00020, 0.00020, 0.00020, 0.00020, 0.00020, 0.00010, 0.00020

Muestra 9 10 11 12 13
i X
_
1.15576, 1.15578, 1.15580, 1.15586, 1.15590
i
R 0.00010, 0.00020, 0.00020, 0.00010, 0.00020

Los resultados obtenidos son:

R-medio=0.0001769; LSC
R
=0.000374, o = 0.000076053;

b = 0.0000492

, 1
,
2
son respectivamente 1.155228 y 1.155772
m* = 11.056, los lmites de control estn a
_
2
R A = 0.5768(0.0001769)=0.000102.

Es decir que tienen que pasar 11 puntos o 5.5 horas para reajustar el proceso
LSE
2



Pendiente b


LSC

, 1

LIC
LIE

Fig. 5.6 Tiempo t o nmero de muestras antes de ajuste

CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 202
5.4 CARTA DE PRECONTROL O DE ARCOIRIS

Es una tcnica usada para detectar irregularidades en el proceso, que pueden resultar en la
produccin de unidades fuera de especificaciones. Pre-control, principalmente se presta para el
uso de aparatos de medicin hechos previamente sobre los lmites de las especificaciones. El uso
de stos aparatos de medicin permite seleccionar fcilmente las unidades que proceden de las
que no. Pre-control es usado con frecuencia para determinar los valores de las variables del
proceso durante el perodo de arranque de la produccin.

Tambin se denomina carta de objetivo, utiliza los lmites de especificacin para su
establecimiento, situados a 3o es fcil de construir y usar, sin embargo, no permite mejorar el
proceso. La carta tiene tres reas:
ZONA ROJA Lmite superior de especificaciones

ZONA AMARILLA Esta zona comprende 1.5o o 7%


ZONA VERDE Esta zona comprende 1.5o o 86%
ZONA AMARILLA Esta zona comprende 1.5o o 7%

ZONA ROJA Lmite inferior de especificaciones
Figura 5.7 Carta de Pre Control y sus zonas

En la carta de pre control hay un 1/14 de probabilidad de que una parte caiga en la zona amarilla
y de 1/196 de que caigan dos consecutivas en sta zona, en este caso se considera que el proceso
se sali de control.

Pre-control se basa en la hiptesis de que si el proceso est operando correctamente, la
probabilidad de encontrar dos unidades fuera de los lmites de control consecutivamente es
demasiado pequea. Por lo tanto si dos unidades son encontradas consecutivamente fuera de los
lmites de control, es razn suficiente como para indicar una falla en el proceso.

Ventajas:
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 203
Pre-control es una tcnica simple que a diferencia con el control estadstico del proceso (CEP) no
requiere de grficas de control, ni de cmputos.

Desventajas:
No existen grficas de control, por lo tanto, las reglas y procedimientos para reconocer patrones
de fallas no pueden ser usados. Dado que se requiere una cantidad muy pequea de muestras, es
riesgoso inferir sobre la totalidad del proceso. Finalmente, Pre-control no proporciona informacin
suficiente para someter el proceso bajo control o para reducir la variabilidad. Asume que el
proceso es hbil y que es normal.

Recomendaciones:
Pre-control slo debe ser usado cuando la capacidad del proceso (Cp)
30
es mayor que uno (algunos
textos recomiendan como mnimo Cp=2)
31
, y cuando se han alcanzado cero defectos en el
proceso.

Definicin de los lmites de Pre-control.
Existen dos lmites de Pre-control (PC): Upper Pre-control limit (UPCL) y Lower Pre-control
limit(LPCL). Cada uno representa de la distancia entre el lmite de especificaciones inferior (LSL)
y el lmite de especificaciones superior (USL). La siguiente figura considera un proceso distribuido
de acuerdo a la distribucin normal.
Figura 5.8 Distribucin de reas de probabilidad para la carta de pre-control

30

( )
o 6
LSL USL
C
p

= , donde USL = Upper Specification Limit y LSL = Lower Specification Limit.
31
Montogomery, Douglas C. Statistical Quality Control, John Wiley & Sons, Inc., 1991, pp. 332-
334.
LSL LPCL UPCL USL

0 1 1
4
1
2
3
4
LSL LPCL UPCL USL

0 1 1
4
1
2
3
4
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 204

Pasos a seguir para aplicar Pre-control.

A continuacin se muestran las reglas de uso de la carta:

1. Iniciar el proceso. Si el primer artculo sale de especificaciones, parar, corregir e iniciar de
nuevo. Debern caer en la zona verde.
2. Si un artculo cae en la zona amarilla, tomar un siguiente artculo. Si cae nuevamente en la
zona amarilla parar y corregir el proceso, de otra forma continuar.
3. Si 25 artculos consecutivos caen en la zona verde, reducir frecuencia de chequeo.


















Figura 5.9 Pasos a seguir para el Pre-Control



Inicie el
proceso
Verifique
1a. Unidad
Fuera de
Especificaciones
Dentro de
Especificaciones
Fuera de lmites
De Pre-control
Verifique
2a. Unidad
Dentro de
Especificaciones
Fuera de lmites
De Pre-control
Dentro de
de lmites
De Pre-control
Dentro de
Especificaciones
Fuera de EL OTRO
lmite de Pre-control
Continuar el proceso.
Detener slo si DOS
Unidades consecutivas
Estan fuera de los
Lmites de
Pre-control
Variabilidad del
Proceso fuera de
Control.
!
A
Inicie el
proceso
Verifique
1a. Unidad
Fuera de
Especificaciones
Dentro de
Especificaciones
Fuera de lmites
De Pre-control
Verifique
2a. Unidad
Dentro de
Especificaciones
Fuera de lmites
De Pre-control
Dentro de
de lmites
De Pre-control
Dentro de
Especificaciones
Fuera de EL OTRO
lmite de Pre-control
Continuar el proceso.
Detener slo si DOS
Unidades consecutivas
Estan fuera de los
Lmites de
Pre-control
Variabilidad del
Proceso fuera de
Control.
!
A
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 205
Notas:
1. Si cinco unidades estn dentro de los lmites de Pre-control, cambie a verificacin
intermitente.
2. Cuando se encuentre en verificacin intermitente, no ajuste el proceso hasta que una unidad
exceda algn lmite de Pre-control. Examine la siguiente unidad, y proceda en A.
3. Si se reinicia el proceso, al menos cinco unidades consecutivas deben caer dentro de los
lmites de pre-control para cambiar a verificacin intermitente.
4. Si el operador toma ms de 25 muestras sin reiniciar el proceso, reduzca la frecuencia de las
verificaciones.

5.5 CARTAS DE CONTROL PARA PROCESOS DE SALIDA MLTIPLE

Se utiliza para procesos con muchas fuentes de produccin, por ejemplo diversos husillos que en
principio producen piezas similares. El usar una carta de control para cada husillo por separado
sera prohibitivo, sin embargo se tiene la alternativa de sta carta de control siempre que la
produccin entre husillos no est correlacionada.

Para establecer una carta de este tipo, se toman n partes de cada salida, hasta completar 20 o 25
subgrupos, por ejemplo si se toman muestras de n = 4 de 6 husillos repetido en 20 subgrupos, se
habrn tomado 20 x 6 = 120 medias y rangos de n = 4 observaciones. De stos se calculan la media
de medias
=
X y el
_
R , los lmites de control se calculan como en una carta de medias-rangos
convencional con n = 4, en este caso A
2
= 0.729, D
3
= 0, D
4
= 2.282:

LIC
X
=
=
X - A
2
_
R LIC
R
= D
3
_
R (5.10)
LSC
X
=
=
X + A
2
_
R LSC
R
= D
4
_
R

Con los lmites de control trazados, se grafica despus slo la mayor y la menor de las 6 lecturas
promedio considerando todas las salidas o en este caso husillos de la mquina, si se encuentran en
control, se asume que las dems estn en control. Para el rango se grafica slo el mayor de todos
los rangos. Cada punto es identificado por el nmero de husillo o salida que lo produjo. El proceso
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 206
se encuentra fuera de control si se algn punto excede los lmites de 3-sigma. No se pueden
aplicar pruebas de rachas a estas cartas.

Es til observar que si una salida da el mayor o el menor valor varias en una fila, puede ser
evidencia de que es diferente a los otros. Si el proceso tiene s salidas y si r es el nmero de veces
consecutivas que se repite como el mayor o el menor, el ARL para este evento es:


1
1
0

=
s
s
ARL
r
(5.11)

Para el caso de que s = 6 y r = 4, el ARL ser de 259, es decir que si el proceso est en control, se
esperar que una salida repita un valor extremo 4 veces en la carta una vez de cada 259 muestras.
Si esto sucede con ms frecuencia se debe sospechar que la salida es diferente a las dems.
Algunos de los pares adecuados de (s,r) son (3,7), (4,6), (5-6,5), 7-10,4), todas las combinaciones
dan ARLo adecuados.

5.6 CARTAS DE CONTROL Cusum

Las cartas de control de Shewart utilizan slo informacin acerca del proceso con los ltimos datos
del subgrupo, e ignoran la informacin de la secuencia completa de puntos, esto hace que estas
cartas de control sean insensibles a pequeos corrimientos de la media del proceso, de 1.5o o
menos. Los lmites preventivos y criterios mltiples de prueba de corridas o tendencias toman en
cuenta otros puntos de la carta, sin embargo esto reduce la simplicidad de interpretacin de la
carta as como reducir el ARL en control lo cual es indeseable.

Cuando se trata de identificar pequeas variaciones o corridas en la media, se pueden utilizar
como alternativa, las cartas de sumas acumuladas (cusum), y promedio mvil exponencialmente
ponderado (EWMA).

Cusum normal
Para pequeos corrimientos menores a 1.5o, la carta de Shewart es ineficiente, en esos casos la
carta de sumas acumuladas de Page, que funciona con n >=1 es mejor, ya que incorpora toda la
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 207
informacin anterior en el valor de la muestra al graficar la suma acumulada de las desviaciones
con referencia a un valor objetivo
0
. Si se colectan muestras de tamao n >= 1 siendo j x el valor
promedio de la muestra j-sima. La carta de sumas acumuladas se forma graficando para cada
muestra i la cantidad siguiente que representa la suma acumulada hasta la muestra i,

=
=
i
j
j
i
x C
1
0
) ( (5.12)

Como esta carta es eficiente para n=1, es una buena alternativa para el control de procesos
qumicos y el C.E.P. automatizado. Si la media tiene un corrimiento hacia arriba, la carta mostrar
una tendencia ascendente y viceversa.

La carta Cusum no tiene lmites de control, sin embargo tiene un mecanismo similar ya sea en
forma tabular o por medio de una mascara en V, como la mostrada en el ejemplo de las pginas
siguientes.

Ejemplo
Suponiendo que la Posicin de una parte (A) se mueve hacia arriba y hacia abajo una cierta
distancia de la posicin ideal de referencia (B). AtoBDist es esta distancia. Para asegurar la calidad,
se toman 5 mediciones al da durante el primer periodo de tiempo y despus 10 al da en un
siguiente periodo de tiempo.

AtoBDist
-0.44025 4.52023 4.75466 4.90024 3.81341 -1.15453 5.03945
5.90038 3.95372 1.1424 1.28079 -3.78952 2.29868 1.96583
2.08965 7.99326 0.9379 2.87917 -3.81635 5.15847 -0.21026
0.09998 4.98677 -7.30286 1.83867 -4.8882 0.08558 0.27517
2.01594 -2.03427 -5.22516 -0.75614 -3.24534 -3.09574 -5.32797
4.83012 3.89134 -4.06527 3.72977 -0.27272 5.16744
3.78732 1.99825 -1.91314 3.77141 -4.33095 0.29748
4.99821 0.01028 2.0459 -4.04994 -1.83547 -4.66858
6.91169 -0.24542 4.93029 3.89824 -3.98876 -2.13787
1.93847 2.08175 0.03095 1.76868 -4.97431 -0.0045
-3.09907 -4.86937 -2.80363 2.2731 -5.1405 0.18096
-3.18827 -2.69206 -3.12681 -3.82297 -0.10379 4.30247
5.28978 -3.02947 -4.57793 -2.26821 2.21033 -2.21708
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0.56182 2.99932 -3.17924 -2.07973 5.13041 7.17603
-3.1896 3.50123 -2.44537 0.01739 -1.89455 5.86525
7.93177 -1.99506 1.36225 3.71309 0.95119 0.95699
3.72692 -1.62939 0.92825 1.72573 -5.15414 -4.03441
3.83152 2.14395 -0.24151 3.07264 4.82794 -2.05086
-2.17454 -1.90688 -0.83762 0.15676 0.13001 -3.10319
2.81598 8.02322 -1.99674 -0.05666 -0.09911 -1.83001

Al llevar una carta X R en el subgrupo no se encontr una causa asignable, ahora se desea tratar
de detectar corridas pequeas en la media.

Corrida en Minitab
1. File > Open Worksheet > Data > CRANKSH.MTW.
2. Stat > Control Charts > Time weighted charts > CUSUM.
In Single column, seleccionar AtoBDist. In Subgroup size, poner 5.
3. OK.


Figura 5.10 Carta de control X media R
Se puede observar que no detecta ninguna situacin anormal
25 20 15 10 5 Subgroup 0
5
0
-5
S
a
m
p
l
e

M
e
a
n
Mean=0.4417
UCL=4.802
LCL=-3.918
15
10
5
0
S
a
m
p
l
e

R
a
n
g
e
R=7.559
UCL=15.98
LCL=0
Xbar/R Chart for AtoBDist
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 209

Figura 5.11 Carta de control Cusum

Se puede observar que detecta una situacin anormal debido a un corrimiento lento de la media
del proceso.

Otro ejemplo de Carta Cusum:
Considerar los datos siguientes con = 10 a 11 y una o = 1:
Muestra Xi Xi - 10
Ci = (Xi-10) +
Ci-1
Media = 10 1 9.45 -0.55 -0.55
Sigma = 1 2 7.99 -2.01 -2.56
3 9.29 -0.71 -3.27
4 11.66 1.66 -1.61
5 12.16 2.16 0.55
6 10.18 0.18 0.73
7 8.04 -1.96 -1.23
8 11.46 1.46 0.23
9 9.2 -0.8 -0.57
10 10.34 0.34 -0.23
11 9.03 -0.97 -1.2
12 11.47 1.47 0.27
13 10.51 0.51 0.78
14 9.4 -0.6 0.18
15 10.08 0.08 0.26
16 9.37 -0.63 -0.37
17 10.62 0.62 0.25
18 10.31 0.31 0.56
10
5
0
-5
5.67809
-5.67809
25 20 15 10 5 0
Subgroup Number
C
u
m
u
l
a
t
i
v
e

S
u
m
Upper CUSUM
Lower CUSUM
CUSUM Chart for AtoBDist
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 210
19 8.52 -1.48 -0.92
20 10.84 0.84 -0.08
Media = 11 21 10.9 0.9 0.82
Sigma = 1 22 9.33 -0.67 0.15
23 12.29 2.29 2.44
24 11.5 1.5 3.94
25 10.6 0.6 4.54
26 11.08 1.08 5.62
27 10.38 0.38 6
28 11.62 1.62 7.62
29 11.31 1.31 8.93
30 10.52 0.52 9.45


Figura 5.12 Carta I-MR casi en control estadstico

Figura 5.13 Carta Cusum muestra un corrimiento lento de la media del proceso
Con parmetros Media objetivo (Target) =10, S = 1

Observation
I
n
d
i
v
i
d
u
a
l

V
a
l
u
e
30 27 24 21 18 15 12 9 6 3
12
10
8
_
X=10
UCL=13
LCL=7
Observation
M
o
v
i
n
g

R
a
n
g
e
30 27 24 21 18 15 12 9 6 3
4
3
2
1
0
__
MR=1.128
UCL=3.686
LCL=0
I-MR Chart of Xi_1
28 25 22 19 16 13 10 7 4 1
5.0
2.5
0.0
-2.5
-5.0
Sample
C
u
m
u
l
a
t
i
v
e

S
u
m
0
UCL=4
LCL=-4
CUSUM Chart of Xi
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 211
Cusum en forma tabular

La carta tabular Cusum trabaja con derivaciones acumuladas de
0
sobre el objetivo con un
estadstico C
+
o debajo de este con un estadistico C
-
, tambin llamados Cusums de lado superior o
inferior respectivamente. Se calculan como sigue:

| |
+

+
+ + =
1 0
) ( , 0
i i i
C K x max C (5.13)
| |

+ =
1 0
) ( , 0
i i i
C x K max C (5.14)

donde los valores iniciales para C
+
y C
-
son cero.

En las ecuaciones anteriores K es el valor de referencia y se selecciona como un valor intermedio
entre la
0
objetivo y la
1
fuera de control en la que estamos interesados en detectar.

As, si el corrimiento se expresa en unidades de desviacin estndar
1
=
0
+ oo, entonces K es la
mitad de la magnitud del corrimiento:

K = oo / 2 = Valor absoluto de (
1
-
0
) / 2 (5.15)

Cuando cualquier estadstico C
+
y C
-
excede el intervalo de decisin H, se considera al proceso
fuera de control. Un valor razonable para H es cinco veces el valor de o.

Ejemplo: si
0
= 10, n=1, o = 1, y asumiendo que se quiere detectar un corrimiento de 1o = 1, para
lo cual se utiliza H = 5 sigmas, se tiene:

1
= 10 + 1 = 11
K = o = 1/2
H = 5o = 5
| |
+

+
+ =
1
5 . 10 , 0
i i i
C x max C
| |

+ =
1
5 . 9 , 0
i i i
C x max C

Para el caso de i=1, con x
i
= 9.5 se tiene:
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 212
| | 0 0 5 . 10 45 . 9 , 0
1
= + =
+
max C
| | 05 . 0 0 45 . 9 5 . 9 , 0
1
= + =

max C

Para el caso de i=2, con x
i
= 7.99 se tiene:
| | 0 0 5 . 10 99 . 7 , 0
1
= + =
+
max C
| | 56 . 1 05 . 0 99 . 7 5 . 9 , 0
1
= + =

max C

Si N
+
y N
-
indican los periodos en que las sumas no han sido cero, se obtiene la tabla de
siguiente:
a b
Muestra Xi xi - 10.5 Ci+ N+ 9.5 - xi Ci- N
1 9.45 -1.05 0.00 0 0.05 0.05 1
2 7.99 -2.51 0.00 0 1.51 1.56 2
3 9.29 -1.21 0.00 0 0.21 1.77 3
4 11.66 1.16 1.16 1 -2.16 0.00 0
5 12.16 1.66 2.82 2 -2.66 0.00 0
6 10.18 -0.32 2.50 3 -0.68 0.00 0
7 8.04 -2.46 0.04 4 1.46 1.46 1
8 11.46 0.96 1.00 5 -1.96 0.00 0
9 9.20 -1.30 0.00 0 0.30 0.30 1
10 10.34 -0.16 0.00 0 -0.84 0.00 0
11 9.03 -1.47 0.00 0 0.47 0.47 1
12 11.47 0.97 0.97 1 -1.97 0.00 0
13 10.51 0.01 0.98 2 -1.01 0.00 0
14 9.40 -1.10 0.00 0 0.10 0.10 1
15 10.08 -0.42 0.00 0 -0.58 0.00 0
16 9.37 -1.13 0.00 0 0.13 0.13 1
17 10.62 0.12 0.12 1 -1.12 0.00 0
18 10.31 -0.19 0.00 0 -0.81 0.00 0
19 8.52 -1.98 0.00 0 0.98 0.98 1
20 10.84 0.34 0.34 1 -1.34 0.00 0
21 10.90 0.40 0.74 2 -1.40 0.00 0
22 9.33 -1.17 0.00 0 0.17 0.17 1
23 12.29 1.79 1.79 1 -2.79 0.00 0
24 11.50 1.00 2.79 2 -2.00 0.00 0
25 10.60 0.10 2.89 3 -1.10 0.00 0
26 11.08 0.58 3.47 4 -1.58 0.00 0
27 10.38 -0.12 3.35 5 -0.88 0.00 0
28 11.62 1.12 4.47 6 -2.12 0.00 0
29 11.31 0.81 5.28 7 -1.81 0.00 0
30 10.52 0.02 5.30 8 -1.02 0.00 0
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 213

Corrida en Minitab
1. File > Open Worksheet > Data > CRANKSH.MTW.
2. Stat > Control Charts > Time weighted charts > CUSUM.
In Single column, seleccionar Xi. In Subgroup size, poner 1 Target 10.
3. Cusum Options: Standar deviation 1 Plan Type h 5 k 0.5 OK.


Figura 5.14 Carta Cusum en Excel para el ejemplo

Figura 5.15 Carta Cusum en Minitab para el ejemplo

De la tabla de Cusum Tabular se observa que en el periodo 29 su C
29
+
fue de 5.28, lo que sugiere
una situacin fuera de control, usando el contador N
+
cuyo valor es 7, indica que el ltimo punto
en control fue el 29 7 = 22, de tal forma que el corrimiento ocurri entre el periodo 22 y 23.
0.00
1.00
2.00
3.00
4.00
5.00
6.00
1 3 5 7 9 11 13 15 17 19 21 23 25 27 29
Ci+
Ci-
Sample
C
u
m
u
l
a
t
i
v
e

S
u
m
30 27 24 21 18 15 12 9 6 3
5.0
2.5
0.0
-2.5
-5.0
0
UCL=5
LCL=-5
CUSUM Chart of Xi_1
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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Tambin se puede obtener una presentacin grfica de esta carta, denominada Carta de Estatus
de Cusum, graficando C
i
+
y C
i
-
contra el nmero de muestra. Esto da una idea grfica al operador
del desempeo del proceso.

En forma similar a las cartas Cusum, se debe detener el proceso, identificar la causa asignable o
especial, tomar accin correctiva e iniciar de nuevo la Cusum Tabular.

Cuando el proceso se corre, la nueva media puede estimarse de:


+
+
+ + =
N
C
K
i
0

, si H C
i
>
+
(5.16)

=
N
C
K
i
0
, si H C
i
>

(5.17)

En el ejemplo, en el periodo 29 con C
+
29
= 5.28, la nueva media del proceso es,
25 . 11
7
28 . 5
5 . 0 10 = + + =
Esto es importante saberlo, por si el proceso tiene alguna forma de ajuste.

Cuando se utiliza un tamao de subgrupo mayor a 1, en las frmulas anteriores se debe remplazar
a x
i
por
i
x y o por la o
x
=
n
o
, aunque se recomienda usar un tamao de muestra 1 con
frecuencia de muestreo mayor que para el equivalente de Shewart.

La carta Cusum tabular tambin se puede utilizar para un solo lado con C
+
o C
-
.

EL PROCEDIMIENTO DE LA MASCARILLA EN V

Un procedimiento alterno al uso del mtodo tabular Cusum, es la mascarilla en V propuesta por
Barnard (1959), esta mascarilla es aplicada a valores sucesivos del estadstico,
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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1
1

=
+ = =
i i
i
j
j i
C y y C (5.18)

donde y
i
= (x
i
-
0
) / o observacin estandarizada. Una mascarilla en V se muestra a continuacin:

C
i


u O d P


2A
1A

1 2 3 4 5 ............................................. i

Figura 5.16 Carta de control Cusum con mascarilla en V

El procedimiento consiste en colocar la mascarilla en V sobre la carta Cusum, con el punto O sobre
el ltimo valor de C
i
y la lnea OP paralela al eje horizontal. Si todos los puntos anteriores C
1
,
C
2
,....,C
j
se encuentran dentro de los dos brazos de la mascarilla, el proceso est en control, sin
embargo si cualquier punto de las sumas acumuladas se encuentra fuera de los brazos de la
mascarilla, se considera al proceso fuera de control.

En la prctica, la mascarilla en V se debe colocar a cada punto tan pronto como es graficado, los
brazos de la mascarilla se asumen extendidos hasta el origen.

La operacin de la mascarilla en V est determinada por la distancia
al vrtice d y el ngulo u.

La Cusum Tabular es equivalente a la mascarilla en V si,

CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 216
k = A tan (u) (5.19)
y
h = A d tan (u) = d.k (5.20)

Donde A es la distancia horizontal en la mascarilla en V, entre puntos sucesivos en trminos de
unidades de distancia de la escala vertical.

Ejemplo 5.6 Para la forma tabular con k = y h = 5, seleccionando A =1 se tiene

k = A tan (u) => = (1) tan (u)
o u = 26.57
de h = d.k => 5 = d (1/2)
o d =10

Estos son los parmetros de la mascarilla en V.


Figura 5.17 Ejemplo de carta de control Cusum con mascarilla en V para AtoBDist

Corrida en Minitab con los datos de la Cusum Tabular:

Stat > Control Charts > Time weighted charts > CUSUM.
Sample
C
u
m
u
l
a
t
i
v
e

S
u
m
24 22 20 18 16 14 12 10 8 6 4 2
25
20
15
10
5
0 Target=0
Vmask Chart of AtoBDist
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 217
In Single column, seleccionar Xi. In Subgroup size, poner 1 Target 10.
Cusum Options: Standar deviation 1
Plan Type Seleccionar Two sided (V Mask) h 4 k 0.5
OK.


Figura 5.18 Ejemplo de carta de control Cusum con mascarilla en V para Xi

Johnson y Leone han sugerido un mtodo para disear una mascarilla en V, con las frmulas
siguientes:

|
.
|

\
|
=

A
tan
2
1
o
u (5.21)
y
|
.
|

\
|
|
.
|

\
|
=
o
|
o
1
ln
2
2
d (5.22)

Donde 2o es la mxima probabilidad de una falsa alarma cuando el proceso est en control y | es
la probabilidad de no detectar un corrimiento de magnitud o.

28 25 22 19 16 13 10 7 4 1
30
20
10
0
-10
Sample
C
u
m
u
l
a
t
i
v
e

S
u
m
Target=0
Vmask Chart of Xi
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 218
d ~
o
o) ln(
cuando | es muy pequeo.

Ejemplo 5.7 si o = 0.05 y | = 0.05 y o = 1, se obtiene la mascara en V siguiente:


|
.
|

\
|
|
.
|

\
|
=
05 . 0
05 . 0 1
ln
1
2
2
d
= 5.888

56 . 26
2
1
1
= |
.
|

\
|
=

tan u


No se recomienda el uso de la mascarilla en V ya que tiene algunas desventajas como son:

1. Es un esquema de doble lado, no apta para control de un solo lado.
2. Es difcil determinar que tanto extender los brazos de la mascarilla en V, dificultando la
interpretacin del proceso.
3. Existe ambigedad asociada con alfa y beta.


CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 219
5.7 CARTA DE CONTROL DE MEDIAS MOVILES EXPONENCIALMENTE
PONDERADAS (EWMA)

El desempeo de esta carta, es equivalente al de sumas acumuladas, con n=1.

Su estadstico se define como sigue:


1
) 1 (

+ =
i i i
z x z (5.23)

donde 0<<=1 es una constante y su valor inicial es el valor objetivo del proceso, de tal forma
que:

0 0
= z a veces igual a x

Si las observaciones x
i
son variables aleatorias independientes con varianza o
2
, entonces la
varianza de z
i
es:

| |
i
zi
2 2
) 1 ( 1
2

o o |
.
|

\
|

= (5.24)

Por tanto los lmites de control de z
i
versus el nmero de muestra o tiempo i, son:


| |
i
L LSC
2
0
) 1 ( 1
2

o |
.
|

\
|

+ = (5.25)
0
= LC (5.26)
| |
i
L LIC
2
0
) 1 ( 1
2

o |
.
|

\
|

= (5.27)

Note que el trmino [1 (1-)
2i
] se aproxima a la unidad conforme i se incrementa, esto significa
que cuando la carta EWMA ha corrido durante varios periodos de tiempo, los lmites de control se
estabilizan en:
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 220

+ =
2
0
L LSC (5.28)

0
= LC (5.29)

+ =
2
0
L LSC (5.30)

Ejemplo Utilizando los datos de la carta Cusum con = 0.10, L = 2.7,
0
= 0 y o= 3.5, se tiene la
carta EWMA mostrada en la pgina siguiente.

Para x
1
= 9.45, calculando z
1
= 9.945; LSC = 10.27 y LIC = 9.73 con la frmulas anteriores.

Para x
2
= 7.99, calculando z
2
= 9.7495; LSC = 10.36 y LIC = 9.64, conforme se incrementa i los lmites
se estabilizan en LSC = 10.62 LIC = 9.38.

La carta EWMA tiene un ARL
0
~ 500 y una ARL
1
~ 14.3 equivalente a la Cusum con h=5 y k=1/2.
Esta carta no reacciona a cambios grandes de la media tan rpido como la hace la carta de
Shewart, este mismo comportamiento lo tienen tiene la carta Cususm.

Corrida en Minitab:
1. File > Open Worksheet > Data > CRANKSH.MTW.
2. Stat > Control Charts > Time weighted charts > EWMA
3. In Single column, seleccionar AtoBDist. In Subgroup size, poner 5.
4. Weight of EWMA 0.1
5. EWMA Options > Parameters Mean 0.0 Standar Deviation 3.5
S Limits These multiples of the estndar deviation 2.7
6. OK.
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 221


Figura 5.19 Ejemplo de carta de control EWMA

Otro ejemplo de carta EWMA:
Con los datos del ejemplo anterior, considerando una Lamda de 0.1, L = 2.7, 0=10, y la
desviacin estndar o = 1, a continuacin se muestran los clculos de la carta EWMA:

Muestra Xi EWMA, Zi
1 9.45 9.945
2 7.99 9.7495
3 9.29 9.7036
4 11.66 9.8992
5 12.16 10.1253
6 10.18 10.1307
7 8.04 9.9217
8 11.46 10.0755
9 9.20 9.9880
10 10.34 10.0232
11 9.03 9.9238
12 11.47 10.0785
13 10.51 10.1216
14 9.40 10.0495
15 10.08 10.0525
16 9.37 9.9843
17 10.62 10.0478
18 10.31 10.0740
25 23 21 19 17 15 13 11 9 7 5 3 1
1.0
0.5
0.0
-0.5
-1.0
Sample
E
W
M
A
_
_
X=0
+2.7SL=0.967
-2.7SL=-0.967
EWMA Chart of AtoBDist
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 222
19 8.52 9.9186
20 10.84 10.0108
21 10.90 10.0997
22 9.33 10.0227
23 12.29 10.2495
24 11.50 10.3745
25 10.60 10.3971
26 11.08 10.4654
27 10.38 10.4568
28 11.62 10.5731
29 11.31 10.6468
30 10.52 10.6341

Los lmites de control son los siguientes:

Muestra Xi EWMA, Zi LSC LIC
1 9.45 9.945 10.2700 9.7300
2 7.99 9.7495 10.3632 9.6368
3 9.29 9.7036 10.4240 9.5760
4 11.66 9.8992 10.4675 9.5325
5 12.16 10.1253 10.4999 9.5001
6 10.18 10.1307 10.5247 9.4753
7 8.04 9.9217 10.5440 9.4560
8 11.46 10.0755 10.5591 9.4409
9 9.20 9.9880 10.5710 9.4290
10 10.34 10.0232 10.5805 9.4195
11 9.03 9.9238 10.5881 9.4119
12 11.47 10.0785 10.5942 9.4058
13 10.51 10.1216 10.5991 9.4009
14 9.40 10.0495 10.6030 9.3970
15 10.08 10.0525 10.6062 9.3938
16 9.37 9.9843 10.6087 9.3913
17 10.62 10.0478 10.6107 9.3893
18 10.31 10.0740 10.6124 9.3876
19 8.52 9.9186 10.6137 9.3863
20 10.84 10.0108 10.6148 9.3852
21 10.90 10.0997 10.6157 9.3843
22 9.33 10.0227 10.6164 9.3836
23 12.29 10.2495 10.6170 9.3830
24 11.50 10.3745 10.6174 9.3826
25 10.60 10.3971 10.6178 9.3822
26 11.08 10.4654 10.6181 9.3819
27 10.38 10.4568 10.6184 9.3816
28 11.62 10.5731 10.6186 9.3814
29 11.31 10.6468 10.6187 9.3813
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 223
30 10.52 10.6341 10.6189 9.3811


Figura 5.20 Carta EWMA graficada en Excel
La carta con Minitab es:
1. Stat > Control Charts > Time weighted charts > EWMA
2. In Single column, seleccionar Xi. In Subgroup size, poner 1.
3. Weight of EWMA 0.1
4. EWMA Options > Parameters Mean 10.0 Standar Deviation 1
S Limits These multiples of the estndar deviation 2.7
6. OK.


Figura 5.21 Carta EWMA graficada en Excel
8.6
8.8
9
9.2
9.4
9.6
9.8
10
10.2
10.4
10.6
10.8
1 3 5 7 9 11 13 15 17 19 21 23 25 27 29
EWMA, Zi
LSC
LIC
Sample
E
W
M
A
30 27 24 21 18 15 12 9 6 3
10.75
10.50
10.25
10.00
9.75
9.50
_
_
X=10
+2.7SL=10.619
-2.7SL=9.381
EWMA Chart of Xi_1
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 224
5.8 CARTA DE CONTROL DE MEDIA MOVIL

Utilizada como un intermedio entre la carta de Shewart y la EWMA para detectar pequeas
corridas de la media. Asumiendo que se define un rango de observaciones w en el tiempo i, su
media mvil es:
w
x x x
M
w i i i
i
1 1
.....
+
+ + +
= (5.31)
Los lmites de control son:

w
LSC
o

3
0
+ = (5.32)

0
= LC (5.33)
w
LIC
o

3
0
= (5.34)
Por ejemplo usando los datos anteriores con w = 5. Graficando el estadstico M
i
para
periodos i > 5.
5
....
4 1
+ +
=
i i i
i
x x x
M (5.35)
Para periodos i<5 se grafica el promedio de las observaciones para los periodos 1, 2, 3, ...i.
Ejemplo 5.9 Los lmites de control son con
0
=10 y o=1, se tiene:
LSC = 10 + 3 (1.0) / 5
1/2
= 11.34
LSC = 10 - 3 (1.0) / 5
1/2
= 8.66

Ejemplo La carta de media mvil para los datos del ejemplo anterior con un tamao de corrida de
5 es la siguiente:

Corrida en Minitab:
1. File > Open Worksheet > Data > CRANKSH.MTW.
2. Stat > Control Charts > Time Weighted charts > Moving Average
3. In Single column, seleccionar AtoBDist. In Subgroup size, poner 5.
4. Lenght of MA 5
5. OK.

CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 225

Figura 5.22 Ejemplo de carta de control de Media mvil

Otro ejemplo de carta de media mvil:
Se quiere monitorear el peso en libras de 45 lotes de arena embarcados semanalmente a un
cliente. Cada lote pesa aproximadamente 930 libras. Comparar el monitoreo con una carta I-MR y
una carta de promedio mvil.

Los datos son los siguientes:
Weight
905 875
930 985
865 970
895 940
905 975
885 1000
890 1035
930 1020
915 985
910 960
920 945
915 965
925 940
860 900
905 920
25 20 15 10 5 0
5
4
3
2
1
0
-1
-2
-3
-4
-5
Sample Number
M
o
v
i
n
g

A
v
e
r
a
g
e
Moving Average Chart for AtoBDist
Mean=0.4417
UCL=2.346
LCL=-1.463
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 226
925 980
925 950
905 955
915 970
930 970
890 1035
940 1040
860

Instrucciones de Minitab
1. Open worksheet EXH_QC.MTW.
2. Seleccionar Stat > Control Charts > Time-weighted charts > Moving Average.
3. Seleccionar All observations for a chart are in one column, poner Weight.
4. En Subgroup sizes, poner 1. Click OK.
La carta de promedio mvil es:


Figura 5.23 Carta de media mvil del ejemplo
La carta I-MR es la siguiente:

Sample
M
o
v
i
n
g

A
v
e
r
a
g
e
44 40 36 32 28 24 20 16 12 8 4
1025
1000
975
950
925
900
875
850
_
_
X=936.9
UCL=979.6
LCL=894.1
Moving Average Chart of Weight
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 227

Figura 5.25 Carta I-MR del ejemplo
Se observa una mejor deteccin de corrida de la media en la carta EWMA

Ejemplo de media mvil:

Usando los datos siguientes con M = 5, con desviacin estndar = 1 y media = 10:

Muestra Xi Mi LSC LIC
1 9.45 9.450 13.0000 7.0000
2 7.99 8.720 12.1213 7.8787
3 9.29 8.910 11.7321 8.2679
4 11.66 9.598 11.5000 8.5000
5 12.16 10.110 11.3416 8.6584
6 10.18 10.256 11.3416 8.6584
7 8.04 10.266 11.3416 8.6584
8 11.46 10.700 11.3416 8.6584
9 9.20 10.208 11.3416 8.6584
10 10.34 9.844 11.3416 8.6584
11 9.03 9.614 11.3416 8.6584
12 11.47 10.300 11.3416 8.6584
13 10.51 10.110 11.3416 8.6584
14 9.40 10.150 11.3416 8.6584
15 10.08 10.098 11.3416 8.6584
16 9.37 10.166 11.3416 8.6584
17 10.62 9.996 11.3416 8.6584
18 10.31 9.956 11.3416 8.6584
Observation
I
n
d
i
v
i
d
u
a
l

V
a
l
u
e
44 40 36 32 28 24 20 16 12 8 4
1050
1000
950
900
850
_
X=936.9
UCL=1010.9
LCL=862.8
Observation
M
o
v
i
n
g

R
a
n
g
e
44 40 36 32 28 24 20 16 12 8 4
100
75
50
25
0
__
MR=27.8
UCL=91.0
LCL=0
1
1
1
1
1 1
1
I-MR Chart of Weight
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 228
19 8.52 9.780 11.3416 8.6584
20 10.84 9.932 11.3416 8.6584
21 10.90 10.238 11.3416 8.6584
22 9.33 9.980 11.3416 8.6584
23 12.29 10.376 11.3416 8.6584
24 11.50 10.972 11.3416 8.6584
25 10.60 10.924 11.3416 8.6584
26 11.08 10.960 11.3416 8.6584
27 10.38 11.170 11.3416 8.6584
28 11.62 11.036 11.3416 8.6584
29 11.31 10.998 11.3416 8.6584
30 10.52 10.982 11.3416 8.6584


Figura 5.26 Carta de media mvil en Excel


6.00
7.00
8.00
9.00
10.00
11.00
12.00
13.00
14.00
1 3 5 7 9 11 13 15 17 19 21 23 25 27 29
Xi
Mi
LSC
LIC
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 229
6. ANLISIS DE CAPACIDAD DEL PROCESO

6.1 INTRODUCCIN

Las tcnicas estadsticas ayudan durante el ciclo del producto a reducir la variabilidad y a mejorar
la capacidad de los procesos.




Definiciones bsicas.
- Proceso: ste se refiere a alguna combinacin nica de mquinas, herramientas, mtodos,
materiales y personas involucradas en la produccin.
- Capacidad o habilidad: Esta palabra se usa en el sentido de aptitud, basada en el
desempeo probado, para lograr resultados que se puedan medir.
- Capacidad del proceso: Es la aptitud del proceso para producir productos dentro de los
lmites de especificaciones de calidad.
Nigels Trucking Co.
Teora del camin y el tnel
El tnel tiene 9' de ancho (especificacin). El camin tiene 10 y el chofer es perfecto
(variacin del proceso). Pasara el camin? NO, la variabilidad del proceso es mayor
que la especificacin.
Centrar es hacer que el promedio del proceso sea igual al centro de la
especificacin. Si el camin tiene 8 pies de ancho pasar el camin?, Si. Si
el chofer puede mantener el centro del camin en el centro del tnel. De otra forma
chocar con las paredes del tnel y no pasar a pesar de ser ms angosto.
Ancho 9
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 230
- Capacidad medida: Esto se refiere al hecho de que la capacidad del proceso se cuantifica a
partir de datos que, a su vez, son el resultado de la medicin del trabajo realizado por el
proceso.
- Capacidad inherente: Se refiere a la uniformidad del producto que resulta de un proceso
que se encuentra en estado de control estadstico, es decir, en ausencia de causas
especiales o atribuibles de variacin.
- Variabilidad natural: Los productos fabricados nunca son idnticos sino que presentan
cierta variabilidad, cuando el proceso est bajo control, solo actan las causas comunes de
variacin en las caractersticas de calidad.
- Valor Nominal: Las caractersticas de calidad tienen un valor ideal ptimo que es el que
desearamos que tuvieran todas las unidades fabricadas pero que no se obtiene, aunque
todo funcione correctamente, debido a la existencia de la variabilidad natural.

La aplicacin del anlisis de capacidad de los procesos tiene los objetivos siguientes:

1. Predecir que tanto cumplir las tolerancias especificadas el proceso.
2. Apoyar a los diseadores en la seleccin o modificacin de un proceso.
3. Soportar la determinacin de intervalos de muestreo para monitoreo del proceso.
4. Determinar el desempeo de un equipo nuevo.
5. Planear la secuencia de procesos productivos cuando hay un efecto interactivo de procesos o
tolerancias.
6. Seleccionar de entre diversos proveedores.
7. Reducir la variabilidad de un proceso de manufactura.

La capacidad de los procesos para cumplir especificaciones se refiere a la uniformidad de los
procesos medida como la variabilidad del producto, hay dos formas de pensar en esta variabilidad:
1. La variabilidad natural en un cierto tiempo (variabilidad instantnea).
2. La variabilidad en el tiempo.

Es usual tomar 6-sigma de la poblacin o como la dispersin en la distribucin de la caracterstica
de calidad del producto como medida de la capacidad del proceso.

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Pgina 231
Los lmites de tolerancia natural del proceso, superior (LTNS) e inferior (LTNI) , se encuentran en
3 o, o sea:
LTNS = + 3 o (6.1)
LTNI = - 3 o

Para un proceso normal, los lmites de tolerancia naturales incluyen 99.73% de la variable, slo el
0.27% (2700 ppm) de la salida del proceso se encontrar fuera de estos limites de tolerancia
naturales. Sin embargo, si el proceso no es normal, el porcentaje puede diferir grandemente. Esto
se esquematiza en la figura siguiente:






.00135 LTNI LTNS .00135

Fig. 6.1 Localizacin de los lmites de tolerancia natural

Existen diversas tcnicas para evaluar la capacidad del proceso, entre las que se encuentran:
Histogramas o papel de probabilidad, cartas de control y experimentos diseados.







Fig. 6.2 Fraccin defectiva fuera de especificaciones

p = porcentaje de medidas bajo la curva de probabilidad fuera de especificaciones.
En el rea sombrada observamos medidas fuera de los lmites de especificacin.
_
X
xi
s
Z
LIE
LSE
p
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Pgina 232





Para solucionar este problema, podemos reducir la desviacin estndar.




Tambin podramos cambiar la media.



Lo ideal sera, por supuesto cambiar ambas.



Figura 6.3 Algunas alternativas para mejorar la capacidad

Condiciones para realizar un estudio de capacidad del proceso

Para realizar un estudio de capacidad es necesario que se cumplan los siguientes supuestos
32
:

- El proceso se encuentre bajo control estadstico, es decir sin la influencia de fuerzas externas o
cambios repentinos. Si el proceso est fuera de control la media y/o la desviacin estndar del
proceso no son estables y, en consecuencia, su variabilidad ser mayor que la natural y la
capacidad potencial estar infravalorada, en este caso no es conveniente hacer un estudio de
capacidad.

32
J.M. Juran, Anlisis y planeacin de la Calidad, Tercera Edicin Mc. Graw Hill, Pp.404

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Pgina 233
- Se recolectan suficientes datos durante el estudio de habilidad para minimizar el error de
muestreo para los ndices de habilidad. Si los datos se componen de menos de 100 valores,
entonces deben calcularse los lmites de confianza inferiores.
- Los datos se recolectan durante un periodo suficientemente largo para asegurar que las
condiciones del proceso presentes durante el estudio sean representativos de las condiciones
actuales y futuras.
- El parmetro analizado en el estudio sigue una distribucin de probabilidad normal, de otra
manera, los porcentajes de los productos asociados con los ndices de capacidad son
incorrectos.

Tambin es importante al realizar un estudio de capacidad, asegurarnos que la variacin en el
sistema de medicin no sea mayor al 10%.

Variacin a corto plazo y a largo plazo
Existen dos maneras de expresar la variabilidad:

Variacin a corto plazo (Zst) Los datos son recogidos durante un periodo de tiempo
suficientemente corto para que sea improbable que haya cambios y otras causas especiales.

Las familias de variacin han sido restringidas de tal manera que los datos considerados, slo son
los que se obtuvieron del subgrupo racional. Ayuda a determinar subgrupos racionales
importantes.




Figura 6.4 Variabilidad a corto plazo

Variacin a Largo Plazo(Zlt) Los datos son recogidos durante un periodo de tiempo
suficientemente largo y en condiciones suficientemente diversas para que sea probable que
contenga algunos cambios de proceso y otras causas especiales. Aqu todas las familias de
variacin exhiben su contribucin en la variacin del proceso general.
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Figura 6.5 Variabilidad a largo plazo

Para el clculo de Z utilizamos las siguientes formulas:
( )
ST
st
std desv
nom especif lmite
Z
.
. .
= (6.1)
LT
LT
std desv
media especif lmite
Z
.
.
=
dnde:

Zst = variacin a corto plazo.
nom = Valor nominal u objetivo
Zlt = variacin a largo plazo.

Z shift.- A largo plazo los procesos tienen un desplazamiento natural de 1.5 desviaciones estndar.

Zlt = Zst-1.5shift

6.2 NDICES DE CAPACIDAD

ndice de capacidad potencial Cp

El ndice de capacidad potencial Cp = PCR compara la amplitud de variacin permitida por las
especificaciones entre la amplitud de variacin entre los lmites de tolerancia naturales del
proceso.

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Pgina 235

o 6
LIE LSE
PCR Cp

= = (6.2)



Ejemplo 6.1 para el caso de anillos de pistones, donde el LSE = 74.05mm y el LIE= 73.95mm y de la
carta R se estim 0099 . 0
2
= =
d
R
o por tanto se tiene:
Cp = PCR = (LSE LIE) / 6o
= (74.05 73.95) / 6 (0.0099) = 1.68

La funcin P (inverso de Cp) es el porcentaje de la banda de especificaciones usada por el proceso.

100
1
|
|
.
|

\
|
=
Cp
P (6.3)

Para el caso del ejemplo se tiene:

P = [(1/1.68)] 100 = 59.5%

Cuando slo existe un lmite de especificaciones, el ndice de capacidad potencial Cp o PCR se
define como:

o

3

= =
LSE
PCR Cps
S
para el lmite superior (6.4)

o

3
LIE
PCR Cpi
I

= = para el lmite inferior

Ejemplo 6.2 Para el caso de la resistencia de las botellas de vidrio, si el LIE = 200psi,

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67 . 0
96
64
) 32 ( 3
200 264
= =

= =
I
PCR Cp

Lo cual indica falta de habilidad, la fraccin abajo del lmite inferior es:

2
32
264 200
=

=
o
LIE
Z
I

P(x <= Z
I
) = 0.0228 o 2.28% por debajo del lmite inferior de especificaciones

Algunos de los ndices de capacidad potencial Cp y las piezas defectivas en partes por milln (ppm)
que estn fuera de especificaciones se muestran a continuacin:

Cp 1-lado 2-lados
0.25 226,628 453,255
0.5 66,807 133,614
0.6 35,931 71,861
0.7 17,865 35,729
0.8 8,198 16,395
1 1,350 2,700
1.1 484 967
1.2 159 318
1.3 48 96
1.4 14 27
1.5 4 7
1.6 1 2
1.7 0.17 0.34
2 0.0009 0.0018


Se recomienda que para procesos existentes el mnimo Cp sea de 1.33 y de 1.67 para procesos
crticos, el ideal es 2.0 para procesos nuevos como es el caso de Motorola en su programa 6-sigma.

Este ndice no toma en cuenta la localizacin relativa de la media del proceso respecto a los lmites
de especificaciones. Por lo que es necesario otro ndice adicional.

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ndice de capacidad real Cpk

Este ndice si toma en cuenta el centrado del proceso respecto a las especificaciones, en este caso
se denomina Cpk o PCRk, y se evala tomando el mnimo entre los Cps correspondientes a cada
lado de la media, como sigue,

) , (
I S
PCR PCR min PCRk Cpk = = debe ser mayor a 1
(6.5)
donde,

o

3

= =
LSE
PCR Cps
S
para el lmite superior (6.6)

o

3
LIE
PCR Cpi
I

= = para el lmite inferior

Ejemplo 6.3 Para un proceso donde los lmites de especificacin sean LSE=62, LIE=38, la media del
proceso sea =53 y su desviacin estndar o=2, se tiene:

5 . 1
32
53 62
=

= =
S
PCR Cps para el lmite superior

5 . 2
32
38 53
=

= =
I
PCR Cpi para el lmite inferior

Por tanto, el ndice de capacidad real es:
5 . 1 ) 5 . 2 , 5 . 1 ( ) , ( = = = = min PCR PCR min PCRk Cpk
I S


Note que el PCR a considerar corresponde al lmite de especificacin ms cercano a la media del
proceso. Siempre se cumple que,
Cpk <= Cp

Siendo el Cpk menor cuando el proceso no est centrado
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Pgina 238
NORMALIDAD Y CAPACIDAD DEL PROCESO

Las consideraciones anteriores se basan en la suposicin que el proceso tiene un comportamiento
normal, si no es as, puede ser necesario transformar los datos con alguna funcin matemtica
para dar la apariencia de normalidad, por ejemplo la distribucin siguiente de acabado superficial
en una parte maquinada no es normal:

Frec.
a)


Microdureza

Se puede transformar cada valor x con su inverso o sea con y=1/x de esta forma la distribucin
transformada es la siguiente (ver mtodo de Box Cox con Lamda ptima en Minitab):

Frec.


b)

Y = 1 / x

Figura 6.6 Transformacin de datos para normalizarlos

Lo cual representa una distribucin normal.

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ndice de capacidad potencial Cpm o PCRm y Cpkm o PCRkm

Dos procesos pueden tener un Cpk igual a uno, pero sin embargo no necesariamente estn
centrados respecto a la media de las especificaciones como se muestra a continuacin:





LIE LSE LIE LSE
PROCESO A: Cpk = 1 PROCESO B: Cpk =1

Figura 6.7 Procesos con Cpk = 1 pero con centrado diferente

NDICE DE CAPACIDAD Cpm
Un nuevo ndice Cpm que toma en cuenta el centrado es el siguiente:

Si ) (
2
1
LIE LSE T + = (6.7)

2 2
) ( T + = o t (6.8)

o


=
T
(6.9)
Se tiene,

2 2 2
1 ) ( 6
6
o
t
+

=
+

= =
LIE LSE
T
LIE LSE LIE LSE
PCR Cp
km m
(6.10)

Una condicin necesaria para que Cp
m
sea mayor de uno es:

) (
6
1
LIE LSE T <

Ejemplo 6.4 Para los procesos A y B ilustrados anteriormente se tiene:
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Lmites de especificacin: LIE = 38, LSE = 62, T = 50
Proceso A: Media = 50, desv. estndar = 5
Proceso B: Media = 57.7, desv. estndar = 2.5

Entonces Cp
m
(A) = 0 . 1
0 1
1
=
+

Cp
m
(B) = 63 . 0
) 3 ( 1
2
2
=
+

Por tanto es mejor el proceso A, centrado en la media.

NDICE DE CAPACIDAD Cpkm
En base a lo anterior se ha propuesto otro ndice de capacidad por Pearn (1992), que toma en
cuenta el descentrado de la media del proceso respecto de la media de especificaciones, o sea:


2
1 +
= =
Cpk
PCR Cp
pmk pmk
(6.11)
Cuando T es igual a X media del proceso, Cpkm = Cpk

Ejemplo:
De una carta de control X - R (con subgrupos de n = 5), despus de que el proceso se estabiliz
quedando slo con causas comunes, se obtuvo lo siguiente:
Xmedia de medias = 264.06 Rmedio = 77.3

Por tanto estimando los parmetros del proceso se tiene:
= X media de medias o = Rmedio / d2 =77.3 / 2.326 = 33.23
[ d2 para n = 5 tiene el valor 2.326]

Si el lmite de especificacin es: LIE = 200.
El Cpk = (200 - 264.06) / (77.3) (3) = 0.64 por tanto el proceso no cumple con las especificaciones


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Ejercicio:
De una carta de control X - R (con tamao de subgrupo n = 5), despus de que el proceso se
estabiliz quedando slo con causas comunes (LIE = 36, LSE = 46) se obtuvo lo siguiente:

Xmedia de medias = 40 Rmedio = 5

a) Determinar la desviacin estndar del proceso

b) Determinar los lmites de tolerancia natural del proceso

c) Determinar la fraccin defectiva o porcentaje fuera de especificaciones

d) Determinar el Cp

e) Determinar el Cpk

f) Determinar el Cpm

g) Determinar el Cpkm

h) Establecer conclusiones de los resultados anteriores


6.3 CAPACIDAD DEL PROCESO CON HISTOGRAMA O PAPEL DE
PROBABILIDAD NORMAL

Histograma

Para el estudio se requieren alrededor de 100 o ms observaciones para permitir que el proceso
se estabilice, deben seguirse los pasos previos siguientes:

Procedimiento:
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1. Seleccionar un proceso especfico para realizar el estudio
2. Seleccionar las condiciones de operacin del proceso
3. Seleccionar un operador entrenado
4. El sistema de medicin debe tener habilidad (error R&R < 10%)
5. Cuidadosamente recolectar la informacin
6. Construir un histograma de frecuencia con los datos
7. Calcular la media y desviacin estndar del proceso
8. Calcular la capacidad del proceso

El histograma junto con la media y la desviacin estndar de la muestra S, proporciona
informacin acerca de la capacidad del proceso.

Ejemplo 6.4 Se tiene la resistencia de botellas de vidrio de 1-litro en psi. Los datos se muestran se
muestran a continuacin.
HIST
265 346 265 221 261
205 317 254 176 248
263 242 281 248 260
307 258 294 263 274
220 276 223 231 337
268 300 260 334 250
260 208 308 280 278
234 187 235 265 254
299 264 283 272 274
215 271 277 283 275
197 280 200 265 278
286 242 235 262 250
274 260 246 271 265
243 321 328 245 270
231 228 296 301 298
267 250 276 280 257
281 299 264 274 210
265 258 269 253 280
214 267 235 287 269
318 293 290 258 251

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Figura 6.8 Resumen grfico de los datos

06 . 264 = X S = 32.02

Consecuentemente la capacidad el proceso se estima en S X 3 ~ 264 96 psi.

Esta primera estimacin de la capacidad es independiente de las especificaciones.

Papel de probabilidad normal

Es una herramienta que permite evaluar la capacidad aproximada del proceso con resultados
parecidos a los del histograma pero con un nmero menor de muestras y sin las operaciones del
histograma, a continuacin se muestra un ejemplo de esta herramienta.


330 300 270 240 210 180
Median
Mean
270 268 266 264 262 260 258
1st Quartile 248.00
Median 265.00
3rd Quartile 280.00
Maximum 346.00
257.71 270.41
260.00 271.00
28.11 37.19
A-Squared 0.75
P-Value 0.049
Mean 264.06
StDev 32.02
Variance 1025.15
Skewness -0.129448
Kurtosis 0.518454
N 100
Minimum 176.00
Anderson-Darling Normality Test
95% Confidence Interv al for Mean
95% Confidence Interv al for Median
95% Confidence Interv al for StDev
95% Confidence Intervals
Summary for HIST
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Ventajas

1. Se puede observar el comportamiento del proceso sin tomar tantos datos como en el
histograma, 10 son suficientes
2. El proceso es ms sencillo ya que no hay que dividir el rango de la variable en intervalos de clase
como en el histograma.
3. Visualmente se puede observar la normalidad de los datos, si se apegan a la lnea de ajuste
4. Permite identificar la media y la desviacin estndar aproximada del proceso. As como la
fraccin defectiva, el porcentaje de datos entre cierto rango, el Cp y el Cpk.

Procedimiento

1. Se toman al menos n = 10 datos y se ordenan en forma ascendente, asignndoles una posicin (
j ) entre 1 y n.
2. Se calcula la probabilidad de cada posicin con la frmula siguiente:
P
j
= (j - 0.5) / n
3. En el papel especial normal se grafica cada punto (X
j
, P
j
)
4. Se ajusta una lnea recta que mejor aproxime los puntos
5. Si no hay desviaciones mayores de la lnea recta, se considera normal el proceso y se procede a
hacer las identificaciones:

La media corresponde al percentil 50 y la desviacin estndar es estimada por la diferencia del
percentil 84 menos el percentil 50,

La media ser el punto en X correspondiente a P
j
= 0.5
La desviacin estndar es la diferencia en X
j
corresp. a P
j
= 0.5 y P
j
= 0.84



Ejemplo 6.5 .-Se tomaron los datos siguientes (X
j
) ordenamos los datos y, calculamos la
probabilidad de su posicin (P
j
)

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Con ayuda del grfico podemos obtener la media, la desviacin estndar y el porcentaje de valores
que se encuentran fuera de especificaciones.

















Figura 6.9 Capacidad del proceso con papel normal


El trazo normal es el siguiente:

El eje Y es un rango no lineal de probabilidades normales.
El eje X es un rango lineal de la variable que se est analizando.

Si los datos son normales, la frecuencia de ocurrencias en varios valores Xi, puede predecirse
usando una lnea slida como modelo. Por ejemplo, slo ms del 20% de los datos del proceso
seran valores de 225 o inferiores.

Pos. J Valor Xj Pj Pos. J Xj Pj
1 197 0.025 11 271 0.525
2 200 0.075 12 275 0.575
3 215 0.125 13 277 0.625
4 221 0.175 14 278 0.675
5 231 0.225 15 280 0.725
6 242 0.325 16 283 0.775
7 245 0.325 17 290 0.825
8 258 0.375 18 301 0.875
9 265 0.425 19 318 0.925
10 265 0.475 20 346 0.975
0.5
X Media
0.84
Desv. Estndar
Xj
Pj
LIE
Fraccin
Defectiva
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Ejemplo 6.6 Clculo de capacidad con papel normal en Minitab
Datos

271 197
275 200
277 215
278 221
280 231
283 242
290 245
301 258
318 265
346 265









350 300 250 200 150
99
95
90
80
70
60
50
40
30
20
10
5
1
Datos
P
e
r
c
e
n
t
Mean 262.9
StDev 38.13
N 20
AD 0.262
P-Value 0.667
Probability Plot of Datos
Normal
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De este diagrama se obtiene:
9 . 262 =
psi 1 . 35 9 . 262 298 = = o

Note que los valores no difieren mucho de los del histograma con media 264.06 y desviacin
estndar S = 32.02.

Con esta grfica se pueden estimar tambin los porcentajes de partes fuera de las
especificaciones, por ejemplo si se traza el Lmite Inferior de Especificacin LIE en 200 psi, se
observa que se tiene un 5% aproximadamente fuera de especificaciones.

Nota: Es muy importante que el proceso sea normal, de lo contrario se obtendrn resultados
inexactos. Cuando los procesos son ligeramente anormales se pueden utilizar los mtodos de
Pearson, transformar los datos por Box Cox o usar Weibull.

Capacidad del proceso con cartas de control
La carta de control es un mejor instrumento para evaluar la capacidad del proceso porque se
puede observar que el proceso est en control ya sea en forma instantnea o durante el tiempo
antes de evaluar la capacidad.

Se puede observar que cuando el proceso est en control, no existen causas asignables que
puedan ser corregidas, y la nica alternativa para reducir la variabilidad es con la intervencin de
la administracin.

En casos especiales como estos donde las variaciones presentes son totalmente inesperadas
tenemos un proceso inestable impredecible.

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Figura 6.10 Comportamiento de un proceso fuera de control


Si las variaciones presentes son iguales, se dice que se tiene un proceso estable. La distribucin
ser predecible en el tiempo.














Fig. 6.11 Comportamiento de un proceso dentro de control

Clculo de la desviacin estndar del proceso

2
d
R
= o
4
C
S
= o (Para cartas de control X-R y X-S respectivamente)
Donde,
El factor C4 = 4(n-1)/(4n 3), con esta desviacin estndar se determinan los ndices de
desempeo Pp y Ppk.
?
? ?
? ?
? ?
Prediccin
Tiempo
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S = Desviacin estndar de la poblacin
d
2
= Factor que depende del tamao del subgrupo en la carta de control X - R
C
4
= dem al anterior para una carta X - S

En una carta por individuales, d2 se toma para n = 2 y Rango Medio = Suma rangos / (n -1)

Ejemplo 6.7 (carta X - R)
De una carta de control X - R (con subgrupo n = 5) se obtuvo lo siguiente, despus de que el
proceso se estabiliz quedando slo con causas comunes: x = 64.06 , R = 77.3

Por tanto estimando los parmetros del proceso se tiene:

( ) medias de media x =


23 . 33
326 . 2
3 . 77
2
= = =
d
R
o

Si el lmite de especificacin es: LIE = 200.

El
( )
23 . 33 3
06 . 264 200

=
pk
C = 0.64 por tanto el proceso no cumple con las especificaciones.

Ejemplo 6.8 (carta X - S)
De una carta de control X - S (con subgrupo n = 5) se obtuvo lo siguiente, despus de que el
proceso se estabiliz quedando slo con causas comunes:
05 . 1 , 100 = = s x


Por tanto estimando los parmetros del proceso se tiene:

100 = = x
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4
C
s
= o = 117 . 1
094 .
05 . 1
=

C
4
para n = 5 tiene el valor 0.94

Si el lmite de especificacin es: LIE = 85 y el LSE = 105.

El
( )
492 . 1
117 . 1 3
100 105
=


=
pk
C

El
( )
984 . 2
117 . 1 6
85 105
=


=
p
C

Por lo tanto el proceso es capaz de cumplir con especificaciones.

Capacidad de procesos con Minitab: normales y no normales

Generar 100 datos aleatorios en Minitab con Media = 264.6 y Desviacin estndar S = 32.02 con

1. Calc > Random data > Normal
2. Generate 100 Store in columns C1 Mean 264.06 Estndar deviation 32.02 OK

Considerando Lmites de especificaciones LIE = 200 y LSE = 330

Nos aseguramos que los datos se distribuyan normalmente con la prueba de Ryan como sigue:

3. Stat > Basic statistics > Normalita Test
4. Variable C1 Seleccionar Ryan Joiner test OK

El P value debe ser mayor a 0.05 para que los datos se distribuyan normalmente
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Fig. 6.12 Datos normales Pvalue mayor a 0.05

Otra opcin por medio de una grfica de probabilidad normal, se tiene:

5. Graph > Probability plot > Normal
6. Graph Variable C1
7. Distribution Normal OK

Los puntos deben quedar dentro del intervalo de confianza para indicar que es normal la
distribucin.


Fig. 6.13 Datos normales Pvalue mayor a 0.05

Datos
P
e
r
c
e
n
t
350 300 250 200 150
99.9
99
95
90
80
70
60
50
40
30
20
10
5
1
0.1
Mean
>0.100
269.3
StDev 30.72
N 100
RJ 0.994
P-Value
Probability Plot of Datos
Normal
Datos
P
e
r
c
e
n
t
400 350 300 250 200 150
99.9
99
95
90
80
70
60
50
40
30
20
10
5
1
0.1
Mean
0.533
269.3
StDev 30.72
N 100
AD 0.317
P-Value
Probability Plot of Datos
Normal - 95% CI
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 252
Determinacin de la capacidad del proceso

Una vez comprobada la normalidad de los datos, determinar la capacidad con:

1. Stat > Quality tools > Capability anlisis > Normal
2. Single column C1 Subgroup size 1 Lower Spec 200 Upper spec 330
3. Estimate R-bar OK

Los resultados se muestran a continuacin:


Fig. 6.14 Capacidad del proceso

Interpretacin:

La desviacin estndar Within se determina en base al Rango medio y d2 (1.128 para n = 2), con
esta se determinan los ndices de capacidad potencial Cp y real Cpk, lo cual es adecuado para un
proceso en control o normal.

360 330 300 270 240 210
LSL USL
Process Data
SampleN 100
StDev (Within) 30.83472
StDev (Ov erall) 30.80011
LSL 200.00000
Target *
USL 330.00000
Sample Mean 269.25354
Potential (Within) Capability
CCpk 0.70
Ov erall Capability
Pp 0.70
PPL 0.75
PPU 0.66
Ppk
Cp
0.66
Cpm *
0.70
CPL 0.75
CPU 0.66
Cpk 0.66
Observ ed Performance
PPM<LSL 10000.00
PPM>USL 30000.00
PPMTotal 40000.00
Exp. Within Performance
PPM<LSL 12353.30
PPM>USL 24415.36
PPMTotal 36768.66
Exp. Ov erall Performance
PPM<LSL 12272.69
PPM>USL 24288.79
PPMTotal 36561.48
Within
Overall
Process Capability of Datos
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 253
La desviacin estndar Overall se determina con la desviacin estndar de todos los datos de la
muestra dividido entre el factor C4 = 4(n-1)/(4n 3), con esta desviacin estndar se determinan
los ndices de desempeo Pp y Ppk as como el desempeo Overall, no importando si el proceso
est en control o no, en este ltimo caso los valores no tienen significado prctico.

Opcin Six Pack
Para mostrar toda la informacin relevante:

Determinar la capacidad con:
4. Stat > Quality tools > Capability Six Pack > Normal
5. Single column C1 Subgroup size 5 Lower Spec 200 Upper spec 330
6. Estimate R-bar OK

Los resultados se muestran a continuacin:

Figura 6.15 Resultados de capacidad del proceso Six Pack

En este caso de la grfica de probabilidad normal, los datos siguen una distribucin normal.
I
n
d
i
v
i
d
u
a
l

V
a
l
u
e
100 90 80 70 60 50 40 30 20 10 1
320
240
160
_
X=269.3
UCL=361.8
LCL=176.7
M
o
v
i
n
g

R
a
n
g
e
100 90 80 70 60 50 40 30 20 10 1
100
50
0
__
MR=34.8
UCL=113.6
LCL=0
Observation
V
a
l
u
e
s
100 95 90 85 80
300
250
200
360 330 300 270 240 210
400 300 200
Within
Overall
Specs
Within
StDev 30.83472
Cp 0.70
Cpk 0.66
CCpk 0.70
Ov erall
StDev 30.80011
Pp 0.70
Ppk 0.66
Cpm *
1
1
Process Capability Sixpack of Datos
I Chart
Moving Range Chart
Last 25 Observations
Capability Histogram
Normal Prob Plot
AD: 0.317, P: 0.533
Capability Plot
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Pgina 254
Capacidad de procesos no normales.

Cuando los datos provienen de poblaciones no normales una opcin para realizar el estudio de
capacidad de procesos es mediante la distribucin Weibull.

Ejemplo en Minitab

En una compaa se manufacturan losetas para piso, el problema que se tiene es referente a la
deformacin en las mismas. Se toman 100 mediciones durante 10 das. El lmite superior de
especificacin (USL) = 3.5 mm Realice un estudio de capacidad con la ayuda de Minitab e
interprete los resultados.

Generar 100 datos aleatorios en Minitab con Factor de forma = 1, Factor de escala = 1 con

6. Calc > Random data > Weibull
7. Generate 100 Store in columns C1 Shape parameter 1.2 Scale parameter 1 Threshold
parameter 0 OK

Considerando Lmites de especificaciones LIE = 0 y LSE = 3.5

Determinar la capacidad con:
7. Stat > Quality tools > Capability anlisis > NoNormal
8. Single column C1 Dsitribution Weibull Lower Spec 0 Upper spec 3.5
9. Estimate R-bar OK

Los resultados se muestran a continuacin:
El histograma no muestra evidencia de alguna discrepancia seria entre el modelo y los datos, ya
que la curva muestra buen ajuste. Sin embargo observamos que algunos datos caen fuera del
lmite superior de especificacin. Lo cual quiere decir que en algunos casos la deformacin ser
mayor a 3.5 mm.

CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 255

Fig. 6.16 Determinacin de la capacidad del proceso por Weibull - Datos no normales


El ndice Ppk y Ppu
33
= 0.85 lo cual nos dice que el desempeo del proceso no es capaz ya que
0.85<.1.33

Tambin observamos que PPM > USL 3,795 lo cual significa que aproximadamente 3,795 PPM
estarn fuera de los lmites de especificaciones.

Tambin se cuenta con la opcin Six Pack para esta opcin.

Anlisis de capacidad con experimentos diseados
El diseo de experimentos es un mtodo sistemtico para variar el nivel de los parmetros
controlables del proceso y analizar sus efectos en los resultados finales o productos. De esta forma
se puede determinar el nivel de los parmetros que optimizan el proceso.


33
Los ndices Pp y Ppk son similares a los ndices Cp y Cpk , se refieren a la capacidad del proceso a
largo plazo.
3.5 3.0 2.5 2.0 1.5 1.0 0.5 0.0
USL
Process Data
SampleN 100
Shape 1.24929
Scale 0.88470
LSL *
Target *
USL 3.50000
Sample Mean 0.82279
Ov erall Capability
Pp *
PPL *
PPU 0.85
Ppk 0.85
Observ ed Performance
PPM<LSL *
PPM>USL 10000
PPMTotal 10000
Exp. Ov erall Performance
PPM<LSL *
PPM>USL 3795.26
PPMTotal 3795.26
Process Capability of Datos1
Calculations Based on Weibull Distribution Model
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Pgina 256
6.7 ESTUDIOS DE CAPACIDAD DE SISTEMAS DE MEDICIN

Error rror del equipo de medicin
En cualquier problema que involucre mediciones, de la variabilidad total parte de la variabilidad
observada es debida al producto mismo y parte es debida a la variacin del equipo de medicin, o
sea:


2
.
2 2
medicin equipo producto total
o o o + = (6.13)


Ejemplo 6.8 Tomando 20 partes y evalundolas 2 veces por un mismo operador con el mismo
instrumento de medicin, se obtienen los resultados mostrados a continuacin:
PARTS OP1IN1 OP1IN2 X-media Rango
1 21 20 20.5 1
2 24 23 23.5 1
3 20 21 20.5 1
4 27 27 27 0
5 19 18 18.5 1
6 23 21 22 2
7 22 21 21.5 1
8 19 17 18 2
9 24 23 23.5 1
10 25 23 24 2
11 21 20 20.5 1
12 18 19 18.5 1
13 23 25 24 2
14 24 24 24 0
15 29 30 29.5 1
16 26 26 26 0
17 20 20 20 0
18 19 21 20 2
19 25 26 25.5 1
20 19 19 19 0
Figura 6.16 Cartas X-R del estudio
Formatted: Heading 3, Left, Line spacing:
single
Formatted: Spanish (Mexico)
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 257

Figura 6.17 Cartas de control X-R de las mediciones del operador en sus dos intentos


Notar que la carta X indica muchos puntos fuera de control, lo cual es normal ya que se espera que
el instrumento distinga las diferentes unidades de producto. La carta R representa las
diferencias entre mediciones de la misma unidad con el mismo instrumento. En este caso la carta
R est en control, indicando que el operador no tiene dificultad para realizar las mediciones en
forma consistente. Si hubiera puntos fuera de control, indica que el operador tiene dificultad para
utilizar el instrumento.

La desviacin estndar del error de medicin, o
instrumento
puede estimarse como:
887 . 0
128 . 1
0 . 1
2
= = =
d
R
o instrument
o

Como la distribucin del error de medicin es aproximadamente normal, entonces 6o
instrumento
es
un buen estimador de la capacidad del instrumento de medicin.

19 17 15 13 11 9 7 5 3 1
30
25
20
Sample
S
a
m
p
l
e

M
e
a
n
_
_
X=22.3
UCL=24.18
LCL=20.42
19 17 15 13 11 9 7 5 3 1
3
2
1
0
Sample
S
a
m
p
l
e

R
a
n
g
e
_
R=1
UCL=3.267
LCL=0
1
1
1 1
1
1
1
1
1
1
Xbar-R Chart of C1, ..., C2
Formatted: Spanish (Mexico)
Formatted: Spanish (Mexico)
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 258
En este caso, 6o
instrumento
= 6 (0.887) = 5.32, de tal forma que 2.66 de error de medicin se puede
asignar al error del instrumento de medicin.

Es usual comparar la capacidad del instrumento de medicin contra el rango de las
especificaciones (LSE LIE), denominado P/T, como sigue:


LIE LSE T
P
o instrument

=
o 6
(6.14)

Para el caso del ejemplo se tiene:

097 . 0
55
32 . 5
5 60
) 887 . 0 ( 6
= =

=
T
P


Los valores de P/T menores a 0.1 implican una capacidad adecuada del instrumento de medicin.
Basado en su precisin debe ser al menos de 0.1 de la tolerancia de la caracterstica evaluada.

La variabilidad total de los datos de las mediciones incluyen la variabilidad del producto y las del
instrumento de medicin. Por tanto,


2 2
S
total
= o
2 2 2
o instrument total producto
o o o =

De los datos del ejemplo se tiene:

Variable N Mean Median TrMean StDev SE Mean
OP1IN1 40 22.300 21.500 22.167 3.172 0.502


2 2
S
total
= o = 3.17 x 3.17 = 10.0615
2 2 2
o instrument total producto
o o o = = 10.0615 0.7867 = 9.2748

Por tanto la desviacin estndar de la caracterstica del producto es:
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 259

o = 3.045

La variabilidad del instrumento de medicin tambin puede expresarse como un porcentaje de la
variabilidad de la caracterstica del producto como sigue:

100 x
producto
o instrument
o
o
(6.15)

Para el ejemplo se tiene:
100 x
producto
o instrument
o
o
= % 13 . 29 100
045 . 3
887 . 0
= x

6.6.2 Rrepetibilidad y reproducibilidad (R&R)

Se pueden determinar los componentes del error debidos a diferentes operadores (repetibilidad)
y debidos al instrumento de medicin en s (reproducibilidad).

2 2 2
. ilidad reproducib dad repetibili medicin error
o o o + = (6.16)


Ejemplo 6.9 Se tienen los datos de mediciones de 20 partes por 3 operadores, haciendo 2 intentos
cada uno como sigue.

PARTS OP1IN1 OP1IN2 RANGO1 OP2IN1 OP2IN2 RANGO2 OP3IN1 OP3IN2 RANGO3
1 21 20 1 20 20 0 19 21 2
2 24 23 1 24 24 0 23 24 1
3 20 21 1 19 21 2 20 22 2
4 27 27 0 28 26 2 27 28 1
5 19 18 1 19 18 1 18 21 3
6 23 21 2 24 21 3 23 22 1
7 22 21 1 22 24 2 22 20 2
8 19 17 2 18 20 2 19 18 1
Formatted: Heading 3, Left, Line spacing:
single
Formatted Table
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 260
9 24 23 1 25 23 2 24 24 0
10 25 23 2 26 25 1 24 25 1
11 21 20 1 20 20 0 21 20 1
12 18 19 1 17 19 2 18 19 1
13 23 25 2 25 25 0 25 25 0
14 24 24 0 23 25 2 24 25 1
15 29 30 1 30 28 2 31 30 1
16 26 26 0 25 26 1 25 27 2
17 20 20 0 19 20 1 20 20 0
18 19 21 2 19 19 0 21 23 2
19 25 26 1 25 24 1 25 25 0
20 19 19 0 18 17 1 19 17 2
PARTS OP1IN1 OP1IN2 RANGO1 OP2IN1 OP2IN2 RANGO2 OP3IN1 OP3IN2 RANGO3
1 21 20 1 20 20 0 19 21 2
2 24 23 1 24 24 0 23 24 1
3 20 21 1 19 21 2 20 22 2
4 27 27 0 28 26 2 27 28 1
5 19 18 1 19 18 1 18 21 3
6 23 21 2 24 21 3 23 22 1
7 22 21 1 22 24 2 22 20 2
8 19 17 2 18 20 2 19 18 1
9 24 23 1 25 23 2 24 24 0
10 25 23 2 26 25 1 24 25 1
11 21 20 1 20 20 0 21 20 1
12 18 19 1 17 19 2 18 19 1
13 23 25 2 25 25 0 25 25 0
14 24 24 0 23 25 2 24 25 1
15 29 30 1 30 28 2 31 30 1
16 26 26 0 25 26 1 25 27 2
17 20 20 0 19 20 1 20 20 0
18 19 21 2 19 19 0 21 23 2
19 25 26 1 25 24 1 25 25 0
20 19 19 0 18 17 1 19 17 2

La media de los rangos medios para cada operador es:

15 . 1 ) 20 . 1 25 . 1 0 . 1 (
3
1
) (
3
1
3 2 1 = + + = + + = R R R R

por tanto la desviacin estndar de la repetibilidad es:

CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 261
02 . 1
128 . 1
15 . 1
2
= = =
d
R
dad repetibili
o tomando d
2
para n=2 lecturas

La reproducibilidad es causada por diferencias entre los 3 operadores, es decir,

) , , ( 3 2 1 x x x max xmax =
) , , ( 3 2 1 x x x min xmin =
min max
x
x x R =
2
d
R
x
ilidad reproducib
= o
considerando el nmero de operadores.

Del ejemplo, se tiene que para 3 operadores, d
2
=1.693, por tanto:
x
max
= 22.60, x
min
=22.28 y R
x
=0.32, y

o
reproducibilidad
= 0.32/1.693 = 0.19

Por tanto la variabilidad total del error de medicin es:
2 2 2
. ilidad reproducib dad repetibili medicin instrument
o o o + = = 1.02
2
+ 0.19
2
= 1.08
o
instrumento.medicin
= 1.04

La relacin P/T = 6 (1.04) / (60-5) = 0.11

Por otra parte utilizando el paquete Minitab se obtuvieron las respuestas siguientes (tomando
5.15 sigmas):

Gage R&R Study - XBar/R Method


Gage R&R for OP1IN1


Gage name: DISPOSITIVO DE PRUEBA
Date of study: 20 JULIO 2000
Reported by: P. REYES
Formatted: Font: (Default) Courier New, 11 pt
Formatted: Font: (Default) Courier New
Formatted: Font: (Default) Courier New, 11 pt
Formatted: Font: (Default) Courier New
Formatted: Font: (Default) Courier New, 11 pt
Formatted: Font: (Default) Courier New
Formatted: Font: (Default) Courier New, 11 pt
Formatted: Font: (Default) Courier New
Formatted: Font: (Default) Courier New, 11 pt
Formatted: Font: (Default) Courier New
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 262
Tolerance: 5
Misc:

%Contribution
Source Variance (of Variance)

Total Gage R&R 1.0424 9.91
Repeatability 1.0394 9.88
Reproducibility 0.0030 0.03
Part-to-Part 9.4801 90.09
Total Variation 10.5225 100.00

StdDev Study Var %Study Var %Tolerance
Source (SD) (5.15*SD) (%SV) (SV/Toler)

Total Gage R&R 1.02096 5.2579 31.47 9.56
Repeatability 1.01950 5.2504 31.43 9.55
Reproducibility 0.05449 0.2806 1.68 0.51
Part-to-Part 3.07898 15.8568 94.92 28.83
Total Variation 3.24384 16.7058 100.00 30.37

Number of distinct categories = 4


De esta forma cuando se toman en cuenta ambas la repetibilidad y la reproducibilidad, la
capacidad del sistema de medicin se reduce. Es necesario entrenar al operador en el uso del
instrumento de medicin y en todo caso a encontrar otro equipo de medicin.

Formatted: Font: (Default) Courier New, 11 pt
Formatted: Font: (Default) Courier New
Formatted: Font: (Default) Courier New, 11 pt
Formatted: Font: (Default) Courier New
Formatted: Font: (Default) Courier New, 11 pt
Formatted: Font: (Default) Courier New
Formatted: Font: (Default) Courier New, 11 pt
Formatted: Font: (Default) Courier New
Formatted: Font: (Default) Courier New, 11 pt
Formatted: Font: (Default) Courier New
Formatted: Font: (Default) Courier New, 11 pt
Formatted: Font: (Default) Courier New
Formatted: Font: (Default) Courier New, 11 pt
Formatted: Font: (Default) Courier New
Formatted: Font: (Default) Courier New, 11 pt
Formatted: Font: (Default) Courier New
Formatted: Font: (Default) Courier New, 11 pt
Formatted: Font: (Default) Courier New
Formatted: Font: (Default) Courier New, 11 pt
Formatted: Font: (Default) Courier New
Formatted: Font: (Default) Courier New, 11 pt
Formatted: Font: (Default) Courier New
Formatted: Font: (Default) Courier New, 11 pt
Formatted: Font: (Default) Courier New
Formatted: Font: (Default) Courier New, 11 pt
Formatted: Font: (Default) Courier New
Formatted: Font: (Default) Courier New, 11 pt
Formatted: Font: (Default) Courier New
Formatted: Font: (Default) Courier New, 11 pt
Formatted: Font: (Default) Courier New
Formatted: Font: (Default) Courier New, 11 pt
Formatted: Font: (Default) Courier New
Formatted: Font: (Default) Courier New, 11 pt
Formatted: Font: (Default) Courier New
Formatted: Font: (Default) Courier New, 11 pt
Formatted: Font: (Default) Courier New
Formatted: Font: (Default) Courier New, 11
pt, Spanish (International Sort)
Formatted: Font: (Default) Courier New
Formatted: Heading 3, Line spacing: single
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 263
6.6.3 R&R Capacidad de los sistemas de medicin - AIAG
En muchas ocasiones las organizaciones no consideran el impacto de no tener sistemas de
medicin de calidad, el hecho de que las mediciones no sean exactas puede llevar a cometer
errores en el clculo, y en los anlisis y conclusiones de los estudios de capacidad de los procesos.

Cuando los operadores no miden una pieza de manera consistente, se puede caer en el riesgo de
rechazar artculos que estn en buen estado o aceptar artculos que estn en mal estado. Por otro
lado si los instrumentos de medicin no estn calibrados correctamente tambin se pueden
cometer errores. Cuando sucede lo mencionado anteriormente tenemos un sistema de medicin
deficiente que puede hacer que un estudio de capacidad parezca insatisfactorio cuando en
realidad es satisfactorio. Lo anterior puede tener como consecuencia gastos innecesarios de
reproceso al reparar un proceso de manufactura o de servicios, cuando la principal fuente de
variacin se deriva del sistema de medicin.

Posibles Fuentes de la Variacin del Proceso





















Figura 6.18 Diagrama de variabilidad observada en el proceso
Variacin del proceso, real Variacin de la medicin
Variacin del proceso
Reproducibilidad
Repetibilidad Estabilidad Linealidad
Sesgo
Variacin originada
por el calibrador
Calibracin
Variacin del proceso, real
Reproducibilidad
Repetibilidad
Variacin dentro de la
muestra
Estabilidad Linealidad
Sesgo
Equipo de
medicin
Calibracin
Formatted: Font: (Default) Calibri, 11 pt
Formatted: Heading 4
Formatted: Font: 11 pt
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 264

Definiciones
- Reproducibilidad: Es la variacin, entre promedios de las mediciones hechas por diferentes
operadores que utilizan un mismo instrumento de medicin cuando miden las mismas
caractersticas en una misma parte.








Figura 6.19 Evaluacin de la reproducibilidad


- Repetibilidad: es la variacin de las mediciones obtenidas con un instrumento de medicin,
cuando es utilizado varias veces por un operador, al mismo tiempo que mide las mismas
caractersticas en una misma parte.






Figura 6.20 Evaluacin de la repetibilidad


- Valor verdadero: Valor correcto terico / estndares NIST
34


34
En EUA se tiene el NIST (National Institute of Standards ando Technology),En Mxico
se tiene el CENEAM o el Centro Nacional de Metrologa


Reproducibilidad
Operador-A
Operador-C
Operador-B

REPETIBILIDAD
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 265

- Precisin: Es la habilidad de repetir la misma medida cerca o dentro de una misma zona

Exactitud : Es la diferencia entre el promedio del nmero de medidas y el valor verdadero.

- Resolucin: La medicin que tiene exactitud y precisin.










Figura 6.21 Evaluacin de la precisin y exactitud

- Estabilidad: es la variacin total de las mediciones obtenidas con un sistema de medicin, hechas
sobre el mismo patrn o sobre las mismas partes, cuando se mide una sola de sus caractersticas,
durante un perodo de tiempo prolongado.








Figura 6.22 Evaluacin de la estabilidad


Tiempo 1
Tiempo 2
Tiempo 1
Tiempo 2

Preciso pero no exacto
Exacto pero no preciso
Exacto y preciso
(resolucin)
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- Linealidad: diferencia en los valores de la escala, a travs del rango de operacin esperado del
instrumento de medicin.








Figura 6.23 Evaluacin de la linealidad
- Sesgo: distancia entre el valor promedio de todas las mediciones y el valor verdadero. Error
sistemtico o desviacin.








Figura 6.24 Evaluacin de la exactitud o sesgo
- Calibracin: Es la comparacin de un estndar de medicin con exactitud conocida con otro
instrumento para detectar, reportar o eliminar por medio del ajuste, cualquier variacin en la
exactitud del instrumento.

Importante: para que el equipo de medicin tenga una discriminacin adecuada en la
evaluacin de las partes, su resolucin debe ser al menos 1/10 de la variabilidad del proceso.

<10% Aceptable
10-30%. Puede ser aceptable, para caractersticas no crticas.
>30%. Inaceptable!

Valor
Verdadero
Sesgo


Rango de Operacin del equipo
Valor
verdadero
Valor
verdadero
(rango inferior) (rango superior)
Sesgo
Menor
Sesgo
mayor
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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En otras industrias fuera de la automotriz se acepta un error total de R&R del 25% como mximo.

En cualquier problema que involucre mediciones, algunas de las variaciones observadas son
debidas al proceso y otras son debidas al error o variacin en los sistemas de medicin. La
variacin total es expresada de la siguiente manera:

medicin error proceso total
2 2 2
o o o + =

Estudios R&R - Mtodo Corto del Rango

Es un mtodo que proporciona un valor aproximado del error R&R sin que muestre las diferencias
entre errores por el equipo y por los operadores.Se usan dos evaluadores y cinco partes. Cada
evaluador mide cada parte una sola vez.Se calcula el rango de la medicin de cada parte y al final
el rango promedio.

La desviacin estndar de R&R se aproxima con la formula de rango medio entre d2*. El % de R&R
se calcula comparando la desv. Estndar de R&R con la del proceso

Figura 6.25 Mtodo corto del rango
Partes Evaluador A Evaluador B Rango A,B
1 0.85 0.80 0.05
2 0.75 0.70 0.05
3 1.00 0.95 0.05
4 0.45 0.55 0.10
5 0.50 0.60 0.10
Rango medio = 0.35/5 = 0.07
GRR = Rmedio / d2* = 0.07 / 1.19 = 0.0588
Desv. Estndar del proceso = 0.0722
%GRR = 100 (GRR / Desv. Est. Proceso ) = 81.4%
Por tanto el sistema de medicin requiere mejora
Formatted: Heading 3, Line spacing: single
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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Estudio de R&R Mtodo largo
Generalmente intervienen de dos a tres operadores
Generalmente se toman 10 unidades
Cada unidad es medida por cada operador, 2 3 veces.






- La resolucin del equipo de medicin debe ser de al menos el 10% del rango de tolerancia o
del rango de variacin del proceso.

- Las partes deben seleccionarse al azar, cubriendo el rango total del proceso. Es importante
que dichas partes sean representativas del proceso total (80% de la variacin)

- 10 partes NO son un tamao de muestra significativo para una opinin slida sobre el
equipo de medicin a menos que se cumpla el punto anterior.

Procedimiento para realizar un estudio de R&R

1. Asegrese de que el equipo de medicin haya sido calibrado.
2. Marque cada pieza con un nmero de identificacin que no pueda ver la persona que realiza la
medicin.
3. Haga que el primer operador mida todas las muestras una sola vez, siguiendo un orden al azar.
4. Haga que el segundo operador mida todas las muestras una sola vez, siguiendo un orden al
azar.
5. Contine hasta que todos los operadores hayan medido las muestras una sola vez (Este es el
ensayo 1).
6. Repita los pasos 3-4 hasta completar el nmero requerido de ensayos
7. Determine las estadsticas del estudio R&R
Repetibilidad
Formatted: Heading 3, Left, Line spacing:
single
Formatted: Font: Calibri, 11 pt
Formatted: Heading 4, No bullets or
numbering
Formatted: Font: 11 pt
Formatted: Heading 4
Formatted: Font: Calibri, Bold
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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Reproducibilidad
% R&R
Desviaciones estndar de cada uno de los conceptos mencionados
Anlisis del porcentaje de tolerancia
8. Analice los resultados y determine las acciones a seguir si las hay.

Mtodos de estudio del error R&R:

I. Mtodo de Promedios- Rango
- Permite separar en el sistema de medicin lo referente a la Reproducibilidad y a la
Repetibilidad.
- Los clculos son ms fciles de realizar.

II. Mtodo ANOVA
- Permite separar en el sistema de medicin lo referente a la Reproducibilidad y a la
Repetibilidad.
- Tambin proporciona informacin acerca de las interacciones de un operador y otro en
cuanto a la parte.
- Calcula las varianzas en forma ms precisa.
- Los clculos numricos requieren de una computadora.
El Mtodo ANOVA es ms preciso


Clculos con Excel o manual:
Introducir los datos en la hoja de coleccin de datos siguiente por cada operador y hacer los
clculos indicados en la zona gris:


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ESTUDIO DE REPETIBILIDAD Y REPRODUCIBILIDAD ( R & R )
MTODO LARGO
Aseguramiento de Calidad
No. de Parte y Nombre: 4600066 PARTE A Fecha: 01/07/2003
Tolerancia Especificada: 0.0060 Elaborado por: 0
No. y Nombre de GAGE: 8881-H Calibrador Digital Caracterstica: Diametro
RESULTADOS DE LA HOJA DE DATOS AC-008
R= 0.000416667 X Diff = 0.0001000000 Rp = 0.000944444
Anlisis Unitario de Medicin
% Total de Variacin ( TV )
Repetibilidad - Variacin del Equipo (EV) % EV = 100 [ EV/TV ]
EV=
R x K
1
=
% EV = 63.74%
EV= 0.001270833 INTENTOS
K
1
2 4.56 % EV vs Tol. = 21.18%
3 3.05
Reproducibilidad - Variacin del Operador (AV) % AV = 100 [AV/TV]
AV = [(XDiff x K
2
)
2
- (EV
2
/nr)]
1/2
% AV = 6.93%
AV = 0.00027
AV = 7.29E-08 % AV vs Tol = 2.30%
AV = 5.38339E-08
AV = 1.90661E-08 n= 10
AV = 0.00013808 r = 3
OPERADOR 2 3 n= Numero de Partes
K
2 3.65 2.7 r = Numero de Intentos
Repetibilidad y Reproducibilidad ( R & R ) % de R & R = 100 [ R & R /TV ]
R & R = [EV
2
+ AV
2
]
1/2
% de R & R = 64.1164%
R & R
2
=
1.63408E-06 PARTES
K
3 % de R & R vs Tol = 21.31%
R & R = 0.001278313 2 3.65
Variacin de la Parte ( PV ) 3 2.7 % PV = 100 [ PV/TV ]
PV = R
P
x K
3 4 2.3 % PV = 76.7403%
PV = 0.00153 5 2.08
6 1.93
7 1.82
VARIACIN TOTAL ( TV ) 8 1.74 Categoria de Datos
TV =
( R & R
2
+ PV
2
)
1/2
9 1.67 d
2
= 1.693
TV = 3.97498E-06 10 1.62
PV / R&R x d
2
=
2.0
TV = 0.001993736
Observaciones : Se toma la dimencin de menor valor FIRMA DE AUTORIZACIN
GERENTE DE ASEG. DE CALIDAD
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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E
S
T
U
D
I
O

D
E

R
E
P
E
T
I
B
I
L
I
D
A
D

Y

R
E
P
R
O
D
U
C
I
B
I
L
I
D
A
D

(

R

&

R

)
M

T
O
D
O

L
A
R
G
O
N
o
. d
e
P
a
r
te
y
N
o
m
b
r
e
:
F
e
c
h
a
:
T
o
le
r
a
n
c
ia
E
s
p
e
c
ific
a
d
a
:
E
la
b
o
r
a
d
o
p
o
r
:

N
o
. y
N
o
m
b
r
e
d
e
G
A
G
E
:
C
a
r
a
c
te
r
s
tic
a
:
R
E
C
O
L
E
C
C
I

N

D
E

D
A
T
O
S
O
P
E
R
A
D
O
R
A
.-
B
.-
C
.-
c
o
lu
m
n
a
1
c
o
lu
m
n
a
2
c
o
lu
m
n
a
3
c
o
lu
m
n
a
4
P
ro
m
e
d
io
c
o
lu
m
n
a
5
c
o
lu
m
n
a
6
c
o
lu
m
n
a
7
c
o
lu
m
n
a
8
P
ro
m
e
d
io
c
o
lu
m
n
a
9
c
o
lu
m
n
a
1
0
c
o
lu
m
n
a
1
1
c
o
lu
m
n
a
1
2
P
ro
m
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P
r
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m
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a
r
te
M
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tr
a
1
e
r In
te
n
to
2
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o
In
te
n
to
3
e
r In
te
n
to
R
a
n
g
o
X
1
e
r In
te
n
to
2
d
o
In
te
n
to
3
e
r In
te
n
to
R
a
n
g
o
X
1
e
r In
te
n
to
2
d
o
In
te
n
to
3
e
r In
te
n
to
R
a
n
g
o
X
X
p
=
1 2 3 4 5 6 7 8 9 1
0
T
o
ta
le
s
X
p
=
S
u
m
a
R
A
:
S
u
m
a
R
B
:
S
u
m
a
R
C
:
R
p
=
X
A
:
X
B
:
X
C
:
R
A
:
#
In
te
n
to
s
D
4
X
M

x
:
L
S
C
X
=
X
+
A
2
R
A
2
=
R
B
:
3
2
.5
8
X
m
in
:
0
L
S
C
X
=
R
C
:
S
U
M
:
L
S
C
R
=
R
x
D
4
X
D
iff:
L
IC
X
=
X
-
A
2
R
R
:
L
S
C
R
=
L
IC
X
=
N
o
t
a
:
L
a
s
c
o
n
s
t
a
n
t
e
s
y
la
s
f
o
r
m
u
la
s
e
s
t
a
n
e
s
t
a
b
le
c
id
a
s
p
a
r
a
3
in
t
e
n
t
o
s
y
3
o
p
e
r
a
d
o
r
e
s
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 273


ESTUDIO DE REPETIBILIDAD Y REPRODUCIBILIDAD ( R & R )
MTODO LARGO
Aseguramiento de Calidad
No. de Parte y Nombre: 0 0 Fecha: 00/01/1900
Tolerancia Especificada: 0.0000 Elaborado por: 0
No. y Nombre de GAGE: 0 0 Caracterstica: 0
RESULTADOS DE LA HOJA DE DATOS AC-008
R= X Diff = Rp =
Anlisis Unitario de Medicin
% Total de Variacin ( TV )
Repetibilidad - Variacin del Equipo (EV) % EV = 100 [ EV/TV ]
EV=
R x K
1
=
% EV =
EV= INTENTOS
K
1
2 4.56 % EV vs Tol. =
3 3.05
Reproducibilidad - Variacin del Operador (AV) % AV = 100 [AV/TV]
AV = [(XDiff x K
2
)
2
- (EV
2
/nr)]
1/2
% AV =
AV =
AV = % AV vs Tol =
AV =
AV = n= 10
AV = r = 3
OPERADOR 2 3 n= Numero de Partes
K
2 3.65 2.7 r = Numero de Intentos
Repetibilidad y Reproducibilidad ( R & R ) % de R & R = 100 [ R & R /TV ]
R & R = [EV
2
+ AV
2
]
1/2
% de R & R =
R & R
2
=
0 PARTES
K
3 % de R & R vs Tol =
R & R = 2 3.65
Variacin de la Parte ( PV ) 3 2.7 % PV = 100 [ PV/TV ]
PV = R
P
x K
3 4 2.3 % PV =
PV = 5 2.08
6 1.93
7 1.82
VARIACIN TOTAL ( TV ) 8 1.74 Categoria de Datos
TV =
( R & R
2
+ PV
2
)
1/2
9 1.67 d
2
= 1.693
TV = 0 10 1.62
PV / R&R x d
2
=
TV =
Observaciones : Se toma la dimencin de menor valor FIRMA DE AUTORIZACIN
GERENTE DE ASEG. DE CALIDAD
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 274
Una vez colectados los datos proceder a realizar la carta de rango R y observar que est en control,
de otra forma repetir las mediciones para ese operador y parte especfica errnea.












Figura 6.26 Comportamiento de la carta de control de rangos para el ejemplo

Ahora revisar la carta X media, debe tener al menos el 50% de puntos fuera de control indicando
que identifica las variaciones en las diferentes partes presentadas:
LSC
X
= 0.005143 X = 0.004717 LIC
X
= 0.004290417










Figura 6.26 Comportamiento de la carta de control de medias para el ejemplo

Se procede posteriormente a determinar los errores o variabilidad del sistema de medicin con la
hoja de trabajo siguiente, calculando los campos con sombra gris:



LIC
X

LS
C
X

X
Formatted: Heading 3, Line spacing: single
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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Interpretacin de los resultados
1. El porcentaje de error R&R no debe exceder del 10%, si el equipo se usa para liberar producto
terminado la referencia es la tolerancia del cliente; si el equipo se usa para control del proceso, la
referencia es la variacin total del proceso.

2. El nmero de categoras debe ser de al menos 4 indicando que el equipo distingue las partes
que son diferentes.

Ejemplo 2 (MINITAB)
Primero se visualizan las mediciones replicadas de cada operador en cada parte como sigue:

Figura 6.27 Grfica que muestra el comportamiento de las mediciones de los operadores

Mtodo X Barra - R
Se seleccionan 10 muestras de un proceso de manufactura, cada parte es medida dos veces por
tres operadores. Realice un estudio R&R mediante el mtodo Xbar-R.

34

Operator
R
e
s
p
o
n
s
e
Mean
1.0
0.8
0.6
0.4
1.0
0.8
0.6
0.4
Mean
1 2 3 4 5
6 7 8 9 10
Operator
3
1
2
Gage name:
Date of study:
Reported by:
Tolerance:
Misc:
Panel variable: Part
Gage Run Chart of Response by Part, Operator
1 File > Open worksheet > GAGEAIAG.MTW.
2 Stat > Quality Tools > Gage Study > Gage Run Chart.
3 En Part numbers, seleccionar Part.
4 En Operators, seleccionar Operator.
5 En Measurement data, seleccionar Response. Click OK.
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 276

OPERADOR A.- B.- C.-

columna
1
columna
2
columna
3
columna
5
columna
6
columna
7
columna
9
columna
10
columna
11
Muestra
1er
Intento
2do
Intento
3er
Intento
1er
Intento
2do
Intento
3er
Intento
1er
Intento
2do
Intento
3er
Intento
1 0.0045 0.0045 0.0045 0.0045 0.0045 0.0045 0.0050 0.0045 0.0045
2 0.0045 0.0055 0.0045 0.0055 0.0050 0.0045 0.0055 0.0045 0.0045
3 0.0045 0.0045 0.0045 0.0045 0.0045 0.0045 0.0045 0.0045 0.0040
4 0.0050 0.0050 0.0045 0.0050 0.0050 0.0050 0.0050 0.0050 0.0050
5 0.0045 0.0045 0.0045 0.0040 0.0045 0.0040 0.0045 0.0045 0.0040
6 0.0050 0.0055 0.0045 0.0060 0.0050 0.0050 0.0050 0.0050 0.0050
7 0.0050 0.0045 0.0045 0.0055 0.0045 0.0050 0.0045 0.0050 0.0050
8 0.0050 0.0050 0.0050 0.0050 0.0050 0.0050 0.0060 0.0050 0.0050
9 0.0050 0.0045 0.0050 0.0045 0.0045 0.0050 0.0055 0.0045 0.0045
10 0.0040 0.0040 0.0040 0.0040 0.0040 0.0040 0.0045 0.0045 0.0045
Totales 0.0470 0.0475 0.0455 0.0485 0.0465 0.0465 0.0500 0.0470 0.0460

Capture los datos en la hoja de trabajo de Minitab en tres columnas C1, C2, C3

Partes Operadores Medicin Partes Operadores Medicin Partes Operadores Medicin
1 1 0.0045 1 2 0.0045 1 3 0.005
2 1 0.0045 2 2 0.0055 2 3 0.0055
3 1 0.0045 3 2 0.0045 3 3 0.0045
4 1 0.005 4 2 0.005 4 3 0.005
5 1 0.0045 5 2 0.004 5 3 0.0045
6 1 0.005 6 2 0.006 6 3 0.005
7 1 0.005 7 2 0.0055 7 3 0.0045
8 1 0.005 8 2 0.005 8 3 0.006
9 1 0.005 9 2 0.0045 9 3 0.0055
10 1 0.004 10 2 0.004 10 3 0.0045
1 1 0.0045 1 2 0.0045 1 3 0.0045
2 1 0.0055 2 2 0.005 2 3 0.0045
3 1 0.0045 3 2 0.0045 3 3 0.0045
4 1 0.005 4 2 0.005 4 3 0.005
5 1 0.0045 5 2 0.0045 5 3 0.0045
6 1 0.0055 6 2 0.005 6 3 0.005
7 1 0.0045 7 2 0.0045 7 3 0.005
8 1 0.005 8 2 0.005 8 3 0.005
9 1 0.0045 9 2 0.0045 9 3 0.0045
10 1 0.004 10 2 0.004 10 3 0.0045
1 1 0.0045 1 2 0.0045 1 3 0.0045
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 277
2 1 0.0045 2 2 0.0045 2 3 0.0045
3 1 0.0045 3 2 0.0045 3 3 0.004
4 1 0.0045 4 2 0.005 4 3 0.005
5 1 0.0045 5 2 0.004 5 3 0.004
6 1 0.0045 6 2 0.005 6 3 0.005
7 1 0.0045 7 2 0.005 7 3 0.005
8 1 0.005 8 2 0.005 8 3 0.005
9 1 0.005 9 2 0.005 9 3 0.0045
10 1 0.004 10 2 0.004 10 3 0.0045

- Seleccione en el men de la barra de herramientas STAT>QUALITY TOOLS>GAGE STUDY >
Gage R&R (Crossed)
- Seleccione C1 (parte), C2 (operador), C3 (Medicin)
- Mtodo de Anlisis X Bar and R
- En Options Seleccionar: Study variation 5.15 Process tolerante 0.006

Los resultados se muestran a continuacin:
Gage R&R Study - XBar/R Method

%Contribution
Source VarComp (of VarComp)
Total Gage R&R 0.0000001 41.00
Repeatability 0.0000001 40.52
Reproducibility 0.0000000 0.48
Part-To-Part 0.0000001 59.00
Total Variation 0.0000001 100.00

Study Var %Study Var %Tolerance
Source StdDev (SD) (5.15 * SD) (%SV) (SV/Toler)
Total Gage R&R 0.0002476 0.0012750 64.03 21.25
Repeatability 0.0002461 0.0012675 63.65 21.12
Reproducibility 0.0000269 0.0001384 6.95 2.31
Part-To-Part 0.0002970 0.0015295 76.81 25.49
Total Variation 0.0003867 0.0019913 100.00 33.19

Number of Distinct Categories = 1

Anlisis de los resultados:
El error de R&R vs tolerancia es 21.25% y vs variacin total del proceso es 64.03% lo que hace que
el equipo de medicin no sea adecuado para la medicin.

Por otro lado el nmero de categoras es slo de 1 cuando debe ser al menos 4 indicando que el
instrumento discrimina las diversas partes diferentes.

Formatted: Font: (Default) Courier New, 10 pt
Formatted: Font: Courier New, 10 pt
Formatted: Font: Courier New, 10 pt
Formatted: Font: Courier New, 10 pt
Formatted: Font: Courier New, 10 pt
Formatted: Font: Courier New, 10 pt
Formatted: Font: Courier New, 10 pt
Formatted: Font: Courier New, 10 pt
Formatted: Font: Courier New, 9 pt
Formatted: Font: Courier New, 9 pt
Formatted: Font: Courier New, 9 pt
Formatted: Font: Courier New, 9 pt
Formatted: Font: Courier New, 9 pt
Formatted: Font: Courier New, 9 pt
Formatted: Font: Courier New, 9 pt
Formatted: Font: Courier New, 9 pt
Formatted: Font: Courier New, 9 pt
Formatted: Font: Courier New, 9 pt
Formatted: Font: Courier New, 9 pt
Formatted: Font: Courier New, 9 pt
Formatted: Font: Courier New, 9 pt
Formatted: Font: Courier New, 9 pt
Formatted: Font: Courier New, 9 pt
Formatted: Font: Courier New, 9 pt
Formatted: Font: Courier New, 9 pt, Spanish
(Mexico)
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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P
e
r
c
e
n
t
Part-to-Part Reprod Repeat Gage R&R
80
40
0
% Contribution
%Study Var
% Tolerance
S
a
m
p
l
e

R
a
n
g
e 0.0010
0.0005
0.0000
_
R=0.000417
UCL=0.001073
LCL=0
1 2 3
S
a
m
p
l
e

M
e
a
n
0.0050
0.0045
0.0040
_
_
X=0.004717
UCL=0.005143
LCL=0.004290
1 2 3
Partes
10 9 8 7 6 5 4 3 2 1
0.006
0.005
0.004
Operadores
3 2 1
0.006
0.005
0.004
Partes
A
v
e
r
a
g
e
10 9 8 7 6 5 4 3 2 1
0.0050
0.0045
0.0040
Operadores
1
2
3
Gage name:
Date of study :
Reported by :
Tolerance:
Misc:
Components of Variation
R Chart by Operadores
Xbar Chart by Operadores
Datos by Partes
Datos by Operadores
Operadores * Partes Interaction
Gage R&R (Xbar/R) for Datos

Figura 6.27 Resultados del estudio R&R por el mtodo de Xbarra-R

La grfica R se mantiene en control indicando que las mediciones se realizaron en forma
adecuada.

La grfica X barra slo presenta 5 de 30 puntos fuera de control, lo cual debera ser al menos el
50%, indicando que el equipo no discrimina las diferentes partes.

Ejemplo 3: por el Mtodo de ANOVA se tiene:
- Seleccione en el men de la barra de herramientas STAT>QUALITY TOOLS>GAGE STUDY >
Gage R&R (Crossed)
- Seleccione C1 (parte), C2 (operador), C3 (Medicin)
- Mtodo de Anlisis ANOVA
- En Options Seleccionar: Staudy variation 5.15 Process tolerante 0.006 Alfa to remove
interaction 0.25

Los resultados se muestran a continuacin:
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 279
Gage R&R Study - ANOVA Method

Two-Way ANOVA Table With Interaction

Source DF SS MS F P
Partes 9 0.0000086 0.0000010 12.2885 0.000
Operadores 2 0.0000002 0.0000001 0.9605 0.401
Partes * Operadores 18 0.0000014 0.0000001 0.7398 0.757
Repeatability 60 0.0000063 0.0000001
Total 89 0.0000165

Los operadores y la interaccin no fueron significativos, slo las
partes

Two-Way ANOVA Table Without Interaction

Source DF SS MS F P
Partes 9 0.0000086 0.0000010 9.67145 0.000
Operadores 2 0.0000002 0.0000001 0.75592 0.473
Repeatability 78 0.0000077 0.0000001
Total 89 0.0000165


Gage R&R

%Contribution
Source VarComp (of VarComp)
Total Gage R&R 0.0000001 50.93
Repeatability 0.0000001 50.93
Reproducibility 0.0000000 0.00
Operadores 0.0000000 0.00
Part-To-Part 0.0000001 49.07
Total Variation 0.0000002 100.00
Study Var %Study Var
%Tolerance
Source StdDev (SD) (5.15 * SD) (%SV)
(SV/Toler)
Total Gage R&R 0.0003150 0.0016222 71.36
27.04
Repeatability 0.0003150 0.0016222 71.36
27.04
Reproducibility 0.0000000 0.0000000 0.00
0.00
Operadores 0.0000000 0.0000000 0.00
0.00
Part-To-Part 0.0003092 0.0015923 70.05
26.54
Total Variation 0.0004414 0.0022731 100.00
37.88

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Pgina 280
Number of Distinct Categories = 1

La interaccin no es significativa, y los errores de R&R indican que equipo de medicin no es
adecuado, ni el nmero de categoras.
P
e
r
c
e
n
t
Part-to-Part Reprod Repeat Gage R&R
80
40
0
% Contribution
%Study Var
% Tolerance
S
a
m
p
l
e

R
a
n
g
e 0.0010
0.0005
0.0000
_
R=0.000417
UCL=0.001073
LCL=0
1 2 3
S
a
m
p
l
e

M
e
a
n
0.0050
0.0045
0.0040
_
_
X=0.004717
UCL=0.005143
LCL=0.004290
1 2 3
Partes
10 9 8 7 6 5 4 3 2 1
0.006
0.005
0.004
Operadores
3 2 1
0.006
0.005
0.004
Partes
A
v
e
r
a
g
e
10 9 8 7 6 5 4 3 2 1
0.0050
0.0045
0.0040
Operadores
1
2
3
Gage name:
Date of study :
Reported by :
Tolerance:
Misc:
Components of Variation
R Chart by Operadores
Xbar Chart by Operadores
Datos by Partes
Datos by Operadores
Operadores * Partes Interaction
Gage R&R (ANOVA) for Datos

Figura 6.28 Resultados del estudio R&R por el mtodo de ANOVA
Las conclusiones son similares que con el mtodo de X barra R.

Estudios de R&R por atributos
Ejemplo 4.
Se utiliza el anlisis de acuerdo por atributos para evaluar las calificaciones nominales u ordinales
proporcionadas por varios evaluadores. Las mediciones son calificaciones subjetivas de la gente
en vez de mediciones fsicas. Algunos ejemplos incluyen:
- Calificaciones de desempeo de los automviles
- Clasificacin de calidad de las fibras como buena o mala.
- Calificaciones de color, aroma y gusto del vino en una escala de 1 a 10.
En estos casos la caracterstica de calidad es difcil de definir y evaluar. Para obtener clasificaciones
significativas, ms de un evaluador debe calificar la medicin de respuesta. Si los evaluadores
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 281
estn de acuerdo, existe la posibilidad de que las apreciaciones sean exactas. Si hay
discrepancias, la utilidad de la evaluacin es limitada.
Los datos pueden ser texto o numricos. Las calificaciones asignadas pueden ser Nominales u
ordinales.
Los datos nominales son variables categricas que tienen dos o ms niveles sin orden natural. Por
ejemplo, los niveles en un estudio de gustacin de comida que puede incluir dulce, salado o
picoso.
Los datos ordinales son variables categricas que tienen tres o ms niveles con ordenamiento
natural, tales como: en desacuerdo total, en desacuerdo, neutral, de acuerdo, y completamente
de acuerdo.

Ejemplo 4. Comparacin pasa no pasa
Un sistema de medicin de atributos compara cada parte con un estndar y acepta la parte si el
estndar se cumple. La efectividad de la discriminacin es la habilidad del sistema de medicin de
atributos para discriminar a los buenos de los malos.
1. Selecciona un mnimo de 20 unidades del proceso. Estas unidades deben representar el
espectro completo de la variacin del proceso (buenas, erroneas y en lmites).
2. Un inspector experto realiza una evaluacin de cada parte, clasificndola como Buena o No
Buena.
3. Cada persona evaluar las unidades, independientemente y en orden aleatorio, y las definir
como Buenas o No Buenas.
4. Ingresa los datos en el archivo Attribute Gage R&R.xls para cuantificar la efectividad del sistema
de medicin.
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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Sistema de Medicin de Atributos
Pasa no pasa Instrucciones en Minitab
1 Usar los datos anteriores.
2 Seleccionar Stat > Quality Tools > Attribute Agreement Analysis.
3 En Multiple columns, con Persona 1A - Persona 2B.
4 En Number of appraisers, 2.
5 En Number of trials, 2.
6 En Known standard/attribute, poner Atributo
7 no Checar Categories of the attribute data are ordered y poner OK

Los resultados se muestran a continuacin:
Muestra Atributo Persona 1A Persona 1B Persona 2A Persona 2B
1 G G G G G
2 G G G G G
3 G G G G G
4 G G G G G
5 G G G G G
6 G NG G G G
7 G G G G G
8 G G G G G
9 NG G G NG NG
10 NG NG NG G G
11 G G G G G
12 G G G G G
13 NG NG NG NG NG
14 G G G G G
15 G G G G G
16 G G G G G
17 NG NG NG NG NG
18 G G G G G
19 G G G G G
20 G G G G G
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Figura 6.29 Resultados del estudio de R&R comparativo por atributos
Attribute Agreement Analysis Persona 1A, Persona 1B, Persona 2A,
Persona 2B
Within Appraisers
Appraiser # Inspected # Matched Percent 95 % CI
1 20 19 95.00 (75.13, 99.87)
2 20 20 100.00 (86.09, 100.00)
# Matched: Appraiser agrees with him/herself across trials.
Fleiss' Kappa Statistics
Appraiser Response Kappa SE Kappa Z P(vs > 0)
1 G 0.82684 0.223607 3.69774 0.0001
NG 0.82684 0.223607 3.69774 0.0001
2 G 1.00000 0.223607 4.47214 0.0000
NG 1.00000 0.223607 4.47214 0.0000
Each Appraiser vs Standard
Appraiser # Inspected # Matched Percent 95 % CI
1 20 18 90.00 (68.30, 98.77)
2 20 19 95.00 (75.13, 99.87)
Between Appraisers
# Inspected # Matched Percent 95 % CI
20 17 85.00 (62.11, 96.79)
Fleiss' Kappa Statistics
Response Kappa SE Kappa Z P(vs > 0)
G 0.663222 0.0912871 7.26524 0.0000
NG 0.663222 0.0912871 7.26524 0.0000
All Appraisers vs Standard
# Inspected # Matched Percent 95 % CI
20 17 85.00 (62.11, 96.79)
# Matched: All appraisers' assessments agree with the known standard.
Fleiss' Kappa Statistics
Response Kappa SE Kappa Z P(vs > 0)
G 0.792005 0.111803 7.08391 0.0000
NG 0.792005 0.111803 7.08391 0.0000
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Figura 6.30 Resultados del estudio de R&R comparativo por atributos por avaluador

Interpretacin de Resultados
- % del Evaluador es la consistencia de una persona.
- % Evaluador vs Atributo es la medida de el acuerdo que hay entre la evaluacin del
operador y la del experto.
- % de Efectividad de Seleccin es la medida de el acuerdo que existe entre los operadores.
- % de Efectividad de Seleccin vs. el Atributo es una medida general de la consistencia
entre los operadores y el acuerdo con el experto.

Aunque el 100% es el resultado que deseamos obtener, en un estudio de repetibilidad y
reproducibilidad de atributos, la siguiente gua se usa frecuentemente:

Appraiser
P
e
r
c
e
n
t
2 1
100
95
90
85
80
75
70
95.0%CI
Percent
Appraiser
P
e
r
c
e
n
t
2 1
100
95
90
85
80
75
70
95.0%CI
Percent
Date of study:
Reported by:
Name of product:
Misc:
Assessment Agreement
Within Appraisers Appraiser vs Standard
Porcentaje Gua
De 90% a 100%
De 80% a 90%
Menos de 80%
Aceptable
Marginal
Inaceptable
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Ejemplo 5.
Una empresa est entrenando a cinco evaluadores para la porcin escrita de un examen estndar
de doceavo grado. Se requiere determinar la habilidad de los evaluadores para calificar el examen
de forma que sea consistente con los estndares. Cada uno de los evaluadores califica 15
exmenes en una escala de cinco puntos (-2, -1, 0, 1, 2):
1 Abrir el archivo File > Openworksheet > ESSAY.MTW.
2 Seleccionar Stat > Quality Tools > Attribute Agreement Analysis.
3 En Attribute column, poner Rating.
4 En Samples, poner Sample.
5 En Appraisers, poner Appraiser.
6 En Known standard/attribute, poner Attribute.
7 Checar Categories of the attribute data are ordered y poner OK

El contenido del archivo es como sigue:
Appraiser Sample Rating Attribute Appraiser Sample Rating Attribute
Simpson 1 2 2 Duncan 8 0 0
Montgomery 1 2 2 Hayes 8 0 0
Holmes 1 2 2 Simpson 9 -1 -1
Duncan 1 1 2 Montgomery 9 -1 -1
Hayes 1 2 2 Holmes 9 -1 -1
Simpson 2 -1 -1 Duncan 9 -2 -1
Montgomery 2 -1 -1 Hayes 9 -1 -1
Holmes 2 -1 -1 Simpson 10 1 1
Duncan 2 -2 -1 Montgomery 10 1 1
Hayes 2 -1 -1 Holmes 10 1 1
Simpson 3 1 0 Duncan 10 0 1
Montgomery 3 0 0 Hayes 10 2 1
Holmes 3 0 0 Simpson 11 -2 -2
Duncan 3 0 0 Montgomery 11 -2 -2
Hayes 3 0 0 Holmes 11 -2 -2
Simpson 4 -2 -2 Duncan 11 -2 -2
Montgomery 4 -2 -2 Hayes 11 -1 -2
Holmes 4 -2 -2 Simpson 12 0 0
Duncan 4 -2 -2 Montgomery 12 0 0
Hayes 4 -2 -2 Holmes 12 0 0
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Simpson 5 0 0 Duncan 12 -1 0
Montgomery 5 0 0 Hayes 12 0 0
Holmes 5 0 0 Simpson 13 2 2
Duncan 5 -1 0 Montgomery 13 2 2
Hayes 5 0 0 Holmes 13 2 2
Simpson 6 1 1 Duncan 13 2 2
Montgomery 6 1 1 Hayes 13 2 2
Holmes 6 1 1 Simpson 14 -1 -1
Duncan 6 1 1 Montgomery 14 -1 -1
Hayes 6 1 1 Holmes 14 -1 -1
Simpson 7 2 2 Duncan 14 -1 -1
Montgomery 7 2 2 Hayes 14 -1 -1
Holmes 7 2 2 Simpson 15 1 1
Duncan 7 1 2 Montgomery 15 1 1
Hayes 7 2 2 Holmes 15 1 1
Simpson 8 0 0 Duncan 15 1 1
Montgomery 8 0 0 Hayes 15 1 1
Holmes 8 0 0

Los resultados del anlisis se muestran a ontinuacin:

Gage R&R for Datos
Assessment Agreement

Appraiser # Inspected # Matched Percent 95 % CI
Duncan 15 8 53.33 (26.59, 78.73)
Hayes 15 13 86.67 (59.54, 98.34)
Holmes 15 15 100.00 (81.90, 100.00)
Montgomery 15 15 100.00 (81.90, 100.00)
Simpson 15 14 93.33 (68.05, 99.83)

# Matched: Appraiser's assessment across trials agrees with the
known standard.

Kendall's Correlation Coefficient

Appraiser Coef SE Coef Z P
Duncan 0.89779 0.192450 4.61554 0.0000
Hayes 0.96014 0.192450 4.93955 0.0000
Holmes 1.00000 0.192450 5.14667 0.0000
Montgomery 1.00000 0.192450 5.14667 0.0000
Simpson 0.93258 0.192450 4.79636 0.0000

Between Appraisers
Assessment Agreement

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# Inspected # Matched Percent 95 % CI
15 6 40.00 (16.34, 67.71)

# Matched: All appraisers' assessments agree with each other.
Fleiss' Kappa Statistics
Response Kappa SE Kappa Z P(vs > 0)
-2 0.680398 0.0816497 8.3331 0.0000
-1 0.602754 0.0816497 7.3822 0.0000
0 0.707602 0.0816497 8.6663 0.0000
1 0.642479 0.0816497 7.8687 0.0000
2 0.736534 0.0816497 9.0207 0.0000
Overall 0.672965 0.0412331 16.3210 0.0000

Kendall's Coefficient of Concordance

Coef Chi - Sq DF P
0.966317 67.6422 14 0.0000

All Appraisers vs Standard

Assessment Agreement

# Inspected # Matched Percent 95 % CI
15 6 40.00 (16.34, 67.71)

# Matched: All appraisers' assessments agree with the known
standard.

Fleiss' Kappa Statistics

Response Kappa SE Kappa Z P(vs > 0)
-2 0.842593 0.115470 7.2971 0.0000
-1 0.796066 0.115470 6.8941 0.0000
0 0.850932 0.115470 7.3693 0.0000
1 0.802932 0.115470 6.9536 0.0000
2 0.847348 0.115470 7.3383 0.0000
Overall 0.831455 0.058911 14.1136 0.0000


Kendall's Correlation Coefficient
Coef SE Coef Z P
0.958102 0.0860663 11.1100 0.0000

* NOTE * Single trial within each appraiser. No percentage of
assessment agreement within appraiser is plotted.
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Appraiser
P
e
r
c
e
n
t
Simpson Montgomery Holmes Hayes Duncan
100
80
60
40
20
0
95.0%CI
Percent
Date of study:
Reported by:
Name of product:
Misc:
Assessment Agreement
Appraiser vs Standard

Figura 6.31 Resultados del estudio de R&R por atributos

Interpretacin de resultados

Minitab muestra tres tablas como sigue: Cada evaluador vs el estndar, Entre evaluadores y Todos
los evaluadores vs estndar. Los estadsticos de Kappa y Kendall tambin se incluyen en cada una
de las tablas. En general estos estadsticos sugieren buen acuerdo.

El coeficiente de Kendall entre evaluadores es 0.966317 (p = 0.0); para todos los evaluadores vs
estndar es 0.958192 (p = 0.0). Sin embargo la observacin del desempeo de Duncan y Haues
indica que no se apegan al estndar.

La grfica de Evaluadores vs. Estndar proporciona una vista grfica de cada uno de los
evaluadores vs el estndar, pudiendo comparar fcilmente la determinacin de acuerdos para los
cinco evaluadores.

Se puede concluir que Duncan, Hayes y Simpson requieren entrenamiento adicional.
Mtodo sencillo
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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Tomar 50 piezas, 40 de las cuales dentro de especificaciones y 10 fuera de especificaciones
Probarlas con dispositivos pasa y no pasa por medio de 3 operadores
Si no coinciden todos los operadores en al menos el 90%, los dispositivos o gages pasa, no pasa
no son confiables



CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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7. MUESTREO DE ACEPTACIN POR ATRIBUTOS

7.1 EL PROBLEMA DE LA ACEPTACIN POR MUESTREO

Se ha estado utilizando para calificar los lotes de proveedores, sin embargo ha estado siendo
desplazado por mtodos preventivos como el CEP y el diseo de experimentos.

Si se recibe un lote de un proveedor, se toma una muestra y se evalan algunas de las
caractersticas del producto, en base a los resultados se toma una decisin sobre la disposicin del
lote, ya sea aceptados para su uso en produccin, o rechazados para que el proveedor tome
acciones.













Fig. 7.1 Proceso de inspeccin por muestreo

Hay 3 aspectos importantes del muestreo:
1. Su propsito es calificar los lotes, no estimar los parmetros del lote.
2. No proporcionan un mecanismo de control de calidad, simplemente aceptan o rechazan lotes.
3. Sirven como herramienta de auditora para segurar que la calidad de un lote est de acuerdo a
especificaciones.


Muestreo aleatorio estadstico
Lote N
Muestra n
Muestreo aleatorio estadstico
Lote N
Muestra n
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Existen 3 alternativas para calificar un lote:
1. Aceptar sin inspeccin. Con proveedores confiables.
2. Inspeccionar al 100%, separando los productos defectuosos.
3. Realizar un muestreo de aceptacin.

La aceptacin por muestreo es ms util en las situaciones siguientes:
1. Cuando las pruebas son destructivas.
2. Cuando el costo de la inspeccin 100% es muy alto.
3. Cuando la inspeccin 100% es muy tardada.
4. Cuando las cantidades a inspeccionar 100% son muy altas y con tasa de defectos baja, que
haga que se causen errores al inspeccionar, dejando pasar productos defectuosos.
5. Cuando el proveedor no es confiable al 100%, o su capacidad de proceso es baja.
6. Cuando hay riesgo de generar problemas legales por productos crticos.

VENTAJAS Y DESVENTAJAS DEL MUESTREO

Cuando se utiliza inspeccin por muestreo, se tienen las ventajas siguientes:
1. Es ms barato, requiriendo menos inspeccin.
2. Existe un menor manejo de producto o menor dao.
3. Se aplica a pruebas destructivas.
4. El rechazar un lote completo en lugar de slo las partes defectivas, motiva al proveedor a
mejorar su calidad.

El muestreo de aceptacin tambin presenta varias desventajas:
1. Existe el riesgo de aceptar lotes malos y de rechazar lotes buenos.
2. La informacin que se genera respecto al producto o proceso es poca.
3. El muestreo de aceptacin requiere documentacin y planeacin, no as la inspeccin 100%.

TIPOS DE PLANES DE MUESTREO

CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 292
Existen diversas clasificaciones de estos planes, una de ellas es la de variables y atributos. Una
caracterstica se expresa en variables si se puede medir, o en atributos si se califica como pasa no
pasa.

Un plan de muestreo simple es un procedimiento de calificacin de lotes, donde se toma una
muestra aleatoria de n partes y la disposicin del lote es determinada dependiendo de los
resultados de la muestra, aceptndose si se encuentran hasta c productos defectivos.

Un plan de muestreo doble implica que despus de tomar una muestra e inspeccionar, se toma
una decisin de (1) rechazar, (2) aceptar o (3) tomar una segunda muestra, si esto sucede, se
combina la informacin de la primera y de la segunda para tomar una decisin.

Un plan de muestreo mltiple es una extensin del doble, en el cual ms de dos muestras pueden
ser necesarias antes de tomar una decisin. Los tamaos de estas muestras son ms pequeos
que en el muestreo doble.

El muestreo secuencial implica la seleccin de unidades del lote, una por una, tomando decisiones
de aceptar o rechazar el lote despus de un cierto nmero de unidades.

Se pueden desarrollar planes de muestreo que produzcan resultados similares con cualquiera de
las modalidades anteriores.

FORMACIN DE LOTES

Para inspeccin de lotes, estos deben cumplir las caractersticas siguientes:

1. Deben ser homogneos, las unidades deben ser producidas por las mismas corridas de
produccin, en condiciones similares. Es difcil tomar acciones correctivas para lotes
mezclados.
2. Lotes grandes son preferibles a lotes pequeos, dado que la inspeccin es ms eficiente.
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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3. Los lotes deben manejarse en forma similar con el proveedor y con el cliente, las partes deben
estar empacadas adecuadamente para evitar riesgos de dao y permitir la seleccin de
muestra en forma sencilla.

MUESTREO ALEATORIO
Las muestras deben ser representativas del lote, no deben tomarse slo partes de las capas
superiores, sino de preferencia numerar las partes con un nmero y seleccionar con tablas de
nmeros aleatorios o tambin se puede estratificar el lote.

GUA DE APLICACIN DE PLANES DE MUESTREO
Un plan de aceptacin es el establecimiento del tamao de muestra a ser usado y el criterio de
aceptacin o rechazo para calificar lotes individuales.

Un esquema de aceptacin es un conjunto de procedimientos de planes de aceptacin en los
cuales se relacionan los tamaos de lote, tamao de muestra, criterio de aceptacin o rechazo, la
cantidad de inspeccin 100% y de muestreo.

Un sistema de muestreo es un conjunto de esquemas de muestreo. Los procedimientos de
muestreo de aceptacin son:

Procedimiento Procedimiento
Objetivos por atributos por Variables

1. Asegurar niveles de calidad Plan especfico Plan especfico
Para el consumidor y productor en base a curva OC en base a curva OC

2. Mantener la calidad en el Sistema de AQL Sistema de AQL
objetivo MIL-STD-105E MIL-STD-414

3. Asegurar el nivel de Sistema de AOQL Sistema de AOQL
calidad de salida de Dodge-Romig

6. Asegura la calidad no Planes LTPD de Planes LTPD con
menor que el objetivo de Dodge-Romig prueba de hiptesis.
Los clientes estn enfocados a mejorar la calidad de sus proveedores, seleccionando a los mejores
y trabajando en forma cercana para reducir su variabilidad, con tcnicas de control estadstico del
proceso. El muestreo de aceptacin se utiliza mientras se mejora la calidad con el proveedor.
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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7.2 MUESTREO SIMPLE POR ATRIBUTOS

Muestreo aleatorio simple
Un plan de muestreo simple se define por su tamao de muestra n y el nmero de aceptacin c. El
tamao del lote se especifica como N.

Por ejemplo si se tiene el plan:
N=10,000
n=89
c=2
Significa que de cada lote de 10,000 partes se toman al azar n=89 para inspeccin, si el nmero de
productos defectivos observados en la muestra d es menor o igual a c = 2, el lote se acepta, en
caso contrario se rechaza.

La curva OC

La curva caracterstica de operacin (OC) muestra la probabilidad de aceptar el lote (Pa o | en el
eje Y), versus la fraccin defectiva media en el lote (p en el eje X), mostrando la potencia de
discriminacin del plan de muestreo.










Fig. 7.2 Curva caracterstica de operacin y plan de muestreo


0.05 0.1 0.15 0.2 0.25 0.3 p Prov.
Pa
1
0.8
0.5
0.3
0.1
Curva caracterstica de
Operacin dado una
Tamao de muestra n
y un criterio de aceptacin c
0.05 0.1 0.15 0.2 0.25 0.3 p Prov.
Pa
1
0.8
0.5
0.3
0.1
Curva caracterstica de
Operacin dado una
Tamao de muestra n
y un criterio de aceptacin c
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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La curva caracterstica de operacin se obtiene graficando p versus la probabilidad binomial de
encontrar y aceptar a lo ms c defectivos o sea:

= <= =
c
d
d n d
p p
d n d
n
c d P Pa
0
) 1 (
)! ( !
!
) { (7.1)
Esto mismo se puede aproximar por la distribucin de Poisson para efectos prcticos.

Se puede usar Excel para los clculos, un ejemplo utilizando la distribucin binomial acumulada
(opcin VERDADERA en Excel) se muestra a continuacin:

Binomial=distr.binom(c, n, p, 1) Poisson=Poisson(c, n*p, 1)


Fig. 7.3 Clculo de la Curva caracterstica de operacin OC

En este caso si los lotes tienen un 2% de defectivo, su probabilidad de aceptacin es de 0.74.
Significa que de cada 100 lotes recibidos, se aceptarn 74 y se rechazarn 26.

A continuacin se muestran algunas variaciones de la curva caracterstica de operacin variando
tanto como el criterio de aceptacin c manteniendo n constante y despus manteniendo c como
constante y variando n.
p P(A<x<X)
0.01 0.91
0.02 0.736 Pa
0.03 0.555
0.04 0.400
0.05 0.279
0.06 0.190
0.07 0.126
0.08 0.083
0.09 0.053
0.1 0.034
0.11 0.021
0.12 0.013
0.13 0.008
0.14 0.005
0.15 0.003
0.16 0.002 p
0.17 0.001 Traza la curva OC Tipo B para el plan de muestreo nico n=50 y c=1.
0.18 0.001
0.19 0.000
0.2 0.000
P(A<x<X)
0
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
0.6
0.7
0.8
0.9
1
0
.
0
1
0
.
0
2
0
.
0
3
0
.
0
4
0
.
0
5
0
.
0
6
0
.
0
7
0
.
0
8
0
.
0
9
0
.
1
0
.
1
1
0
.
1
2
0
.
1
3
0
.
1
4
0
.
1
5
0
.
1
6
0
.
1
7
0
.
1
8
0
.
1
9
0
.
2
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 296

Manteniendo n constante y variando c se tiene:
p
n = 89,
c=0
n = 89
c=1
n = 89,
c =2
0.01 0.64 0.93 0.99
0.01 0.41 0.78 0.94
0.02 0.17 0.47 0.74
0.03 0.07 0.25 0.50
0.04 0.03 0.12 0.30
0.05 0.01 0.06 0.17
0.06 0.00 0.03 0.09
0.07 0.00 0.01 0.05
0.08 0.00 0.01 0.02
0.09 0.00 0.00 0.01


Pa






P (fraccin defectiva en el lote)

Figura 7.4 Curvas caractersticas de operacin diversas para n = 89 y c = variable


Para el caso en que lo que se vare sea n se tiene:

p
n = 50,
c=2
n =
100, c
= 2
n = 200,
c = 2
0.005 0.997944 0.9859 0.920161
0.01 0.986183 0.9206 0.676679
0.02 0.921572 0.6767 0.235148
0.03 0.810798 0.4198 0.059291
0.04 0.676714 0.2321 0.012489
0.05 0.540533 0.1183 0.002336
0.06 0.416246 0.0566 0.0004
0.07 0.310789 0.0258 6.40E-05
0.08 0.225974 0.0113 9.66E-06
0.09 0.16054 0.0048 1.39E-06

c=0, 1,
2
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 297


Pa


p (fraccin defectiva en el lote)

Figura 7.5 Curvas caractersticas de operacin diversas para n = variable y c =2

Puntos especficos en la curva OC

Un consumidor frecuentemente fija de comn acuerdo con su proveedor, un nivel de calidad
aceptable (AQL), que representa el nivel ms pobre de calidad que el consumidor considera
aceptable como promedio, normalmente es la fraccin defectiva que tiene un 95% de ser
aceptada (| = 0.95).

Por otra parte el consumidor quiere rechazar los lotes en la mayora de los casos cuando tengan
una fraccin defectiva de a lo ms un porcentaje defectivo tolerable en el lote (LTPD),
normalmente esta fraccin defectiva corresponde a una probabilidad de aceptacin del 10% o
rechazo del 90% de las veces. Tambin se el denomina Nivel de Calidad Rechazable.

CURVAS OC TIPO A y B.

La curva OC tipo A utilizando la distribucin hipergeomtrica se construye cuando se tiene un lote
aislado de tamao finito, se utiliza cuando n/N >=0.10.

La curva OC tipo B utiliza la distribucin binomial o de Poisson cuando n/N < 0.1, sin embargo en
los niveles donde n/N=0.1 ambas curvas A o B son muy parecidas.

DISEO DE UN PLAN DE MUESTREO EN BASE A CURVA OC

n=50, 100,
200 2
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 298
En este mtodo se especifican 2 puntos por los que debe pasar la curva OC, uno de ellos tiene
coordenadas (p
1
, 1-o) y el otro (p
2
, |), con p
1
> p
2
. Se utiliza el nomograma Binomial para
encontrar los valores de n y c para el plan.

En el nomograma se hacen coincidir con una lnea recta el valor de p
1
en el eje vertical izquierdo
con 1-o en el eje vertical derecho, y con otra lnea recta se hace coincidir p
2
en el eje vertical
izquierdo con | en el eje vertical derecho. En el punto de cruce se encuentra el valor de n y de c
del plan de muestreo simple. Ver nomograma y ejemplo en la pgina siguiente.

Cuando p
1
es igual al AQL y p
2
es el LTPD, los puntos correspondientes en la curva OC se
denominan riesgo del productor (1-o) y riego del consumidor |.

Inspeccin rectificadora

Los programas de aceptacin por muestreo normalmente requieren accin correctiva cuando los
lotes son rechazados, de tal forma que el proveedor los selecciona al 100% remplazando los
artculos defectivos por buenos. Esta actividad se denomina inspeccin rectificadora por su
impacto en la calidad de salida final hacia la planta.











Fig. 7.6 Inspeccin rectificadora (las piezas malas son reemplazadas y reintegradas al lote)
Suponiendo que los lotes que llegan tienen una fraccin defectiva p
0
, despus de la actividad de
inspeccin bajo un plan de muestreo, algunos lotes sern aceptados y otros sern rechazados. Los

Entrada de 100
lotes de cierto
proveedor con
N=10,000 y
p = 0.02
n =200
c = 1
P=0.02
Pa
91 lotes son
rechazados y
seleccionados
por el
proveedor,
deja 910,000
piezas OK
9 lotes son
aceptados a pesar
de tener un 2%
defectivo:
Es decir ingresan
88,820 piezas OK
Y 1800 piezas KO
Total de piezas OK
998,820
Piezas defectivas
1,800
0.18% AOQ
AOQ
Alm.
Entrada de 100
lotes de cierto
proveedor con
N=10,000 y
p = 0.02
n =200
c = 1
P=0.02
Pa
91 lotes son
rechazados y
seleccionados
por el
proveedor,
deja 910,000
piezas OK
9 lotes son
aceptados a pesar
de tener un 2%
defectivo:
Es decir ingresan
88,820 piezas OK
Y 1800 piezas KO
Total de piezas OK
998,820
Piezas defectivas
1,800
0.18% AOQ
AOQ
Alm.
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lotes rechazados sern seleccionados al 100% por el proveedor remplazando los artculos
defectuosos por buenos despus se integran a los lotes que ingresan a la planta obtenindose una
fraccin defectiva p
1
menor a la original, denominada calidad promedio de salida AOQ, en lotes de
tamao N se tiene:

1. n artculos de la muestra no contienen defectivos.
2. N-n artculos los cuales si el lote se rechaz no contenan defectivos.
3. N-n artculos los cuales si el lote se acepta contienen p(N-n) defectivos.

As los lotes despus del proceso rectificador, contienen un nemro esperado de defectivos igual a
P
a
p(N-n) con la cual se puede expresar una fraccin defectiva media AOQ como sigue,


N
n N p P
AOQ
a
) (
= (7.2)

Ejemplo 7.1 Suponiendo que N=10,000, c=2 y que la calidad de entrada p=0.01.
Como en la curva caracterstica de operacin (para n=89, c=2) cuando p=0.01, Pa = 0.9397,
entonces el AOQ es:

0093 . 0
10000
) 89 10000 )( 01 . 0 )( 9397 . 0 ( ) (
=

=
N
n N p P
AOQ
a

AOQ ~ 0.93% en lugar del 1% entrante.

Cuando N es grande respecto al tamao de muestra n, se tiene,

p P AOQ
a
~ (7.3)


La curva de AOQ versus p se muestra a continuacin:

CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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CURVA AOQ

n=89, c=2
Figura 7.7 Curva de calidad de salida promedio (AOQ)

De la grfica anterior se observa que la curva AOQ tiene un valor mximo o la peor fraccin
defectiva de salida hacia la planta o proceso, que se denomina lmite de calidad de salida
promedio AOQL el cual es aproximadamente 0.0155 o 1.55% defectivo.

El nmero promedio de inspeccin total por lote es ATI, igual a:

) )( 1 ( n N Pa n ATI + = (7.4)


Ejemplo 7.2 Con N=10000, n=89, c=2 y p=0.01. Como Pa = 0.9397 se tiene:
ATI = 89 + (1-0-9397)(10000 89) = 687

Siendo este el total de piezas que en promedio se inspeccionarn por lote, algunas por el cliente
(n) y otras por el proveedor (N-n) en base al plan de muestreo.

Las curvas ATI para diferentes tamaos de lote se muestra a continuacin, para n = 89 y c = 2:
p P(A<x<X) AOQ
0.001667 1.00 0.002
0.003333 0.99 0.003
0.005000 0.96 0.005
0.006667 0.92 0.006
0.008333 0.87 0.007 Pa Probabilidad de aceptacin del lote teniendo una fraccin defectiva p
0.010000 0.81 0.008
0.011667 0.74 0.009
0.013333 0.68 0.009
0.015000 0.61 0.009
0.016667 0.54 0.009
0.018333 0.48 0.009
0.020000 0.42 0.008
0.021667 0.37 0.008
0.023333 0.32 0.007
0.025000 0.27 0.007
0.026667 0.23 0.006
0.028333 0.20 0.006
0.030000 0.17 0.005
0.031667 0.14 0.005
0.033333 0.12 0.004
0.035000 0.10 0.004
0.036667 0.08 0.003 Fraccin defectiva en el lote p
0.038333 0.07 0.003
0.040000 0.06 0.002
0.041667 0.05 0.002
0.043333 0.04 0.002
0.045000 0.03 0.001
0.046667 0.03 0.001
0.048333 0.02 0.001
0.050000 0.02 0.001
AOQ
0
0.001
0.002
0.003
0.004
0.005
0.006
0.007
0.008
0.009
0.01
0 0
0
. 0
1
0
. 0
1
0
. 0
1
0
. 0
1
0
. 0
1
0
. 0
1
0
. 0
2
0
. 0
2
0
. 0
2
0
. 0
2
0
. 0
2
0
. 0
2
0
. 0
3
0
. 0
3
0
. 0
3
0
. 0
3
0
. 0
3
0
. 0
3
0
. 0
4
0
. 0
4
0
. 0
4
0
. 0
4
0
. 0
4
0
. 0
4
0
. 0
5
0
. 0
5
0
. 0
5
0
. 0
5
AOQL
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p Pa ATI-N=1000 ATI-N=5000 ATI-N=10000
0 1 98 140 191
0 1 144 385 687
0 1 329 1383 2700
0 0 546 2552 5060
0 0 723 3506 6985
0 0 843 4155 8295
0 0 916 4549 9089
0 0 957 4770 9536
0 0 979 4887 9772
0 0 990 4947 9892











Figura 7.8 Curvas de nmero de muestras inspeccionadas promedio por el cliente y por el
proveedor

Los planes de Dodge-Romig minimizan el ATI para un AOQL dado, haciendo ms eficiente la
inspeccin por muestreo.

Muestreo doble, mltiple y secuencial

Estos tipos de muestreo son extensiones del muestreo simple, se pueden disear curvas CO
equivalentes.

ATI
p
N=10000
N=5000
N=1000
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PLANES DE MUESTREO DOBLE

Un plan de muestreo doble es un procedimiento en el cual, bajo ciertas circunstancias, se requiere
una segunda muestra para calificar el lote. El plan se define por los parmetros siguientes:

n
1
= tamao de muestra en la primera muestra.
c
1
= criterio de aceptacin en la primera muestra.
n
2
= tamao de muestra en la segunda muestra.
c
2
= criterio de aceptacin en la segunda muestra.

Al aplicar el plan el nmero de defectivos observados en la primera muestra es d
1
y los defectivos
observados en la segunda muestra es d
2.


Suponiendo que:
n
1
= 50
c
1
= 1
n
2
= 100
c
2
= 3

En la primera muestra de n=50 artculos, se acepta el lote si el total de defectivos d
1
<= c
1
=1,
rechazndose si d
1
>c
2
=3.

Si d
1
es igual a 2 o a 3, se toma una segunda muestra de 100 artculos, se inspecciona y se
determina el nmero de defectivos d
2
.
Se acepta el lote si [d
1
+d
2
<= c
2
=3] y se rechaza en caso contrario.

En ambas muestras la primera y segunda, la inspeccin se continua hasta inspeccionar todos los
artculos, por eso se denomina inspeccin completa, el nmero promedio de artculos
inspeccionados por muestra ASN es,

) 1 (
1 2 1
P n n ASN + = (7.5)

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donde P
1
es la probabilidad de tomar una decisin en la primera muestra o sea:
P
1
=P{el lote se acepta en la primera muestra} + P{el lote es rechazado en la primera
muestra}

Si por el contrario la inspeccin de los artculos se suspende cuando se encuentra un nmero de
defectivos mayor al criterio de aceptacin c
2
y no se inspeccionan todos los artculos, el mtodo se
denomina inspeccin recortada, el comportamiento de ambos esquemas se muestra a
continuacin,



Insp. completa

n = cte.
Insp. recortada




Figura 7.9 Diferencias en muestras inspeccionadas por el cliente promedio con inspeccin
completa y recortada

Por tanto el muestreo doble es ms econmico que el simple slo para ciertos valores de p, ya que
si p tiene valores intermedios el ASN es mayor implicando mayores costos de inspeccin.

La inspeccin recortada si es ms econmica sin embargo proporciona menos informacin acerca
del lote.

CURVA CARACTERSTICA DE OPERACIN
Del ejemplo anterior, si Pa es la probabilidad de aceptacin, esta se forma con la probabilidad de
aceptacin en la primera muestra ms la probabilidad de aceptacin en la segunda muestra ya sea
usando la distribucin binomial o la de Poisson. O sea:
p
ASN
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II
a
I
a a
P P P + = (7.6)
) 1 (
1 1
n d P P
I
a
s = (7.7)
) 0 ( ) 3 ( ) 1 ( ) 2 (
2 2 1 1 2 2 1 1
n d xP n d P n d xP n d P P
II
a
= = + s = = (7.8)

Fig. 7.7 Curva caracterstica de operacin bajo muestreo doble
p
Pa (1
muestra) Pa(2a.muestra) Pa Total En 1a. Muestra
0.005 0.974 0.023 0.997 0.976
0.01 0.911 0.060 0.971 0.929
0.02 0.736 0.083 0.819 0.877
0.03 0.555 0.056 0.611 0.908
0.04 0.400 0.027 0.428 0.971
0.05 0.279 0.011 0.290 1.022
0.06 0.190 0.004 0.194 1.047
0.07 0.126 0.001 0.128 1.052
0.08 0.083 0.000 0.083 1.046
0.09 0.053 0.000 0.053 1.036

Pa

Pa total
Pa
1 muestra
Pa 2 muestra
p
Figura 7.10 Probabilidad de aceptar en la primera o en la segunda muestra en muestreo doble

DISEO DE PLANES DE MUESTREO DOBLE
Como en el caso del muestreo simple, es frecuentemente necesario disear un plan de muestreo
doble tomando como referencia las coordenadas de la curva OC (p
1
, 1-o) y (p
2
, |) ya sea con n
1
=n
2

o con n
2
= 2n
1
. Para lo que se emplean las tablas de Grubbs (ver pginas siguientes).


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Pgina 305
INSPECCIN RECTIFICADORA

Cuando se usa el esquema de inspeccin rectificadora, la curva AOQ est dada por,


N
p n n N P n N P
AOQ
II
a
I
a
)} ( ) ( {
2 1 1
+
= (7.9)

Asumiendo que todos los defectivos son remplazados por artculos buenos en los lotes
rechazados, la curva de inspeccin total promedio es,

) 1 ( ) (
2 1 a
II
a
I
a
P N P n n nP ATI + + + = (7.10)
donde
II
a
I
a a
P P P + =

PLANES DE MUESTREO MLTIPLE

Un muestreo mltiple es una extensin del doble, donde pueden requerirse ms de dos muestras
para calificar el lote, por ejemplo un plan de 5 etapas es el siguiente:

Muestra
acumulada Aceptar Rechazar
20 0 3
40 1 4
60 3 5
80 5 7
100 8 9

Al terminar cada etapa de muestreo, si el nmero de defectivos es menor o igual al nmero de
aceptacin, se acepta el lote. Si en cualquier etapa el nmero de defectivos acumulado excede el
nmero de rechazo, se rechaza el lote, de otra forma se sigue tomando una siguiente muestra.

Una ventaja que tiene es que el tamao de muestra es ms pequeo que en el caso del simple o
del doble, con una mejor eficiencia de inspeccin. Sin embargo es ms complejo de administrar.

CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 306
MUESTREO SECUENCIAL

Es una extensin de los planes anteriores, aqu se toma una secuencia de muestras del lote, cuya
magnitud ser determinada por los resultados del proceso de muestreo. Si el tamao del subgrupo
inspeccionado en cada etapa es mayor que uno, se denomina muetreo secuencial de grupo, si es
uno, como es nuestro caso, se denomina muestreo secuencial artculo por artculo, basado en
Wald (1947).

En este caso se tienen 2 lneas, una de aceptacin y otra de rechazo, teniendo como dato las
coordenadas de la curva OC (p
1
, 1-o) y (p
2
, |), las ecuaciones de las lneas son:

sn h X
ACEPTACION
+ =
1
(7.11)
sn h X
RECHAZO
+ =
2


k h
|
|
.
|

\
|
=
|
o 1
log
1

k h |
.
|

\
|
=
o
| 1
log
2
(7.12)
) 1 (
) 1 (
log
2 1
1 2
p p
p p
k

=
k
p
p
s
|
|
.
|

\
|

=
2
1
1
1
log

Ejemplo 7.3 Si p
1
=0.01, p
2
=0.06, o=0.05, |=0.10, se tiene al substituir valores en las ecuaciones
anteriores:

k = 0.80066
h
1
=1.22
h
2
=1.57
s=0.028

CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 307
Por tanto las ecuaciones de las lneas de aceptacin y rechazo son:

X
A
= -1.22 + 0.028n Lnea de aceptacin
X
B
= 1.57 + 0.028n Lnea de rechazo

Haciendo una tabla de valores donde el nmero de aceptacin es el entero ms prximo menor
que o igual a X
A
y el nmero de rechazo es el entero ms prximo superior que o igual a X
R.


MUESTREO SECUENCIAL
n Xa Xr Xa Xr n Xa Xr Xa Xr
1 -1.192 1.598 -1 2 24 -0.548 2.242 -1 3
2 -1.164 1.626 -1 2 25 -0.52 2.27 -1 3
3 -1.136 1.654 -1 2 26 -0.492 2.298 -1 3
4 -1.108 1.682 -1 2 27 -0.464 2.326 -1 3
5 -1.08 1.71 -1 2 28 -0.436 2.354 -1 3
6 -1.052 1.738 -1 2 29 -0.408 2.382 -1 3
7 -1.024 1.766 -1 2 30 -0.38 2.41 -1 3
8 -0.996 1.794 -1 2 31 -0.352 2.438 -1 3
9 -0.968 1.822 -1 2 32 -0.324 2.466 -1 3
10 -0.94 1.85 -1 2 33 -0.296 2.494 -1 3
11 -0.912 1.878 -1 2 34 -0.268 2.522 -1 3
12 -0.884 1.906 -1 2 35 -0.24 2.55 -1 3
13 -0.856 1.934 -1 2 36 -0.212 2.578 -1 3
14 -0.828 1.962 -1 2 37 -0.184 2.606 -1 3
15 -0.8 1.99 -1 2 38 -0.156 2.634 -1 3
16 -0.772 2.018 -1 3 39 -0.128 2.662 -1 3
17 -0.744 2.046 -1 3 40 -0.1 2.69 -1 3
18 -0.716 2.074 -1 3 41 -0.072 2.718 -1 3
19 -0.688 2.102 -1 3 42 -0.044 2.746 -1 3
20 -0.66 2.13 -1 3 43 -0.016 2.774 -1 3
21 -0.632 2.158 -1 3 44 0.012 2.802 0 3
22 -0.604 2.186 -1 3 45 0.04 2.83 0 3
23 -0.576 2.214 -1 3 46 0.068 2.858 0 3

En este caso no se puede tomar una decisin de aceptacin hasta que hayan transcurrido las
suficientes muestras, que hagan que la lnea de aceptacin tenga valores positivos en Xa, 44 en
este caso, y no se puede rechazar hasta en la 2. Muestra.

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3
2
1
0 20 40 60
-1

Fig. 7.11 Comportamiento del muestreo secuencial

CURVA OC y ASN
Para esta curva se incluyen 3 puntos, (p
1
, 1-o), (p
2
, |) y el punto medio de la curva en p=s y Pa = h
2

/(h
1
+h
2
). Las muestras inspeccionadas promedio son:

C
B
P
C
A
P ASN
a a
) 1 ( + |
.
|

\
|
= (7.13)

Donde,

o
|

=
1
log A


o
|
=
1
log B

|
|
.
|

\
|

+
|
|
.
|

\
|
=
1
2
1
2
1
1
log ) 1 ( log
p
p
p
p
p
p C


INSPECCIN RECTIFICADORA

La calidad media de salida AOQ ~ P
a
p y el nmero promedio de muestras inspeccionadas total es:

N P
C
A
P ATI
a a )
1 ( + |
.
|

\
|
= (7.14)
Lnea de
aceptacin
Lnea de
Rechazo
No. de
defectos
acumulado
Nmero
de
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7.4 TABLAS DE MUESTREO MIL-STD-105E (ANS Z1.4, ISO 2859)

Descripcin de la norma

Esta norma se desarroll durante la segunda guerra mundial emitindose en 1950 con la versin
A. La versin D se public en 1963 y en 1971 fue adoptada por la ANSI con pequeos cambios
como la Z1.4 y en 1973 fue adoptada por la ISO como la norma ISO 2859. En 1989 se liber la
versin E.

La norma proporciona tres tipos de muestreo (con curvas OC equivalentes):
- Muestreo simple.
- Muestreo doble.
- Muestreo mltiple

En cada uno de los casos se prevn los siguientes tipos de inspecciones:

- Inspeccin normal.
- Inspeccin estricta.
- Inspeccin reducida.

Se inicia con la inspeccin normal, se pasa a estricta cuando se observa mala calidad del
proveedor y se usa la reducida cuando la calidad del proveedor es buena, reduciendo los
tamaos de muestra.

El punto focal de la norma es el AQL (nivel de calidad aceptable entre 0.1% y 10%),
negociado entre cliente y proveedor. Los valores tpicos de AQL para defectos mayores es
de 1%, 2.5% para defectos menores y 0% para defectos crticos. Cuando se utiliza para
planes de defectos por unidad se tienen 10 rangos adicionales de AQLs hasta llegar a 1000
defectos por cada 100 unidades, los noveles pequeos de AQL se pueden utilizar tanto
para controlar fraccin defectiva como defectos por unidad.

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El tamao de muestra en el estndar est determinado por el tamao del lote y por la
seleccin del nivel de inspeccin. Se proporcionan tres niveles de inspeccin, donde el
nivel II se considera normal; el nivel I requiere alrededor de la mitad de la inspeccin del
nivel II y se usa cuando se requiere menos discriminacin; el nivel III requiere alrededor del
doble de inspeccin del nivel II, y se usa cuando se requiere ms discriminacin. Hay
tambin cuatro niveles especiales de inspeccin, S-1, S-2, S-3 y S-4, estos usan tamaos de
muestra muy pequeos y slo deben usarse cuando los riesgos grandes del muestreo sean
aceptables.

Para un AQL especfico, un nivel de inspeccin y un tamao de lote dado, el estndar MIL-
STD-105E proporciona un plan de muestreo normal que se utilizar conforme el proveedor
produzca productos con calidad AQL o mejor. Tambin proporciona un mecanismo de
cambio de cambio a inspeccin estricta o reducida como se ilustra en la figura y se
describe a continuacin.

1. Normal a estricta. Cuando se tiene inspeccin normal, la inspeccin estricta se instituye
cuando cundo dos de cinco lotes consecutivos han sido rechazados.

2. Estricta a normal. Cuando se tiene inspeccin estricta, la inspeccin normal se instituye
cuando cinco lotes consecutivos son aceptados.

3. Normal a reducida. Cuando se tiene inspeccin normal, la inspeccin reducida se instituye
cuando se cumple con todas las condiciones siguientes:

a. Diez lotes consecutivos han sido aceptados con inspeccin normal.
b. El nmero total de defectivos en las muestras de los diez lotes precedentes es menor o
igual a el nmero lmite aplicable del estndar.
c. La produccin de lotes ha sido continua sin interrupciones mayores.
d. La inspeccin reducida se considera adecuada por la funcin responsable de la
inspeccin por muestreo.

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4. Reducida a normal. Cuando se tiene inspeccin reducida, la inspeccin normal se instituye
cuando se cumple cualquiera de las condiciones siguientes:

a. Un lote es rechazado.
b. Cuando el procedimiento de muestreo termina sin decisin de aceptacin o rechazo, el
lote se acepta pero se cambia a inspeccin normal en el prximo lote.
c. La produccin es irregular o se retarda en entregas.
d. Otras condiciones que fuercen a cambiar a la inspeccin normal.

5. La Inspeccin se descontina. Cuando diez lotes se acepten con inspeccin estricta y el
proveedor tome acciones para mejorar su calidad.















Fig. 7.12 Reglas de cambio de planes de inspeccin




- 10 lotes aceptados
- Produccin regular
- Aprobado por la autoridad
responsable.
- Se rechaza un Lote
- Lotes aceptados con no
conformidades encontrndose entre
Ac y Re del plan, o
- Produccin irregular
- Otras condiciones de deteccin.
2 de 5.
Lotes consecutivos.
No aceptados.
5 consecutivos.
Lotes aceptados

Reducido
10 Lotes consecutivos aceptados

Normal

Estricto
Inspeccin discontinua con Z1.4
INICIO Iniciando las reglas para el Sistema ANSI Z1.4
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Fig. 7.13 Comparacin entre los planes normal, reducido y estricto

PROCEDIMIENTO
Los pasos a seguir para el uso de las normas es el siguiente:

1. Negociacin del AQL (cliente proveedor).
2. Decisin del nivel de inspeccin.
3. Determinacin del tamao del lote.
4. Consultar la tabla 1 (ver apndice) y localizar la letra cdigo correspondiente al tamao del
lote y el nivel de inspeccin.
5. Decisin en cuanto al procedimiento de muestreo a utilizar (simple, doble, mltiple).
6. Uso de la tabla correcta para encontrar el tipo de plan a utilizar (las tablas se encuentran en el
apndice).
7. Uso de la tablas para inspeccin reducida y estricta, cuando se requieran hacer cambios.

Ejemplo 7.4 Si N= 2,000 y AQL= 0.65% usando el nivel II de inspeccin:

1. La tabla I indica la letra cdigo K.
2. La tabla II-A para inspeccin normal indica el plan de muestreo n=125 y c=2.
3. La tabla II-B para inspeccin estricta indica el plan de muestreo n= 125, c=1.

0
0.2
0.4
0.6
0.8
1
1.2
0.00 0.01 0.01 0.01 0.02 0.02 0.02 0.03 0.03 0.03 0.04 0.04 0.04 0.05 0.05
Normal Rigurosa Reducida
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La flecha descendente cambia la c, la letra de cdigo y el tamao de muestra, lo mismo para la
ascendente. Por ejemplo, un AQL de 1.5% y letra F ser cambiado a letra G con tamao de
muestra 32 en lugar de 20.

Para el caso de muestreo doble con los datos anteriores, la letra cdigo es K y de las III-A, III-B y
III-C se obtienen los planes de inspeccin normal (n
1
= n
2
=80, c
1a
=0, c
ir
=3, c
2a
=3), estricta (mismas
que n
1
y n
2
, c
1a
=0, c
ir
=2, , c
2a
=1, c
2r
=2) y reducida (n
1
= n
2
=32, c
1a
= c
2a
=0, c
2r
=3, c
2r
=4).


DISCUSIN

Todas las curvas OC son tipo B, tambin se proporcionan curvas para el ASN y datos del AOQL.

El estndar MIL-STD-105E est orientado al AQL, se enfoca al lado de riesgo del productor de la
curva OC, la parte restante de la curva depende de la seleccin del nivel de inspeccin. Los
tamaos de muestra seleccionados son 2, 3, 5, 8, 13, 20, 32, 50, 80, 125, 200, 315, 500, 800, 1250
y 2000.

Si se grafica el tamao medio del rango de lotes contra el logaritmo del tamao de muestra se
obtiene una recta hasta n=80 y despus una recta con una pequea pendiente. Como la razn de
N a n es decreciente conforme aumenta N se economiza en la inspeccin.

El estndar civil ANSI/ASQC Z1.4 o ISO 2859 es la contraparte del estndar MIL-STD-105E,
difiriendo en que:

1. Se usa el trmino No conforme o no conformancia o porcentaje no conforme.
2. Cambian ligeramente las reglas de cambio agregndose una opcin para inspeccin reducida
sin el uso de nmeros lmite.
3. Se agregan varias tablas que muestran el desempeo de los planes, como el AOQL, fracciones
defectivas para Pa = 0.1 y Pa = 0.95, curvas de ASN y OC.
4. Hay una descripcin detallada de los planes de muestreo simples.
5. Se proporciona un esquema ilustrando las reglas de cambio en inspeccin.
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MIL-STD-105E
Lote S-1 S-2 S-3 S-4 I II III
2-8 A A A A A A B
9-15 A A A A A B C
16-25 A A B B B C D
26-50 A B B C C D E
51-90 B B C C C E F
91-150 B B C D D F G
151-280 B C D E E G H
281-500 B C D E F H J
501-1 200 C C E F G J K
1 201-3 200 C D E G H K L
3 201-10 000 C D F G J L M
10 001-35 000 C D F H K M N
35 001-150 000 D E G J L N P
150 001-500 000 D E G J M P Q
500 001 ----- D E H K N Q R
Niveles de inspeccin generales Niveles de inspeccin especiales
Letras cdigo para el tamao de muestra
Tabla de inspeccin normal II-A
Letra cdigo
para tamao Tamao de 0.01 0.015 0.025 0.04 0.065 0.1 0.15 0.25 0.4 0.65 1 1.5 2.5 4
de muestra muestra Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re
A 2
B 3 0 1
C 5 0 1
D 8 0 1
E 13 0 1 1 2
F 20 0 1 1 2 2 3
G 32 0 1 1 2 2 3 3 4
H 50 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6
J 80 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8
K 125 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 10 11
L 200 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 10 11 14 15
M 315 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 10 11 14 15 21 22
N 500 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 10 11 14 15 21 22
P 800 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 10 11 14 15 21 22
Q 1250 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 10 11 14 15 21 22
R 2000 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 10 11 14 15 21 22
Usar el primer plan de muestreo debajo de la flecha Ac Nmero de aceptacin
Usar el primer plan de muestreo arriba de la flecha Re Nmero de rechazo
Niveles de calidad aceptables AQL (%)
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.
Figura 7.14 Tablas de muestreo simple por atributos
Tabla de inspeccin rigurosa II-B
Letra cdigo
para tamao Tamao de 0.01 0.015 0.025 0.04 0.065 0.1 0.15 0.25 0.4 0.65 1 1.5 2.5 4
de muestra muestra Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re
A 2
B 3
C 5 0 1
D 8 0 1
E 13 0 1
F 20 0 1 1 2
G 32 0 1 1 2 2 3
H 50 0 1 1 2 2 3 3 4
J 80 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6
K 125 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 8 9
L 200 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 8 9 12 13
M 315 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 8 9 12 13 18 19
N 500 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 8 9 12 13 18 19
P 800 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 8 9 12 13 18 19
Q 1250 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 8 9 12 13 18 19
R 2000 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 8 9 12 13 18 19
S 3150 1 2
Usar el primer plan de muestreo debajo de la flecha Ac Nmero de aceptacin
Usar el primer plan de muestreo arriba de la flecha Re Nmero de rechazo
Niveles de calidad aceptables AQL (%)
Tabla de inspeccin reducida II-C
Letra cdigo
para tamao Tamao de 0.01 0.015 0.025 0.04 0.065 0.1 0.15 0.25 0.4 0.65 1 1.5 2.5 4
de muestra muestra Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re
A 2
B 2 0 1
C 2 0 1
D 3 0 1
E 5 0 1 0 2
F 8 0 1 0 2 1 3
G 13 0 1 0 2 1 3 1 4
H 20 0 1 0 2 1 3 1 4 2 5
J 32 0 1 0 2 1 3 1 4 2 5 3 6
K 50 0 1 0 2 1 3 1 4 2 5 3 6 5 8
L 80 0 1 0 2 1 3 1 4 2 5 3 6 5 8 7 10
M 125 0 1 0 2 1 3 1 4 2 5 3 6 5 8 7 10 10 13
N 200 0 1 0 2 1 3 1 4 2 5 3 6 5 8 7 10 10 13
P 315 0 1 0 2 1 3 1 4 2 5 3 6 5 8 7 10 10 13
Q 500 0 1 0 2 1 3 1 4 2 5 3 6 5 8 7 10 10 13
R 800 0 2 1 3 1 4 2 5 3 6 5 8 7 10 10 13
Usar el primer plan de muestreo debajo de la flecha Ac Nmero de aceptacin
Usar el primer plan de muestreo arriba de la flecha Re Nmero de rechazo
NOTA: Si se ha excedido el nmero de aceptacin, sin alcanzar el nmero de rechazo, aceptar el lote pero regresar a la inspeccin normal
Niveles de calidad aceptables AQL (%)
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7. 5 PLANES DE MUESTREO DE DODGE- ROMIG (1920)

Desarrollaron dos tipos de planes usando inspeccin rectificadora:
1. Planes para el porcentaje defectuoso tolerable en el lote LTPD y
2. Los que proporcionan un lmite de la calidad mxima promedio de salida AOQL especificado.

Los planes anteriores basados en AQL no son adecuados para el caso del ensamble de productos
complejos. La tabla siguiente muestra la fraccin defectiva en ppm dependiendo del AQL
aceptable.

AQL ppm
10% 100,000
1% 10,000
0.10% 1,000
0.01% 100
0.00% 10
0.00% 1

Ejemplo 7.5 Un equipo que tiene 100 componentes y que sus componentes tienen en promedio
un AQL = 0.5% , por tanto la probabilidad de que el equipo trabaje es de:

6058 . 0 ) 995 . 0 ( ) _ (
100
= = adecuada funcin P

Por tanto es obvio que se requieran planes de proteccin del LTPD, aun cuando el AQL sea muy
bajo. Para esto se utilizan los planes de Dodge-Romig principalmente para inspeccin de sub-
ensambles.

Los planes de Dodge-Romig de AOQL y LTPD estn diseados para minimizar la inspeccin total
promedio (ATI).

Para ambos se tiene una tabla de muestreo doble y simple. Son tiles cuando el rechazo medio
del proceso es bajo (alrededor de 100 ppm).


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Planes de AOQL

Las tablas de Dodge-Romig (1959) tienen planes para valores de AOQL de 0.1%, 0.25%, 0.75%,
1%, 1.5%, 2.5%, 3%, 4%, 5%, 7% y 10% en cada una se especifican seis valores para medias de
proceso. Se tienen planes para muestreo simple y doble.

Ejemplo 7.5 De la tabla para AQOL=3%; para N= 5,000, AOQL= 3% y la fraccin disconforme del
proveedor del 1%.

De la tabla 13.21 se obtiene n=65, c=3, LTPD=10.3%. Da una seguridad del 90% de que sern
rechazados los lotes que tengan desde un 10.3% defectuoso.

Suponiendo que los lotes recibidos tengan un promedio de 1% de defectivo y la probabilidad de
aceptacin sea Pa=0.9957, se tiene:

ASN= n + (1-P
a
)(N-n)= 65 +(1-0.9957)(5000-65)=86.22.

De esta forma se inspeccionarn 86 partes del lote en promedio.

Planes de LTPD

Se disearon de tal forma que la probabilidad de aceptacin del LTPD sea 0.1. Se proporcionan
tablas para valores de LTPD de 0.5%, 1%, 2%, 3%, 4%, 5% 7% y 10%.

Ejemplo 7.6 Suponiendo N=5,000 con fraccin promedio de defectivos del proveedor de 0.25%
de productos no conformes y el LTPD=1%.

De la tabla 13.23, el plan obtenido es n=770 y c=4, si los lotes rechazados son seleccionados al
100% y los artculos defectuosos se reemplazan por artculos buenos, el AOQL=0.28%.

Cuando el promedio del proceso es mayor que la mitad del LTPD, la inspeccin 100% es mejor
econmicamente.
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ESTIMACIN DEL PROMEDIO DEL PROCESO

La utilizacin de los planes de Dodge-Romig depende del conocimiento de la fraccin promedio no
conforme del proveedor. Se puede estimar la fraccin defectiva promedio del proceso por medio
de carta de control p para los primeros 25 lotes del proveedor, con las causas especiales
eliminadas y el proveedor haya tomado acciones para prevenir su reincidencia.
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8. MUESTREO DE ACEPTACIN POR VARIABLES

Ventajas y desventajas

La principal ventaja del muestreo por variables es que se puede obtener la misma curva
caracterstica de operacin con tamao de muestra menor que el que requerira un plan por
atributos. Otra ventaja es que los datos por variables proporcionan ms informacin del proceso
que los atributos. Cuando los AQLs son muy pequeos (del orden de ppm), el tamao de muestra
requerido en el caso de muestreo por atributos es muy grande y por variables muy pequeo.
Cuando la inspeccin es del tipo destructivo, los planes por variables si se aplican son ms
econmicos.

Como desventajas se tienen el probable alto costo de las mediciones versus juzgar por atributos, a
pesar de que el tamao de muestra sea menor y que es necesario un plan de muestreo para cada
caracterstica importante del producto.

Se debe conocer la distribucin de la caracterstica de calidad, la cual debe ser normal ya que de
otra forma se pueden cometer errores en la aplicacin del plan de muestreo por variables. Esto es
ms crtico cuando las fracciones defectivas son muy pequeas.

En la figura de la pgina siguiente se muestran las diferencias para varias distribuciones. Si la
distribucin no es normal se puede disear un plan si se puede determinar la fraccin defectiva a
partir de la media y la desviacin estndar de esa distribucin.

Los planes especifican el nmero de artculos a muestrear en los cuales se hacen mediciones en la
caracterstica de calidad seleccionada, y el criterio de aceptacin de esos lotes.

Una comparacin entre los diferentes tipos de muestreo se da a continuacin, considerando una
p
1
= 0.01, p
2
= 0.08, o = 0.05 y | = 0.10:

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Tipo de muestreo n ASN
1. Muestreo simple por atributos n = 67.
2. Muestreo doble por atributos ASN en p
1
= 45
3. Muestreo mltiple por atributos ASN en p
1
= 41
6. Muestreo simple por variables, n=27
sigma desconocida, mtodo de s
7. Muestreo simple por variables n=10
Sigma conocida


Como se observa, si la distribucin es normal y la desviacin estndar es conocida, el costo
de muestreo por variables es menor.


TIPOS DE PLANES DE MUESTREO

Existen dos tipos de planes de muestreo por variables, los que controlan la fraccin defectuosa del
lote y los que controlan un parmetro del proceso tal como la media.

8.1 CONTROL DE LA FRACCIN DEFECTIVA

Como la caracterstica de calidad es una variable, siempre existir ya sea un lmite de
especificacin inferior LIE, lmite de especificacin superior o ambos, que definan los valores
aceptables de esa caracterstica.

Considerando una caracterstica de calidad x normalmente distribuida y un lmite inferior de
especificaciones LIE, la fraccin defectiva p es funcin de la media del lote y su desviacin
estndar o.

CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 321
Asumiendo que la desviacin estndar o del proceso es conocida, se desea tomar una muestra del
lote para determinar si o no el valor de la media es tal que la fraccin defectiva p es aceptable.
Para esto se tienen dos mtodos.



p o

LIE
__
X x

Figura 8.1 Bases del muestreo por variables

Procedimiento 1.

Tomando una muestra aleatoria de n artculos del lote y calculando el estadstico


o
LIE X
Z
LIE

= (8.1)

Z
LIE
expresa justamente la distancia entre la media X de la muestra y el lmite inferior de
especificacin LIE, entre mayor sea su valor, la media X de la muestra estar ms alejada del LIE
y en consecuencia menor ser la fraccin defectiva p.

Si hay un valor crtico p que no deba ser excedido con una probabilidad establecida, se puede
traducir el valor de p en una distancia crtica por decir k para Z
LIE.
De esta forma si Z
LIE
<= k, se
aceptar el lote ya que automticamente la fraccin defectiva p es satisfactoria, en caso contrario
la fraccin defectiva p es mayor que la aceptable y se rechazar el lote.

Ejemplo 8.1 Si =100, o =10 y LIE= 82:

8 . 1
10
100 82
=

=
o
LIE X
Z
LIE

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Donde u(-1.8) = 0.0359 o sea el 3.59% defectuoso.

Se sigue el mismo procedimiento para el caso de tener un lmite superior de especificacin
unilateral LSE.

o
X LSE
Z
LSE

= (8.2)

Cuando se tiene un solo lmite de especificacin, la relacin entre Z y la fraccin defectiva (p) es:


p Z
s
Z
i
0.25 0.6745
0.20 0.8416
0.15 1.0364
0.10 1.2816
0.05 1.6449
0.02 2.0537
0.01 2.3263



Procedimiento 2.

A partir de una muestra sencilla de tamao n del lote, se calcula Z
LIE
o
) 1 /( = n n Z Q
LIE LIE
(ms exacto) y se estima la fraccin defectiva p como el rea bajo
la curva normal debajo de Z
LIE
, si esta fraccin estimada p, excede un valor mximo M, se
rechaza el lote, de otra forma se acepta.

Para el caso de lmites bilaterales se calculan ambos Q
LIE
y Q
LSE
.

CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 323

) 1 /(

= n n
LIE X
Q
LIE
o

(8.3)
) 1 /(

= n n
X LSE
Q
LSE
o


Se estiman las fracciones defectivas P(Q
LIE
) y P(Q
LSE
) de la tabla mostrada en el apndice
para estimar las fracciones defectivas p
I
y p
S
, si la suma de ambas fracciones defectivas no
excede al valor mximo permitido M se acepta el lote, en caso contrario se rechaza el lote.

Cuando la desviacin estndar o es desconocida, se puede estimar de la desviacin
estndar de la muestra s, remplazando en las frmulas anteriores a o por s.


8.2 DISEO DE UN PLAN DE MUESTREO POR VARIABLES
CON UNA CURVA CO ESPECFICA

Para disear un plan de muestreo por variables usando el procedimiento 1, el mtodo de k, que
tiene una curva OC especificada por dos puntos (p
1
, 1-o), (p
2
, |) donde p
1
y p
2
son las fracciones
defectivas que corresponden a niveles de calidad aceptables y rechazables respectivamente se
utiliza un nomograma.

L. J. Jacobson propuso un nomograma mostrando dos escalas diferentes (ver pgina siguiente),
para estimar n y k con sigma conocida y sigma desconocida.

Utilizando este nomograma podemos obtener la curva caracterstica de operacin CO, cambiando
los valores de las fracciones defectivas p y hallando sus probabilidades de aceptacin si se
mantiene fijo n y k.

Ejemplo 8.2 Un embotellador ha establecido que la resistencia mnima para una botella de
plstico sea de LIE= 225 psi, si a lo ms el 1% no pasa el lmite, se aceptar el lote con una
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 324
probabilidad del 95% (p
1
=0.10 y 1-o= 0.95), mientras que si el 6% o ms estn abajo del lmite, el
embotellador rechazar el lote con una probabilidad de 90% (p
2
=0.06, |= 0.10).

Para hallar el plan de muestreo por variables n, k, se traza una lnea que une a el punto 0.01 en la
escala de fraccin defectivas con el punto 0.95 en la escala de probabilidad de aceptacin.
Despus se traza una lnea similar que conecta los puntos p
2
= 0.06 y P
a
=0.10, en la interseccin de
esas lneas se lee, k=1.9 y n=40 para o desconocida (siguiendo la lnea curveada) o n=15 (bajando
una lnea perpendicular) para o conocida.

a) Procedimiento 1
Si se desconoce la desviacin estndar, se toma una muestra aleatoria de n = 40 piezas calculando
la media y la desviacin estndar s, se calcula ahora:


o
LIE X
Z
LIE

=

Si Z
I
> k = 1.9 se acepta el lote, de otra forma se rechaza.

Si se conoce la desviacin estndar, la n pasa de 40 a 15 con menos costos, al bajar en forma
perpendicular en el punto de interseccin hacia la escala de n.

b) Procedimiento 2.

Una vez obtenidas n 40 y k = 1.9, se obtiene el valor de M del nomograma de la fig. 14.3,

La abscisa se calcula como sigue (con n = 40 y k = 1.9):

35 . 0
) 39 ( 2
40 9 . 1
2
1
) 1 ( 2 2
1
= =

n
n k


Esto indica que M = 0.30.

CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 325
Por ejemplo si se toma una muestra de n=40 partes y se observa que la media de la muestra
255 = X y s = 15, el valor de Z
LIE
es:

2
15
225 225
=

=
s
LIE X
Z
LIE


de las tablas para fraccin defectiva al final de este captulo se obtiene una p = 0.020, y siendo que
es menor que M = 0.030, se acepta el lote.

Para lmites bilaterales se obtienen ambas p
i
y p
s
en base a Z
i
y Z
s
, si p
i
+ p
s
s M se acepta el lote, si
no se cumple lo anterior, el lote se rechaza.

8.3 TABLAS ASQC Z1.9 1993

Originalmente se emitieron las tablas MIL-STD-414 sin embargo posteriormente fueron
homologadas con las tablas MIL-STD-105E (incluyendo inspeccin normal, reducida y estricta y
concordancia en las letras cdigo de los planes para cada AQL) para su uso en la industria dando
lugar a las tablas Z1.9 de la ASQC.

Se enfoca al AQL (entre 0.1% a 10%) con cinco niveles generales de inspeccin (el normal es el II),
el nivel III tiene una curva ms abrupta que el nivel II. Se pueden usar niveles ms bajos (S3 S4)
para reducir costos muestrales si se toleran riesgos mayores.

Tiene la siguiente organizacin:

CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 326


Variabilidad Variabilidad
Desconocida Conocida
Mtodo de S




Especificacin Especificaciones
Unilateral Bilaterales



Procedimiento 1 Procedimiento 2 Procedimiento 2
(Mtodo de k) (Mtodo de M) (Mtodo de M)



Fig. 8.2 Organizacin del muestreo por variables

Tienen 4 secciones:

A. Descripcin general, con definicin de trminos, cdigo de letras de tamao de muestra, y
curvas OC de los planes.
B. Planes basados en la desviacin estndar de la muestra con sigma del proceso desconocida.
C. Planes basados en la amplitud de la muestra con sigma desconocida (ya descontinuado).
D. Planes basados en la media de la muestra cuando se conoce la sigma del proceso.


USO DE LAS TABLAS

Las tablas se encuentran en el apndice y su uso se ilustra con un ejemplo:

Ejemplo 8.4 Para el caso del embotellador: Si el lmite inferior LIE = 225 psi, suponiendo que el
nivel de calidad aceptable en este lmite es AQL = 1% y que las botellas se embarcan en lotes de
N = 100,000, con sigma desconocida se tiene:

CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 327
Procedimiento 1.
1. En la tabla A-2 se identifica el cdigo de letra, en este caso, la N:
2. En la tabla B-1 se determina la n y k en este caso con la letra N y AQL= 1.00 negociado entre
proveedor y cliente, se obtiene k = 2.03. Para el caso de inspeccin severa (escala inferior) k =
2.18. Para el caso de inspeccin reducida k = 1.8 de la tabla B-2.
3. En la tabla B-3 se determina M en el rengln de N y columna de AQL= 1% obtenindose M=
2.05%. Para inspeccin severa M = 1.42%. Para inspeccin reducida, de la tabla B-4 se obtiene
k = 3.44%.
4. La inspeccin estricta se usa cuando 2 de 5 lotes han sido rechazados
5. La inspeccin reducida se usa cuando los 10 lotes anteriores se han aceptado y su fraccin
defectiva estimada es menor que un lmite inferior especificado y la produccin es estable.
6.La tabla B-6 se usa para obtener la desviacin estndar mxima que se debe obtener en la
muestra con base a la tolerancia. Si el valor de s excede este valor, se rechaza el lote.

Nota:
Es posible pasar de planes de muestreo con sigma desconocida a planes con sigma conocida con
menor n si se demuestra estabilidad en una grfica X -s para los lotes (al menos para 30). Los
planes especficos para este tipo de planes se deben consultar en el estndar.

EJEMPLOS TOMADOS DEL ESTANDAR Z1.9-1993

VARIABILIDAD DESCONOCIDA MTODO DE LA DESVIACIN ESTNDAR

B1. Plan de muestreo para lmite especificacin unilateral. Forma 1
a) De la tabla A
2
seleccionar la letra cdigo de funcin del tamao del lote y el nivel de
inspeccin.
b) Usar tablas B
1
(normal y estricta) y B
2
(reducida) para obtener el plan.
n - tamao de muestra.
K - constante de aceptabilidad
c) Obtener mediciones de muestras , calcularX y s.
d) Criterio de aceptacin.
LSE - Lmite superior de especificacin.
CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
Pgina 328
LIE - Lmite inferior de especificacin.

Comparar (LSE X) / s (X LIE) / s con k.

Si es mayor o igual se acepta el lote, en caso contrario se rechaza.

Ejemplo 8.5 La mxima temperatura de operacin es de 209F. Un lote de 40 artculos se
inspecciona, tomando AQL = 1%, nivel II.

Solucin.
a) De tabla A
2
, se selecciona la letra D.
b) De la tabla B
1
, n = 5, k= 1.52
c) Suponiendo lecturas 197, 188, 184, 205 y 201.
X= 195 , s = 8.8
d) ( LSE - X ) / s = (209 195) / 8.8 = 1.59
e) 1.59 > k por tanto se acepta el lote.

B5- Usando la forma 2
a) Usar tablas B
3
( normal y estricta) y B
4
(reducida) y obtener el plan de inspeccin, n y M
Porcentaje mximo de no conformes.
b) Obtener mediciones de muestras, calculandoX y s.
c) Criterio de aceptacin.
Calcular el ndice de calidad Q
S
= (LSE - X ) / s
Q
I
= (X LIE ) / s
En tabla B
5
entrar con Q
U
o Q
L
para encontrar porcentaje estimado no conforme P
S
o P
I
.

Comparar P
S
o P
I
con M , si es igual o menor se acepta el lote, se rechaza en caso contrario.

Ejemplo 8.6 De lo anterior; X = 195 ; s = 8.8
a) De la tabla B
3
se obtiene M = 3.33% para letra D, n = 5 y AQL = 1%.
b) De la taba B
5
con Q
S
= 1.59 se obtiene P
S
= 2.19%
c) Como P
S
s M se acepta el lote.
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B8. Plan de muestreo para doble lmite de especificacin.
a) Determinar la letra cdigo de la tabla A2, en base a nivel de inspeccin.
b) Obtener el plan n y M de tabla B3 y B4. Si se especifican diferentes AQLs para cada lmite de
especificacin, obtener el porcentaje mximo no conforme para cada lmite M
I
y M
S
. Si se
asigna el mismo AQL a ambos lmites, designar el nivel mximo de porcentaje no conforme
por M.
c) Obtener mediciones del muestreo.
d) Calcular los Indices de Calidad Q
S
= (LSE - X ) / s y Q
L
=( X LIE ) /s
e) De tabla B5 encontrar P
I
y P
S
en base a Q
U
y Q
L
y el tamao de muestra n.
P
estimada
= P
I
+ P
S
f) Comparar P
est.
Con M, si es menor o igual se acepta el lote, en caso contrario se rechaza.

Nota: Cuando hay diferente AQL para cada lmite:
Aceptar si P
I
s M
I
y P
S
s M
S
y P = P
I +
P
S
s mayor (M
S
,

M
I
)

Ejemplo 8.7 Se inspecciona un lote de 40 muestras con nivel de inspeccin II, inspeccin normal y
en base a temperaturas de los ejemplos anteriores, n = 5,
_
X = 195; s= 8.8; considerando LIE=
180F; LSE= 209F; AQL= 1% donde de tabla
B-3 M = 3.32%

Q
S
= =

8 . 8
180 209
1.59 ; P
S
= 2.19% (de tabla B-5)
Q
I
= =

8 . 8
180 195
1.704; P
I
= 0.66% (de tabla B-5) por tanto la fraccin defectiva total es de
p = 2.85%

Como P < M se acepta el lote.

Ejemplo 8.8 Si el AQL
S
= 1% y AQL
I
= 2.55% de tabla B3, M
S
= 3.32% , M
I
=9.8%
a) P
S
= 2.19% ; P
I
= 0.66% P = 2.85%
b) Comparando P
S
s M
S
; P
I
s M
I
y P s M
I

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Pgina 330
Se acepta el lote.

VARIABILIDAD CONOCIDA

D.1 Slo un lmite de especificacin. Forma 1.
Usar tabla D1 y D2 para obtener n y k

Ejemplo 8.9 Se toma un lote de 500 artculos para inspeccin. LIE= 58,000 psi. N= 500,
nivel II, inspeccin Normal. AQL= 1.5%. La variabilidad o es conocida con valor 3,000 psi

a) de tabla A2, se identifica la letra I y de tabla D1 obtenemos n = 10
Valores de muestra 62,500; 60,500; 68,000; 59,000; 65,500
62,000; 61,000; 96,000; 58,000; 64,500.
a) Clculo de X= 63,000 ; ( X LIE) / o = 1.67
b) De tabla D1 ; k = 1.7
c) Comparando ( X LIE)/ o < k y el lote se rechaza.

D.5 Usando la forma 2.
a) Usar tablas D3 y D4 obteniendo n, M y V
b) Calcular Q
S
= (LSE - X) V / o y Q
L
=( X LIE) V / o
c) Usando tabla D5 estimar P
S
y P
I

d) Comparar D= P
S
+ P
I
s M para aceptabilidad

Ejemplo 8.10 Sea LIE= 58,000 psi; tamao del lote 500 artculos;AQL = 1.5%; Inspeccin
nivel II, normal. De los datos anteriores se obtuvo
_
X = 63,000; n = 10 ; o = 3,000. De tabla
A-2 se obtiene la letra I.
a) Obtencin en tabla D3 de n, M y V como 10, 3.63%, 1.054 respectivamente.
b) Clculo de Q
L
=(63,000 - 58,000) * 1.054 / 3,000 = 1.756
c) Determinar P
L
de tabla D5 con Q
L
= 1.756 es 3.92%
Como P
L
> M se rechaza el lote.

CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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D9. Plan de muestreo para doble lmite de especificacin
a) Determinar la letra cdigo de la tabla A2, en base a nivel de inspeccin.
b) Obtener el plan n, el factor v y el porcentaje mximo aceptable M de tabla D3 y D4. Si se
especifican diferentes AQLs para cada lmite de especificacin, obtener el porcentaje mximo
no conforme para cada lmite M
I
y M
S
. Si se asigna el mismo AQL a ambos lmites, designar el
nivel mximo de porcentaje no conforme por M.
c) Obtener mediciones del muestreo en n partes.
d) Calcular la media de los datos.
e) Calcular los Indices de Calidad Q
S
= (LSE - X ) v / o y Q
L
=( X LIE ) v / o
f) De tabla D-5 encontrar P
I
y P
S
en base a Q
U
y Q
L
y el tamao de muestra n.
P
estimada
= P
I
+ P
S

Ejemplo 8.11 La especificacin para una colada de acero es de 67,000 y 58,000 psi
respectivamente. Un lote de 500 artculos se somete a inspeccin. El nivel de inspeccin es II,
inspeccin normal con AQL = 1.5%. La variabilidad o conocida con valor 3,000 psi.

a) De tabla D-3 se obtuvo n = 10, v = 1.054, M = 3.63%
b) De las mediciones de las 10 muestras se obtuvo 000 , 63
_
= X
c) Los ndices Q
S
con Q
L
son respectivamente 2.459 y 3.162 con fracciones estimadas defectuosas
0.697% y 0.078% de la tabla D-5.
d) Como la fraccin defectiva total no excede el valor de M = 3.63%, se acepta el lote.

NOTA: Comparar P
estimada
con M, si es menor o igual se acepta el lote, en caso contrario se rechaza.


DISCUSIN DE LA NORMA ASQC Z1.9 e ISO 3951 (1981)

Una consideracin muy importante en el uso de las normas es que la poblacin de donde se
obtienen las muestras debe ser normal. Es ms crtico para pequeos valores de AQL.

Es muy importante realizar pruebas de normalidad en los extremos de la distribucin para
asegurar que la norma Z1.9 es aplicable sin modificaciones.

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Pgina 332
Los ajustes que se hicieron en la norma ASQC Z1.9 (1980) e ISO 3951 (1981) son:
1. Los rangos de tamao de lotes se ajustaron para corresponder con la MIL-STD-105E por
atributos.
2. Se ordenaron las letras cdigo para tener la misma proteccin que con la MIL-STD-105E.
3. Los niveles de inspeccin originales I, II, III, IV y V se denominaron S
3
, S
4
, I, II y III.
4. En la ISO 3951 se eliminaron los planes que consideran a los rangos en vez de las desviaciones
estndar.
5. En la ISO 3951 y en la Z1.9 se eliminaron los AQLS de 0.04, 0.065 y 15%.
6. Cambios en las reglas de transferencia.
- Se adoptan las mismas reglas que en la 105E para el paso de inspeccin normal a severa y
viceversa con ligeras modificaciones.
- La norma Z1.9 permite el paso de inspeccin normal a reducida si:
- 10 lotes en inspeccin normal fueron aceptados.
- La produccin es continua.
- La inspeccin reducida es aprobada.
- La ISO 3951 permite el paso a inspeccin reducida si 10 lotes sucesivos han sido aceptados y:
- El AQL es un paso menor.
- El proceso est bajo control estadstico.
- La inspeccin reducida es aprobada.
7. La ISO 3951 permite el paso de un mtodo de sigma desconocida a sigma conocida, utilizando
como sigma el valor promedio estimado en la carta de control estable con al menos 30
subgrupos. Requiriendo la continuacin de la carta s o R.

Su ventaja principal es que se puede iniciar con un esquema de muestreo por atributos con la
MIL-STD-105E, obtener informacin suficiente y despus cambiar a un esquema por variables
manteniendo la misma combinacin de letra para el AQL.

Es muy importante una prueba de normalidad a partir de los datos variables de cada lote.
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8.4 OTROS PROCEDIMIENTOS DE MUESTREO POR VARIABLES

ASEGURAMIENTO DE LA MEDIA DEL PROCESO
Los planes de muestreo por variables tambin pueden utilizarse para asegurar la calidad media de
un material en lugar de su fraccin defectiva. El mtodo general que aqu se emplea es el de
prueba de hiptesis, lo cual se ilustra con un ejemplo.

Ejemplo 8.12 Se considera aceptable un lote si tiene menos de 0.3 ppm de emisiones de
formaldedo en maderas. Se disea un plan de muestreo con una probabilidad de aceptacin del
95% si las emisiones son en promedio de 0.3 ppm, y los lotes con un 0.4 ppm tengan una
probabilidad de aceptacin del 10%. Si por experiencia se sabe que la desviacin estndar es 0.10
ppm, se tiene:

Si X
A
es la media muestral debajo de la cual se aceptar el lote, est normalmente distribuida y
tiene una probabilidad de 0.95 de aceptacin, entonces,
645 . 1
1 . 0
3 . 0 3 . 0
+ =

n
X
n
X A A
o
(8.4)

En forma similar si los lotes que tienen un nivel de emisin de 0.40 ppm tienen una probabilidad
de 0.10 de aceptacin, entonces,

282 . 1
1 . 0
4 . 0 4 . 0
=

n
X
n
X A A
o
(8.5)
resolviendo para X
A
y n se obtiene:

X
A
= 0.355 n= 9
Muestreo secuencial por variables
Similar al de atributos graficando la suma acumulada de las mediciones de la caracterstica de
calidad. Las lneas para aceptacin del lote, rechazo del lote y continuacin del muestreo se
construyen en forma similar a las de atributos (ver Duncan 1986).

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APNDICES

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FORMULAS DE CARTAS DE CONTROL

CARTAS DE CONTROL POR VARIABLES
CARTAS Xbarra-R
Lmites de control para medias n =5
LSC = X + A
2
R
LIC = X - A
2
R

Lmites de control para rangos n=5
LSC = D
4
R

LIC = D
3
R


CARTAS Xbarra-S
Lmites de control para medias
LSC
x
= X + A
3
S
LC
x
= X
LIC
x
= X - A
3
S

Lmites de control para desviaciones estndar
LSC
s
= B
4
S

LC
s
= S
LIC
s
= B
3
S

CARTAS I-MR de valores individuales
Para los valores individuales n=2
LSC
x
=
2
3
d
MR
X +
LC
x
=
__
X

LIC
x
=
2
3
d
MR
X
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Para el caso del rango se usan las mismas de la carta Xbarra-R con n=2

CARTAS DE CONTROL PARA ATRIBUTOS

CARTA p


i
i
i
n
D
p =

m
p
mn
D
p
m
i
i
m
i
i
= =
= =
1 1

LSC
p
=
n
p p
p
) 1 (
3
__ __
__

+
LC
p
=
__
p
LIC
p
=
n
p p
p
) 1 (
3
__ __
__



CARTAS np

) 1 ( 3 p np np LSC
np
+ =
np LC
np
=
) 1 ( 3 p np np LIC
np
=

CARTAS c

LSC
c
= c + 3 c
LC
c
= c
LIC
c
= c - 3 c

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Pgina 337
CARTAS u



n
c
u =

Donde u representa el nmero promedio de no conformidades por unidad en un conjunto de
datos preliminar


n
u
u LSC
u
3 + =
u LC
u
=

n
u
u LSC
u
3 + =

TABLA DE CONSTANTES PARA EL CALCULO DE LIMITES DE CONTROL
Las constantes para lmites de control en las cartas X-R son:
n A
2
D
3
D
4
d
2

2 1.880 0.000 3.267 1.128
3 1.023 0.000 2.574 1.693
4 0.729 0.000 2.282 2.059
5 0.577 0.000 2.115 2.326
6 0.483 0.000 2.004 2.534
7 0.419 0.076 1.924 2.704
8 0.373 0.136 1.864 2.847
9 0.337 0.184 1.816 2.970
10 0.308 0.223 1.777 3.078


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Las constantes para lmites de control en las cartas X-S son:
n c
4
A A
3
B
3
B
4
B
5
B
6 .

5 0.9400 1.342 1.427 0 2.089 0 1.964
6 0.9515 1.225 1.287 0.030 1.970 0.029 1.874
7 0.9594 1..134 1.182 0.118 1.882 0.113 1.806
8 0.9650 1.061 1.099 0.185 1.815 0.179 1.751
9 0.9693 1.000 1.032 0.239 1.761 0.232 1.707
10 0.9727 0.949 0.975 0.284 1.716 0.276 1.669
11 0.9754 0.905 0.927 0.321 1.679 0.313 1.637
12 0.9776 0.866 0.886 0.354 1.646 0.346 1.610
13 0.9794 0.832 0.850 0.382 1.618 0.374 1.585
14 0.9810 0.802 0.817 0.406 1.594 0.399 1.563
15 0.9823 0.775 0.789 0.428 1.572 0.421 1.544
16 0.9835 0.750 0.763 0.448 1.552 0.440 1.526
17 0.9845 0.728 0.739 0.466 1.534 0.458 1.511
18 0.9854 0.707 0.718 0.482 1.518 0.475 1.496
19 0.9862 0.688 0.698 0.497 1.503 0.490 1.483
20 0.9869 0.671 0.680 0.510 1.490 0.504 1.470
21 0.9876 0.655 0.663 0.523 1.477 0.516 1.459
22 0.9882 0.640 0.647 0.534 1.466 0.528 1.448
23 0.9887 0.626 0.633 0.545 1.455 0.539 1.438
24 0.9892 0.612 0.619 0.555 1.445 0.549 1.429
25 0.9896 0.600 0.606 0.565 1.435 0.559 1.420

CONTROL ESTADSTICO DEL PROCESO Dr. P. Reyes / enero de 2009
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